专利名称：转动平台的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种机械转动部件，尤其是一种光学测试设备中的转动平台。
背景技术：
目前，在光学测试设备中，公知的普通全视场探测都采用一种能旋转360°的转盘放置被测光源，再用一个探测器接收检测光能，其前提是，必须保证探测器的探测中心光轴与测试转盘在转动时被测光源的光束中心轴在动态时两轴重叠。但是，在实际工程中绝大部分被测光源不能安放在仪器设备的中心，其发光点往往偏向外中心点的某一位置，这样，在旋转360°的转盘上，偏移中心点的被测物体的发光中心轴线无法同探测器实现动态转动时测量轴线的重叠。因此，在大视场发光窗口的探测，以及连续360°全视场探测时，需要配置一种中心转动，而外中心点发光位置相对固定的测试设备，而目前尚无类似的装置。
发明内容
为了克服现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种转动平台，当中心转动时，外中心发光点位置相对固定，从而，在动态测量时完成被测光源中心轴点在任意位置上的探测。特别是大视场发光窗口的探测，以及连续360°全视场的探测。
为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是提供一种转动平台，该装置包括可放置被测物体的测试转盘，测试转盘上标有角度与刻度；其下部同轴安装有转动机构；转动机构固定在一个平行相对位移可调的位移装置上；该位移装置与测试时使用的探测器接收平台安装在同一平滑轨道上，位移装置标有角度与距离刻度；其位移的距离以测试转盘的中心转轴为中心，前后距离小于或等于测试转盘的半径，位移装置非中心轴对称，即偏心安装于最低层的转动装置的转轴上；转动机构和转动装置独立的转动中心的间距可通过位移装置调整，可调距离为测试转盘的半径范围以内。以确保测试转盘上的被测系统测试窗口的中心轴点与下层转动结构的中心轴线相交，保持同轴测试。
本实用新型转动平台结构简单，使用方便，其有益效果是通过两个以上叠层转盘，外中心对称旋转，实现动态转动时轴线重叠，将外中心的发光点保持在相对的中心轴线上。从而，解决了被测光源大视场发光窗口和连续360°全视场探测的问题，实现了动态测试，并确保了测试精度。
本实用新型转动平台可以作为光学测试设备中的附加转动机械装置，用于光学测试中探测接收与发射视场时固定被测物体。也可用作其他领域有类似同轴要求的机械转动部件。
图1是本实用新型转动平台的平面结构图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。
图1是本实用新型转动平台的结构图，该装置包括可放置被测物体的测试转盘1，上面标有角度与刻度，其下部同轴安装有转动机构2；转动机构2固定在一个平行相对位移可调的位移装置3上；该位移装置与测试时使用的接收平台安装在同一平滑轨道上，位移装置3标有角度与距离刻度，可实时监测转动角度与位移尺寸；其位移的距离以测试转盘1的中心转轴为中心，前后距离小于或等于测试转盘1的半径，位移装置3非中心轴对称，即偏心安装于最低层的转动装置4的转轴上；转动机构2和转动装置4组成双层转动机构，双层转动机构都带有步进电机，可进行手动控制、机械控制或自动程序控制。手控与机控作为预先调制，程控为测试时用，以保证测试参数均匀性与连续性。转动机构2和转动装置4独立的转动中心的间距可通过位移装置3调整，可调距离为测试转盘1的半径范围以内。以确保测试转盘上的被测系统测试窗口的中心轴点与下层转动结构的中心轴线相交，保持同轴测试。上述部件整体安装时，保证动态垂直，相互平行。
本实用新型转动平台使用时，将被测系统放置于测试转盘1上，启动转动机构2，使得转台1旋转；启动转动装置4，使得以上整个机构旋转；根据被测系统的直径，调整位移装置3，以调整被测物体或探测器的中心光轴，从而，当转动机构2和转动装置4同时转动时，探测器中心光轴与测试转盘在转动时被测物体的中心轴在动态时两轴重叠。由上述可见，测试转盘与下层转动装置的基座转台的配合尺寸选定得当，就可实现测试转盘上的任意一点与基座转台中心轴线保持相交关系，也就是说，在测试平台上放置的被测物体，垂直于转动中心轴的表面任意一点，可始终与基座中心轴线保持相交。换言之，当探测窗口中心光轴确定后，调整放置被测物体的本实用新型转动平台，就可得到一个在转动中始终与探测中心光轴相重叠的点，实现被测物体的全视场即360°等距离探测。
权利要求1.一种转动平台，其特征在于，该装置包括可放置被测物体的测试转盘，测试转盘上标有角度与刻度，其下部同轴安装有转动机构；转动机构固定在一个平行相对位移可调的位移装置上；所述位移装置与测试时使用的接收平台安装在同一平滑轨道上，位移装置标有角度与距离刻度；其位移的距离以测试转盘的中心转轴为中心，前后距离小于或等于测试转盘的半径；位移装置偏心安装于最低层的转动装置的转轴上。
2.根据权利要求书1所述的转动平台，其特征在于所述的转动机构和转动装置可手动控制、机械控制或自动程序控制。
3.根据权利要求书1所述的转动平台，其特征在于转动机构和转动装置独立的转动中心的间距通过位移装置调整，可调距离为测试转盘的半径范围以内。
专利摘要本实用新型公开了用于光学测试设备的一种转动平台，包括可放置被测物体的测试转盘，其下部同轴安装有转动机构，测试转盘与下层转动机构都带有步进电机控制；测试转盘固定在一个平行位移可调的位移装置上；位移装置位移的距离以测试转盘的中心转轴为中心，前后距离小于或等于测试转盘的半径；位移装置偏心安装在转动装置的转轴上。本实用新型能使探测器的窗口与被测物体窗口的光轴在转动时始终保持重叠，从而实现动态测试，并确保了测试精度。
文档编号G01J1/04GK2916600SQ20052004789
公开日2007年6月27日 申请日期2005年12月23日 优先权日2005年12月23日
发明者徐国墚, 夏红娟, 朱瑞兴, 忻云龙 申请人:上海无线电设备研究所, 上海师范大学