温度计校准检测方法

文档序号:6148908阅读:409来源:国知局
专利名称:温度计校准检测方法
技术领域
本发明涉及计量技术领域,尤其涉及一种温度计校准检测方法。
背景技术
目前温度计校准检测方法主要有比较法,将被校温度计和标准温度计同放在稳定 的标准温槽中,采用轮测方式分别对被校温度计和标准温度计进行比对测量。现举例说明, 被校温度计为热敏电阻温度计,标准温度计为一等标准钼电阻温度计,在某一恒温下,分别 记录同一时刻被校热敏电阻温度计和标准钼电阻温度计的测量值,各测量多个数据,再根 据数据描点作图,得到如图1所示的被校热敏电阻温度计测量数据图和如图2所示的标准 钼电阻温度计测量数据图,图1中,横坐标为时间(单位为秒),纵坐标为电阻值(单位为欧 姆),图2中,横坐标为时间(单位为秒),纵坐标为温度值(单位为摄氏度),在被校热敏电 阻温度计测量数据图中,从电阻值波动范围在0. 01 0. 05(单位欧姆)内的数据区域中 选择5到10个连续点,求电阻值平均值,然后求出标准钼电阻温度计测量数据图中对应点 的平均值,最后根据这两个平均值求被校热敏电阻温度计的温度系数。如选择图1中第10 个点到第15个点的电阻值求平均,对应地,求出图2中第10个点到第15个点的温度平均 值,计算结果分别为3988. 052222欧姆和24. 992801摄氏度,得到被校热敏电阻温度计的温 度系数为159. 568欧姆/摄氏度。现有技术的温度计校准检测方法的缺点是,计算平均值时 取点的选择没有考虑标准温度计和被校温度计对温度波动及热平衡状态的响应存在差异, 检测误差较大。

发明内容
本发明的目的在于提供一种温度计校准检测方法,可减小测量误差,提高校准精度。为了达到上述的目的,本发明提供一种温度计校准检测方法,包括以下步骤步骤 1,在恒温条件下,记录被校温度计和标准温度计同一时刻的测量值,各记录多个数据,并根 据记录的数据分别绘制被校温度计和标准温度计的测量数据图;步骤2,选择有效数据区; 步骤3,在有效数据区内选取特征点计算平均值;步骤4,根据平均值计算被校温度计的温 度系数。上述温度计校准检测方法,其中,步骤1中得到的被校温度计的测量数据图和标 准温度计的测量数据图呈或近似呈正弦或余弦曲线。上述温度计校准检测方法,其中,步骤2中,决定有效数据区的因素有被校温度计 的特性。上述温度计校准检测方法,其中,步骤2中,被校温度计的有效数据区的第一个记 录点与标准温度计的有效数据区的第一个记录点是同一时刻记录的。上述温度计校准检测方法,其中,步骤3中,计算平均值的特征点取相邻波峰和波 谷之间包含的所有点,峰值和谷值也包含在内。
上述温度计校准检测方法,其中,步骤3中,计算平均值的特征点为一半周期内的 所有记录点。上述温度计校准检测方法,其中,步骤3中,计算被校温度计电阻平均值的特征点 所处的半周期数与计算标准温度计温度平均值的特征点所处的半周期数相同。本发明的温度计校准检测方法由于根据被校温度计的特性选择有效数据区,在有 效数据区内选取特征点计算平均值,消除了由于标准温度计、被校温度计对温场波动及热 平衡状态响应不同而导致的测量误差,提高了校准精度。


