专利名称：用于确定基片表面质量的方法和用于加工基片的相关机器的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于确定基片的表面质量的方法。该基片从初始状态转变到已 加工状态。本发明还涉及一种用于加工初始基片并获得已加工基片的基片加工机。 该基片加工机是包装生产线的一部分。
背景技术：
在包装行业，生产线输送由开始处引入的初始基片产生的已加工产品。基片可 以是原始基片。通常，原始的初始基片会经受加工过程，例如在印刷过程中印刷， 或进行压花、折缝和/或切割操作，从而在基片展开放平时获得对应于包装的坯料 或箱子。
经受加工过程的呈巻盘形式的初始基片可能已经预先经受了一种或多种在先 处理，然后例如呈新巻盘的形式被重新处理。在这种情况下，对于后面的加工过程 需要插入操作。
加工机包括一个或多个部件。这些部件中的每个部件能够在已加工基片的表面 上引起各种缺陷，从而导致所生产包装的质量问题。
当包装制造商希望能够确保批量生产的产品不会被缺陷损害时，检査印刷质量 被证明是必要的操作。根据各种合格标准来评估这些缺陷，但是主要根据必须包装 的产品所选定的质量等级标准来选择包装。
在加工之后并在切割之前或之后检査基片，仔细观察坯料或箱子的已加工基 片，目前仍然用肉眼来进行。操作者寻找所有类型的缺陷，例如那些与印刷相关的 缺陷，并因此调整加工机的设定，从而较佳地尽可能快地避免或限制这些缺陷。
越来越多地在生产线上自动实施这种检査。在坯料或箱子堆叠在接纳工位之 前，相对于被认为没有缺陷的样品，将不符合印刷和/或切割和/或折缝和/或压花质 量的最低要求的坯料或箱子排出。用于自动检测缺陷的装置位于最终加工部件之 后，并且在排出工位之前和在切割工位之前。
在称为巻盘到巻盘应用的情况下，也就是说，加工基片从初始基片巻盘到另一
加工基片巻盘，相对于被认为没有缺陷的样品将不符合印刷和/或折缝和/或压花质 量的最低要求的已加工基片识别出来，并可将其挑选出来。
存在多种用于观察和/或检査这些缺陷的装置。它们通常使用摄像机或任何其 它设备来收集由已印刷基片反射的光。
例如，欧洲专利第0,554,811号描述了一种用于在呈巻材或片材的形式移动通
过印刷机的基片上检测印刷错误和因此的缺陷的装置。该装置包括第一照相机和电 子计算器，该第一照相机用于以第一分辨率记录基片上印刷样品区域的图像，而该 电子计算器用于对图像进行数字化处理然后将其与预先记录的参考图像作比较。用
于以低于第一分辨率的第二分辨率记录总体印刷的第二照相机联接至第一照相机。 从第二照相机获得的比较结果用在反馈回路中以检查第一照相机的操作。
然而，这种装置不能识别所有类型的缺陷。实际上， 一些缺陷在基片通过接连 的印刷单元时会由于印刷接连的颜色而被逐渐掩盖。结果，在已印刷基片的表面上
就无法识别这些缺陷。已印刷的基片将会被分类成对于形成包装是合格的，但是实 际上快速的肉眼检査就能检测到瑕疵。
美国专利第5，395，027号披露了一种用于监测移动通过印刷机的连续基片的装 置，该基片具体来说是纸基片。借助这种装置，可以确定基片是否在正确的张力下 正确地移动且没有破损或裂缝。当基片通过印刷机时，基片中的这些缺陷会对印刷 机及其附件造成损伤。这种装置触发警告信号，并且用来控制用于限制该损伤的器
械。该器械从印刷机上去除所有或部分的有缺陷基片。
然而，这种装置只能防止由于缺陷基片引起印刷过程中基片阻塞而对印刷机造 成的损伤。该装置并未设计成检查印刷过程结束时基片的状态和质量。这种装置的 使用仅可通过限制印刷机停机数量来防止效率降低。这种装置的使用对于已印刷基 片的最终质量没有影响。
发明内容
