专利名称：用于检测光管理膜的系统和方法以及制造光管理膜的方法
背景技术：
在平板显示器(例如背光计算机显示器)中，光管理膜(也可称为片、层、箔等等)通常用于例如，引导、漫射和/或偏振光线。例如，在背光显示器中，包括光改向结构的光管理膜，又可称为增亮膜，可利用所述光改向结构(例如，棱镜结构)引导光沿着视轴(即与显示器成法向(垂直)的轴)方向。这提高了显示器使用者观看到的光亮度，并使得所述系统在形成所需水平的轴向照明时消耗较少的功率。这类膜还可广泛用于其它的光学设计，例如投影显示器、交通信号和照明标志。
在制造和/或处理包括光改向结构的光管理膜时，会赋予该光管理膜各种缺陷。光管理膜的光改向本性会使得检测光管理膜中的这些缺陷很困难。例如，光管理膜的光改向本性会造成不聚焦的图像(例如，模糊图像、扭曲图像等等)。典型的通过人或者相机进行的检测不完全足以可靠地捕获给定光管理膜样品中的所有相关缺陷。这包括在受限(有限)的观看和照明角度集合下检测所述膜。
本领域需要的是一种用于检测光管理膜的改进系统和方法。更特别地，本领域需要的是一种用于检测包括光改向结构的光管理膜的改进系统和方法。
发明概述本文公开了用于检测光管理膜的系统和方法，以及制造该光管理膜的方法。
检测光管理膜的方法的一种实施方案包括将来自于头顶光源的光从光管理膜的第一面反射出并检测所述光管理膜的缺陷；引导来自于背光光源的透射光通过所述光管理膜的第二面到达第一面并检测所述光管理膜的缺陷；将来自于所述头顶光源的光从所述光管理膜的第二面反射出并检测所述光管理膜的缺陷；引导来自于所述背光光源的透射光通过所述光管理膜的第一面到达第二面并检测所述光管理膜的缺陷；以及测量各测得缺陷在光管理膜中的位置。
用于检测光管理膜的系统的一种实施方案包括包括第一板表面和第二板表面的工作板；设置得接近于所述第二板表面并与所述工作板光学连接的背光光源，其中所述背光光源能够用作透射光源使得透射光可透过所述第二板表面到达第一板表面；以及设置得接近于所述第一板表面的头顶光源，其中所述头顶光源和背光光源设置在所述工作板的相反侧上，并且其中所述头顶光源能够用作反射光源，使得当所述光管理膜设置成与所述第一板表面物理连接时反射光可从所述光管理膜上反射出。
制造光管理膜的方法的一种实施方案包括形成含有设置在所述光管理膜表面上的光改向结构的光管理膜；检测所述光管理膜，其中检测包括将来自头顶光源的光从所述光管理膜第一面反射出并检测所述光管理膜的缺陷；引导来自于背光光源的透射光通过所述光管理膜的第二面到达第一面，并检测所述光管理膜的缺陷；将来自于所述头顶光源的光从所述光管理膜的第二面反射出并检测所述光管理膜的缺陷；引导来自于所述背光光源的透射光通过所述光管理膜的第一面到达第二面，并检测所述光管理膜的缺陷；以及测量各测得缺陷在光管理膜中的位置；将所述测得缺陷分类；将所述分类的缺陷与预定的缺陷集合相比较以确定所述缺陷的成因；以及根据所述分类缺陷与预定缺陷集合的比较结果来改变形成所述光管理膜的工艺条件。
通过以下详细说明、附图以及所附的权利要求，本领域技术人员将明白并理解上述和其它特征。
现在参见附图，其作为示例性的实施方案，其中相同元件的附图标记相同。
图1是用于光管理膜的检测系统的实施方案示意性说明。
详细说明首先应当注意，本文中的术语“第一”、“第二”等并不表示任何顺序、数量或重要性，而是用于将元件之间彼此区分开，本文中的术语“某”和“某个”不表示数量限制，而是指存在至少一个所涉及物项。此外，本文中公开的所有范围是包含性的并且可组合的(例如，“至多大约25重量百分比(wt.％)，理想的大约5wt.％到大约20wt.％，更理想的大约10wt.％到大约15wt.％”包括端点及该范围内的所有中间值，例如“大约5wt.％到大约25wt.％，大约5wt.％到大约15wt.％等)。
