专利名称：贴片式电子元件老化测试设备的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试设备，尤其涉及一种电子元件老 化测试设备。
技术背景电阻、电容、电感等电子元件老化试验是产品出厂前所必 须的一项重要性能试验，由于贴片式电子元件体积小、而且没有引线，传 统的老化测试设备存在操作麻烦、检测效率低下、对产品损伤严重等缺陷， 已不能满足贴片式电子元件大规模生产的需要，因此急需一种能够适合于 贴片式电子元件老化性能测试的设备。
发明内容针对现有技术中存在的上述缺陷，本实用新型旨在提供一 种检测效率高、操作方便，能够进行在线精确测量的贴片式电子元件老化 测试设备。
为了实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案它包括机柜和保 温箱；机柜的上半部是保温箱和控制箱，保温箱和控制箱的背面是检测箱， 机柜的下半部是电源箱；保温箱中设有多对插槽和多个电源接插口，与电 源接插口电连接的老化板插装在插槽中，在保温箱中的四角处设有电热装 置，保温箱的侧壁设有风扇；控制箱中设有温控器、超温保护装置、以及 主控制装置，检测箱中设有多块各自与电源接插口电连接的检测板，电源 箱中设有多个各自与电源接插口电连接的检测电源。
与现有技术比较，本实用新型由于采用了上述技术方案，因此具有测 量数据准确、操作方便、数据显示直观、检测效率高、不损伤产品等优点。
图1是本实用新型的结构示意图； 图2是图1的A—A剖视图3是图2中的B—B剖视图。
图中机柜l 保温箱门2 操作面板3 电源箱门4 检测箱5 检测板6 电热装置7 电源接插口8 插槽9 老化板IO 支架ll 风扇12 保温箱13 电源箱14 检测电源15 检测箱门16 控制 箱1具体实施方式
以下结合附图和具体的实施例对本实用新型作进一步 说明
在图1 3中，保温箱13和控制箱17位于机柜1的上半部；保温箱 13中设有支架11，该支架上固定有多对插槽9，每对插槽9中插有一块老
化板10，该老化板上设有若干电子元件老化测试夹具；保温箱13的后壁
上设有数量与老化板10对应的电源接插口 8，在靠近保温箱13后壁的四 个角各设有一个电热装置7，保温箱13的侧壁设有使温度均匀的风扇12， 各老化板10的前端插入对应的电源接插口 8中；保温箱13上设有保温箱 门2。控制箱17位于保温箱13的右侧，该控制箱中设有温控器、超温保 护装置、以及主控制装置；控制箱17上设有控制面板3，该控制面板上设 有液晶显示屏、各种控制按钮等。在保温箱13和控制箱17的背面是检测 箱5，该检测箱中设有数量与电源接插口 8对应的检测板6，各检测板6 各自与对应的电源接插口 8电连接；为了安全，检测箱5上设有检测箱门16。机柜1的下半部是电源箱14，该电源箱中设有数量与电源接插口 8对 应的检测电源15，各检测电源15各自与对应的电源接插口 8电连接；为
了安全，电源箱14上设有电源箱门4。
权利要求1.一种贴片式电子元件老化测试设备，包括机柜和保温箱；其特征在于机柜(1)的上半部是保温箱(13)和控制箱(17)，保温箱(13)和控制箱(17)的背面是检测箱(5)，机柜(1)的下半部是电源箱(14)；保温箱(13)中设有多对插槽(9)和多个电源接插口(8)，与电源接插口(8)电连接的老化板(10)插装在插槽(9)中，在保温箱(13)中的四角处设有电热装置(7)，保温箱(13)的侧壁设有风扇(12)；控制箱(17)中设有温控器、超温保护装置、以及主控制装置，检测箱(5)中设有多个各自与电源接插口(8)电连接的检测板(6)，电源箱(14)中设有多块各自与电源接插口(8)电连接的检测电源(15)。
专利摘要本实用新型公开了一种贴片式电子元件老化测试设备，属于老化测试设备；旨在提供一种检测效率高、操作方便，可对贴片式电子元件进行在线精确测量的老化测试设备。包括机柜和保温箱；机柜(1)的上半部是保温箱(13)和控制箱(17)、下半部是电源箱(14)，保温箱(13)和控制箱(17)的背面是检测箱(5)；保温箱(13)中设有电热装置(7)、风扇(12)、插槽(9)和电源接插口(8)，老化板(10)插入插槽(9)中；控制箱(17)中设有温控器、超温保护装置和主控制装置，检测箱(5)中设有与电源接插口(8)电连接的检测板(6)，电源箱(14)中设有与电源接插口(8)电连接的检测电源(15)。
文档编号G01R31/00GK201392373SQ200920125368
公开日2010年1月27日 申请日期2009年4月30日 优先权日2009年4月30日
发明者冯刘洪, 俊 冷, 吴志轩, 王仕海, 王黎斌, 邓凯锋, 陈思纤, 龚国刚, 龚建设 申请人:中国振华集团云科电子有限公司