专利名称：密码锁寿命测试仪的制作方法
技术领域：
本发明涉及测试仪器技术领域，具体讲是一种密码锁寿命测试仪。
背景技术：
现有的密码锁的执行机构普遍使用电磁阀与其他机械结构连接来实现，为了保证密码 锁的质量，密码锁的执行机构需要进行寿命测试。目前，所述寿命测试均为人工操作方式， 即由多人轮流对密码锁的电磁阀进行上电和放电工作，同时记录操作次数。所述的人工操 作方式有以下显著缺点1、由于寿命测试需要对电磁阀进行上电、放电操作，其操作次
数多达几万次，甚至十几万次，劳动强度高，耗时长；2、容易受人为因素影响，即对电 磁阀进行上电、放电操作的时间间隔无法准确控制，导致测试结果不准，人工记录操作次 数的方式增加了出现错误的概率，使测试结果的误差被放大。
发明内容
本发明要解决的技术问题是，提供一种测试效率高、自动化程度高、测试准确性高的 密码锁寿命测试仪。
本发明的技术方案是，本发明密码锁寿命测试仪，它由电源模块、控制信号输入模块、 中央微处理模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块组成；所述电源 模块分别与控制信号输入模块、中央微处理模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块 及状态提示模块电连接；所述中央微处理模块还分别与控制信号输入模块、电磁阀驱动模 块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块电连接；所述电磁阀驱动模块还与电磁阀电连接； 所述电磁阀通断检测模块还与电磁阀连接。
采用上述结构后，本发明与现有技术相比，具有以下优点所述电磁阀驱动模块与电 磁阀电连接，当工人通过制信号输入模块设定完测试次数等相关测试数据后，所述电磁阀 驱动模块在中央微处理模块的控制下，能够自动地对电磁阀进行上电和放电的操作，而且 上电和放电的操作的时间间隔能够精确控制并自动记录操作次数，无需人工参与，通过状 态提示模块能够将测试情况及时反馈给测试人员，并能对测试所得到的数据进行相关处 理。综合上述，本发明密码锁寿命测试仪的测试效率高、自动化程度高、测试准确性高。
作为改进，所述中央微处理模块为芯片M37546及其外围电路，该芯片M37546性价比 高，稳定可靠，更有利于本发明密码锁寿命测试仪性能的提高。
作为进一步改进，所述电磁阀通断检测模块至少由一个微动开关组成，每个微动开关对应一个电磁阀，所述电磁阀通断检测模块还与电磁阀连接是指所述微动开关还与电磁阀 的阀芯的活动端的端部相抵；所述中央微处理模块与电磁阀通断检测模块电连接是指所述 中央微处理模块与微动开关电连接；这样，直接通过微动开关来检测电磁阀的阀芯的运动 来确定电磁阀的上电和放电的状态，能够使测试快速准确、可靠，而且这种检测方式结构 简单、成本低，更有利于本发明密码锁寿命测试仪性能的提高。
图1是本发明密码锁寿命测试仪的电路原理框图。 图2是控制信号输入模块的电路原理图。
具体实施例方式
下面结合附图对本发明作进一步说明。
本发明密码锁寿命测试仪由电源模块、控制信号输入模块、中央微处理模块、电磁阀 驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块组成；所述电源模块分别与控制信号输入 模块、中央微处理模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块电连接； 所述中央微处理模块还分别与控制信号输入模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块 及状态提示模块电连接；所述电磁阀驱动模块还与电磁阀电连接；所述电磁阀通断检测模 块还与电磁阀连接。如图1所示。
所述电源模块为现有技术常用的由交流电源变压得到的直流稳压电源。 所述控制信号输入模块为现有技术常用的模拟量输入电路，如图2所示，该模拟量输 入电路共设有5个摁键，公用一个模拟信号输入端，该模拟信号输入端与中央微处理模块 电连接。
所述中央微处理模块为芯片M37546及其外围电路。 所述电磁阀驱动模块为芯片ULN2003A。
所述电磁阀通断检测模块至少由一个微动开关组成，每个微动开关对应一个电磁阀， 所述电磁阀通断检测模块还与电磁阀连接是指所述微动开关还与电磁阀的阀芯的活动端 的端部相抵；所述中央微处理模块与电磁阀通断检测模块电连接是指所述中央微处理模块 与微动开关电连接。
