专利名称：新型纳米治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种治具，特别涉及一种新型纳米治具。
背景技术：
现在使用的治具包括绝缘板、探针和套管，套管插在绝缘板上，探针放置在套管内，探针内设有弹簧，套管下方接有导线，导线经测试接口与测试仪器连接，测试时将电路板放置在探针上，使电路板与探针接触。其结构过于复杂、成本高、易损坏待测电路板。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是如何克服现有的治具的上述缺陷，提供一种结构简单、成本低廉、不易损坏待测电路板的新型纳米治具。
为解决上述技术问题，本新型纳米治具包括由绝缘板、测试针、测试接口组成的针床，其中，测试针固定在绝缘板上，或者穿过绝缘板并与之滑配，且测试针的下端与绝缘底板的上表面接触，其特征在于其还包括覆盖在针床上的弹性垂直导电层；所述测试针通过导线与测试接口连接；所述弹性垂直导电层由定向导电材料制成。如此设计，利用弹性垂直导电层代替现有的带弹簧的探针，节省人工，降低了成本。
作为优化，所述定向导电材料为定向金属导电橡胶，包括橡胶基材和均匀、密布在橡胶基材内的垂直的金属丝，上述金属丝彼此分开，其两端端面分别露出橡胶基材的上、下表面。如此设计，金属丝依靠橡胶绝缘并固定，同时由于橡胶的弹性，可以保证金属丝同待测印刷电路板的焊点很好地接触。使用时，将待测印刷电路板压在本新型纳米治具上，测试接口接通测试主机即可进行测试。
作为优化，所述定向导电材料为纳米垂直导电布，包括橡胶基材和均匀、密布在橡胶基材内的垂直的碳纳米管，上述碳纳米管的两端端面分别露出橡胶基材的上、下表面。
因为碳纳米管只在纵向上表现出导电性能来，相邻的碳纳米管之间不易短路。相邻的碳纳米管彼此绝缘，而不必像定向金属导电橡胶中的金属丝，那样靠相邻金属丝间的橡胶绝缘。碳纳米管比普通的金属丝细的多，其导电性能比铜丝还要好。如此设计，纳米垂直导电布中的碳纳米管可以十分密集分布，而不必担心相邻纳米管之间发生短路，便于制作测量高密度印刷电路板的治具。
作为优化，所述测试针呈放射性布置，借以加大各测试针之间的距离，从而保证测试针相互绝缘。如此设计，可以避免发生测试针之间的短路。
作为优化，所述测试针除上端面及与导线相接的部位外，涂有绝缘漆。如此设计，绝缘效果好，可以防止金属丝间短路，影响测试结果。
采用上述技术方案后，本新型纳米治具具有结构简单、成本低廉，不易损伤电路板的优点，广泛适用于各种印刷电路板的检测过程中。
图1是本新型纳米治具实施方式一的结构示意图；图2是本新型纳米治具实施方式一的弹性垂直导电层的结构示意图；图3是本新型纳米治具实施方式一的绝缘板及测试针的结构示意图；图4是本新型纳米治具实施方式一的绝缘底板及测试针的结构示意图；图5是本新型纳米治具实施方式二的结构示意图；图6是本新型纳米治具实施方式二的弹性垂直导电层的结构示意图；
图7是本新型纳米治具实施方式三的结构示意图。
图中1为绝缘板、2为测试针、3为绝缘底板、4为测试接口、5为待测印刷电路板、6为弹性垂直导电层、7为导线、8为待测印刷电路板6上的焊点、9为橡胶基材、10为金属丝、11为碳纳米管。
具体实施方式
