专利名称：铝膜厚度测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量仪器领域，特别涉及一种铝膜厚度测量装置。 技术背景
目前，彩管制造生产线用铝膜厚度测量装置，虽然测试的一致性好，但是， 因为它的检测电路是安装在检测头内的，由于在频繁的测试动作时，检测头与 屏表面的碰触、振动，致使设置在检测头内的电路元件特别容易损坏，故障率 特别高，维修起来也非常麻烦，使用寿命特别短。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服上述现有技术的缺陷，设计一种即一致性好、 而且故障率低的用于彩管制造铝膜厚度测量装置。该设计独特之处在于将铝膜 厚度的检测电路从探测头中移置于铝膜厚度测量装置仪器内，避免因频繁测试 带来检测头损坏，大大减少了故障发生率。
为达到上述目的，本实用新型采取的技术方案是
铝膜厚度测量装置，包括检测电路、仪器电路和检测头l，检测头l由聚乙
烯管材2、检测线圈3，电缆4、热塑管5组成，聚乙烯管材2的下半端即测试 端绕制有膜厚检测线圈3，检测线圈3的外部包裹有热塑管5，检测线圈3的三 个抽头JI-K JI-2、 JI-3捆扎在一起，组成电缆4连接到铝膜厚度测量装置仪器 箱里的铝膜厚度检测电路6上。
图1为铝膜厚度测量装置的检测头1剖面图。
具体实施方式
参见图l，本实用新型包括检测电路、仪器电路和检测头l，铝膜厚度测
量装置的检测电路、仪器电路为原有的线路没有改变，检测头1由聚乙烯管材2、 检测线圈3，电缆4、热塑管5组成，在一段长为80mm、直径为062ram的聚乙 烯管材2的下半端即测试端绕制有膜厚检测线圈3，检测线圈3的外部包裹有 热塑管5，检测线圈3的三个抽头JI-1、 JI-2、 JI-3捆扎在一起，组成电 缆4连接到铝膜厚度测量仪器箱里的铝膜厚度检测电路6上。
由于经过改进的膜厚i十是将检测头1中的铝膜厚度测量电路从检测头移至 于铝膜厚度测量仪器内，避免因频繁测试带来检测头损坏，大大减少了故障发 生率，使铝膜厚度测量装置的使用寿命延长了几倍，无形中降低了生产成本。
权利要求1、铝膜厚度测量装置，包括检测电路、仪器电路和检测头(1)，其特征在于，检测头(1)由聚乙烯管材(2)、检测线圈(3)，电缆(4)、热塑管(5)组成，聚乙烯管材(2)的下半端即测试端绕制有膜厚检测线圈(3)，检测线圈(3)的外部包裹有热塑管(5)，检测线圈(3)的三个抽头JI-1、JI-2、JI-3捆扎在一起，组成电缆(4)连接到铝膜厚度测量仪器箱里的铝膜厚度检测电路(6)上。
专利摘要一种铝膜厚度测量装置，测试电路为原有的线路没有改变，检测头1由聚乙烯管材2、检测线圈3，电缆4、热塑管5组成，在一段长为80mm、直径为Φ62mm的聚乙烯管材2的下半端即测试端绕制有膜厚检测线圈3，检测线圈3的外部包裹有热塑管5，检测线圈3的三个抽头JI-1、JI-2、JI-3捆扎在一起，通过电缆4连接到铝膜厚度测量器里的铝膜厚度检测电路6上。由于经过改进的膜厚计是将检测头部分电路从检测头移至于仪器内，避免因频繁测试带来检测头损坏，大大减少了故障发生率，使膜厚计的使用寿命延长了几倍，无形中降低了生产成本。
文档编号G01B7/06GK201138192SQ20072013326
公开日2008年10月22日 申请日期2007年12月28日 优先权日2007年12月28日
发明者陈六一 申请人:彩虹显示器件股份有限公司