专利名称：芯片检测信号的分配电路及多路检测的芯片检测系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及信号传输电路，更具体地，涉及一种芯片检测信号的分配电路及 多路检测的芯片检测系统。
背景技术：
随着集成电路的发展，社会的各个技术领域均会使用到半导体芯片，特别是电视 机、影碟机等设备内，均集成有视频或音频等多媒体处理芯片。集成多媒体处理芯片的设备 在出厂前，技术人员会对设备内的多媒体芯片进行各个方面的检测，并通过FPGA验证芯片 的处理过程，以电视机为例，参见图1，用于验证视频处理的FPGA，在对芯片的处理功能进行验 证时，需要将通过FPGA的输入或输出的测试信号连接相应的检测设备，例如将视频的输 出信号连接各种功能的信号处理模块，以检测该电视机中的某个芯片是否正确处理数据并 能够被连接的信号处理模块进一步处理，或连接检测仪，如示波器，或将该芯片的输入信号 同时连接其它电视机生产商的电视机，以验证FPGA所验证的芯片处理功能结果与其它电 视机生产商的电视机处理结果是否有差异。目前上述的检测过程是依次检测，如将被测信号连接示波器，检测波形后，再连接 信号处理模块，检测芯片的处理是否正确之后，再做其它方面的检测。由于被测信号只有一 路输出，不能扩展输出接口，只能依次进行检测。
实用新型内容本实用新型旨在提供一种芯片检测信号的分配电路，以解决上述被测芯片只有一 路输出，不能扩展输出接口的问题。根据本实用新型的一个方面，提供一种芯片检测信号的分配电路，包括第一运算 放大器，第一运算放大器的正输入端连接分压电阻和第一隔直流电容，接收芯片检测信号； 多个相互并联的第二运算放大器，各第二运算放大器的正输入端连接至第一运算放大器的 输出端，各第二运算放大器的输出端分别连接有第二隔直流电容，经由第二隔直流电容输 出芯片检测信号。进一步地，第一运算放大器和第二运算放大器的输出端分别反馈连接至其各自的 负输入端。根本实用新型的另一个方面，还提供一种多路检测的芯片检测系统，包括上述的 分配电路，分配电路的第一运算放大器的正输入端连接至发出芯片检测信号的FPGA ；分配 电路的各第二运算放大器的输出端分别连接至检测设备。进一步地，检测设备包括示波器、逻辑分析仪、多媒体设备、和具有解析音频、视频 数据功能的处理模块中的至少一个。进一步地，多媒体设备为电视机、或影碟机。根据本实用新型的另一个方面，还提供一种多路检测的芯片检测系统，包括上述的分配电路，分配电路的第一运算放大器的正输入端连接发出芯片检测信号的信号发生 器；分配电路的各第二运算放大器的输出端分别连接至检测设备。进一步地，检测设备包括示波器、逻辑分析仪、验证被测芯片的FPGA、和基准多媒 体设备中的至少一个。进一步地，基准多媒体设备为电视机、或影碟机。通过本实用新型的芯片检测信号的分配电路，扩展了检测信号的输出接口，可接 入更多的检测设备；本实用新型的检测系统，通过分配电路可同时接入多个检测设备进行 检测，由于实现对芯片同时进行多项检测，提高了检测芯片的效率，缩短了检测芯片的时 间。
附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本申请的一部分，本实用新型的 示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图 中图1示出了检测芯片时的信号传输示意图；图2示出了本实用新型的第一种检测系统的示意图；图3示出了本实用新型的第二种检测系统的示意图；图4示出了本实用新型的分配电路原理图。
具体实施方式
为清楚说明本实用新型的方案，下面给出优选的实施例并结合附图详细说明本实 用新型。参见图2，图2是本实用新型的第一种检测系统示意图，在通过FPGA进行检测时， 从FPGA处理后输出的芯片检测信号通过分配电路产生多路输出，FPGA芯片验证平台可通 过分配电路连接多媒体设备，多媒体设备可以是电视机、或影碟机等，均可通过分配电路进 行多路输出，应用范围广泛。分配电路的输出端分别连接示波器、逻辑分析仪、多媒体设备 和/或处理模块等检测设备，处理模块为各类不同厂商的解析音频、或视频功能的处理模 块。各个检测设备可同时进行检测，获得各个检测结果，由于不同厂商的处理模块的技术不 同，可以验证FPGA平台中的芯片功能的输出结果是否具有通用性。对于不同的检测，该分配电路还可将检测信号输出至被测的芯片，如图3所示，图 3是本实用新型的第二种检测系统的示意图，来自信号发生器的输入至芯片的检测信号经 过分配电路，分别输出至基准多媒体设备和FPGA验证平台，FPGA用于各种多媒体设备内芯 片的验证，多媒体设备可以是影碟机、电视机等，应用范围广泛。如果多媒体设备为电视机， 则图3中的基准多媒体设备为另外一个性能符合要求的基准电视机或其它生产商的电视 机，以验证此FPGA芯片的处理效果是否与基准电视机的处理效果相同、是否与其它生产商 的电视机的处理效果相同。由于分配电路具有多路输出，还可以连接示波器、逻辑分析仪、 和/或处理模块等检测设备。本实用新型中芯片检测信号的分配电路可选择四运放、六运放等多种形式的运算 放大芯片，以满足输出信号的一致性且各路信号互相没有干扰。下面给出一种实施例，该实