本文公开了一种用于检测光管理膜的系统和方法，以及制造所述光管理膜的方法。应当明白，提到与背光显示器相关的光管理膜时仅仅是为了便于讨论，可以想到的其它应用也在本发明的公开范围之内。而且，尽管所讨论的光管理膜涉及的是包括光改向结构的光管理膜，但应当明白该系统和方法也可适用于其它的光管理膜(例如，包括棱镜第一表面和织构化的第二表面的多功能增亮膜等等)。
在实施方案中，光管理膜可包括光改向结构(例如棱镜(金字塔状)结构、立体角、球、边缘、等等)以引导光沿着视轴(即显示器法向)。一般来说，所述光管理膜包括基膜，其可包括设置在上面的任选的可固化涂层。形成所述光改向结构可通过，例如将所述可固化涂层施加到所述基膜上，并通过在所述基膜上直接热压纹(hot-embossing)光改向结构而在所述可固化涂层中浇注预期的光改向结构，等等。尽管所述基膜材料可以根据应用改变，但适当的材料包括Coyle等人在公开的美国专利申请No.2003/0108710中所讨论的那些透明基膜材料。更具体来说，光管理膜的所述基膜材料可包括丙烯酸树脂、聚碳酸酯、酚醛塑料、纤维素醋酸丁酸酯、纤维素醋酸丙酸酯、聚(醚砜)、聚(甲基丙烯酸甲酯)、聚氨酯、聚酯、聚(氯乙烯)、聚对苯二甲酸乙二醇酯等等，以及混合物、共聚物、反应产物，和包含至少一种上述物质的组合。
所述任选可固化涂层可包括可固化组合物，其通常包括可聚合化合物。这里使用的可聚合化合物包括含有一个或多个官能团的单体或低聚物，其中所述官能团能够进行自由基、阳离子、阴离子、热学和/或光化学聚合。合适的官能团包括，例如丙烯酸酯、甲基丙烯酸酯、乙烯基、环氧化物等等。
例如，所述可固化组合物包括单体和二聚体的丙烯酸酯，例如甲基丙烯酸环戊酯、甲基丙烯酸环己酯、甲基丙烯酸甲基环己酯、甲基丙烯酸三甲基环己酯、甲基丙烯酸降冰片酯、甲基丙烯酸降冰片基甲基酯、甲基丙烯酸异冰片基酯、甲基丙烯酸十二烷基酯、2-乙基己基甲基丙烯酸酯、2-羟乙基甲基丙烯酸酯、丙烯酸羟丙基酯、己二醇丙烯酸酯、2-苯氧基乙基丙烯酸酯、2-羟乙基丙烯酸酯、2-羟丙基丙烯酸酯、二乙二醇丙烯酸酯、己二醇甲基丙烯酸酯、2-苯氧基乙基甲基丙烯酸酯、2-羟乙基甲基丙烯酸酯、2-羟丙基甲基丙烯酸酯、二乙二醇甲基丙烯酸酯、乙二醇二甲基丙烯酸酯、乙二醇二丙烯酸酯、丙二醇二甲基丙烯酸酯、丙二醇二丙烯酸酯、甲基丙烯酸烯丙基酯、丙烯酸烯丙基酯、丁二醇二丙烯酸酯、丁二醇二甲基丙烯酸酯、1，6-己二醇二丙烯酸酯、1，6-己二醇二甲基丙烯酸酯、二乙二醇二丙烯酸酯、三甲基丙烷三丙烯酸酯、季戊四醇四丙烯酸酯、己二醇二甲基丙烯酸酯、二乙二醇二甲基丙烯酸酯、三羟甲基丙烷三丙烯酸酯、三甲基丙烷三甲基丙烯酸酯、季戊四醇四甲基丙烯酸酯，以及包括上述丙烯酸酯中的至少一种的组合。
在基膜(基材)表面涂布可固化组合物的方法在例如，Lu等人的美国专利No.5175030，Lu的5183597，Coyle等人的5271968，Crouch的5468542，Williams等人的5626800，和Fong等人的6280063，以及Coyle等人的美国专利申请公开No.2003/0108710 A1中有所记载。例如，在基膜上设置涂层的适当方法包括但不限于，喷涂、刷涂、电沉积、浸涂、流式涂布、滚涂、凹板印刷、以及丝网印刷。
在另一些实施方案中，所述光改向结构可通过将基膜热压纹制成。例如，所述方法可包括将基膜加热到足以软化该基膜的温度，并将预期的结构热压纹到所述基膜中。注意到可以采用滚压纹法或冲压法等将所述光改向结构(例如棱镜(一个或多个))压纹到所述基膜中。更特别地，所述压纹工具包括预期表面的负像。
无论制造光管理膜的方法如何，都会给光管理膜带来各种缺陷，作为制造过程和/或处理过程的一部分。正如下面更为详细描述的那样，发现了一种检测光管理膜的系统和方法，其允许在广泛的视角范围内既利用透射光又利用反射光来检测光管理膜中的缺陷。