本发明要解决的一个主要问题包括提供一种用于确定经受加工过程的基片的 表面质量的方法。第二个问题是通过系统地检测基片的缺陷来进一步提高经过加工 过程之后基片的质量。第三个问题是提供一种多步骤的方法，在该方法中，当基片 从初始状态转变到已加工状态时，基片经受质量控制检査。第四个问题是根据使用 者需要来增加几个检査缺陷的步骤，以提供优质的已加工基片。第五个问题是实施 一种确定基片的质量同时避免现有技术的问题的方法。还有另一个问题是提供一种
允许处理与检测到的缺陷相关的信息的加工机。
本发明因此涉及一种用于确定在加工过程中从初始状态转变到已加工状态的 基片的表面质量的方法，该方法包括以下步骤
-获取与在所述初始基片上检测到的表面缺陷相关的第一信息，
-获取与在所述己加工基片上检测到的表面缺陷相关的第二信息，
-处理第一信息和第二信息，以及
-根据与在该初始基片上检测到的表面缺陷相关的第一获取信息并根据与在 该己加工基片上检测到的表面缺陷相关的第二获取信息，来对该已加工基片进行分 类。
在整个说明书中，基片定义成以下形式 -连续的巻材，例如 纸，
纸板，或
塑料，诸如聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、双向拉伸的聚丙烯(BOPP)
等，或
铝，或
-平的基片或片状基片，例如 平纸板，或 波纹纸板，或
柔性材料，诸如聚乙烯(PE)等。
初始基片定义成由生产该基片的机器输出的未经处理的原始基片，该基片未经 任何印刷、标记、折缝、压花、胶合等。该原始基片可以设有涂层，例如白色涂层 等。该原始基片还可以是纸糊或层合基片。
该原始基片也可定义成经受了第一在先加工过程的基片，诸如第一印刷、第一 压花等。
已加工基片定义成已经受加工过程的基片。加工过程可以是印刷过程，在该印 刷过程中，可将一种或多种颜色施加到基片表面上，从而在其上形成图案和/或给 予其漂亮的外观。加工过程也可以是折缝、压花、构造或热箔冲压过程、或用于粘 合地粘贴标签或全息图的过程等。该已加工基片可包括一层覆盖所有的或部分的已 加工表面的漆。
在初始基片上检测到的表面缺陷通过非限制性的例子定义成？L、开裂、沾污
(机油)、条痕、尘土、粗木纤维、涂料粘辊区域等。
在已加工基片上检测到表面缺陷通过非限制性的例子定义成:刮刀条痕、污迹、 沾污、不想要的线条、背景转变、由于缺墨或多墨引起的色强度变化、漏印刷、印 刷板脱离滚筒、由于各种印刷颜色之间切换甚至用于相对于彼此设定多种颜色的电 动总轴的失调引起缺陷时的错行、在印刷和压花或热箔冲压的颜色之间的配准误差 等。
换句话说，通过增加加工之前的检测步骤和加工之后的检测步骤，所有获取的 信息将能改进最终产品的质量控制。本方法可区分初始基片上具有的材料缺陷和已 加工基片表面上具有的加工缺陷，从而最佳地处理检测到的缺陷。
通过添加两个缺陷确定步骤，获得的已加工棊片可分成各种种类。包装制造商 因此可选择保留似乎只有初始基片缺陷、只有已加工基片缺陷或两种缺陷都有的已 加工基片、坯料或箱子。
借助这种解决方案，可以100%保证产品质量，因此避免受包装制造商的缺陷 损害的坯料或箱子被退回。借助这种解决方案，可以100%保证产品质量，假如检 测到初始基片有太多缺陷的话，就可批准将初始基片退回给该初始基片的制造商。
被差错损害且因此被分类的这个基片或这些基片使操作者能作出与加工机的 设定有关的中间决定。实际上，假如在初始基片上和己加工基片上的相同位置同时 检测到相同缺陷，就无需修改加工机的设定，因为缺陷本来就有而无法纠正。
根据本发明的另一方面， 一种用于加工初始基片并获得已加工基片的加工机， 包括
_至少一个用于加工所述初始基片的部件，
-第一装置，用于在初始基片检测表面缺陷并获取与在初始基片上检测到的 表面缺陷相关的第一信息，第一装置设置在加工部件的上游，
-第二装置，用于在已加工基片上检测表面缺陷并获取与在已加工基片上检 测到的表面缺陷相关的第二信息，第二装置设置在加工部件的下游，以及
-处理分类单元，该处理分类单元处理第一信息和第二信息，并根据与在该 初始基片上检测到的表面缺陷相关的获取信息和根据与在该已加工基片上检测到 的表面缺陷相关的获取信息，来对该已加工基片进行分类。
