专利名称：绝缘大电阻静态测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种绝缘大电阻静态测试装置。
背景技术：
目前产线量产的每个机种中均有1兆欧及以上电阻，因静态测试均无法准确测 量，静态回路测试只能量测IM以内的电阻，而动态测试也无法准确量测大电阻，因此造成 绝缘大电阻市场不良隐患。
发明内容鉴于上述技术隐患，本实用新型的目的是提供一种绝缘大电阻静态测试装置，该 装置能实现对IM或IM以上的大电阻进行准确测量。本实用新型采用以下方案实现一种绝缘大电阻静态测试装置，包括电阻静态测 电路、被测大电阻及辅助电阻，其特征在于所述的被测大电阻的两端电性连接于电阻静态 测电路的测试端，所述的辅助电阻的两端分别与被测大电阻的两端电性连接。在本实用新型一较佳实施例子中，所述的电阻静态测电路是电阻静态测试仪。本实用新型对单个零件测量效果显著，而且其结构简单，可与现有的其他测试治 具结合成一体，具有较好的使用价值。
图1是本实用新型结构组成示意图。
具体实施方式
以下结合附图及实施例子对本实用新型做进一步说明。如图1所示，本实用新型一种绝缘大电阻静态测试装置，包括电阻静态测电路、被 测大电阻及辅助电阻，其特征在于所述的被测大电阻的两端电性连接于电阻静态测电路 的测试端，所述的辅助电阻的两端分别与被测大电阻的两端电性连接。在本较佳实施例子中，所述的电阻静态测电路是电阻静态测试仪；所述的静态测 试仪的精度为千欧级，在测试兆欧电阻时，通过使所述的静态测试仪测试端的被测大电阻 与另一兆欧电阻(辅助电阻)并联，而使回路两端并联电阻拉低到千欧级别；与此同时用静 态测试的手段测量并联电阻的阻值，即根据R=R1*R2/ (R1+R2)可求出测试回路两端R的阻 值(注R1为被测大电阻，R2为辅助电阻)，通过测试值的变化判定电阻的不良与否。此外，要说明的是为保证本实用新型测试的可靠性，应该确保此大电阻未与其它 小电阻小电感并联，以保证测量准确性。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，凡依本实用新型申请专利范围所做的均 等变化与修饰，皆应属本实用新型的涵盖范围。
权利要求一种绝缘大电阻静态测试装置，包括电阻静态测电路、被测大电阻及辅助电阻，其特征在于所述的被测大电阻的两端电性连接于电阻静态测电路的测试端，所述的辅助电阻的两端分别与被测大电阻的两端电性连接。
2.根据权利要求1所述的绝缘大电阻静态测试装置，其特征在于所述的电阻静态测 电路是电阻静态测试仪。
专利摘要本实用新型涉及一种绝缘大电阻静态测试装置，包括电阻静态测电路、被测大电阻及辅助电阻，其特征在于所述的被测大电阻的两端电性连接于电阻静态测电路的测试端，所述的辅助电阻的两端分别与被测大电阻的两端电性连接。本实用新型解决了静态回路测试只能量测1M以内的电阻,而动态测试也无法准确量测大电阻，而造成的绝缘大电阻市场不良的隐患，结构简单，具有较好的市场价值。
文档编号G01N27/02GK201653958SQ201020168578
公开日2010年11月24日 申请日期2010年4月23日 优先权日2010年4月23日
发明者张福全, 李魁, 沙立明 申请人:福建捷联电子有限公司