本发明的温度计校准检测方法由以下的实施例及附图给出。图1是现有技术中被校热敏电阻温度计的测量数据图。图2是现有技术中标准钼电阻温度计的测量数据图。图3是本发明的温度计校准检测方法的流程图。图4是本发明一实施例中被校热敏电阻温度计的有效数据区图。图5是本发明一实施例中标准钼电阻温度计的有效数据区图。
具体实施例方式以下将结合图3 图5对本发明的温度计校准检测方法作进一步的详细描述。参见图3,温度计校准检测方法包括以下步骤步骤1,在恒温条件下,记录被校温度计和标准温度计同一时刻的测量值,各记录 多个数据,并根据记录的数据分别绘制被校温度计和标准温度计的测量数据图;为保证恒温条件,被校温度计和标准温度计同放在稳定的标准温槽中,仍采用轮 测方式分别对被校温度计和标准温度计进行比对测量;制图可与记录同步,也可以先记录 数据,后制图;被校温度计的测量数据图和标准温度计的测量数据图通常呈正弦或余弦曲 线,或者近似呈正弦或余弦曲线;步骤2,选择有效数据区;决定有效数据区的因素有被校温度计的特性;被校温度计的有效数据区的第一个 记录点与标准温度计的有效数据区的第一个记录点应该是同一时刻记录的;步骤3,在有效数据区内选取特征点计算平均值;计算平均值的特征点选取相邻波峰和波谷之间包含的所有点,峰值和谷值也包含 在内,即为一个半周期内所有的记录点;且计算被校温度计电阻平均值的特征点所处的半 周期数与计算标准温度计温度平均值的特征点所处的半周期数相同;步骤4,根据平均值计算被校温度计的温度系数。以标准钼电阻温度计校准热敏电阻温度计为例,详细说明本发明的温度计校准检 测方法。本发明的温度计校准检测方法包括以下步骤Sl 将被校热敏电阻温度计和标准钼电阻温度计同放在稳定的标准温槽中,记录 被校热敏电阻温度计和标准钼电阻温度计同一时刻的测量值,各测量多个数据,并在记录 的同时绘制被校热敏电阻温度计和标准钼电阻温度计的测量数木据图,由于热敏电阻温度计呈负温度系数,因此被校热敏电阻温度计的测量数据曲线与标准钼电阻温度计的测量数 据曲线应当相反,即一个曲线近似呈正弦曲线,另一个曲线近似呈余弦曲线,测量点的个数 应当满足绘制的两曲线能稳定地呈上述相反关系;S2:除去两曲线不呈相反关系的区段,剩下的即为所需要选择的有效数据区,如图 4、图5所示,图4所示为被校热敏电阻温度计的有效数据区图,横坐标为时间,单位为秒, 纵坐标为电阻值,单位为欧姆,图5所示为标准钼电阻温度计的有效数据区图,横坐标为时 间,单位为秒,纵坐标为温度值,单位为摄氏度,图4中第一个记录点的记录时刻与图5中第 一个记录点的记录时刻相同;从图4、图5可以看出,被校热敏电阻温度计的有效数据区图 近似呈正弦曲线,标准钼电阻温度计的有效数据区图近似呈余弦曲线;S3 在被校热敏电阻温度计的有效数据区图中选取第1个点到第22个点为特征 点(包含相邻波峰与波谷之间的所有点,即包含了半个周期内的所有记录点),求平均值, 计算结果为3992. 07285Ω,在标准钼电阻温度计的有效数据区图中选取第1个点到第17个 点为特征点求平均值(由于标准钼电阻温度计对温场波动及热平衡状态的响应与被校热 敏电阻温度计不同,因此计算平均值时包含的特征点的个数不同,这正是本发明温度计校 准检测方法的优点所在),计算结果为24. 97011°C,在被校热敏电阻温度计的有效数据区 图中选取的特征点与在标准钼电阻温度计的有效数据区图中选取的特征点均处于各自曲 线的第一个半周期;S4 ;计算此时被校热敏电阻温度计的温度系数为159. 874 Ω/°C。与背景技术中的现有技术相比,本发明的温度计校准检测方法将校准精度提高了 0. 2%。本发明的温度计校准检测方法计算平均值时选取特征点,消除了由于标准温度 计、被校温度计对温场波动及热平衡状态响应不同而导致的测量误差,因此校准精度更高。
权利要求
一种温度计校准检测方法,其特征在于,包括以下步骤步骤1,在恒温条件下,记录被校温度计和标准温度计同一时刻的测量值,各记录多个数据,并根据记录的数据分别绘制被校温度计和标准温度计的测量数据图;步骤2,选择有效数据区;步骤3,在有效数据区内选取特征点计算平均值;步骤4,根据平均值计算被校温度计的温度系数。
2.如权利要求1所述的温度计校准检测方法,其特征在于,步骤1中得到的被校温度计 的测量数据图和标准温度计的测量数据图呈或近似呈正弦或余弦曲线。
3.如权利要求1所述的温度计校准检测方法,其特征在于,步骤2中,决定有效数据区 的因素有被校温度计的特性。
4.如权利要求1所述的温度计校准检测方法,其特征在于,步骤2中,被校温度计的有 效数据区的第一个记录点与标准温度计的有效数据区的第一个记录点是同一时刻记录的。
5.如权利要求2所述的温度计校准检测方法,其特征在于,步骤3中,计算平均值的特 征点取相邻波峰和波谷之间包含的所有点,峰值和谷值也包含在内。
6.如权利要求5所述的温度计校准检测方法,其特征在于,步骤3中,计算平均值的特 征点为一半周期内的所有记录点。
7.如权利要求6所述的温度计校准检测方法,其特征在于,步骤3中,计算被校温度计 电阻平均值的特征点所处的半周期数与计算标准温度计温度平均值的特征点所处的半周 期数相同。
全文摘要
本发明的温度计校准检测方法包括以下步骤步骤1,在恒温条件下,记录被校温度计和标准温度计同一时刻的测量值,各记录多个数据,并根据记录的数据分别绘制被校温度计和标准温度计的测量数据图;步骤2,选择有效数据区;步骤3,在有效数据区内选取特征点计算平均值;步骤4,根据平均值计算被校温度计的温度系数。本发明的温度计校准检测方法消除了由于标准温度计、被校温度计对温场波动及热平衡状态响应不同而导致的测量误差,提高了校准精度。
文档编号G01K15/00GK101988857SQ200910055778
公开日2011年3月23日 申请日期2009年7月31日 优先权日2009年7月31日
发明者袁志文 申请人:华东电力试验研究院有限公司
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