加工部件通过非限制性的例子定义成印刷机，例如具有至少一个印刷单元的 照相凹版印刷机、曲面印刷机或胶版印刷机；或压花单元；折缝单元；或热箔冲压 单元等。
词语"上游"和"下游"定义成与在加工过程中基片的运动方向有关。 换句话说，处理单元使操作者能观察检测到缺陷的类型。处理单元还可连接至
排出工位，该排出工位允许在包装制造商选择时，根据初始基片缺陷或加工缺陷的
各种标准淘汰坯料或箱子。基片加工机结合入包装生产线中。
借助非限制性示例实施例并且参照示意附图，本发明将更易于理解，并且其各 种优点和特征将从下面的描述中变得显而易见，在附图中 -图1示出了根据现有技术的包装生产线的侧视图； -图2示出了根据本发明的印刷机的侧视图；以及 -图3示出了已印刷部分的平面图。
具体实施例方式
如图1和2所示，在包装生产线1上进行包装的生产。该生产从初始连续基片 开始，即例如纸板之类的原始巻材2，并且经过各个接连阶段，这将在下文作总体 描述。包装生产线1用于制造箱子3，这些箱子3能够通过折叠和胶合形成包装。
在第一阶段，借助保持巻盘4的巻材开巻机6来将该原始巻材2的巻盘4展开。 然后，馈送工位7能调节原始巻材2中的张力，并使原始巻材2前进至加工机，在 该例子中，加工机这里描述成印刷机8。原始巻材2的前进方向(图1至3中的箭 头F)形成了上游和下游方向。
在第二阶段，当原始巻材2经过印刷机8时，印刷原始巻材2然后使其干燥。 巻材2接连经过多个印刷单元9，在这种情况下是六个，以实施印刷。
在各个印刷单元9的印刷滚筒的每次完整转动过程中，原始巻材2被印刷成坯 料ll，在图3中用虚线示出。每个坯料11包括呈展开形式的一个或多个箱子3。 借助示例，图3中示出了包括十六个箱子3的坯料11，箱子3带有其将来的折叠 和切割线。已加工基片、即已印刷巻材12足够宽而可包含多个大体相同的箱子3。 箱子3根据已印刷巻材12的移动方向F设置成列13和行14。
压花工位15设置在印刷机8的后面。
在第三阶段，使已印刷巻材12前进至平底冲切工位16，平底冲切工位16将 所有的坯料11或箱子3与已印刷巻材12的其余部分切开。平底冲切工位16接着 产生中间废料17。在废料除去工位18去除中间废料17。在第四阶段，然后在按行堆放以在输送工位19形成堆叠之前，挑选坯料11
或箱子3。在码垛工位21码垛这些堆叠，以便将堆叠储存或运输至生产线1之外。 根据在包装生产线1上尤其在印刷机8上实施的本发明，该方法的目的是确定 从其原始状态2转变到其已印刷状态12的巻材的表面质量。图2给出了其实施方 式的一例子。
在该方法的第一步骤中，获取与在原始巻材2上检测到的表面缺陷相关的第一 信息。该第一步骤可包括两个附加的子步骤。这两个子步骤可设置在加工过程之前， 在这种情况下是印刷过程之前。这两个子步骤中的第一子步骤可包括检测由原始巻 材2形成的原始基片上的表面缺陷。这两个子步骤中的第二子步骤可包括产生与由 该原始巻材2形成的原始基片上的表面缺陷相关的第一信息。
在较佳的示例性实施例中，原始巻材2进入第一质量控制工位22，该第一质 量控制工位22配装在馈送工位7的出口中或出口处，且在印刷机8的印刷单元9 之前。第一质量控制工位22可操作以检测、识别和计量印刷机8的所有类型的缺 陷，因此确认该原始巻材2没有缺陷。
第一质量控制工位22具体装备有第一装置，该第一装置检査原始巻材2并检 测其表面上的缺陷。该第一装置呈观察系统的形式，诸如设有相应照明装置的一个 或多个高分辨率照相机23。通过与存储在存储器中并定义为模型的一例子作比较， 确定该原始巻材2是否受缺陷损害。假如它受损害，则在该第一质量控制工位22 中的检査装置可计算出检测到缺陷的坐标。
