专利名称：Jtag转接接口、单板、jtag接口转换板及单板测试系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及通信领域，尤其涉及一种JTAG转接接口、 一种单板、 一种JTAG 接口转换板、及一种单板测试系统。
背景技术：
目前，为了了解和掌握芯片的使用性能， 一般要使用仿真器对其进行硬件 测试。而使用仿真器对芯片的测试需要通过接口将二者连接起来才能实现。一 般情况下，上述接口采用JTAG接口。 JTAG (Joint Test Action Group，联合测 试行动小组)是由国际上几家主要的电子制造商发起制订的PCB (Printed Circuit Board,印刷电路板)和IC ( Integrated Circuit,集成芯片)测试 标准，主要应用于电路的边界扫描测试和集成芯片的内部测试。
依据此标准，各个公司都推出了各自的JTAG接口以及其所支持的仿真器， 在各个公司推出的JTAG接口中，例如图1和图2所示，图l为TI (Texas Instruments,德州仪器)公司推出的14管脚JTAG接口 ，图2为ADI ( Analog Device Inc，美国模拟器件有限公司)公司推出的14管脚JTAG接口 ，对比可 知，虽然该两种类型的JTAG接口所包含的信号基本相同，但是两者的管脚定义 却有很大差别。
而且，现有的支持JTAG接口的芯片，如DSP (Digital Signal Processor, 凄t字信号处理器)芯片、FPGA (Field Programmable Gate Array,现场可编程 门阵列)芯片等，由于上述各种类型JTAG接口之间的差异，这些芯片并不能支 持全部类型的JTAG接口。
所以，如图3所示，现有的单板测试系统中，当一块单板上具有多个芯片，且各个芯片所支持的JTAG接口类型不同时，为对芯片11、芯片12以及芯片In 进行测试，就需要对应设置JTAG接口 11、 JTAG接口 12、以及JTAG接口 ln， 这样各芯片才能与具有相同类型JTAG接口的仿真器连接起来。
在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题 对于单板上的支持不同类型JTAG接口的芯片，需要在单板设置相应的多个 JTAG 4妻口以便对其进4亍仿真测试，测试过程繁瑣。
发明内容
本发明实施例所要解决的技术问题在于提供一种JTAG转接接口 ，能够支持 多种类型的芯片，便于芯片调试。
为解决上述技术问题，本发明实施例采用如下技术方案
一种JTAG转接接口 ，所述JTAG转接接口具有两种或两种以上不同类型JTAG 接口的全部信号功能。
本发明实施例提供的JTAG转接接口，由于其具有两种或两种以上不同类型 JTAG接口的全部信号功能，因此所述JTAG转接接口能够支持两种或两种以上不 同类型的芯片，这样在对该两种或两种以上不同类型的芯片进行调试时不需要 更换JTAG转接接口 ，在一定程度上方便了芯片的调试。
本发明实施例所要解决的另一个技术问题在于提供一种单板，能够便于对 其上的芯片进行调试。
为解决上述技术问题，本发明实施例釆用如下技术方案
一种单板，包括印刷电路板，所述印刷电路板上设有至少一个芯片，所述 至少一个芯片连接有JTAG转接接口 ，所述JTAG转接接口具有两种或两种以上 不同类型JTAG接口的全部信号功能。
本发明实施例提供的单板，由于包括JTAG转接接口 ，且所述JTAG转接接口具有两种或两种以上不同类型JTAG接口的全部信号功能，因此所述JTAG转 接接口能够支持两种或两种以上不同类型的芯片，这样在对设置在单板上的该 两种或两种以上不同类型的芯片进行调试时不需要更换所述JTAG转接接口 ，因 此便于对单板上的芯片进行调试。
本发明实施例所要解决的再一个技术问题在于提供一种JTAG接口转换板， 以实现对单板的仿真测试。
