专利名称：Ito薄膜表面磨擦装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及表面检测装置，特别涉及一种用于检测ITO薄膜表面抗 磨性能的表面磨擦装置。
背景技术：
ITO-film (ITO薄膜，ITO:纳米铟锡金属氧化物)是触摸屏最主要的原 材料之一，用于触摸屏的表面。由于其特殊的用途，所以其对其表面的特性 尤其是其抗磨擦性能的要求特别高。目前的测试方法为操作人员手持一砝码 直接在待测材料上滑动检测，其缺点是砝码来回运动不顺畅，运动中对ITO 薄膜的施力不均匀并且砝码来回运动时无法保证始终在同一运动轨迹上，因 此无法达到良好且准确的测试效果。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术测试效果不准确的
缺陷，提供一种ITO薄膜表面磨擦装置。
本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的 一种ITO薄膜表面磨擦装置，其包括一支撑架， 一载物平台， 一点划线
支架，以及一驱动马达，其特征在于，该ITO薄膜表面磨擦装置还包括一
与该点划线支架固接的磨擦测试头，其底部设有一凸起。 其中，该凸起与待测材料的接触面积为0.5cm2 1.0cm2。 较佳的，该点划线支架底部设有一外螺纹，该磨擦测试头顶部设有一与
该外螺纹配合的内螺纹，该点划线支架和磨擦测试头为螺纹连接。 较佳的，该点划线支架和磨擦测试头为插入式卡扣连接。本实用新型的积极进步效果在于本实用新型的ITO薄膜表面磨擦装置 能更准确的对待检测的ITO薄膜材料进行检测。确保了每次检测都在同一轨 道并且施力均匀，而可替换的砝码则满足不同的测试要求，以便于变化施力 的大小。
图1为本实用新型一实施例的组装结构剖视图。
图2为图1中本实用新型的砝码与点划线支架一连接方式的剖视图。
具体实施方式
下面举个较佳实施例，并结合附图来更清楚完整地说明本实用新型。
如图1所示，本实用新型是一种用于检测ITO薄膜表面防刮花性的ITO 薄膜表面磨擦装置，其包括一载物平台1，用于放置待测材料7; —支撑架2，
其前端设有安装孔6; —驱动该支撑架往复运动的驱动马达(图中未示)，该 驱动马达采用皮带传动(图中未示)与该支撑架2连接； 一点划线支架3，
该点划线支架3设置于该安装孔6中，并与砝码4固接。该砝码4可以为--个或一系列重量明确，由硬质材料制成的可更换的砝码。其与待测材料7接 触的底部有一凸起5，该凸起5进行打磨和倒角处理，倒角半径为0.2mm 0.8mm，与材料的接触面积为0.5cm2 1.0Cm2。使用时根据测试的要求选择 所需重量的砝码4，测试前计算砝码4和点划线支架3的总重量，其中该点 划线支架3的重量为已知，将该点划线支架4的螺纹向下插入支撑架2的安 装孔6，然后在其下方安装砝码4直至该砝码4与点划线支架3相互紧固后， 使该砝码4和点划线支架3自然下垂，直立在待测材料7表面预先放置的钢 丝棉上(图中未示)。此时ITO薄膜表面磨擦装置对待测材料7的施力大小 即为砝码5与点划线支架4的重量总和， 一般总重量在300g 800g，本实施 例中为500g。安装完毕后设定来回次数、频率、长度进行刮花测试。使用时，本实用新型装置ITO薄膜表面来回运动，然后通过照明观察ITO薄膜表面是 否有刮花的现象发生，从而可以判定ITO薄膜的质量的好坏。
特别的，该砝码4和点划线支撑架3可以采用多种连接方式。如图2所 示的螺纹连接，该点划线支架3的底部设有一外螺纹，其为现有技术在此不 再赘述。该砝码4的顶部设置一配合该外螺纹的内螺纹8，该内螺纹8的深 度为14mm 18mm。将点划线支架3安装到上述支撑架2的安装孔7后， 在该点划线支架3的底部安装砝码5。其连接方式也可以采用插入式卡扣连 接等代替。
虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式
，但是本领域的技术人员应 当理解，这些仅是举例说明，在不背离本实用新型的原理和实质的前提下， 可以对这些实施方式做出多种变更或修改。因此，本实用新型的保护范围由 所附权利要求书限定。
权利要求1、一种ITO薄膜表面磨擦装置，其包括一支撑架，一载物平台，一点划线支架，以及一驱动马达，其特征在于，该ITO薄膜表面磨擦装置还包括一与该点划线支架固接的磨擦测试头，其底部设有一凸起。
2、 如权利要求l所述的ITO薄膜表面磨擦装置，其特征在于，该凸起 与待测材料的接触面积为0.5cm2 1.0cm2。
3、 如权利要求1所述的ITO薄膜表面磨擦装置，其特征在于，该点划 线支架底部设有一外螺纹，该磨擦测试头顶部设有一与该外螺纹配合的内螺 纹，该点划线支架和磨擦测试头为螺纹连接。
4、 如权利要求l所述的ITO薄膜表面磨擦装置，其特征在于，该点划 线支架和磨擦测试头为插入式卡扣连接。
专利摘要本实用新型公开了一种ITO薄膜表面磨擦装置，其包括一支撑架，一载物平台，一点划线支架，以及一驱动马达，该ITO薄膜表面磨擦装置还包括一与该点划线支架固接的磨擦测试头，其底部设有一凸起。本实用新型的ITO薄膜表面磨擦装置能更准确的对待检测的ITO薄膜材料进行检测，确保了每次检测都在同一轨道并且施力均匀，而可替换的砝码则满足不同的测试要求，以便于变化施力的大小。
文档编号G01N3/56GK201331473SQ200820208480
公开日2009年10月21日 申请日期2008年12月30日 优先权日2008年12月30日
发明者立 王 申请人:上海晨兴电子科技有限公司