专利名称：高纯锗探测器定位测量支架的制作方法
技术领域：
本发明属于伽玛定量测量技术领域，具体涉及一种高纯锗探测器定位测量支架。
背景技术：
在高纯锗探测器定量测量技术研究开发中，模拟计算与定位测量相配合是建立高 纯锗探测器数学计算模型的关键技术途径。现有的探测器定位测量设备是七点定位测量支 架，该支架是将定位测量支架直接安装在探测器的探头部位，通过对固定在七个典型位置 的标准放射性点源的探测，可以建立高纯锗探测器的计算模型。这种定位测量方法无疑是 有效的，但是高纯锗探测器的探头是整个探测器的关键部件和精密仪器，如果将定位支架 直接安装在探头上，在使用过程中很有可能会对探头有损伤，而且高纯锗探测器价格昂贵。
发明内容
(一)发明的目本发明提供了一种可以多方位定位测量的高纯锗探测器定位测量支架，该支架不 用安装在探头上。( 二 )技术方案本发明提供了一种高纯锗探测器定位测量支架，该支架包括以下部件薄膜源固 定器、横向导轨、测量立杆、探测器底座、纵向导轨、推车和滑块，其中探测器底座由3个弧 形片状结构组成，纵向导轨是两条平行轨道，测量立杆由两根平行立柱组成，探测器底座和 纵向导轨固定在推车上，测量立杆的底座安装在纵向导轨上，测量立杆垂直于纵向导轨，测 量立杆的两根平行立柱中心轴位置安装了滑块；横向导轨的一端与滑块轴连接；薄膜源固 定器穿过横向导轨的两根平行杆。所述的探测器底座下安装了高纯锗探测器升降台，该升 降台由升降支架、升降平台、手轮和轨道组成，其中，升降支架由4根金属杆两两相交叉，4 根金属杆的8个末端中，a、b两端与推车上的固定件轴连接，c、d两端与升降平台下表面上 的固定件轴连接，e、f两端与推车轨道的两个滑动部件轴连接，g、h两端与升降平台下表 面轨道上的两个滑动部件轴连接，2根金属杆的交叉点是轴连接；推车轨道与升降平台下 表面轨道的位置关系是长方体上平行的4条边；手轮安装在升降平台下表面的两个导轨之 间，用于控制升降平台的升和降。所述的横向导轨、测量立杆和纵向导轨上都设有标尺。(三)发明效果本发明提供的高纯锗探测器定位测量支架，由于该支架是完全独立于探测器探头 安装，在使用过程中不会对探头有损伤，而且，由多个导轨组成的支架，使得放射源可以在 立体空间的任意点得以测量，并且通过尺寸记录，可以实现重复测量。在测量范围扩大的同 时还保证了测量精准度。
图1高纯锗探测器定位测量支架立体图
1薄膜源固定器，2横向导轨，3测量立杆，4探测器底座，5纵向导轨，6推车，滑块 12 ；图2高纯锗探测器定位测量支架右视图2横向导轨，3测量立杆，4探测器底座，5纵向导轨，6推车，滑块12 ；图3高纯锗探测器定位测量支架俯视图1薄膜源固定器，2横向导轨，3测量立杆，4探测器底座，5纵向导轨，6推车，滑块 12 ；图4高纯锗探测器升降台立体图7升降支架，8升降平台，9手轮，10轨道，a、b、C、d、e、f、g、h升降支架末端，其中， a与b、c与d、e与f、g与h两两相对称，图中省略d禾口 h ；图5高纯锗探测器升降台右视图7升降支架，8升降平台，9手轮，10轨道；图6高纯锗探测器升降台后视图7升降支架，8升降平台，10轨道。
具体实施例方式下面结合实施例对本发明作进一步阐述。实施例1如图1、2、3所示，本发明提供的高纯锗探测器定位测量支架，包括以下部件薄膜 源固定器1、横向导轨2、测量立杆3、探测器底座4、纵向导轨5、推车6和滑块12，其中探测 器底座4由3个弧形片状结构组成，纵向导轨5是两条平行轨道，测量立杆3由两根平行立 柱组成，探测器底座4和纵向导轨5固定在推车6上，测量立杆3的底座安装在纵向导轨5 上，测量立杆3垂直于纵向导轨5，并且可以在纵向导轨5上前后移动；在测量立杆3的两 根平行立柱的中心轴位置安装了滑块12，横向导轨2的一端与滑块12轴连接，横向导轨2 可以以滑块12为圆心360度旋转，也可以沿测量立杆3的中心轴位置上下移动，当进行上 下移动时将横向导轨2与滑块12之间的轴连接用止动轴卡住；薄膜源固定器1穿过横向导 轨2的两根平行杆左右移动。上述横向导轨2、测量立杆3、纵向导轨5上都设有标尺。