为解决上述技术问题，本发明实施例采用如下技术方案 一种JTAG接口转换板，包括印刷电路板，所述印刷电路板上设有至少两个 不同类型的JTAG接口，所述至少两个不同类型的JTAG接口连接有JTAG转接接 口，所述JTAG转接接口具有所述至少两个不同类型的JTAG接口的全部信号功 能。
本发明实施例提供的JTAG接口转换板，其上的JTAG转接接口能够与设置 在单板上的JTAG转接接口相配合，且由于其上的JTAG转接接口与所述至少两 个不同类型的JTAG接口相连，所述至少两个不同类型的JTAG接口能够分别与 具有相同类型JTAG接口的仿真器相连，因此通过所述JTAG接口转换板能够连 接单板和仿真器，从而实现对单板的仿真测试。
本发明实施例所要解决的又一个技术问题在于提供一种单板测试系统，以 易于对单板进行仿真测试。
为解决上述技术问题，本发明实施例采用如下技术方案
一种单板测试系统，包括
单板，所述单板包括第一印刷电路板，所述第一印刷电路板上设有至少一 个芯片，所述至少一个芯片连接有第一 JTAG转接接口 ，所述第一 JTAG转接接 口具有两种或两种以上不同类型JTAG接口的全部信号功能；JTAG接口转换板，所述JTAG接口转换板包括第二印刷电路板，所述第二印 刷电路板上设有至少两个不同类型的第二 JTAG接口 ，所述至少两个不同类型的 第二 JTAG接口连接有第二 JTAG转接接口 ，所述第二 JTAG转接接口具有所述至 少两个不同类型的第二 JTAG接口的全部信号功能，且所述第二 JTAG转接接口 与所述第一 JTAG转接接口相连；
仿真器，所述仿真器具有第三JTAG ^!妄口，所述仿真器通过所述第三JTAG 接口与所述至少两个不同类型的第二 JTAG接口中对应的JTAG接口相连。
本发明实施例提供的单板测试系统，由于所述单板上的第一 JTAG转接接口 具有两种或两种以上不同类型JTAG接口的全部信号功能，因此所述第一 HAG 转接接口能够支持两种或两种以上不同类型的芯片，又由于所述单板上的第一 JTAG转接接口能够与所述JTAG接口转换板上的第二 JTAG转接接口相连，且所 述JTAG接口转换板上的不同类型的第二 JTAG接口能够与不同类型的仿真器一 一对应相连，因此通过所述JTAG接口转换板连接了单板和仿真器，从而易于对 所述单板进行仿真测试。
图1为现有^l支术中一种类型JTAG接口的示意图2为现有技术中另一种类型JTAG接口的示意图3为现有技术中单板测试系统的系统组成示意图4为本发明实施例J TAG转接接口的示意图5为本发明实施例单板的示意图6为对图5所示单板改进后的示意图7为对图6所示单板进一步改进后的示意图8为本发明实施例JTAG接口转换板的示意图；图9为对图8所示JTAG接口转换板改进后的示意图IO为对图9所示JTAG接口转换板进一步改进后的示意图11为本发明实施例单板测试系统的系统组成示意图12为对图11所示单板测试系统改进后的示意图13为对图12所示单板测试系统进一步改进后的示意图。
具体实施例方式
本发明实施例旨在提供一种JTAG转接接口、单板、JTAG接口转换板及单板 测试系统。
下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。
本发明实施例JTAG转接接口，具有两种或两种以上不同类型JTAG接口的 全部信号功能。
本实施例中的HAG转^矣^接口，由于其具有两种或两种以上不同类型JTAC 接口的全部信号功能，因此该JTAG转接接口能够支持两种或两种以上不同类型 的芯片，这样在对该两种或两种以上不同类型的芯片进行调试时不需要更换 HAG转接接口，在一定程度上方便了芯片的调试。
如图4所示,以如何将TI( Texas Instruments，德州仪器V》司和ADI( Analog Device Inc，美国模拟器件有限公司)公司推出的两种不同类型的JTAG接口集 成为 一个JTAG转接接口为例进行说明。