现在参见图1，表示了一种用于检测光管理膜的示例系统，通常表示为100。该系统100包括工作板(膜)12，其包括第一板表面14和第二板表面16，其中所述工作板12设置成与背光光源18光学连接和/或物理连接。例如，所述背光光源18可以设置成离所述工作板12的第二板表面16有足够的距离“d”，以使光透射通过该第二板表面16和第一板表面14。任选地，所述工作板12可设置成与支持物20(例如台架等)物理连接，这样在第二板表面16与背光光源18之间可形成距离“d”。而在另一种实施方案中，背光光源可以是液晶显示器(LCD)背光组件，例如在计算机显示器中使用的那些，其中去掉了光管理膜并用所述工件(例如光管理膜22)替代。
在检测过程中，所述工件，例如光管理膜22，包括第一光管理膜表面24和包含光改向结构(一种或多种)的第二光管理膜表面26(下文中称为光改向表面26)，可设置成与所述工作板12的第一板表面14光学和/或物理连接。一般来说，工作板12的尺寸和形状大于或等于光管理膜22的总尺寸和形状。例如，所述工作板12可包括矩形等形状。
此外，头顶光源28设置成与所述光管理膜22光学连接。任选地，可将光漫射膜30设置成与光源28物理和/或光学连接以有助于将来自于头顶光源28的光分布于所述光管理膜22上。所述头顶光源28可相对于光管理膜22和工作板12设置成使所述头顶光源28可提供反射光来源用以检测光管理膜22。更特别地，所述头顶光源28可设置成接近于所述工作板12的一侧(例如第一板表面14)，与工作板12靠近背光光源18的一侧(例如第二板表面14)相对。
另外，头顶光源28可设置成与工作板12和光管理膜22成一偏斜角，使得头顶光源28可用作反射光源。换句话说，头顶光源28可以设置成离光管理膜22的边缘和/或工作板12的边缘在水平方向(“x”方向)成距离“d2”；并设置成离光管理膜22的边缘和/或工作板12的边缘在竖直方向成距离“d3”。应当注意到，图1中所设的距离“d2”和“d3”仅为了便于讨论。应当明白，可以采用相对于光源28和光管理膜的任何参考位点来设置光源28，使光源28能够用作反射光源。
例如，在实施方案中，头顶光源28相对于光管理膜22设置成使头顶光源28置于离光管理膜22的边缘在水平方向(例如在“x”方向)的距离“d2”多达约2.0英尺(ft)(大约0.61米(m))，而离光管理膜22的边缘在竖直方向(例如在“y”方向)的距离“d3”多达约2.0ft(大约0.61m)。更特别地，头顶光源28设置成离光管理膜22的边缘在水平方向的距离为大约1.5ft(大约0.46m)到大约2.0ft(大约0.61m)，而离光管理膜22的边缘在竖直方向的距离为大约1.5ft(大约0.46m)到大约2.0ft(大约0.61m)。
观察者32相对于光管理膜22设置成使该光管理膜22中的缺陷可以同时在水平方向(“x”方向)和深度方向(例如“z”方向)以大约0°到大约90°的视角检测到(观察到)。尽管在一些实施方案中，观察者32可以是一种装置(例如光学照相机等等)，但所希望的观察者32是人。应当注意到，有利地是人可以比例如，光学照相机更迅速地观察到缺陷。更特别地，一些缺陷只能以特定的视角检测到(观察到)。对于人来说比照相机系统更容易改变视角。
在各种实施方案中，工作板12可理想地包括光漫射性质，以有助于将光分布于光管理膜22上。换句话说，工作板12可以用作光漫射膜。简单提示一下，可以利用各种技术来获得具有光漫射性能的膜。例如，对膜进行物理改性可使得在膜表面印上织构以漫射光(例如，带织构的光漫射膜)。在另一些实施方案中，可在膜中嵌入光漫射颗粒以赋予膜光漫射性质(例如，本体光漫射膜)。而在另一些实施方案中，可以采用两种方法的结合，即，既在膜表面印上织构又在膜中嵌入光漫射颗粒。
