专利名称：微粒分析的定位标记制作方法
技术领域：
本发明属于借助于测定材料的物理、化学或同位素性质来测试或分析材料领域，具体涉及一种微粒分析的定位标记制作方法。
背景技术：
在环境样品分析中，微粒的元素和同位素组成分析是其重要手段之一。分析过程一般分为两步进行，一是，利用扫描电镜寻找和定位感兴趣微粒，如含铀或含钚微粒；二是，在二次离子质谱仪中对感兴趣微粒进行再定位之后，对其进行同位素组成分析。在定位和再定位之间，定位标记在两台仪器中起着桥梁作用，所以，定位标记的建立在微粒定位中起着关键作用。
现有的微粒分析定位标记制作方法，主要采用蒸发镀膜法，该制作方法的步骤是，首先用激光加工或其它方式制作一个大的模具，用普通胶水将定位网栅粘贴在大模具上，然后将大模具扣在直径1英寸的石墨样品垫上，放入蒸发镀膜仪里蒸镀铜或金，蒸镀完毕后将大模具和定位网栅取下，在石墨样品垫上就留下了一层薄而均匀的膜。这层膜中含有定位网栅上的字母、阿拉伯数字和附近的“十”等图案，这些字母、阿拉伯数字及附近的“十”图案均可以作为微粒分析的定位标记。
这种方法制作的微粒分析定位标记厚度薄而均匀，有助于保证感兴趣微粒的定位精度，但镀膜的微粒定位标记耐二次离子质谱仪离子束轰击能力差，在二次离子质谱仪中对感兴趣微粒进行再定位时会发生标记不清，无法再定位，且这种方法需要用到镀膜仪，实际使用不便，制作成本也增高。
技术方案本发明的目的是提供一种微粒分析的定位标记制作方法，此方法既保证了微粒的定位精度，又使得微粒定位标记耐二次离子质谱仪离子束轰击能力增强，不影响再定位的读数，且操作简单，成本低。
一种微粒分析的定位标记制作方法，该制作方法是把涂有导电银胶的定位网栅1沿倒扣在石墨样品垫3上的定位模具4的内径粘贴在石墨样品垫3上，再用挤压模具2固定定位网栅1。
用此方法制作出的定位标记好处在于，放有样品的石墨样品垫经过二次离子质谱仪离子束的轰击后，定位标记仍然清晰，因为定位网栅的密实度远大于用蒸发镀膜法镀的膜，所以不影响再定位的读数。这种方法不用蒸发镀膜仪，成本降低，操作简单。
图1实施例1所用模具示意图1为定位网栅，2为挤压模具，3为石墨样品垫，4为定位模具。
具体实施例方式
下面将结合具体实施例，对本发明的技术方案作进一步阐述。
实施例1首先将定位模具4倒扣在石墨样品垫3上，使得石墨样品垫3和定位模具4的下内径相吻合，用镊子夹住定位网栅1，将导电银胶均匀涂抹在定位网栅1的边沿，以不堵住网栅孔为准，再将涂好胶的定位网栅1粘贴在石墨样品垫3上，粘贴的位置尽量靠近定位模具4上内径的边沿，粘贴好后再用挤压模具2轻压定位网栅1，定位网栅1就牢固的粘贴在石墨样品垫3上。该方法用的定位网栅1是铜网栅。
这样微粒分析的定位标记制作完毕。在石墨样品垫3上铜网栅的字母、阿拉伯数字及附近的“十”图案就可以用作扫描电镜和二次离子质谱仪微粒分析的定位标记，对感兴趣微粒的寻找、定位和再定位。
操作中所用到的定位模具4形状是底部有一个与石墨样品垫3相吻合的凹圈，凹圈上部的内径为上内径，凹圈下部的内径为下内径，它的尺寸为上内径 18.5mm下内径 26mm外径32mm上高0.8mm下高1.2mm挤压模具2的尺寸为内径10.5mm外径18.4mm高 20mm石墨样品垫3直径是25.4mm实施例2
方法同实施例1，不同的是操作中所用到的定位模具4形状是一个圆环，圆环外径小于石墨样品垫3的直径，圆环内径与挤压模具2外径相吻合，圆环的尺寸外径是24mm，内径是18.5mm，且用镍网栅代替铜网栅。镍网栅的直径也是25.4mm。
实施例3方法同实施例1，不同的是操作中所用到的定位模具4形状是一个带有边沿的圆环，圆环外径大于石墨样品垫3的直径，圆环内径与挤压模具2外径相吻合，圆环的尺寸外径是26mm，内径是18.5mm。
权利要求
1.一种微粒分析的定位标记制作方法，其特征在于所述的制作方法是把涂有导电银胶的定位网栅(1)沿倒扣在石墨样品垫(3)上的定位模具(4)的内径粘贴在石墨样品垫(3)上，再用挤压模具(2)固定定位网栅(1)。
2.根据权利要求1所述的定位标记制作方法，其特征在于所说的定位网栅(1)是铜网栅或镍网栅。
3.根据权利要求1所述的定位标记制作方法，其特征在于所用的定位模具(4)可以是一个圆环，圆环的外径小于石墨样品垫(3)的直径。
4.根据权利要求1所述的定位标记制作方法，其特征在于所用的定位模具(4)还可以是一个带有边沿的圆环，圆环的内径小于石墨样品垫(3)的直径。
5.根据权利要求1所述的定位标记制作方法，其特征在于所用的定位模具(4)还可以是底部有一与石墨样品垫(3)相吻合的凹圈，凹圈下部的下内径大于石墨样品垫(3)的直径，凹圈上部的上内径小于石墨样品垫(3)的直径，凹圈下部的高度小于石墨样品垫(3)的厚度。
6.根据权利要求1所述的定位标记制作方法，其特征在于，所述的挤压模具(2)呈环状，环的内外径之差不小于定位网栅(1)的直径。
全文摘要
本发明涉及一种微粒分析的定位标记制作方法，该制作方法是把涂有导电银胶的定位网栅(1)沿倒扣在石墨样品垫(3)上的定位模具(4)的内径粘贴在石墨样品垫(3)上，再用挤压模具(2)固定定位网栅(1)。用此方法制作出的定位标记好处在于，放有样品的石墨样品垫(3)经过二次离子质谱仪离子束的轰击后，定位标记仍然清晰，不影响再定位的读数，且该方法不用蒸发镀膜仪，成本降低，操作简单。
文档编号G01N15/00GK1877295SQ20061009907
公开日2006年12月13日 申请日期2006年7月18日 优先权日2006年7月18日
发明者刘国荣, 李井怀, 李静, 赵永刚, 李安利, 王林博, 郭士伦 申请人:中国原子能科学研究院