从图l和图2可以看出，该两种不同类型JTAG接口的管脚定义不同，但两 者的信号大多是一样的。如TCK、 TMS、 TDI、 TD0、 TRST、电源和地等信号是 两者所共同具有的，这些信号包含在图4所示的JTAG转接接口中，而对于那些 两者所特有的信号，如图1所示的JTAG接口所特有的TCK-RET信号、以及图2 所示的JTAG接口所特有的BTCK信号等，也包含在图4所示的JTAG转接接口中，这样该JTAG转接接口就包含了上述两种不同类型JTAG接口的全部信号功能。
本实施例中JTAG转接接口具有复用管脚，该复用管脚支持两种或两种以上 不同类型JTAG接口之间具有相同信号功能的管脚。例如本实施例中，上述两种 不同类型的JTAG接口均具有TCK、 TMS、 TDI、 TD0、 TRST、电源和地等信号管脚， 因此为避免管脚重复设置，在JTAG转接接口中可以将这些信号管脚设置为复用 管脚，以减少JTAG转接接口的占用面积。
例如，图1所示的JTAG接口中的管脚11为TCK信号管脚，图2所示的JTAG 接口中的管脚8也为TCK信号管脚，因此将TCK信号管脚集成到图4所示的JTAG 转接接口中时，如果在JTAG转接接口中设置两个TCK信号管脚，并使其中一个 对应图1所示的TCK信号管脚，另一个对应图2所示的TCK信号管脚，则会浪 费JTAG转接接口中的管脚资源，为此可以在图4所示的JTAG转接接口中仅设 置一个TCK信号复用管脚1,则当需要测试支持图1所示的JTAG接口的芯片1 时，可以将该复用管脚1对应连接至该芯片1上，而当需要测试支持图2所示 的JTAG接口的芯片2时，可以将该复用管脚1与芯片1的连接断开，然后将该 复用管脚1对应连接至芯片2上。
需要说明的是，此处虽然以TI公司和ADI公司推出的两种不同类型的JTAG 接口为例说明了 JTAG转接接口的功能，但并不限于此，在本发明的其他实施例 中，JTAG转接接口还可以集成三个或三个以上不同类型JTAG接口的信号功能。
下面举例说明本实施例JTAG转接接口的使用，如存在两个芯片，分别为芯 片l和芯片2，芯片l和芯片2所支持的JTAG接口类型不同，且芯片l和芯片 2均通过一些辅助电路而连接至本实施例JTAG转接接口中，当需要测试芯片1 时，借助于上述辅助电路而接通芯片1和JTAG转接接口 ，需要测试芯片2时， 就借助于辅助电路而接通芯片2和JTAG转接接口 ，这样不需要更换JTAG接口类型，利用该JTAG转接接口就能够对多个芯片进行仿真测试。
综上所述，本发明实施例rrAG转接接口，由于其具有两种或两种以上不同
类型JTAG接口的全部信号功能，因此该JTAG转接接口能够支持两种或两种以 上不同类型的芯片，这样在对该两种或两种以上不同类型的芯片进行调试时不 需要更换JTAG转接接口 ，在一定程度上方便了芯片的调试。
如图5所示，本发明实施例还提供了一种单板2,包括印刷电路板21，印 刷电路板21上设有至少一个芯片，本实施例中设有芯片11、芯片12以及芯片 ln，芯片11、芯片12以及芯片ln连接有JTAG转接接口 22， JTAG转接接口 22 具有两种或两种以上不同类型JTAG接口的全部信号功能。
本实施例单板2,由于包括JTAG转接接口 22，且JTAG转接接口 22具有两 种或两种以上不同类型JTAG接口的全部信号功能，因此JTAG转接接口 22能够 支持两种或两种以上不同类型的芯片，这样在对设置在单板2上的该两种或两 种以上不同类型的芯片进行调试时不需要更换所述JTAG转接接口 ，因此便于对 单板上的芯片进行调试。
从图5可知，本实施例中的芯片11、芯片12以及芯片ln之间存在信号功 能相同的管脚，为避免JTAG转接接口 22中的管脚重复，将JTAG转接接口 22 中具有相同信号功能的管脚设为复用管脚，且使该复用管脚同时与各芯片中具 有相应信号功能的管脚相连，这样该复用管脚就为各芯片所复用，从而减少了 JTAG转接接口 22中管脚的数目，节省JTAG转接接口 22的占用面积，降低了成 本。