在第一步骤的改型实施例中，可在加工过程(在这种情况下是印刷过程)之前 设置和实施的两个附加子步骤可以包括检测由原始巻材2形成的原始基片上的表 面缺陷，以及产生第一信息。这些子步骤可以通过由原始巻材2形成的原始基片的 制造商来实施。该第一信息包括在第一文件中。原始基片的制造商给包装制造商提 供呈巻盘4形式的原始巻材2，还有包含第一信息的第一文件，第一信息列出了所 有检测到的缺陷，尤其包括其位置和性质。
印刷机8的每个印刷单元9可能会在已印刷巻材12的表面上产生各种缺陷。 在该方法的第二步骤中，获取与在已印刷巻材12上检测到的表面缺陷相关的第二 信息。该第二步骤可包括两个附加的子步骤。这两个子步骤可设置和实施在加工过 程之后，在这种情况下是印刷过程之后。这两个子步骤中的第一子步骤可包括检测 由己印刷巻材12形成的己加工基片上的表面缺陷。这两个子步骤中的第二子步骤 可包括产生与由该已印刷巻材12形成的已加工基片上的表面缺陷相关的第二信
息。
在较佳的示例性实施例中，已印刷巻材12进入第二质量控制工位24，该第二
质量控制工位22配装在印刷机8的最后印刷单元9的出口处，且在切割工位16 之前。第二质量控制工位24可操作以检测、识别和计量所有类型的缺陷，因此确 认该已印刷巻材12没有缺陷。
第二质量控制工位24具体装备有第二装置，该第二装置检查已印刷巻材12 的印刷坯料11的整个表面，并检测其表面上的缺陷。该第二装置呈观察系统的形 式，诸如设有相应照明装置的一个或多个高分辨率照相机26。通过与存储在存储 器中并定义为模型的一例子作比较，确定该己印刷巻材12的部分是否受缺陷损害。 假如它被损害，则在该第二质量控制工位24中的检查装置可计算出已在印刷坯料 11的哪列13和哪行14检测到缺陷。
在第二步骤的另一改型实施例中，可在加工过程(在这种情况下是印刷过程) 之后设置和实施的两个附加子步骤可以包括检测由已印刷巻材12形成的已加工 基片上的表面缺陷，以及产生第二信息。这些子步骤可以通过由已印刷巻材12形 成的已加工基片的使用者来实施。该第二信息包括在第二文件中。已加工基片的使 用者从包装制造商中得到呈巻盘形式的、由已印刷巻材12形成的已加工基片，还 有包含第二信息的第二文件，第二信息列出了所有检测到的缺陷，尤其包括其位置 和性质。
在第一方法的第三步骤中，借助特定的计算单元(未示出)，来处理第一和第 二信息并彼此比较。缺陷被该单元识别并存储在存储器中，该单元记录其在纵向关 于原点的位置、以及在横向关于占据不同行14的位置。
在该方法的第四步骤中，根据与在该原始巻材2上检测到的表面缺陷相关的第 一获取信息并根据与在该已印刷巻材12上检测到的表面缺陷相关的第二获取信 息，来对该已印刷巻材12进行分类。
用于确定基片表面质量的方法还是一种管理方法和一种决策工具。尤其可例如 以示意的、表格的数字文件或图像的形式来定位诸如受所有先前检测到的缺陷损害 的、已印刷巻材12的整个基片。
借助这种方法，可以观察表示原始巻材2和已印刷巻材12的质量等级的若干 情形。覆盖有非常显著的缺陷的原始巻材2和已印刷巻材12的所有部分在所有情 况下都会被计算在内并被识别，建议除去这些部分。甚至可在坯料3上实施不可逆 的切割、排出或处理动作之前实施该方法。
该方法可以较佳地包括在对已印刷基片进行分类的步骤之后实施和设置的附 加步骤。该步骤可包括标记所有的或部分的由已印刷巻材12形成的已加工基片， 从而可识别在由原始巻材2形成的初始基片上检测到的表面缺陷和/或在由已印刷
巻材12形成的已加工基片上检测到的表面缺陷。
有利的是，该方法可包括在对由己印刷巻材12形成的该已加工基片进行分类 的第四步骤之后实施和设置的附加步骤。
该方法可区别和分出由第一质量控制工位22获取或检测但未由第二质量控制 工位24获取或检测的缺陷27。假如印刷合格，则印刷机8继续其批量生产，批量 生产的产品将前进至后面的切割工位16。在这种情况下，在加工(即印刷)过程 中，在原始巻材2上具有的缺陷27已被高色密度掩盖。