所述状态提示模块由一个扬声器和三个双八数码管组成；所述扬声器与芯片ULN2003A 电连接；所述中央微处理模块与状态提示模块电连接是指所述中央微处理模块与三个双八 数码管电连接。
当本发明密码锁寿命测试仪工作时，首先，测试人员将需要测试的电磁阀分别与电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块连接好，再通过所述控制信号输入模块向中央微处理模 块输入测试初始参数，此时由所述状态提示模块向测试人员显示相关数据，以供测试人员 确认输入的数据正确，当初始参数输入完毕，所述中央微处理模块立即按照内部程序执行， 这样，所述电磁阀的寿命测试就开始了。通过状态提示模块，测试人员可以查看任意一个 在测试的电磁阀的上电和放电次数，而且状态提示模块还能报故障，即当电磁阀上电时， 电磁阀的阀芯就会克服阀芯的复位弹簧的弹力移动一段距离，这样，阀芯的活动端也会移 动一段距离，那么，与阀芯的活动端的端面相抵的微动开关就会抬起而断开微动开关，此 时，中央微处理模块就会得到一个低电平的信号输入，中央微处理模块就会记录一次上电 操作，如果，当电磁阀上电时，电磁阀的阀芯没动，那么，中央微处理模块通过微动开关 获得一个持续的高电平的信号输入，此时，中央微处理模块就会自动判断该电磁阀发生故 障，并通过控制状态提示模块向测试人员报警。当测试完成后，测试人员再通过控制信号 输入模块及状态提示模块即可查看中央微处理模块所记录的测试数据，就能够方便地知道 相关测试结果。
以上仅就本发明较佳的实施例作了说明，但不能理解为是对权利要求的限制。本发明 的结构可以有其他变化，不局限于上述结构，比如所述中央微处理模块可以为芯片
TMP86P809及其外围电路。总之，凡在本发明产品独立权利要求的保护范围内所作的各种 变化均在本发明的保护范围内。
权利要求
1、一种密码锁寿命测试仪，其特征在于由电源模块、控制信号输入模块、中央微处理模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块组成；所述电源模块分别与控制信号输入模块、中央微处理模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块电连接；所述中央微处理模块还分别与控制信号输入模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块电连接；所述电磁阀驱动模块还与电磁阀电连接；所述电磁阀通断检测模块还与电磁阀连接。
2、 根据权利要求1所述的密码锁寿命测试仪，其特征在于所述中央微处理模块为 芯片M37546及其外围电路。
3、 根据权利要求1所述的密码锁寿命测试仪，其特征在于所述电磁阀驱动模块为 芯片ULN2003A。
4、 根据权利要求1所述的密码锁寿命测试仪，其特征在于所述电磁阔通断检测模 块至少由一个微动开关组成，每个微动开关对应一个电磁阀，所述电磁阔通断检测模块还 与电磁阀连接是指所述微动开关还与电磁阀的阀芯的活动端的端部相抵;所述中央微处理 模块与电磁阔通断检测模块电连接是指所述中央微处理模块与微动开关电连接。
5、 根据权利要求3所述的密码锁寿命测试仪，其特征在于所述状态提示模块由一 个扬声器和三个双八数码管组成；所述扬声器与芯片ULN2003A电连接；所述中央微处理 模块与状态提示模块电连接是指所述中央微处理模块与三个双八数码管电连接。
全文摘要
本发明公开了一种测试效率高、自动化程度高、测试准确性高的密码锁寿命测试仪，它由电源模块、控制信号输入模块、中央微处理模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块组成；所述电源模块分别与控制信号输入模块、中央微处理模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块电连接；所述中央微处理模块还分别与控制信号输入模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块电连接；所述电磁阀驱动模块还与电磁阀电连接；所述电磁阀通断检测模块还与电磁阀连接。
文档编号G01M99/00GK101520382SQ20091009702
公开日2009年9月2日 申请日期2009年3月26日 优先权日2009年3月26日
发明者耘 叶, 林辉撑, 马建刚 申请人:宁波海诚电器有限公司