在利用JTAG转4矣^J妄口 22对芯片11、芯片12以及芯片ln进行仿真测试时， 某一时间段内，可以仅对其中一个芯片进行仿真测试，但在不发生信号沖突的 情况下，也可以对其中两个或更多的芯片同时进行仿真测试，因此本实施例中，JTAG转接接口 22的复用管脚和芯片11、芯片12以及芯片In中具有相同信号 功能的管脚之间的连接可以保持通路。
但优选地，如图6所示，最好在JTAG转接接口 22的复用管脚与芯片11、 芯片12以及芯片ln中具有相同信号功能的管脚之间设置选通电路23，选通电 路23用于对芯片11、芯片12以及芯片ln中的一个芯片进行选通。这样可以使 得在某一时间段内，只有一个芯片被选通，从而避免同时对两个或两个以上芯 片进行仿真测试时可能发生的信号沖突。
具体而言，选通电路23包括拨码开关，拨码开关一端与芯片11、芯片12 以及芯片ln之间具有相同信号功能的管脚相连，另一端与JTAG转接接口 22种 的复用管脚相连。在进行仿真测试时，通过手动操作使拨码开关闭合，可以选 通芯片ll和JTAG转接接口 22、芯片12和JTAG转接接口 22或者芯片ln和JTAG 转接接口 22，以实现对芯片11、芯片12或者芯片ln的独立的仿真测试。
进一步地，如图7所示，在芯片11、芯片12以及芯片ln和JTAG转接接口 22之间设有电平转换电路24，电平转换电路24用于使芯片11、芯片12以及芯 片ln和HAG转接接口 22之间交互的信号电平保持一致。这是由于芯片11、芯 片12以及芯片ln如果由不同的厂家生产，则其信号电平标准就有可能不一致， 而且JTAG转接接口 22的信号电平标准与各芯片之间的信号电平标准也有可能 存在差异，为了保证各芯片的仿真测试能够顺利进行，就需要使用电平转换电 路24对信号电平进行转换。
具体而言，电平转换电路24包括排阻和电平转换芯片，但并不限于排组， 也可以使用电阻来代替排组，其中电平转换芯片一般选用245转换芯片。
由图7可知，本实施例中的电平转换电路24设在芯片11、芯片12以及芯 片ln和选通电路23之间，在本发明的其他实施例中，电平转换电3各24还可设在选通电3各23和JTAG转接接口 22之间。
电平转换电路24不仅具有电平转换功能，而且排组和电平转换芯片还能起 到隔离防护的作用，能够限制由于热插拔单板而造成的电流增大，保护单板2 上的其他电子元器件不被烧坏。因此本实例中的电平转换电路24还可以作为热 插拔保护电路使用。
需要说明的是，本实施例中在单板2上设置了多个芯片，但在本发明的其 他实施例中，也可以在单板2上仅设置一个芯片。
综上所述，本发明实施例单板，由于包括JTAG转接接口，且所述JTAG转 接接口具有两种或两种以上不同类型JTAG接口的全部信号功能，因此所述JTAG 转接接口能够支持两种或两种以上不同类型的芯片，这样在对设置在单板上的 该两种或两种以上不同类型的芯片进行调试时不需要更换所述JTAG转接接口， 因此便于对单板上的芯片进行调试。
如图8所示，本发明实施例还提供了一种JTAG接口转换板3，包括印刷电 路板31 ，印刷电路板31上设有多个不同类型的JTAG接口 ，本实施例中设有JTAG 接口 11、JTAG4妾口 12以及JTAG接口 ln， JTAG4妾口 11、JTAG接口 12以及JTAG 接口 ln连接有JTAG转接接口 32, JTAG转接接口 32具有JTAG接口 11、 JTAG 接口 12以及JTAG接口 ln的全部信号功能。
本实施例JTAG接口转换板3,其上的JTAG转接接口 32能够与设置在单板 上的JTAG转接接口相配合，且由于JTAG转接接口 32与JTAG接口 11、 JTAG接 口 12以及JTAG才妾口 ln相连，而JTAG才妾口 11、 JTAG^姿口 12以及JTAG々妾口 ln 又能够分别与具有相同类型JTAG接口的仿真器相连，因此通过JTAG接口转换 板3能够连接单板和仿真器，从而实现对单板的仿真测试。