4施例中的电路采用四运放、三分配的形式，并应用到电视机内处理交流视频信号芯片的检 测中，电路结构的原理图可参见图4，由于电视机的芯片检测信号为交流信号，所以输入的 芯片检测信号经过VIN输入后，通过隔直流电容Cl过滤直流信号后，经过运算放大器UlA 的正输入端3脚，通过1脚输出至三个并联的运算放大器UlB的正输入端5脚、运算放大器 UlC的正输入端10脚和运算放大器UlD的正输入端12脚。运算放大器UlA为第一运算放 大器，运算放大器U1B、U1C和UlD为第二运算放大器，第一运算放大器和各个第二运算放大 器之间相互串联。运算放大器UlB的输出端7脚输出信号后经过隔直流电容C2输出，相应的，运算 放大器UlC的输出端8脚输出信号后经过隔直流电容C3输出，运算放大器UlD的输出端14 脚输出信号后经过隔直流电容C4输出。在运算放大器UlA的正输入端还连接有分压电阻 R1、R2，以满足静态工作点电压。芯片检测信号传递至三个输出端V01、V02和V03，每个输出端可连接一个检测设 备、验证芯片功能的FPGA平台或基准多媒体设备等。每个运算放大器的输出端均反馈至其 负输入端。运算放大器UlA的输出端1脚反馈至其负输入端2脚，运算放大器UlB的输出 端7脚反馈至其负输入端6脚，运算放大器UlC的输出端8脚反馈至其负输入端9脚，运算 放大器UlD的输出端14脚反馈至其负输入端13脚。从而实现信号的1 1输出，从满足 信号输出的一致性。对于多路检测时，也可根据实际情况选择N运放、N-I分配形式的电路；还可以采 用多个分配芯片检测信号的电路，从而实现多路输出。例如图4中所示的分配电路可分配 三路检测信号，如果需要分配多路的视频信号，也可采用此分配电路搭建多路输出，如在其 中的运算放大器UlB的7脚输出上再连接一个分配电路，可实现五路输出。通过本实用新型的芯片检测信号的分配电路，扩展了被测芯片的输入和输出接 口，可同时接入多路检测设备；本实用新型的多路芯片检测系统，可实现对芯片功能同时进 行多项检测，提高了检测芯片的效率，缩短了检测芯片的时间；通过连接不同的检测设备， 实现较强的通用性及多种并行的检测过程。以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本 领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则 之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求一种芯片检测信号的分配电路，其特征在于，包括第一运算放大器，所述第一运算放大器的正输入端连接分压电阻和第一隔直流电容，接收所述芯片检测信号；多个相互并联的第二运算放大器，各所述第二运算放大器的正输入端连接至所述第一运算放大器的输出端，各所述第二运算放大器的输出端分别连接有第二隔直流电容，经由所述第二隔直流电容输出所述芯片检测信号。
2.根据权利要求1所述的分配电路，其特征在于，所述第一运算放大器和第二运算放 大器的输出端分别反馈连接至其各自的负输入端。
3.一种多路检测的芯片检测系统，其特征在于，包括权利要求1所述的分配电路，所述 分配电路的第一运算放大器的正输入端连接至发出所述芯片检测信号的FPGA ；所述分配 电路的各第二运算放大器的输出端分别连接至检测设备。
4.根据权利要求3所述的芯片检测系统，其特征在于，所述检测设备包括示波器、逻辑 分析仪、多媒体设备、和具有解析音频、视频数据功能的处理模块中的至少一个。 6、根据权利要求3所述的芯片检测系统，其特征在于，所述多媒体设备为电视机、或影 碟机。
5.一种多路检测的芯片检测系统，其特征在于，包括权利要求1所述的分配电路，所述 分配电路的第一运算放大器的正输入端连接发出所述芯片检测信号的信号发生器；所述分 配电路的各第二运算放大器的输出端分别连接至检测设备。
6.根据权利要求5所述的芯片检测系统，其特征在于，所述检测设备包括示波器、逻辑 分析仪、验证被测芯片的FPGA、和基准多媒体设备中的至少一个。
7.根据权利要求5所述的芯片检测系统，其特征在于，所述基准多媒体设备为电视机、 或影碟机。
专利摘要本实用新型公开了一种芯片检测信号的分配电路及多路检测的芯片检测系统，分配电路包括第一运算放大器，所述第一运算放大器的正输入端连接分压电阻和第一隔直流电容，接收所述芯片检测信号；多个相互并联的第二运算放大器，各所述第二运算放大器的正输入端连接至所述第一运算放大器的输出端，各所述第二运算放大器的输出端分别连接有第二隔直流电容，经由所述第二隔直流电容输出所述芯片检测信号。检测设备包括示波器、逻辑分析仪、验证被测芯片的FPGA、和基准多媒体设备中的至少一个。通过本实用新型的芯片检测信号的分配电路及检测系统，可实现对芯片同时进行多项检测，提高了检测芯片的效率，缩短了检测芯片的时间。
文档编号G01R31/28GK201654183SQ20102015241
公开日2010年11月24日 申请日期2010年3月24日 优先权日2010年3月24日
发明者关爽 申请人:青岛海信电器股份有限公司