在示例性的实施方案中，工作板12可以选择成模拟背光显示器中采用的“底部”光漫射膜的光漫射性质。更特别地，工作板12可包括大于或等于90％的雾化值，更特别的是大于或等于95％的雾化值。
应当注意到所述雾化百分比可以由以下等式预测并计算出 其中总透射率是积分透射率，总漫射透射率是由膜散射的光的透射率，如ASTM D 1003所定义。
另外，工作板12可以理想地为有刻度的工作板。更特别地，所述工作板12可包括设置在例如，工作板12边界附近的刻度。所述刻度可用来测量光管理膜22中的缺陷位置。另外和/或可选择地，所述刻度可独立于工作板12。例如，所述刻度可以是透明的标尺等等。在各种实施方案中，可以将支持垫设于标尺末端处，使得标尺可以提升到光管理膜22上方以防止刮擦该光管理膜22。正如下面更为详细的描述那样，通过精确测量光管理膜中特定缺陷的位置，可以识别多个膜中的重复性缺陷。
背光光源18和头顶光源28可同时包括高亮度和低亮度光源。所述高亮度光源可包括但不限于，冷阴极荧光灯、荧光灯等等。所述低亮度光源可包括但不限于，发光二极管(LED)。应当注意到，背光光源18可以是透射光光源(例如通过光管理膜的光)，而头顶光源28可以是反射光光源(例如，从光管理膜表面反射出的光)。
在检测包括光改向结构(一种或多种)的光管理膜的方法实施方案中，所述方法包括1)当光改向结构面朝上方时(即，面向远离观察者的方向)，用反射光在“x”方向和/或“z”方向上以大约0°到大约90°的视角检测光管理膜；2)当光改向结构面朝上方时，用透射光在“x”方向和/或“z”方向上以大约0°到大约90°的视角检测光管理膜；3)当光改向结构面朝下方时(即，面向观察者的方向)，用反射光在“x”方向和/或“z”方向上以大约0°到大约90°的视角检测光管理膜；4)当光改向结构面朝下方时，用透射光在“x”方向和/或“z”方向上以大约0°到大约90°的视角检测光管理膜。
在下面对所述方法的示例性实施方案进行描述时，参考上述方法的步骤仅仅是为了便于讨论，应当注意的是，这些步骤的顺序可根据例如，检测光管理膜的特定检测人等因素而改变。此外，尽管注意到所预想的实施方案中，光管理膜是在“x”方向上或“z”方向上进行观测的，但本领域技术人员应当明白，既在“x”方向上又在“z”方向上观测光管理膜可以比仅在单一方向上观测光管理膜能够识别更多的缺陷。
在实施方案中，检测方法的步骤1-2过程中，使第一光管理膜表面24的朝向为使得该第一光管理膜表面24面对远离观察者32的方向。更特别地，所述第一光管理膜表面24可设置成与所述第一板表面14物理连接。在步骤3-4中，第一光管理膜表面24的朝向为使得该第一光管理膜表面24面向观察者32的方向。换句话说，所述光改向表面26面对远离所述观察者32的方向。更特别地，所述光改向表面26可设置成与所述第一板表面14物理连接。在步骤1和步骤3中，背光光源18为“关闭”(即背光光源18不发光)，而头顶光源28为“开启”(即头顶光源28发光)。反之，在步骤2和4中，背光为“开启”而头顶光源为“关闭”。
不受任何理论约束，当背光光源18为“关闭”而头顶光源28为“开启”时，头顶光源28相对于光管理膜22的位置允许该头顶光源28用作反射光源。此外，当背光光源18为“开启”而头顶光源28为“关闭”时，背光光源18可用作透射光源。这样，该方法允许观察者32既检测到可由反射光观测到的缺陷和又检测到可由透射光观测到的缺陷。由于一些缺陷可以利用一种光源观测到而其它光源观察不到，因而与采用仅一种光源(例如仅背光光源)的系统和方法相比，可以检测到其它的缺陷。
此外，如上面简要提到，该系统和方法允许观察者32检测到光管理膜22中“x”方向和“z”方向上的缺陷，各个方向的视角在大约0°到大约90°。而且，一些缺陷可能仅在特定的视角下可检测到(观测到)。该系统和方法允许观察者32在“x”方向和“z”方向上的广泛视角范围内检测缺陷。这样，与观察者32仅能以特定视角检测缺陷的系统和方法(例如，与光管理膜成法向的视角)相比，可以检测出更多的缺陷。