为了与设置在单板上的JTAG转接接口相配合，JTAG转接接口 3应具有与其相同的管脚定义，因此该JTAG转接接口 3中也包括复用管脚，且该复用管脚同 时与各JTAG接口中具有相应功能的管脚相连，这样该复用管脚就为各JTAG接 口所复用，从而减少了 JTAG转接接口 32中管脚的数目，节省JTAG转接接口 32 的占用面积，降低了成本。
同样在某一时间段内，既可以仅对一个芯片进行仿真测试，但在不发生信 号沖突的情况下，也可以对两个或更多的芯片同时进行仿真测试。在对两个或 更多的芯片同时进行仿真测试时，需要通过JTAG接口将各芯片和与各芯片—— 相对应的仿真器连接起来。因此本实施例中，JTAG转接接口 32的复用管脚和 JTAG接口 11、 JTAG接口 U以及JTAG接口 In中具有相同信号功能的管脚之间 可以保持通路。
优选地，如图9所示，最好在JTAG转接接口 32的复用管脚与JTAG接口 11、 JTAG接口 12以及JTAG接口 In中具有相同信号功能的管脚之间设置选通电路 33，选通电3备33用于对JTAG接口 11、 JTAG^妄口 12以及JTAG接口 ln中的一 个JTAG接口进行选通。这样可以使得在某一时间段内，只有一个JTAG接口被 选通，从而只接通一个仿真器。
其中，选通电路33包括拨码开关，拨码开关一端与JTAG接口 11、 JTAG接 口 12以及JTAG接口 ln中具有相同信号功能的管脚相连，另一端与JTAG转接 接口 32中的复用管脚相连。在进行仿真测试时，通过手动操作使拨码开关闭合， 可以选^r^妄通JTAG ^妾口 11和JTAG转4妾4妾口 32、丌AG 4妄口 12和了TAG 4i4姿4妄 口 32或者JTAG接口 ln和JTAG转接接口 32。
如图IO所示，在JTAG接口 11、 JTAG接口 12以及JTAG接口 ln和JTAG转 接接口 32之间设有电平转换电3各34,电平转换电J 各34用于使JTAG接口 11、 JTAG接口 12以及JTAG接口 ln和JTAG转接接口 32之间交互的信号电平保持一致。与上述实施例类似，如果JTAG接口 11、 JTAG接口 12以及JTAG接口 In由 不同的厂家生产，则其信号电平标准就有可能不一致，而且JTAG转接接口 32 的信号电平标准与各JTAG接口之间的信号电平标准也有可能存在差异，为了能 够顺利地通过各JTAG接口对相应的芯片进行仿真测试，就需要使用电平转换电 路34对信号电平进行转换。
具体而言，电平转换电路34包括排阻和电平转换芯片，但并不限于排组， 也可以使用电阻来代替排组，其中电平转换芯片一般选用245转换芯片。且电 平转换电路34不仅能够设置在JTAG接口 11、 JTAG接口 12以及JTAG接口 ln 和选通电路33之间，而且还可设置在选通电if各33和JTAG转接接口 34之间。
同样地，本实施例中电平转换电路34不仅具有电平转换功能，而且排组和 电平转换芯片还能起到隔离防护的作用，能够限制由于热插拔单板而造成的电 流增大，保护JTAG接口转换板3上的其他电子元器件不被烧坏。因此本实例中 的电平转换电路3 4还可以作为热插拔保护电路使用。
综上所述，本发明实施例JTAG接口转换板，其上的JTAG转接接口能够与 设置在单板上的JTAG转接接口相配合，且由于其上的JTAG转接接口与所述至 少两个不同类型的JTAG接口相连，所述至少两个不同类型的JTAG接口能够分 別与具有相同类型JTAG接口的仿真器相连，因此通过所述JTAG接口转换板能 够连接单板和仿真器，从而实现对单板的仿真测试。
如图11所示，本发明实施例还提供了 一种单板测试系统，包括