以下结合附图对本新型纳米治具作进一步说明实施方式一如图1至4所示，本新型纳米治具包括由绝缘板1、测试针2、绝缘底板3和测试接口4组成的针床，其中，测试针2固定在绝缘板1上，其特征在于其还包括覆盖在针床上的弹性垂直导电层6；所述测试针2通过导线7与测试接口4连接；所述弹性垂直导电层6由定向导电材料制成。所述定向导电材料为定向金属导电橡胶，包括橡胶基材9和均匀、密布在橡胶基材9内的垂直的金属丝10，上述金属丝10彼此分开，其两端端面分别露出橡胶基材9的上、下表面。
实施方式二如图5、6所示，所述测试针2呈放射性布置，借以加大各测试针2之间的距离，从而保证测试针2相互绝缘。所述定向导电材料为纳米垂直导电布，包括橡胶基材9和均匀、密布在橡胶基材9内的垂直的碳纳米管11，上述碳纳米管11的两端端面分别露出橡胶基材9的上、下表面。其余部件和结构如实施方式一所述。
实施方式三如图7所示，包括由绝缘板1、测试针2和测试接口4组成的针床，其中，测试针2固定在绝缘板1上，其特征在于其还包括覆盖在针床上的弹性垂直导电层6；所述测试针2通过导线7与测试接口4连接；所述弹性垂直导电层6由定向导电材料制成。
当然，本实用新型纳米治具的绝缘板可以是一块，也可以是多块。测试针可以直接固定在绝缘板上；也可以穿过绝缘板，由绝缘底板支撑固定。
使用该测试治具时，绝缘板1中的测试针2与待测印刷电路板5的焊点相对应的。测试仪器将待测印刷电路板5向下压在弹性垂直导电层6上，待测印刷电路板5上的焊点，通过弹性垂直导电层6内的金属丝10或碳纳米管11与测试针2相通，测试针2进一步通过导线9接通测试接口4，测试接口4接通测试仪器即可进行测试。
权利要求1.一种新型纳米治具，包括由绝缘板、测试针、测试接口组成的针床，其中，测试针直接固定在绝缘板上或者穿过绝缘板并与之滑配，且测试针的下端与绝缘底板的上表面接触，其特征在于其还包括覆盖在针床上的弹性垂直导电层；所述测试针通过导线与测试接口连接；所述弹性垂直导电层由定向导电材料制成。
2.根据权利要求1所述的新型纳米治具，其特征在于所述定向导电材料为定向金属导电橡胶，包括橡胶基材和均匀、密布在橡胶基材内的垂直的金属丝，上述金属丝彼此分开，其两端端面分别露出橡胶基材的上、下表面。
3.根据权利要求2所述的新型纳米治具，其特征在于所述定向导电材料为纳米垂直导电布，包括橡胶基材和均匀、密布在橡胶基材内的垂直的碳纳米管，上述碳纳米管的两端端面分别露出橡胶基材的上、下表面。
4.根据权利要求1至3任一所述的新型纳米治具，其特征在于所述测试针呈放射性布置，借以加大各测试针之间的距离，从而保证测试针相互绝缘。
5.根据权利要求所述的新型纳米治具，其特征在于所述测试针除上端面及与导线相接的部位外，涂有绝缘漆。
专利摘要本实用新型涉及治具，特别涉及一种新型纳米治具。现在使用的治具结构过于复杂、成本高、易损坏待测电路板。为解决上述技术问题，本新型纳米治具包括由绝缘板、测试针、测试接口组成的针床，其中，测试针直接固定在绝缘板上或者穿过绝缘板并与之滑配，且测试针的下端与绝缘底板的上表面接触，其特征在于其还包括覆盖在针床上的弹性垂直导电层；所述测试针通过导线与测试接口连接；所述弹性垂直导电层由定向导电材料制成。采用上述技术方案后，本新型纳米治具具有结构简单、成本低廉，不易损伤电路板的优点，广泛适用于各种印刷电路板的检测过程中。
文档编号G01R31/28GK2804878SQ20052005840
公开日2006年8月9日 申请日期2005年5月20日 优先权日2005年5月20日
发明者郭红建, 郭凯 申请人:郭红建