专利名称：分料装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种分料装置，特别是涉及一种半导体元件测试装置进料
的分料装置，其具有单一动力源，且以容置管(tube)来作为进料;^几构。
背景技术：
在半导体元件完成封装后，通常会对半导体元件进行测试，以挑选出在封装前没有被检测出来的不良产品，或者是挑选出在封装制程中受损的产品，如此才能确保产品的品质。 一般是由封装厂商将已封装的半导体元件装入容置管(tube)中，再送至测试厂进行测试。在测试厂中，首先会将此容置管(tube)放入测试装置的进料机构，进行分料而使半导体元件可以一个接着一个分离地进入测试装置，而不是一股脑地全部进入测试装置。
请参阅图1所示，是显示现有传统的半导体元件测试装置的侧视示意图。在测试机台100的后側设有一进料区104，其插入一容置管102来提供待测的半导体元件(以下称为待测元件)。位于进料区l(M后面的是一具有》皮度的暂停区106，用以暂存待测元件103。一分料装置108位于暂停区106上方，用以对暂停区106的待测元件103进行分料。最后，测试区110是用来测试待测元件103，而收集装置ll2则是用来收集测试完毕的已测元件。
当容置管102插入进料区104之后，容置管102被竖起使得容置管102内的待测元件103藉由重力而滑入暂停区106。
请参阅图2A至图2C所示，是现有传统的分料装置作动的侧视图。如图2A所示，首先进入暂停区106的待测元件103a被分料装置108中靠近测试区110的一第一气压缸108a挡住而停留于暂停区106内，同时也阻挡了位于暂停区106的其它待测元件进入测试区110。
接着，分料装置108的一第二气压缸108b压住随后进入的待测元件103b，如图2B所示。最后，如图2C所示，放开第一气压缸108a使待测元件103a滑入测试区110内以进行测试。重复上述的步骤，使得待测元件得以一个接着一个地分别进入测试区110进行测试。
请参阅图3所示，是半导体元件毛边效应的示意图。然而，在封装制程中，当半导体元件进行封胶后，其边缘常常会产生毛边101，如图3所示。当此种带有毛边101的半导体元件装入容置管102时，不仅会增加与容置管102的摩擦，并且由于各个相邻待测元件103的毛边101会彼此相叠，常常使得分料装置108无法轻易地藉由重力将待测元件分开，因而发生卡料的问题，进而使得分料动作无法顺利进行，造成测试装置的当机而减低测试的产能与增加成本。此外，如上所述的现有传统的分料装置108，是使用多个动力源(亦即多个气压缸)，所以需要分成数个步骤来个别驱动气压缸以完成进料的动作，因此需要花费较多的时间，并且多个气压缸也会占用较大的空间。因此，亟需要提出一种可以解决因毛边造成的卡料问题、不占空间以及缩短分料时间的分料装置。
由此可见，上述现有的分料装置在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新型结构的分料装置，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。
有鉴于上述现有的分料装置存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的分料装置，能够改进一般现有的分料装置，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
本发明的目的在于，克服现有的分料装置存在的缺陷，而提供一种新型结构的分料装置，所要解决的技术问题是使其提供一种具有单一动力源的进料机构，使得进料动作可以连续并且一次完成而可简化进料的步骤，因而可以增快分料的速度，同时可以缩小进料机构的体积，非常适于实用。
本发明的另一目的在于，提供一种新型结构的分料装置，所要解决的技术问题是使其提供一种测试装置的分料装置，可以解决因半导体元件的封胶毛边效应所造成的卡料问题，减少测试装置当机并且可以快速而顺利地进行分料与进料的动作，因而能够增加产能，从而更加适于实用。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据