单板2,单板2包括第一印刷电路板，第一印刷电路板上设有至少一个芯片， 该至少一个芯片连接有第一 HAG转接接口 ，第一 JTAG转接接口具有两种或两 种以上不同类型JTAG接口的全部信号功能；
JTAG接口转换板3, JTAG接口转换板3包括第二印刷电路板，第二印刷电路板上设有至少两个不同类型的第二 JTAG接口，至少两个不同类型的第二 JTAG 接口连接有第二 JTAG转接接口，第二 JTAG转接接口具有上述至少两个不同类 型的第二 JTAG接口的全部信号功能，且第二 JTAG转接接口与第一 JTAG转接接 口相连；
仿真器4，仿真器4具有第三JTAG接口，仿真器4通过第三JTAG接口与至 少两个不同类型的第二 JTAG接口中对应的JTAG接口相连。
本实施例单板测试系统，由于单板2上的第一 JTAG转接接口具有两种或两 种以上不同类型JTAG接口的全部信号功能，因此第一 JTAG转接接口能够支持 两种或两种以上不同类型的芯片，又由于单板2上的第一 JTAG转接接口能够与 JTAG接口转换板3上的第二 JTAG转接接口相连，且JTAG接口转换板3上的不 同类型的第二 JTAG接口能够与不同类型的仿真器4 一一对应相连，因此通过 JTAG接口转换板3连接了单板2和仿真器4,从而易于对单板2进行仿真测试。
需要说明的是，本实施例中，单板2上的芯片与仿真器4之间的关系可以 为一对一的关系、多对一的关系、 一对多的关系或多对多的关系。
其中，所迷一对一的关系指的是在单板2上仅设置一个芯片，在JTAG接 口转换板3上设置多个第二 JTAG接口 ，且该芯片支持其中 一个第二 JTAG接口 ， 通过该第二 JTAG接口可以接入与之相匹配的仿真器4，从而对该芯片进行仿真 测试。
所述多对一的关系指的是在单板2上设置多个芯片，在JTAG接口转换板 3上设置多个第二 JTAG接口，该多个芯片均支持其中一个第二 JTAG接口，通过 该第二 JTAG接口可以接入仿真器4,仿真器4冲艮据多个芯片的地址分别对这些 芯片——进行仿真测试。
所述一对多的关系指的是在单板2上设置一个芯片，在JTAG接口转换板3上设置多个第二nAG接口，该芯片支持其中两个或两个以上的第二JTAG接口， 通过该两个或两个以上的第二 JTAG接口可以接入多个仿真器4，如果该多个仿 真器4与该芯片所支持的软件机制相同，则该多个仿真器4均可对该芯片进4亍 仿真。
所述多对多的关系指的是在单板2上设置多个芯片，在JTAG接口转换板 3上设置多个第二 JTAG接口，通过该多个第二 JTAG接口接入多个仿真器4，多 个仿真器4分别对与其类型相同的芯片进行仿真测试。本实施例中图ll所示即 为多对多的关系。
如图12所示，为了在某一时间段内仅对一个芯片进行仿真测试，以避免信 号沖突，在单板2上的JTAG转接接口 22的复用管脚与芯片11、芯片12以及芯 片ln中具有相同信号功能的管脚之间设置选通电路23，选通电路23用于对芯 片11、芯片12以及芯片ln中的一个芯片进行选通，同时在JTAG接口转换板3 的JTAG转接接口 32的复用管脚与第二 JTAG接口 11、第二 JTAG接口 12以及第 二JTAG接口 ln中具有相同信号功能的管脚之间设置选通电路33，选通电路33 用于对第二JTAG接口 11、第二JTAG接口 U以及第二JTAG接口 ln中的一个第 二 JTAG接口进行选通。
在本发明的其他实施例中，也可仅在单板2上的JTAG转接接口 22的复用 管脚与芯片11、芯片U以及芯片ln中具有相同信号功能的管脚之间设置选通 电路23，或仅在玎AG接口转换板3的JTAG转接接口 32的复用管脚与JTAG接 口 11、 JTAG接口 12以及JTAG接口 ln中具有相同信号功能的管脚之间设置选 通电^各33。