在步骤1-4中，采用上述刻度和/或标尺可以很容易地确定缺陷在光管理膜中的位置。确定了光管理膜中的缺陷位置之后，检测光管理膜的方法可进一步包括根据类型和严重程度将缺陷进行分类。更特别地，对于缺陷类型来说，可以将缺陷表征为处理缺陷、加工缺陷等等。此外，应注意到加工缺陷可进一步表征为重复性缺陷和非重复性缺陷。
不受任何理论约束，当用于制造光管理膜的旋转加工辊上面有污染物(例如一粒灰尘等等)并且该污染物接触到所述光管理膜表面时，会形成重复性缺陷。此外，也会由于硬件的缺陷，例如磨损辊等等，导致出现重复性缺陷。应当注意到重复性缺陷会在光管理膜上以预定的间距重复生成。例如，重复性缺陷可包括刮痕、凹坑、印痕、直线、白斑、污点等等。
与重复性缺陷相比，非重复性缺陷是光管理膜上任何点缺陷，其并非由加工辊造成的。非重复性缺陷通常由光管理膜内或上面的颗粒污染造成，并且不会在光管理膜上以预定的间距重复生成。例如，非重复性缺陷包括，膜表面上或者膜里面的黑点、白点、刮痕、橙皮、气泡、小片、黑色/棕色区域等等。
已经测定了光管理膜中的缺陷(一种或多种)位置之后，所述检测方法可进一步包括将第一个膜中的缺陷(一种或多种)位置与至少第二个膜中的缺陷(一种或多种)位置相比较。通过比较多个膜中的缺陷位置，可以识别出重复性的缺陷。更特别地，可以采用数学分析(统计分析)来确定例如，特定缺陷在大量膜上的频率、膜具有特定缺陷的可能性等等。进一步发现了对光管理膜中缺陷位置的分析可用以识别光管理膜中缺陷的根本成因。更特别地，光管理膜中缺陷位置可以与如上所述的各种加工条件相关联(例如，由加工辊上的污染物造成的重复性缺陷)。所述缺陷可以根据缺陷的类型和严重程度进行分组，并可采用数学分析来将缺陷的特定类型和严重程度与特定的加工条件相关联。识别了特定缺陷组的根本成因之后，可以改变加工条件来减少/消除所述特定缺陷组。因此，当与没采用检测方法来改变加工条件的传统系统相比较时，其可以获得较高产量的光管理膜。
在实施方案中，进行了有意设计的试验来确定特定类型和严重程度的缺陷的根本成因。利用这些试验将特定类型和严重程度的缺陷与加工条件(一个或多个)进行关联之后(即，确定了所述缺陷组的根本成因后)，可以对制造光管理膜中采用的加工条件进行改善。更特别地，建立一种缺陷的分类系统，其中各缺陷组与特定的加工条件和/或系列加工条件相关联。因此，一种制造光管理膜的方法可以包括采用上述系统和/或方法检测光管理膜，将缺陷与预定类型和严重程度的缺陷相比较，其中所述预定类型和严重程度的缺陷与加工条件相关联，以及改善所述加工条件。
实施例在该实施例中，识别了13种不同类型的缺陷。表1表示了这些缺陷的定义。
表1
与本文所公开的检测方法相比，传统的检测方法通常仅能检测出上面鉴别出的4种缺陷(点缺陷、弯曲、刮痕、和污迹/擦痕/灰尘)。例如，检测光管理膜的传统方法包括在LCD背光显示器中安装光管理膜，并只采用透射光检测所述膜。
有利地，本文中公开的检测光管理膜的系统和方法允许观察者(例如人类观测者)同时利用反射光和透射光来检测出光管理膜中的缺陷。由于一些缺陷可以利用一种光源观测到而其它光源观察不到，因而与采用仅一种光源(例如仅背光光源)的系统和方法相比，可以检测到其它的缺陷。此外，该系统和方法允许观察者在“x”方向和“z”方向上的广大视角范围内检测缺陷。因而，与观察者只能以特定的视角(例如，与光管理膜成法向的视角)检测缺陷的系统和方法相比，可以检测出更多的缺陷。而且，所述检测方法可以用于跟踪所述缺陷的根本成因，从而改变加工条件以避免进一步的缺陷。
