专利名称：温度测试系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试系统，特别是指一种高精度的温度测试系统。
背景技术：
在对电脑进行测试时，往往需要测试电脑在不同温度环境下的工作稳定性。现有的测试装置是将待测电脑放置于一恒温控制箱内进行测试，在设定好测试温度后即可对放置于恒温控制箱内的待测电脑进行测试。现有的恒温控制箱无法对放置于其内各点处待测电脑的温度进行精确测试，无法满足某些高精度测试的需求。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种高精度的温度测试系统。一种温度测试系统，用以对一恒温控制箱内不同点处的温度进行侦测，包括一开关模块、一控制模块、一感测模块、一解码模块和一显示模块，所述开关模块用以向控制模块输入测试指令以选择一测试点，所述感测模块根据该测试指令侦测恒温控制箱内相应测试点处的温度信号，并将侦测到的温度信号发送给所述控制模块，所述控制模块将接收到的温度信号转换为温度值输出给所述解码模块，所述解码模块接收相应测试点处的温度值，并将所述温度值解码成数字信号输出并显示在所述显示模块上。
相较于现有技术，上述温度测试系统通过所述感测模块侦测恒温控制箱内相应测试点处的温度信号，并将侦测到的温度信号发送给所述控制模块，所述控制模块将接收到的温度信号转换为温度值输出给所述解码模块，所述解码模块接收相应测试点处的温度值，并将所述温度值解码成数字信号输出并显示在所述显示模块上，所述温度测试系统可方便侦测恒温控制箱内不同点处的温度，同时具有较高的测试精度。
图1是本发明温度测试系统的一较佳实施例的框图，所述温度测试系统包括一开关模块、一控制模块、一感测模块、一解码模块和一显示模块。图2是图1的开关模块、控制模块和感测模块的电路图。图3是图1的解码模块和显示模块的电路图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种温度测试系统，用以对一恒温控制箱内不同点处的温度进行侦测，包括一开关模块、一控制模块、一感测模块、一解码模块和一显示模块，其特征在于:所述开关模块用以向控制模块输入测试指令以选择一测试点，所述感测模块根据该测试指令侦测恒温控制箱内相应测试点处的温度信号，并将侦测到的温度信号发送给所述控制模块，所述控制模块将接收到的温度信号转换为温度值输出给所述解码模块，所述解码模块接收相应测试点处的温度值，并将所述温度值解码成数字信号输出并显示在所述显示模块上。
2.如权利要求1所述的温度测试系统，其特征在于:所述开关模块包括至少一第一开关和一第二开关，所述控制模块包括一第一控制信号输入端、一第二控制信号输入端和一第三控制信号输入端，所述第一开关和第二开关一端分别电性连接所述第一控制信号输入端和第二控制信号输入端，所述第一开关和第二开关另一端相连后电性连接所述第三控制信号输入端。
3.如权利要求2所述的温度测试系统，其特征在于:所述控制模块还包括至少一控制信号输出端和一第一数字信号输入端，所述感测模块包括至少一温度传感器和一继电器，所述温度传感器包括一第一数字信号输出端，所述继电器包括一线圈单元和一开关单元，所述控制信号输出端经由线圈单元接地，所述第一数字信号输入端经由开关单元电性连接所述第一数字信号输出端以接收温度传感器侦测到的温度信号。
4.如权利要求3所述的温度测试系统，其特征在于:所述开关单元为常开触点开关。
5.如权利要求4所述的温度测试系统，其特征在于:所述控制模块还包括一串行数据信号输出端，所述解码模块包括至少一移位寄存器，所述移位寄存器包括两串行数据信号输入端，所述串行数据信号输出端分别电性连接两串行数据信号输入端以输出相应测试点处的温度值。
6.如权利要求5所述的温度测试系统，其特征在于:所述解码模块还包括若干第二数字信号输出端，所述显示模块包括至少一八段数码管，所述八段数码管包括若干第二数字信号输入端，所述若干第二数字信号输出端电性连接若干第二数字信号输入端以输出相应测试点处温度值的数字信号。
7.如权利要求1至6中任意一项所述的温度测试系统，其特征在于:所述第一开关和第二开关为按钮开关。
全文摘要
一种温度测试系统，用以对一恒温控制箱内不同点处的温度进行侦测，包括一开关模块、一控制模块、一感测模块、一解码模块和一显示模块，所述开关模块用以向控制模块输入测试指令以选择一测试点，所述感测模块根据该测试指令侦测恒温控制箱内相应测试点处的温度信号，并将侦测到的温度信号发送给所述控制模块，所述控制模块将接收到的温度信号转换为温度值输出给所述解码模块，所述解码模块接收相应测试点处的温度值，并将所述温度值解码成数字信号输出并显示在所述显示模块上。
文档编号G01K13/00GK103175631SQ20111042932
公开日2013年6月26日 申请日期2011年12月20日 优先权日2011年12月20日
发明者高志勇, 刘玉林, 张云飞 申请人:鸿富锦精密工业(武汉)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司