一种测试一体化光纤的表座的制作方法

文档序号:5917500阅读:245来源:国知局
专利名称:一种测试一体化光纤的表座的制作方法
技术领域
本实用新型涉及量具技术领域,具体涉及用于测试光通讯系统中的光电探测器耦合使用的一体化光纤焊接面到陶瓷端面的高度所需的工装。
背景技术
由于现有耦合技术是采用钢针和插针套分离,这两者之间需要激光焊接才能将这两个器件进行连接。但器件由此焊点较多可靠性较差,为此改进后的耦合光纤的耦合端将插针套和钢针做成一体化。如图6所示。一体化光纤只有一个焊接面62,焊点会比以前的减少,可靠性提高。为提高生产效率,一体化光纤6耦合端焊接面62到斜8°陶瓷端面61 最高点611必须设计到一个合理的高度h。此高度h的测量必须很精准,如果用游标卡尺测量误差较大,会导致耦合时损坏器件。因此,测量此高度h成为一个很难完成的工序。
发明内容本实用新型的发明目的是提供一种测试一体化光纤的表座以解决对一体化光纤的上述高度测量时存在的问题。为达到上述发明目的,本实用新型所采用的技术方案为提供了一种测试一体化光纤的表座,包括基板、百分表安装架;所述百分表安装架设置有百分表安装孔,并设置于基板的中段;其特征在于还包括有光纤测试头安装板和光纤测试头;所述光纤测试头安装板设置有安装光纤测试头的光纤测试头安装孔,并设置于所述基板的一端;所述光纤测试头设置有光纤测试孔,并安装在所述光纤测试头安装孔内。其特征进一步在于所述光纤测试孔的轴心线与所述百分表安装孔的轴心线重
I=I O本表座是专为新型的一体化光纤所设计的。待耦合的一体化光纤6需要测试耦合端焊接面62到斜8°陶瓷端面61最高点611的高度h时,先用一根标准光纤来校准百分表 5,校准后则将待耦合的一体化光纤6的耦合端插入光纤测试孔41进行测试。该高度h将快速、准确的在百分表5上显示出来。由此,大大提高测试的速度和测量准确度。

图1为本实用新型的测量状态示意图;图2为光纤测试头安装板的结构示意图;图3为光纤测试头安装板的侧视图;图4为光纤测试头的结构示意图;图5为光纤测试头的剖视图;图6为一体化光纤的结构示意图。其中1、基板,2、百分表安装架,21,百分表安装孔,3、光纤测试头安装板,31、光纤测试头安装孔,4、光纤测试头,41、光纤测试孔,5、百分表,51、传动杆,52、接触头,6、一体化光纤,61、陶瓷端面,611、最高点,62、焊接面,h、高度。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的具体实施方式
做详细地描述如图1-5所示,该测试一体化光纤的表座包括基板1、百分表安装架2 ;所述百分表安装架2设置有百分表安装孔21,并设置于基板1的中段;还包括有光纤测试头安装板3和光纤测试头4 ;所述光纤测试头安装板3设置有安装光纤测试头4的光纤测试头安装孔31, 并设置于所述基板1的一端;所述光纤测试头4设置有光纤测试孔41,并安装在所述光纤测试头安装孔31内。所述光纤测试孔41的轴心线与所述百分表安装孔21的轴心线重合。如图1、6所示,百分表5通过百分表安装孔21安装固定,其传动杆51端部的接触头52伸入光纤测试头4内,测量时接触头52与一体化光纤6耦合端斜8°陶瓷端面61最高点611接触。待耦合的一体化光纤6需要测试如图6所示的高度h时,先用一根标准光纤来校准百分表5,校准后则将待耦合的一体化光纤6的耦合端插入光纤测试孔41进行测试。该高度h将快速、准确的在百分表5上显示出来。由此,大大提高测试的速度和测量准确度。本实用新型并不限于上述实例,在本实用新型的权利要求书所限定的范围内,本领域技术人员不经创造性劳动即可做出的各种变形或修改均受本专利的保护。
权利要求1.一种测试一体化光纤的表座,包括基板(1)、百分表安装架(2);所述百分表安装架 (2)设置有百分表安装孔(21),并设置于基板(1)的中段;其特征在于还包括有光纤测试头安装板(3)和光纤测试头(4);所述光纤测试头安装板(3)设置有安装光纤测试头(4)的光纤测试头安装孔(31),并设置于基板(1)的一端;所述光纤测试头(4)设置有光纤测试孔 (41),并安装在光纤测试头安装孔(31)内。
2.根据权利要求1所述的测试一体化光纤的表座,其特征在于所述光纤测试孔(41) 的轴心线与所述百分表安装孔(21)的轴心线重合。
专利摘要本实用新型公开了一种测试一体化光纤的表座,包括基板、百分表安装架;所述百分表安装架设置有百分表安装孔,并设置于基板的中段;还包括有光纤测试头安装板和光纤测试头;所述光纤测试头安装板设置有安装光纤测试头的光纤测试头安装孔,并设置于基板的一端;所述光纤测试头设置有光纤测试孔,并安装在所述光纤测试头安装孔内。本表座是专为新型的一体化光纤所设计的。校准后百分表后将待耦合的一体化光纤的耦合端插入光纤测试孔进行测试。一体化光纤耦合端焊接面到斜8°陶瓷端面最高点的高度将快速、准确的在百分表上显示出来。由此,大大提高测试的速度和测量准确度。
文档编号G01B5/02GK202119357SQ201120225129
公开日2012年1月18日 申请日期2011年6月29日 优先权日2011年6月29日
发明者邓焰 申请人:成都天润光电有限责任公司
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