尽管本发明是参考其一些实施方案进行描述的，但本领域技术人员应当明白可以做出各种改变并可用等价方式来代替其元素，而不偏离本发明的范围。此外，可以做出许多改变以使特定的情况或材料适用于本发明的教导，而不偏离其实质范围。因此，本发明并不限于公开的作为实施本发明最佳方式而设计的特定实施方案，而将包括落在所附权利要求范围内的所有实施方案。
权利要求
1.一种检测光管理膜的方法，所述方法包括将来自于头顶光源的光从光管理膜的第一面反射出并检测所述光管理膜的缺陷；引导来自于背光光源的透射光通过所述光管理膜的第二面到达第一面并检测所述光管理膜的缺陷；将来自于所述头顶光源的光从所述光管理膜的第二面反射出并检测所述光管理膜的缺陷；引导来自于所述背光光源的透射光通过所述光管理膜的第一面到达第二面并检测所述光管理膜的缺陷；以及测量各测得缺陷在光管理膜中的位置。
2.权利要求1的方法，其中检测所述光管理膜包括在光管理膜的水平方向和光管理膜的深度方向中的每一方向上以大约0°到大约90°的视角检察所述光管理膜。
3.权利要求1的方法，进一步包括对每个检测出的缺陷进行分类。
4.权利要求3的方法，进一步包括将所述分类缺陷与预定的缺陷集合进行对比以确定所述缺陷的成因。
5.权利要求1的方法，其中所述光管理膜包括设置在所述光管理膜第一表面上的光改向结构。
6.一种用于检测光管理膜的系统，所述系统包括具有第一板表面和第二板表面的工作板；设置得接近于所述第二板表面并与所述工作板光学连接的背光光源，其中所述背光光源能够用作透射光源使得透射光可透过所述第二板表面到达第一板表面；以及设置得接近于所述第一板表面的头顶光源，其中所述头顶光源和背光光源设置在所述工作板的相反侧，并且其中所述头顶光源能够用作反射光源，使得当所述光管理膜设置成与所述第一板表面物理连接时反射光可从所述光管理膜上反射出。
7.权利要求6的系统，其中所述工作板包括光漫射性质。
8.权利要求6的系统，其中所述工作板包括刻度。
9.权利要求6的系统，进一步包括设置成与所述头顶光源光学连接的头顶光漫射膜。
10.权利要求6的系统，进一步包括设置成与工作板物理连接的工作板支持物。
11.一种制造光管理膜的方法，所述方法包括形成含有设置在所述光管理膜表面上的光改向结构的光管理膜；检测所述光管理膜，其中检测过程包括将来自头顶光源的光从所述光管理膜第一面反射出并检测所述光管理膜的缺陷；引导来自于背光光源的透射光通过所述光管理膜的第二面到达第一面，并检测所述光管理膜的缺陷；将来自于所述头顶光源的光从所述光管理膜的第二面反射出并检测所述光管理膜的缺陷；引导来自于所述背光光源的透射光通过所述光管理膜的第一面到达第二面，并检测所述光管理膜的缺陷；以及测量各测得缺陷在光管理膜中的位置；将所述测得缺陷分类；将所述分类的缺陷与预定的缺陷集合相比较以确定所述缺陷的成因；以及根据所述分类缺陷与预定缺陷集合的比较结果来改变形成所述光管理膜的工艺条件。
12.权利要求11的方法，其中检测所述光管理膜包括在光管理膜的水平方向和光管理膜的深度方向中的每一方向上以大约0°到大约90°的视角观察所述光管理膜。
全文摘要
一种检测光管理膜(22)的方法，包括将来自于头顶光源(28)的光从光管理膜(22)的第一面反射出并检测所述光管理膜(22)的缺陷；引导来自于背光光源(18)的透射光通过所述光管理膜(22)的第二面到达第一面并检测所述光管理膜(22)的缺陷；将来自于所述头顶光源(28)的光从所述光管理膜(22)的第二面反射出并检测所述光管理膜(22)的缺陷；引导来自于所述背光光源(18)的透射光通过所述光管理膜(22)的第一面到达第二面并检测所述光管理膜(22)的缺陷；以及测量各测得缺陷在光管理膜(22)中的位置。
文档编号G01M11/00GK101065657SQ200580040640
公开日2007年10月31日 申请日期2005年9月19日 优先权日2004年9月29日
发明者K·P·卡帕尔多, Y·胡, C·杨, Y·张 申请人:通用电气公司