专利名称：半导体致冷块的测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量装置，尤其是一种半导体致冷块二极间电压的
测量装置。
背景技术：
目前现有技术，半导体致冷块大多用于电子冰箱、饮水机等，测量半导 体致冷块是否合格，达到使用要求时，通过采用在整体上根据致冷效果，去 判断，测试周期长，费时、费工。 发明内容
本实用新型的目的是提供一种半导体致冷块的测量装置，它不仅能方 便地测量半导体致冷块制冷面、热面间的电压，判断是否达到使用要求，而 且方便及吋，省时、省工。
本实用新型是这样实现的 一种半导体致冷块的测量装置其特征在于-包括电源部分，计时、控制电路，显示部分，驱动电路和接口电路；电源部
分'J显示部分、驱动电路连接，计时、控制电路与显示部分、驱动电路连接， 驱动电路与接[i电路连接，显示部分连接于驱动电路和接口电路之间。
所述半导体致冷块的测量装置，其特殊之处在于所述计时、控制部电 路由单片机、电容、电阻、开关和三极管构成，电容一端、电阻"端分别与 单片机连接，电容另一端和电阻另一端连接并与开关、电源接通，开关的另 一端接地；所述三极管的基极通过电阻与单片机连接，发射极接地，集电极
与驱动电路连接。
一发光二极管一端与单片机连接，另一端接地。
驱动电路由二极管、继电器构成，二极管与继电器并联，继电器与三极
管的集电极、接U1电路连接。
接口电路一输入端与继电器连接、另一输入端接地。
显示部分连接于驱动电路和接口电路之间，所述显示部分由电压表VI、 电压表V2构成，上述电压表V1、电压表V2分别与计时控制部分的单片机连 接；且电压表V1、电压表V2—极与接口电路的一输入端接通，电压表V1、 电压表V2另一极接地。
本实用新型所述半导体致冷块的测量装置，包括电源部分，计时、控制 电路，显示部分，驱动电路和接口电路；电源部分与显示部分、驱动电路连 接，计时、控制电路与显示部分、驱动电路连接，驱动电路与接口电路连接， 接t:l电路与显示部分连接。由于采用这样的结构，当测量半导致冷块制冷面、 热面间电压时，只需很短时间，就可以判断该半导体致冷块是否合格。克服 了现有技术中，需要接通电源，根据致冷量，判断是否合格，时间长，浪费 电的缺陷。故它不仅能方便地测量半导体致冷块制冷面、热面间的电压，判 断是否达到使用要求，而且方便及时，省时、省工。
阁l是本实用新型的方框图。
图2是本实用新型显示部分的电原理图。
阁3是本实用新型的电原理图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步描述。 如图1所示， 一种半导体致冷块的测量装置包括电源部分，计时、控制 电路，显示部分，驱动电路和接口电路。电源部分与显示部分、驱动电路连 接，计时、控制电路与显示部分、驱动电路连接，驱动电路与接口电路连接， 接口电路与显示部分连接。
如图3所示，所述计时、控制部电路由单片机、电容、电阻、开关和三 极管构成，电容-端、电阻一端分别与单片机连接，电容另一端和电阻另一
端连接并与开关、电源接通，开关的另一端接地，单片机与显示部分连接；
所述三极管为NPN型，基极通过电阻与单片机连接，发射极接地，集电极与
驱动电路连接。-发光二极管一端与单片机连接，另一端接地。单片机还与 陶瓷滤波器连接。
驱动电路由二极管、继电器构成，二极管与继电器并联，继电器与三极 管的集电极、接口电路连接。
接口电路-输入端与继电器连接、另一输入端接地。
如图2所示，显示部分连接于驱动电路和接口电路之间，所述显示部分 由电压表V1、电压表V2构成，上述电压表V1、电压表V2分别与计时控制部 分的单片机连接；且电压表V1、电压表V2—极与接口电路的输入端接通，电 压表V1、电压表V2另一极接地。
使用时，在接口电路1、 2处接入制冷片引线，此时电压表VI、电压表 V2的电压输入端正极与半导体致冷块红线相连，此时电压表VI、电压表V2 的电压输入端负极与半导体致冷块黑线相连，电压表V1上显示制冷片冷、热 面温差产生的电压V1。
按下按钮开关K，发光二极管LED灯亮(表示测试开始)，1.5秒后单片
机X脚产生一个控制信号，锁住电压表V1上所显示的电压V1，该电压值称为 初始电压；Y脚产生一个控制信号，驱动三极管，使继电器吸合。+12V电压 经继电器触点给半导体致冷块供电，半导体致冷块考试制冷，制冷片冷面制 冷，热面发热，持续5秒。5秒后，Y脚的控制信号消失，继电器触点断开, 电压表V2显示制冷过程结束后制冷片冷热面温差产生的电压V2。
1秒后在单片机Z脚产生一个控制信号，锁住电压表V2上显示的电压V2， 该电压值称为放电电压；发光二极管LED灯灭， 一个测试过程结束。当放电 电压减初始电压符合相关要求判合格，否则不合格。
权利要求1、一种半导体致冷块的测量装置其特征在于包括电源部分，计时、控制电路，显示部分，驱动电路和接口电路；电源部分与显示部分、驱动电路连接，计时、控制电路与显示部分、驱动电路连接，驱动电路与接口电路连接，显示部分连接于驱动电路和接口电路之间。
2、 根据权利要求1所述的半导体致冷块的测量装置，其特征在于所述 计时、控制部电路由单片机、电容、电阻、开关和三极管构成，电容一端、 电阻 一端分别与单片机连接，电容另一端和电阻另一端连接并与开关、电源 接通，开关的另一端接地；所述三极管的基极通过电阻与单片机连接，发射 极接地，集电极与驱动电路连接； 一发光二极管一端与单片机连接，另一端 接地；驱动电路由二极管、继电器构成，二极管与继电器并联，继电器与三极管的集电极、接口电路连接；接U电路-输入端与继电器连接、另一输入端接地； 显示部分连接于驱动电路和接口电路之间，所述显示部分由电压表VI、电压表V2构成，上述电压表V1、电压表V2分别与计时控制部分的单片机连接；且电压表V1、电压表V2—极与接口电路的输入端接通，电压表V1、电压表V2另 极接地。
专利摘要一种半导体致冷块的测量装置其特征在于包括电源部分，计时、控制电路，显示部分，驱动电路和接口电路；电源部分与显示部分、驱动电路连接，计时、控制电路与显示部分、驱动电路连接，驱动电路与接口电路连接，显示部分连接于驱动电路和接口电路之间。由于采用这样的结构，当测量半导致冷块制冷面、热面间电压时，只需很短时间，就可以判断该半导体致冷块是否合格。克服了现有技术中，需要接通电源，根据致冷量，判断是否合格，时间长，浪费电的缺陷。故它不仅能方便地测量半导体致冷块制冷面、热面间的电压，判断是否达到使用要求，而且方便及时，省时、省工。
文档编号G01R19/00GK201066370SQ200720053720
公开日2008年5月28日 申请日期2007年7月4日 优先权日2007年7月4日
发明者曹中华 申请人:曹中华