本发明提出的一种测试装置的分料装置，其包含 一阻挡臂，设置于该分料装置前端的一侧，用以控制第一个待测元件进入； 一第一夹爪组，设置于该阻挡臂之后，用以夹取第一个该待测元件； 一第一摆臂组，设置于该第一夹爪组之后，用以控制该第一组夹爪组进行夹取动作； 一第二夹爪组，设置于该分料装置前端的另一侧，位于该第一夹爪组之后，用以夹取第二个该待测元件；一第二摆臂组，设置于该第二夹爪组之后，用以控制该第二夹爪组进
行夹取动作； 一第一前推块，设置于该第一摆臂组之后并且与该第二前推块连接，用以推动该第一夹爪组向前移动； 一第二前推块，用以控制该阻挡臂动作； 一第三摆臂组，设置于该第一前推块之后，用以推动该第二前推块与
该第一前推块向前；一下压座，设置于该第一摆臂组、该第二摆臂组以及该
第三摆臂组上方，用以驱动该第 一摆臂组、该第二摆臂组以及该第三摆臂
组；以及一动力源，设置于该下压座上方并且与该下压座连接，用以直接驱动该下压座。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的测试装置的分料装置，其中所述的下压座包含 一上承板，用以连接该动力源； 一第一下压板，位于该上承板下方，用以下压驱动该第一摆臂组与该第三摆臂组； 一第二下压板，位于该上承板下方，用以下压驱动该第二摆臂组； 一第一弹簧，用以连接该上承板与该第一下压板；以及一第二弹簧，用以连接该上承板与该第二下压板;其中该第一弹簧与该第二弹簧在动力源关闭时，用以帮助该下压座中各元件回到原来位置。
前述的测试装置的分料装置，其中所述的第 一夹爪组包含一与该第一摆臂组连接的第一控制机构，以及一第一夹爪，其中该第一摆臂推动该第一控制机构前进以控制第 一夹爪关闭。
前述的测试装置的分料装置，其中所述的第二夹爪组包含一与该第二摆臂组连接的第二控制机构，以及一第二夹爪，其中该第二摆臂推动该第二控制机构前进以控制第二夹爪关闭。
前述的测试装置的分料装置，其中其更包含一第三弹簧连接该第一前推块与该第二前推块，用以再关闭动力源时使各元件回到原本位置。
前述的测试装置的分料装置，其中其更包含一穿透该第一摆臂组的连接结构与该第一前推块，以及该第一夹爪连接。
前述的测试装置的分料装置，其中其更包含一卡榫位于该阻挡臂的上方，用以控制该阻挡臂开启。
前述的测试装置的分料装置，其中所述的第 一摆臂组与该下压座的间距大于该第二摆臂组与该下压座的间距，而该第二摆臂组与该下压座的间距大于该第三摆臂组与该下压座的间距。
前述的测试装置的分料装置，其中所述的第二摆臂组与该下压座的间距大于该第一摆臂组与该下压座的间距，而该第一摆臂组与该下压座的间距大于该第三摆臂组与该下压座的间距。
前述的测试装置的分料装置，其中其更包含一凸块设置于该第一下压板上对应于该第 一摆臂位置。
前述的测试装置的分料装置，其中其更包含另一凸块设置于该第二下压板上对应于该第二摆臂位置。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上可知，为达到上述目的，本发明提供一种分料装置，其包含一动力源直接驱动一下压座，以及下压座下压而驱动位于其下方的三个摆臂组，其分别为第一摆臂组、第二摆臂组以及第三摆臂组，并且分别藉由驱动第一摆臂组而控制第
一夹爪组来夹取第一个材料或待测元件；驱动第二摆臂组而控制第二夹爪组以夹取第二个材料或待测元件；以及驱动第三摆臂组以推动第二前推块与第一前推块。藉由推动第二前推块来控制阻挡臂的动作，以及推动第一前推块来推动第一夹爪组前移。藉由第一夹爪组、第二夹爪组以及阻挡臂的夹取与阻挡使得第一材料/待测元件前移，而与第二材料/待测元件分离完成进料动作。
借由上述技术方案，本发明分料装置至少具有下列优点及有益效果
1、 本发明的分料装置，因为其仅具有单一动力源的进料机构，并藉由此单一动力源使得进料动作无需变换动力源，因此进料动作可以连续不停顿并且一次完成而简化进料的步骤，故可以加快分料的速度。此外，因为其仅有单一动力源，所以可缩小进料机构的体积。因此，本发明提供了一种具有单一动力源的进料机构，使得进料动作可以连续并且一 次完成而可以简化进料的步骤，因而可以增快分料的速度，同时可以缩小进料机构的体积，非常适于实用。
2、 再者，因为本发明的进料机构藉由第一夹爪夹住第一个待测元件而前移，可以使其完全脱离第二个待测元件，故可以解决因半导体元件的封胶毛边效应所造成的卡料问题，减少测试装置当机并且可以快速而顺利地进行分料与进料动作，因而能够增加产能，因而能够增加产能，从而更加适于实用。