如图U所示，为使该单板测试系统中的电平保持一致，在单板2上的芯片 11、芯片12以及芯片ln和第一 JTAG转接接口 22之间设有第一电平转换电路24,第一电平转换电路24用于使芯片11、芯片U以及芯片ln和第一JTAG转 接接口 22之间交互的信号电平保持一致；同时，在JTAG接口转换板3上的第 二JTAG接口 11、第二JTAG接口 12以及第二JTAG接口 ln和第二JTAG转接接 口 32之间设有第二电平转换电路34，第二电平转换电路34用于使第二 JTAG接 口 11、第二JTAG接口 12以及第二JTAG接口 ln和第二 JTAG转接接口 32之间 交互的信号电平保持一致。
在本发明的其他实施例中，也可以仅在单板2上的芯片11、芯片12以及芯 片ln和第一 JTAG转接接口 22之间设有第一电平转换电路24，或仅在JTAG接 口转换板3上的第二 JTAG接口 11、第二JTAG^妄口 12以及第二JTAG接口 ln和 第二 JTAG转接接口 32之间设有第二电平转换电路34。
综上所述，本发明实施例单板测试系统，由于所述单板上的第一 JTAG转接 接口具有两种或两种以上不同类型HAG接口的全部信号功能，因此所述第一 JTAG转接接口能够支持两种或两种以上不同类型的芯片，又由于所述单板上的 第一 JTAG转接接口能够与所述JTAG接口转换板上的第二 JTAG转接接口相连， 且所述JTAG接口转换板上的不同类型的第二 JTAG接口能够与不同类型的仿真 器——对应相连，因此通过所述JTAG接口转换板连接了单板和仿真器，从而易 于对所述单板进行仿真测试。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式
，但本发明的保护范围并不局限于 此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到 变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应 以权利要求所述的保护范围为准。
权利要求
1、一种JTAG转接接口，其特征在于，所述JTAG转接接口具有两种或两种以上不同类型JTAG接口的全部信号功能。
2、 根据权利要求1所述的JTAG转接接口 ，其特征在于，所述JTAG转接4妄 口具有复用管脚，所述复用管脚支持所述两种或两种以上不同类型JTAG接口之 间具有相同信号功能的管脚。
3、 一种单板，其特征在于，包括印刷电路板，所述印刷电路板上设有至少 一个芯片，所述至少一个芯片连接有HAG转接接口，所述JTAG转接接口具有 两种或两种以上不同类型HAG接口的全部信号功能。
4、 根据权利要求3所述的单板，其特征在于，所述印刷电路板上设有至少 两个芯片，所述至少两个芯片之间的具有相同的信号功能的管脚均与所述JTAG 转接4妻口中相应的复用管脚相连。
5、 根据权利要求4所述的单板，其特征在于，所述至少两个芯片中具有相 同信号功能的管脚与所述复用管脚之间设有选通电路，所述选通电路用于对所 述至少两个芯片中的一个芯片进行选通。
6、 根据权利要求5所述的单板，其特征在于，所述选通电路包括拨码开关， 所述拨码开关一端与所述至少两个芯片之间具有相同信号功能的管脚相连，另 一端与所述复用管脚相连。
7、 根据权利要求3至6中任一项所述的单板，其特征在于，在所述至少一 个芯片和所述JTAG转接接口之间设有电平转换电路，所述电平转换电路用于使 所述至少一个芯片和所述JTAG转接接口之间交互的信号电平保持一致。
8、 一种JTAG接口转换板，其特征在于，包括印刷电路板，所述印刷电路 板上设有至少两个不同类型的JTAG接口，所述至少两个不同类型的JTAG接口 连接有JTAG转接接口 ，所述JTAG转接接口具有所述至少两个不同类型的JTAG接口的全部信号功能。
9、 根据权利要求8所述的JTAG接口转换板，其特征在于，所述至少两个 不同类型的JTAG接口之间具有相同信号功能的管脚与所述JTAG转接接口中相 应的复用管脚相连。
