检测壳盖密封配合后腔体平整度的装置的制作方法

文档序号:5850861阅读:339来源:国知局
专利名称:检测壳盖密封配合后腔体平整度的装置的制作方法
技术领域
本实用新型属于腔体激光密封工艺,尤其涉及一种适用于制造笔记本电 池、汽车动力电池、超级电容器进行腔体激光密封时的检测壳盖密封配合后 腔体平整度的装置。
背景技术
笔记本电池、汽车动力电池、超级电容器等都是属于腔体密封产品。这
些产品的腔体基本上都是由壳、盖通过激光焊接构成。由于腔体的内部;^文置 有液体材料,为了防止液体材料从腔体内部泄露到腔体外,必须严格保证腔 体具有良好的密封性。在腔体密封产品的生产装配过程中,腔体密封之前安 排有扣盖工序该工序是将盖装配到壳体上。扣盖效果好坏直接影响着激光 密封焊接工序的焊接效果。扣盖完成后,如果盖与壳配合不好,则在焊接过 程中,就会产生焊漏、焊接强度低等问题,从而产生废品。因此腔体密封在 焊接工序之前,设有检测腔体平整度工序,需要对产品的扣盖效果进行枱"测, 将扣盖不合格产品先挑选出来,重新进行扣盖装配,再进行激光焊接,以避 免废品的产生。腔体密封产品壳盖配合平整度不良,即扣盖不良, 一般有以 下几种情况盖与壳口面不平行,呈一定角度;盖与壳口平行,但盖整体高 于或者低于壳口。无论是那种扣盖不良,盖与壳口必然形成有一处或多处高 度落差。
实用新型内容
本实用新型是为了克服现有技术中的不足,提供一种检测壳盖密封配合 后腔体平整度的装置,可以有效地检测出腔体密封产品的盖与壳是否配合良 好,从而避免废品的产生。
本实用新型为实现上述目的,通过以下技术方案实现 一种检测壳盖密封 配合后腔体平整度的装置, 一种检测壳盖密封配合后腔体平整度的装置,其 特征是包括壳盖密封配合后腔体、摄像系统、红光激光源。所述壳盖密封 配合后腔体的正上方固定摄像系统,在腔体左上方和右上方各固定有红光激光光源。
所述红光激光光源数量为两个或两个以上。
本实用新型的优点方法易于实现只需要配置线状红光激光源和#/像系 统,就可以实现壳盖密封配合后腔体平整度的检测;检测稳定激光是最稳 定的光源,发散角小。光是直线传播,因此,光在密封腔体表面形成的光线 稳定。摄像系统的检测过程是先照相,然后对所拍摄的相片进行取样比较检 观'J,即能避免检测过程中由于外部环境变化对检测精度的影响;检测精度高 采用最稳定的激光光源及高像素的电子摄像系统保证了系统的检测精度;适 合在自动化应用可以通过PLC、工控机的自动控制部件对摄像系统的动作 和信号进行釆集和控制,从而实现自动控制应用。


图l是本实用新型的结构原理图2是密封腔体上的光线示意图3是密封腔体表面上的局部光线示意图4是本实用新型的摄像系统取像示意图。
具体实施方式
以下结合较佳实施例,对依据本实用新型提供的具体实施方式
详述如下。 详见附图, 一种检测壳盖密封配合后腔体平整度的装置, 一种检测壳盖密 封配合后腔体平整度的装置,包括壳盖密封配合后腔体、摄像系统、红光激 光源。所述壳盖密封配合后腔体的正上方固定摄像系统,在腔体左上方和右 上方各固定有红光激光光源。所述红光激光光源发出线状红光激光,并分别 照射在密封腔体的盖和壳的壳口上;所述摄像系统对密封腔体的盖和壳的壳 口上的激光光线进行照相,并自动进行图像及数据的采集和处理。所述红光 激光光源数量为两个或两个以上。
工作原理采用本装置检测壳盖密封配合后腔体的平整度方法原理是 采用两个或两个以上的线状红光激光源照射在壳盖密封配合后腔体表面上形 成两条或多条的激光线,在激光线的连接处,激光线交叉形成e角,通过才聂 像系统将6角值读取并与设定的角度值比较的检测平整度方法,具体步骤
1、在壳盖密封配合后腔体的正上方固定摄像系统4,在其左上方和右上 方各固定有红光激光光源3;2、 红光激光光源发出线状红光激光5,分别照射在密封腔体的盖2和壳1 的壳口上,如果腔体密封产品盖2和壳1的高度一致,则照射在腔体密封产 品盖2上的激光5-1和照射在腔体密封产品壳1上的激光5-2在同一直线上。 如果腔体密封产品盖2和壳1的高度不一致,则照射在腔体密封产品盖2上 的激光5-1和照射在腔体密封产品壳1上的激光5-2形成6角;
3、 摄像系统4对线状红光激光分别照射在密封腔体盖和壳上的图像进行 摄像,摄像系统4对所摄图像中,腔体密封产品盖2和壳1的激光交接处4-1、 4-2、 4-3、 4-4的6角进4亍读耳又;
4、 摄像系统将读取的6角逐一和系统设定的角度值进行比较,如果有一 个或多个6角比系统设定的角度值大,则摄像系统判定此腔体密封产品扣盖 不良,并输出相应信号;
5、 将平整度检测完成的腔体转移到激光焊接工序,激光器根据摄像系统 的判定结果,选择激光焊接或者激光不焊接。
在实际生产中,可以根据现场实际情况选择线状红光激光源的数量。 以上所述,仅是本实用新型的较佳实施例而已,并非对本实用新型的结 构作任何形式上的限制。凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作 的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本实用新型的技术方案的范围 内。
权利要求1、一种检测壳盖密封配合后腔体平整度的装置,其特征是包括壳盖密封配合后腔体、摄像系统、红光激光源,所述壳盖密封配合后腔体的正上方固定摄像系统,在腔体左上方和右上方各固定有红光激光光源。
2、 根据权利要求1所述的检测壳盖密封配合后腔体平整度的装置,其特 征是所述红光激光光源数量为两个或两个以上。
专利摘要本实用新型涉及一种检测壳盖密封配合后腔体平整度的装置,其特征是包括壳盖密封配合后腔体、摄像系统、红光激光源。所述壳盖密封配合后腔体的正上方固定摄像系统,在腔体左上方和右上方各固定有红光激光光源。本实用新型的优点方法易于实现只需要配置线状红光激光源和摄像系统,就可以实现壳盖密封配合后腔体平整度的检测;检测稳定;检测精度高;适合在自动化应用可以通过PLC、工控机的自动控制部件对摄像系统的动作和信号进行采集和控制,从而实现自动控制应用。
文档编号G01B11/30GK201397131SQ20092009625
公开日2010年2月3日 申请日期2009年4月10日 优先权日2009年4月10日
发明者于平平, 吉跃华, 张明昆 申请人:天津力神电池股份有限公司
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