综上所述，本发明是有关于一种分料装置，用以在半导体测试装置中将半导体元件一个个加以分离并且解决毛边问题。此一分料装置具有一动力源、 一下压座、 一第一摆臂组、 一第二摆臂组、 一第三摆臂组、 一第一夹爪组、 一第二夹爪组、 一第一前推块、 一第二前推块，以及一阻挡臂。藉由驱动动力源使得下压座下降压迫各摆臂组，而带动第一夹爪组、第二夹爪组以及阻挡臂而进行分料。此一分料装置因为其仅有一动力源并藉此动力源带动各元件进行分料，所以可以增快分料的速度以及缩小进料机构的体积。本发明具有上述诸多优点及实用价值，其不论在产品结构或功能上皆有较大改进，在技术上有显著的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的分料装置具有增进的突出功效，从而更加适于实用，诚为一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
图l是现有传统的半导体元件测试装置的側视图。
图2A至图2C是现有传统的分料装置作动的侧视图。 图3是半导体元件毛边效应的示意图。
图4A至图4D是本发明的分料装置整体以及各部分的立体图。 图5是本发明的分料装置进行分料的流程图。 图6是夹爪组进行夹取的示意图。
10:分料装置10a:分料装置的一部分
10b:分料装置的另一部分12:动力源
13:待测元件14:下压座
14a:上承板14b:第一弹簧
14c:第二弹簧14d:第一下压板
14e:第二下压板16:第一摆臂组
18:第二摆臂组20:第三摆臂组
22:第一夹爪组22a:第一控制机构
22b:第一夹爪24:第二夹爪组
24a:第二控制机构24b:第二夹爪
26:阻挡臂27:卡榫
28:第一前推块29a:第三弹簧
29b:连接结构30:第二前推块
100:测试才几台102:容置管
101:毛边103、103a、 103b:待测元件
104:进料区106:暂停区
108:分料装置108a::第一气压缸
108b:第二气压缸110:测试区
112:收集装置
具体实施例方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功 效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的分料装置其具体实施 方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
有关本发明的前述及其他技术内容、特点及功效，在以下配合参考图 式的较佳实施例的详细说明中将可清楚呈现。通过具体实施方式
的说明，当 可对本发明为达成预定目的所采取的技术手段及功效得一更加深入且具体 的了解，然而所附图式仅是提供参考与说明之用，并非用来对本发明加以
8限制。
请参阅图4A至图4D所示，是本发明的分料装置整体以及各部分的立
体示意图，是显示本发明的一较佳实施例的分料装置10的整体、分料装置 10的一部分10a以及分料装置10的另一部分10b的立体示意图，其中，图 4C为分料装置10的一部分10a的透视图。分料装置10包含有一个动力源 12，例如汽压缸，其向下连接有一下压座14。
请参阅图4B所示，显示分料装置10的一部分10a的侧视示意图。第 一摆臂组16与第三摆臂组20设置于下压座14的下方，并且分别连接至第 一夹爪组22与第一前推块28,用以控制第一夹爪组22的夹取与推动第一前 推块28的前进。其中，第一摆臂组16是设置于第三摆臂组20之前。此第 一夹爪组22是由一第一控制机构22a与第一夹爪22b所组成，其中第一控 制机构22a为一与第一摆臂组16相连接的n字型结构，用以控制第一夹爪 22b的开合。当然，第一控制机构22a也可以为其他形状，如U字型、V字 型……等结构。
此外，请同时参阅图4B及图4C所示，图4C是显示分料装置IO的一部 分10a的透视图，虛线部分代表透视的部位，第一前推块28设置于第一摆 臂组16之后，并且藉由第三弹簧29a与第一摆臂组16相连接；此外，还藉 由穿过第一摆臂组16的连接结构29b，例如插销，与第一夹爪22b以及第 二前推块30相连接。此第二前推块30设置于第一夹爪组22之前，并且其 上设置有一阻挡臂26，以及在阻挡臂26的上方设有一卡榫27,用以控制 阻挡臂26举起或放下，用以限制待测元件进入机台。