10、 根据权利要求9所述的JTAG接口转换板，其特征在于，所述至少两个 不同类型的JTAG接口中具有相同信号功能的管脚与所述复用管脚之间设有选通 电路，所述选通电3各用于对所述至少两个不同类型的JTAG接口中的一个JTAG 接口进行选通。
11、 根据权利要求10所述的JTAG接口转换板，其特征在于，所述选通电 路包括拨码开关，所述拨码开关一端与所述至少两个不同类型的JTAG接口中具 有相同信号功能的管脚相连，另 一端与所述复用管脚相连。
12、 根据权利要求8至11中任一项所述的JTAG接口转换板，其特征在于， 在所述至少两个不同类型的JTAG接口和所述JTAG转接接口之间设有电平转换 电路，所述电平转换电路用于使所述至少两个不同类型的JTAG接口和所述JTAG 转接接口之间交互的信号电平保持一致。
13、 一种单板测试系统，其特征在于，包括单板，所述单板包括第一印刷电路板，所述第一印刷电路板上设有至少一 个芯片，所述至少一个芯片连接有第一 JTAG转接接口 ，所述第一 JTAG转接接 口具有两种或两种以上不同类型JTAG接口的全部信号功能；JTAG接口转换板，所述JTAG接口转换板包括第二印刷电路板，所述第二印 刷电路板上设有至少两个不同类型的第二 JTAG接口 ，所述至少两个不同类型的 第二 JTAG接口连接有第二 JTAG转接接口 ，所述第二 JTAG转接接口具有所述至 少两个不同类型的第二 JTAG接口的全部信号功能，且所述第二 JTAG转接接口与所述第一 JTAG转接接口相连；仿真器，所述仿真器具有第三JTAG接口，所述仿真器通过所述第三JTAG 接口与所述至少两个不同类型的第二 JTAG接口中对应的JTAG接口相连。
14、 根据权利要求13所述的单板测试系统，其特征在于， 所述第一印刷电路板上设有至少两个芯片，所述至少两个芯片之间具有相同的信号功能的管脚均与所述第一 JTAG转接接口中相应的复用管脚相连；所述第二印刷电路板上的至少两个不同类型的JTAG接口之间具有相同信号 功能的管脚均与所述第二 JTAG转接接口中相应的复用管脚相连。
15、 根据权利要求14所述的单板测试系统，其特征在于，在所述第一 JTAG转接接口的复用管脚与所述至少两个芯片中具有相同信号 功能的管脚之间设有第一选通电路，所述第一选通电路用于对所述至少两个芯 片中的一个芯片进行选通；和/或在所述第二 JTAG转接接口的复用管脚与所述至少两个不同类型的第二 JTAG 接口中具有相同信号功能的管脚之间设有第二选通电路，所述第二选通电路用 于对所述至少两个不同类型的第二JTAG接口中的一个第二JTAG接口进行选通。
16、 根据权利要求13、 14或15所述的单板测试系统，其特征在于， 在所述至少一个芯片和所述第一 JTAG转接接口之间设有第一电平转换电路，所述第一电平转换电路用于使所述至少一个芯片和所述第一 JTAG转接接口 之间交互的信号电平保持一致；和/或在所述至少两个不同类型的第二 JTAG接口和所述第二 JTAG转接接口之间 设有第二电平转换电路，所述第二电平转换电路用于使所述至少两个不同类型 的第二 JTAG接口和所述第二 JTAG转接接口之间交互的信号电平保持一致。
全文摘要
本发明公开了一种JTAG转接接口、单板、JTAG接口转换板及单板测试系统，涉及通信技术领域，为便于调试单板上的芯片而发明。所述JTAG转接接口具有两种或两种以上不同类型JTAG接口的全部信号功能。所述单板，包括印刷电路板，所述印刷电路板上设有至少一个芯片，所述至少一个芯片连接有JTAG转接接口，所述JTAG转接接口具有两种或两种以上不同类型JTAG接口的全部信号功能。本发明还公开了一种JTAG接口转换板和一种单板测试系统。本发明JTAG转接接口可用于进行接口转换。
文档编号G01R31/28GK101581759SQ20091014673
公开日2009年11月18日 申请日期2009年6月16日 优先权日2009年6月16日
发明者伟 刘 申请人:华为技术有限公司