在使用该高纯锗探测器定位测量支架时，将高纯锗探测器放在探测器底座4上， 拧紧探测器底座4上的螺帽以固定探测器；将待测放射点源置于薄膜源固定器1中，调整薄 膜源固定器1在横向导轨2上的位置并固定薄膜源固定器1、调整横向导轨2在测量立杆3 上的位置并固定横向导轨2、调整测量立杆3在纵向导轨5上的位置并固定测量立杆3，记 录横向导轨2、测量立杆3、纵向导轨5上的尺寸，可以实现立体空间任意点的测量和重复测 量。该支架是独立设置，不与探测器的探头直接接触，在使用过程中不会对探头有损伤。在 测量范围扩大的同时还保证了测量精准度。实施例2一种高纯锗探测器定位测量支架，同实施例1，不同的是，探测器底座4固定在高 纯锗探测器升降台上，如图4、5、6所示该升降台由升降支架7，升降平台8，手轮9，轨道 10，和轨道11组成，其中，升降支架7由4根金属杆两两相交叉，金属杆的末端a、b两端与 推车6上的固定件轴连接，c、d两端与升降平台8下表面上的固定件轴连接，e、f两端与轨道10上的两个滑动部件轴连接，g、h两端与轨道11上的两个滑动部件轴连接，其中，a与 b、c与d、e与f、g与h两两相对称，图中省略d和h ；轨道10固定在推车6上；轨道11固 定于升降平台8下表面，轨道11与轨道10的位置关系是长方体上平行的4条边；手轮9安 装在升降平台8下表面，轨道11的两个导轨之间，用于控制升降平台8的升和降。增加了 升降平台，可以方便的调整高纯锗探测器的高度，以获取最佳测量位置。
权利要求
1.高纯锗探测器定位测量支架，该支架包括以下部件薄膜源固定器(1)、横向导轨 (2)、测量立杆(3)、探测器底座(4)、纵向导轨(5)、推车(6)和滑块(12)，其中探测器底座 (4)由3个弧形片状结构组成，纵向导轨( 是两条平行轨道，测量立杆(3)由两根平行立 柱组成，探测器底座(4)和纵向导轨( 固定在推车(6)上，测量立杆C3)的底座安装在纵 向导轨(5)上，测量立杆(3)垂直于纵向导轨(5)，测量立杆(3)的两根平行立柱中心轴位 置安装了滑块(12)；横向导轨O)的一端与滑块(12)轴连接；薄膜源固定器(1)穿过横向 导轨O)的两根平行杆。
2.根据权利要求1所述的高纯锗探测器定位测量支架，其特征在于所述的探测器底 座(4)下安装了高纯锗探测器升降台，该升降台由升降支架(7)，升降平台(8)，手轮(9)，轨 道(10)，和轨道(11)组成，其中，升降支架(7)由4根金属杆两两相交叉，4根金属杆的8 个末端中，a、b两端与推车(6)上的固定件轴连接，c、d两端与升降平台(8)下表面上的固 定件轴连接，e、f两端与轨道(10)上的两个滑动部件轴连接，g、h两端与轨道(11)上的两 个滑动部件轴连接，2根金属杆的交叉点是轴连接；轨道(10)固定在推车(6)上；轨道(11) 固定于升降平台(8)下表面，轨道(11)与轨道(10)的位置是长方体上平行的4条边；手轮 (9)安装在升降平台⑶下表面，轨道(11)的两个导轨之间。
3.根据权利要求1所述的高纯锗探测器定位支架，其特征在于所述的横向导轨O)、 测量立杆(3)、纵向导轨(5)上都设有标尺。
全文摘要
本发明属于伽玛定量测量技术领域，具体涉及一种高纯锗探测器定位测量支架。该支架包括以下部件薄膜源固定器1、横向导轨2、测量立杆3、探测器底座4、纵向导轨5和推车6，其中，探测器底座4由3个弧形片状结构组成，探测器底座4和纵向导轨5对向固定在推车6上，测量立杆3的底座安装在纵向导轨5上，测量立杆3垂直于纵向导轨5；在测量立杆3的两根平行立柱的中心轴位置安装了横向导轨2；薄膜源固定器1穿过横向导轨2的两根平行杆。由于该支架是完全独立于探测器探头安装，在使用过程中不会对探头有损伤，放射源可以在立体空间的任意点测量，在测量范围扩大的同时还保证了测量精准度。
文档编号G01T7/00GK102147476SQ20101062051
公开日2011年8月10日 申请日期2010年12月23日 优先权日2010年12月23日
发明者卢文广, 王仲奇, 甘霖 申请人:中国原子能科学研究院