请参阅图4D所示，显示分料装置10的另一部分10b的立体示意图。在 第二下压板14e的下方设有一第二摆臂组18，其连接设置于其前方的第二 夹爪组24。该第二夹爪组24如同第一夹爪组22,是由第二控制机构24a 与第二夹爪24b所组成，其中，第二控制机构24a同样为一与第二摆臂组 18相连接的n字型结构，用以控制第二夹爪24b的开合。当然，第二控制 机构24a也可以为其他的形状，例如U字型、V字型......等结构。
此外，第一下压板14d与其下方的第一摆臂组16的间距小于第二下压 板14e与其下方的第二摆臂组18的间距，而且小于第一下压板14d与其下 方的第三摆臂组20的间距。如此一来，可以确保下压座14在下压时会依 序压迫第一摆臂组16、第二摆臂组18，以及第三摆臂组20而进行分料。当 然，在本发明的其他实施例中，可以将第一摆臂组16、第二摆臂组18,以及 第三摆臂组20直接由高到低设置于分料装置中，也可以达成同样的效果。
请参阅图5以及图6所示，图5是本发明的分料装置进行分料的流程 图，图6是夹爪组进行夹取的示意图。如图5所示，显示本发明的分料装置 进行分料的流程图，其流程将在底下逐一做详细说明。首先，驱动动力源(气压缸)12而带动下压座14下降，其作动方式是藉由动力源下压上承板14a 下降而压迫第一弹簧14b与第二弹簧14c，藉此带动第一下压板14d与第二 下压板14e下降。接着，第一下压板14d先接触下压第一摆臂组16,使得第 一摆臂组16推动与其连接的第一夹爪组22中的第一控制机构22a前进,如 图6A所示，并且压迫第一夹爪22b收合而夹住第一个待测元件13，如图6B 所示。
下压座14继续下降而压迫第二摆臂组18,进而推动第二夹爪组24的 第二控制机构24a前进，使得第二夹爪24b如同上述的第一夹爪22b受到 压迫而收合夹住第二个待测元件。然后，下压座14继续下降而压迫第三摆 臂组20而推动第一前推块28前进。该第一前推块28前进压缩第三弹簧 29a，并且带动穿透第一摆臂组16的连接结构29b(例如插销)与第一夹爪 22b前进。因此，第一夹爪22b带着第一个待测元件并且强迫其前移与被第
二夹爪夹住的第二个待测元件分离。
接着，第一前推块28继续推动第一夹爪22b脱离第一控制机构22a而 张开，使得第一个待测元件脱离第一夹爪的控制而下滑。在此同时，第一前 推块28藉由推动连接结构29b (例如插销)带动第二前推块30与设置于其上 的阻挡臂26前进，使得阻挡臂26脱离卡榫27控制而上扬开启，因此第一个 测试元件得以下滑脱离分料装置10。然而，此时第二个待测元件仍然被第 二夹爪24b夹住。然后，关闭动力源12，使得整个分料装置10因为第一弹 簧14b、第二弹簧14c以及第三弹簧29a不再受力，藉由弹簧的恢复力将各 个零件拉回到原本的位置。藉此，第二个待测元件与第三个待测元件下滑 进入分料装置IO,但是被阻挡臂26所阻挡而无法继续下滑。重复上述的步 骤即可连续的进行分料的动作。
虽然在上述实施例中，下压座下降时依序压迫第一摆臂组、第二摆臂 组，藉此依序夹住第一个待测元件与第二个待测元件，但是此一顺序并非是 一成不变的。在本发明的其他实施例中，可以藉由改变第 一摆臂组与第二摆 臂组的高度，或者藉由改变第一下压板上与第二下压板上的凸块与第一摆 臂组与第二摆臂组的间距，变成先夹住第二个待测元件再夹住第一个待测 元件。
本发明的分料装置，因为其仅具有单一动力源的进料机构，并藉由此 单一动力源使得进料动作无需变换动力源，因此进料动作可以连续不停顿 并且一次完成而简化进料的步骤，故可以加快分料的速度。此外，因为其 仅有单一动力源，所以可缩小进料机构的体积。再者，因为本发明的进料 机构藉由第 一夹爪夹住第 一个待测元件而前移，可以使其完全脱离第二个
少测试装置当机并且可以快速而顺利地进行分料与进料动作，因而能够增加产能。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式 上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发 明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利 用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但 凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例 所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围 内。
