专利名称：用ccd测试照明用激光器发散角和均匀性的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种用CCD测试照明用激光器发散角和均匀性的装置，属光学测量技术领域。
背景技术：
激光主动照明一般采用红外波段激光照射目标，具有作用距离远、分辨率高、穿透力强的优点。主要配合红外夜视仪，安保监控，其可以广泛应用在安全保卫、军事侦察、野外搜救、科研考察等领域。通常照明器测试主要采用分布式光度计。分布光度计是一种大型的精密光学测试设备，主要有旋转反光镜式分布光度计、运动反光镜式分布光度计和旋转灯具式分布光度计等结构(《灯具分布光度计现状分析》作者王建平，电子测试，2008年7月第7期)。分布式光度计体积大，结构复杂，价格昂贵，不利于快速的测试照明光束的质量。 采用本装置可以非常方便快捷的测得照明激光器的光束均匀性和发散角。
发明内容为了克服现有技术存在的缺陷与不足，本实用新型提出了一种用CCD测试照明用激光器发散角和均匀性的装置。本实用新型的技术方案是按以下方式实现的一种用CXD测试照明用激光器发散角和均匀性的装置，包括激光扩束镜、衰减器、 滤光片、光学变焦系统、CCD探测器和控制处理系统，其特征在于激光扩束镜、衰减器、滤光片、光学变焦系统、CCD探测器依次按顺序放置组成光路；激光扩束镜、光学变焦系统及CCD 探测器的输出端分别和控制处理系统相连接，由控制处理系统对激光扩束镜的扩束比进行控制、对光学变焦系统的焦距进行控制、对CCD探测器的输出数据进行采集、计算、处理。所述的激光扩束镜是可变倍激光扩束镜。所述的控制处理系统是单片机或是PC机。所述的滤光片的工作波长对应于被测试照明激光器的工作波长。上述衰减器根据不同需要可以更换不同的衰减片。一种利用上述装置对照明用激光器均匀性进行测量的方法，步骤如下a.将测试装置放置好，接通控制处理系统的电源，将待测激光器置于光束扩束镜之前；b.接通待测激光器，令待测激光器发出激光，激光经光束扩束镜、衰减器、滤光片、 光学变焦系统出射到CCD探测器上。利用作为控制系统的单片机或PC机调整激光扩束镜的扩束倍率，使得激光光束完整的覆盖在CCD探测器的表面上；c.利用作为控制系统的单片机或PC机改变光学变焦系统的焦距，使待测试距离上光束截面成像于CXD探测器上；d.单片机或PC机检测激光扩束器的扩束比、光学变焦系统的焦距，接收CCD探测器所测得的信号，该信号为照明用激光器在待测距离上的光强分布信号，即最大光强Imax和最小光强Imin，由公式
权利要求1.一种用CCD测试照明用激光器发散角和均匀性的装置，包括激光扩束镜、衰减器、滤光片、光学变焦系统、CCD探测器和控制处理系统，其特征在于激光扩束镜、衰减器、滤光片、 光学变焦系统、CCD探测器依次按顺序放置组成光路；激光扩束镜、光学变焦系统及CCD探测器的输出端分别和控制处理系统相连接，由控制处理系统对激光扩束镜的扩束比进行控制、对光学变焦系统的焦距进行控制、对CCD探测器的输出数据进行采集、计算、处理。
2.如权利要求I所述的一种用CCD测试照明用激光器发散角和均匀性的装置，其特征在于所述的激光扩束镜是可变倍激光扩束镜。
3.如权利要求I所述的一种用CCD测试照明用激光器发散角和均匀性的装置，其特征在于所述的控制处理系统是单片机或是PC机。
4.如权利要求I所述的一种用CCD测试照明用激光器发散角和均匀性的装置，其特征在于所述的滤光片的工作波长对应于被测试照明激光器的工作波长。
专利摘要用CCD测试照明用激光器发散角和均匀性的装置，属光学测量技术领域。包括激光扩束镜、衰减器、滤光片、光学变焦系统、CCD探测器和控制处理系统，其特征在于激光扩束镜、衰减器、滤光片、光学变焦系统、CCD探测器依次按顺序放置组成光路；激光扩束镜、光学变焦系统及CCD探测器的输出端分别和控制处理系统相连接，由控制处理系统对激光扩束镜的扩束比进行控制、对光学变焦系统的焦距进行控制、对CCD探测器的输出数据进行采集、计算、处理。本实用新型测量方法将激光扩束镜和变焦系统引入到照明用激光器的测试中，可以测的激光器的发散角和光束均匀性。
文档编号G01M11/02GK202351020SQ20112052369
公开日2012年7月25日 申请日期2011年12月14日 优先权日2011年12月14日
发明者吴仕良, 孙兆东, 王晓, 王英顺, 连洁, 马峥, 高尚 申请人:山东大学