根据所包装产品的类型，这些缺陷27被一些包装制造商认为是合格的。根据 其性质，可通过从原始巻材2上除尘来消除这些缺陷27。根据其密度，这些缺陷 27还可导致将巻盘4退回给原始巻材2的制造商。
该方法可区别和分出由第二质量控制工位24获取或检测但未由第一质量控制 工位22获取或检测的缺陷28。这些缺陷28通常起源于转轮印刷机的构件之一磨 损或偏移，并且只有在印刷过程中才会增加。
假如印刷不合格，将通知印刷机8的操作者，并对印刷机8的控制作出必要改 变以改正缺陷28。假如必要的话，印刷机8的操作者甚至被迫停止印刷，以在缺 陷变成不合格之前弥补缺陷28的可能起因。首先，这些缺陷28暂时保持在容许限 度之内，但构成过程劣化的警告。这些缺陷28经常是由于印刷机8的多个部件的 逐渐磨损引起的，这些部件诸如传统上的刮墨刀、印刷版、压辊等。这些缺陷28 还可由于短暂沉积的尘土引起，这些尘土可容易地去除。
该方法可区别和分开由第一质量控制工位22和由第二质量控制工位24获取或 检测的缺陷29。这些短暂且非常显著的缺陷需要随后将已印刷巻材12、坯料11 或箱子3从生产线1中撤出以便废弃。
记录这些缺陷29涉及由印刷机8的操作者干涉或使用自动贴标签机来标记已 检测到缺陷29的大致位置。通过将板凸片设置在已印刷巻材12上，以使凸片从其 边缘稍稍突出，并且假如已印刷巻材12再次巻绕则可易于识别该凸片，从而作出 这种标记。
对于这些已记录缺陷29的分类步骤还意味着，可使用于排出带有相应缺陷的 已印刷巻材12、坯料11或箱子3的所有或部分的排出工位(未示出)运作。
在一种完整的型式中，与在由原始巻材2形成的初始基片上检测到的表面缺陷
相关的第一信息和与在由已印刷巻材12形成的已加工基片上检测到的表面缺陷相 关的第二信息可以有利地从由该原始巻材12形成的初始基片的正面侧和背面侧获 得，然后从该已印刷巻材12获得。
应该注意，只要缺陷监测分辨率允许，就可挑选出与位于切割后废料区域17 中的缺陷相对应的、与在初始基片或原始巻材2上检测到的表面缺陷31相关的第 一信息和与在已加工基片或已印刷巻材12上检测到的表面缺陷相关的第二信息。
本发明并不局限于所述和所示的实施例。可以在不脱离权利要求书范围所限定 的保护范围的前提下实施多种修改。
所示的生产线1使用呈巻盘形式的初始巻材2和切割工位16。然而，生产线1 可使用呈巻盘4形式的初始巻材2，然后使用用于重新巻绕已印刷巻材12、即已加 工基片的工位，该重新巻绕工位位于生产线的末端，并且不包括切割工位或用于将 认为不合要求的坯料或箱子排出的工位。
本发明还涉及使用大型片材而非巻材作为印刷基片并且使用平底冲切压盘而 非转动式切割构件的生产线。
权利要求
1. 一种用于确定在加工过程中从初始基片(2)的初始状态转变到已加工基片(12)的已加工状态的基片的表面质量的方法，所述方法包括以下步骤- 在所述加工过程之前，获取与在所述初始基片(2)上检测到的表面缺陷(27，29)相关的第一信息，- 在所述加工过程之后，获取与在所述已加工基片(12)上检测到的表面缺陷(28，29)相关的第二信息，- 处理所述第一信息和所述第二信息，以及- 根据与在所述初始基片(2)上检测到的所述表面缺陷(27，29)相关的所述第一获取信息并根据与在所述已加工基片(12)上检测到的所述表面缺陷(28，29)相关的所述第二获取信息，来对所述已加工基片(12)进行分类。
2. 如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括所述加工过程之后的以 下步骤在所述已加工基片(12)上检测所述表面缺陷(28,29)，以及产生与在所 述已加工基片(12)上的所述表面缺陷(28,29)相关的第二信息。
3. 如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述加工过程之后的在所述已 加工基片(12)上检测所述表面缺陷(28,29)以及产生第二信息的所述两个附加 步骤由所述已加工基片(12)的使用者来实施。