权利要求
1、一种测试装置的分料装置，其特征在于其包含一阻挡臂，设置于该分料装置前端的一侧，用以控制第一个待测元件进入一第一夹爪组，设置于该阻挡臂之后，用以夹取第一个该待测元件；一第一摆臂组，设置于该第一夹爪组之后，用以控制该第一组夹爪组进行夹取动作；一第二夹爪组，设置于该分料装置前端的另一侧，位于该第一夹爪组之后，用以夹取第二个该待测元件；一第二摆臂组，设置于该第二夹爪组之后，用以控制该第二夹爪组进行夹取动作；一第一前推块，设置于该第一摆臂组之后并且与该第二前推块连接，用以推动该第一夹爪组向前移动；一第二前推块，用以控制该阻挡臂动作；一第三摆臂组，设置于该第一前推块之后，用以推动该第二前推块与该第一前推块向前；一下压座，设置于该第一摆臂组、该第二摆臂组以及该第三摆臂组上方，用以驱动该第一摆臂组、该第二摆臂组以及该第三摆臂组；以及一动力源，设置于该下压座上方并且与该下压座连接，用以直接驱动该下压座。
2、 根据权利要求1所述的测试装置的分料装置，其特征在于其中所述 的下压座包含一上承板，用以连接该动力源；一第一下压板，位于该上承板下方，用以下压驱动该第一摆臂组与该第 三摆臂组；一第二下压板，位于该上承板下方，用以下压驱动该第二摆臂组；一第一弹簧，用以连接该上承板与该第一下压板；以及 一第二弹簧，用以连接该上承板与该第二下压板；其中该第 一弹簧与该第二弹簧在动力源关闭时，用以帮助该下压座中 各元件回到原来位置。
3、 根据权利要求1所述的测试装置的分料装置，其特征在于其中所述 的第 一 夹爪组包含一 与该第 一摆臂组连接的第 一控制机构，以及一第 一 夹 爪，其中该第一摆臂推动该第一控制机构前进以控制第一夹爪关闭。
4、 根据权利要求1所述的测试装置的分料装置，其特征在于其中所述 的第二夹爪组包含一与该第二摆臂组连接的第二控制机构，以及一第二夹爪，其中该第二摆臂推动该第二控制机构前进以控制第二夹爪关闭。
5、 根据权利要求1所述的测试装置的分料装置，其特征在于其更包含一第三弹簧连接该第 一前推块与该第二前推块，用以再关闭动力源时使各 元件回到原本位置。
6、 根据权利要求1所述的测试装置的分料装置，其特征在于其更包含 一穿透该第 一摆臂组的连接结构与该第 一前推块，以及该第 一 夹爪连接。
7、 根据权利要求1所述的测试装置的分料装置，其特征在于其更包含 一卡榫位于该阻挡臂上方，用以控制该阻挡臂开启。
8、 根据权利要求1所述的测试装置的分料装置，其特征在于其中所述 的第一摆臂组与该下压座的间距大于该第二摆臂组与该下压座的间距，而 该第二摆臂组与该下压座的间距大于该第三摆臂组与该下压座的间距。
9、 根据权利要求1所述的测试装置的分料装置，其特征在于其中所述 的第二摆臂组与该下压座的间距大于该第一摆臂组与该下压座的间距，而该第一摆臂组与该下压座的间距大于该第三摆臂组与该下压座的间距。
10、 根据权利要求2所述的测试装置的分料装置，其特征在于其更包含 一凸块设置于该第一下压板上对应于该第一摆臂位置。
11、 根据权利要求2所述的测试装置的分料装置，其特征在于其更包含 另 一 凸块设置于该第二下压板上对应于该第二摆臂位置。
全文摘要
本发明有关一种测试装置的分料装置，包含一阻挡臂，设于分料装置前端，控制第一待测元件进入；一第一夹爪组，设于阻挡臂后，夹取第一待测元件；一第一摆臂组，设于第一夹爪组后控制并夹取动作；一第二夹爪组，设于分料装置前端另侧，位于第一夹爪组后夹取第二待测元件；一第二摆臂组，设于第二夹爪组后；一第一前推块，设于第一摆臂组后与第二前推块连接，推动第一夹爪组向前移动；一第二前推块，控制阻挡臂动作；一第三摆臂组，设于第一前推块后，推动第二与第一前推块向前；一下压座，设置于第一、第二及第三摆臂组上方；及一动力源，设于下压座上方与下压座连接，驱动下压座。本发明因仅有一动力源并藉其带动各元件进行分料，故可增快分料速度及缩小进料机构的体积。
文档编号G01R1/02GK101639489SQ20081013490
公开日2010年2月3日 申请日期2008年7月29日 优先权日2008年7月29日
发明者林源记, 谢志宏, 黄钧鸿 申请人:京元电子股份有限公司