4.. 如前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，还包括所述加工过 程之前的两个附加步骤在所述初始基片(2)上检测所述表面缺陷(27,29)，以 及产生与在所述初始基片(2)上的所述表面缺陷(27， 29)相关的第一信息。
5. 如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述加工过程之前的在所述初 始基片(2)上检测所述表面缺陷(27,29)和产生第一信息的所述两个附加步骤由 所述初始基片(2)的制造商来实施。
6. 如前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，包括在对所述已加 工基片(12)进行分类的所述步骤之后的附加步骤标记所有的或部分的所述已加 工基片(12)，从而识别在所述初始基片(2)上检测到的所述表面缺陷(27,29) 和/或在所述已加工基片(12)上检测到的所述表面缺陷(28,29)。
7. 如前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，包括在对所述已加 工基片(12)进行分类的所述步骤之前的附加步骤排出所有的或部分的所述已加 工基片(12)。
8. 如权利要求2至7中任一项所述的方法，其特征在于，从所述初始基片 (2)和所述己加工基片(12)的正面侧和背面侧获取与在所述初始基片(2)上检测到的表面缺陷(27,29)相关的所述第一信息和与在所述已加工基片(12)上检 测到的表面缺陷(28,29)相关的所述第二信息。
9. 一种用于加工初始基片(2)并获得已加工基片(12)的加工机，包括 -至少一个用于加工所述初始基片(2)的部件(9)，-第一装置(22)，用于在所述初始基片(2)上检测表面缺陷(27,29)并获 取与在所述初始基片(2)上检测到的所述表面缺陷(27,29)相关的第一信息，所 述第一装置设置在所述加工部件(9)的上游，-第二装置(24)，用于在所述己加工基片(12)上检测表面缺陷(28， 29) 并获取与在所述已加工基片(12)上检测到的所述表面缺陷(28,29)相关的第二 信息，所述第二装置设置在所述加工部件(9)的下游，以及-处理分类单元，所述处理分类单元处理所述第一信息和所述第二信息，根 据与在所述初始基片(2)上检测到的所述表面缺陷(27,29)相关的所述获取信息 并根据与在所述已加工基片(12)上检测到的所述表面缺陷(28,29)相关的所述 获取信息，来对所述已加工基片(12)进行分类。
10. 如权利要求9所述的加工机，其特征在于，用于在所述初始基片(2) 上检测表面缺陷(27,29)的所述第一装置(22)和用于在所述已加工基片(12) 上检测表面缺陷(28， 29)的所述第二装置(24)包括观察系统(23,26)，所述观 察系统设有可操作用于照明所述基片(2， 12)的照明装置。
全文摘要
本发明涉及一种用于确定在加工过程中从初始基片(2)转变到已加工基片(12)的基片的表面质量的方法，该方法包括以下步骤获取与在初始基片(2)上检测到的表面缺陷(27，29)相关的第一信息；获取与在已加工基片(12)上检测到的表面缺陷(28，29)相关的第二信息；处理第一信息和第二信息；以及根据与在初始基片(2)上检测到的表面缺陷(27，29)相关的第一获取信息并根据与在已加工基片(12)上检测到的表面缺陷(28，29)相关的第二获取信息，来对已加工基片(12)进行分类。
文档编号G01N21/88GK101393141SQ200810149279
公开日2009年3月25日 申请日期2008年9月19日 优先权日2007年9月21日
发明者C·托马, J·埃罗恩索 申请人:鲍勃斯脱股份有限公司