专利名称：X波段环行器测试装置的制作方法
技术领域：
[0001]本实用新型涉及ー种X波段环行器测试装置，适用于X波段微带小型化环行器的测试。
背景技术：
微波铁氧体器件是微波器件中非常重要的ー个分支，主要包括环行器、隔离器、回转器等方向性器件以及移相器、微波开关、可调谐的谐振器和滤波器等控制器件。微带结环行器是由各种微波传输线形成微波结内置入适当形状的轴向磁化铁氧体后而构成的ー种非互易铁氧体器件，电磁波在结环行器内按某ー环行方向传输，而反方向隔离。结环行器具有结构简单、重量轻、体积小等优点，而得到广泛地应用，如作微波通信中的分路元件；在测试设备中可作为定向耦合器、隔离器；在參量放大器中用环行器可提高放大器的増益带宽；在有源相控阵雷达和微波系统中，环行器可作为收发开关。因此，环行器成为微波、毫米波设备和电路中不可缺少的重要元件之一。随着市场对环行器的小型化和集成化以及技术指标等要求进ー步提高，环行器的测试难度亦越来越大，所以，精确制作出测试性能优良的环行器测试夹具对于环行器的发展必不可少。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供ー种X波段环行器测试装置，结构简单、カロエ方便、体积紧凑、重量轻。本实用新型是通过以下技术方案来实现的。ー种X波段环行器测试装置，包括有校准件、测试件；上述校准件包括有矩形体结构的底座、基板、两个SMA接头，两个SMA接头分别固定于底座上表面的两端处，基板固定在底座的上表面，基板上表面具有微带线，其两端分别固定于两SMA接头；上述测试件包括有多边形柱体结构的底座、三块基板、三个SMA接头、压片，三个SMA接头分别固定于底座上表面的三个端处，三块基板均固定在底座上表面，每块基板上表面均具有微带线，每条微带线的一端固定于ー个SMA接头，每条微带线的另一端设有测试引出端ロ悬于所在基板外，三块基板的中间位置留有一定空间，用于推送环形器进入空间进行测试，空间容纳有压片，压片能够将测试引出端ロ紧压在待测环行器的三端口处；上述校准件的微带线长度为测试件任意两条外微带线的长度之和。进ー步地，上述校准件和测试件的微带线均为50欧姆的微带线。进ー步地，上述校准件和测试件的微带线均表面镀有3微米的镀金层。进ー步地，上述校准件和测试件的底座均为黄铜制底座，高度均为底座长度的1/4 2/5。进ー步地，上述校准件和测试件的SMA接头均为高频SMA接头。[0014]进ー步地，上述校准件和测试件的基板均为Rogers板材制基板。进ー步地，上述校准件和测试件的基板均通过螺钉固定在基座的上表面。进ー步地，上述校准件和测试件的底座在SMA接头固定处具有竖直凸起结构，SMA接头通过螺钉固定在凸起结构的外端。进ー步地，上述测试件的测试引出端ロ为铜箔制端ロ，测试引出端ロ的宽度等于或略小于待测环行器微带线的宽度。进ー步地，上述测试件的压片为聚砜材料制压片。本实用新型的有益效果在于，I、本测试装置在8-12GHZ范围的插入损耗测试误差在O. 05dB以内；2、本测试装置在8-12GHZ范围内的测试驻波比误差在O. 05以内；3、本测试装置在8-12GHZ范围的带内平坦度测试误差在O. 03dB以内；4、本测试装置结构简单、加工方便、体积紧凑、重量轻。
图I为本实用新型校准件的主视示意图；图2为本实用新型校准件的俯视示意图；图3为本实用新型测试件去除压片的主视示意图；图4为本实用新型测试件去除压片的俯视示意图；图5为本实用新型测试件插入环形器的主视示意图。
具体实施方式
下面根据附图和实施例对本实用新型作进ー步详细说明。本实用新型，X波段环行器测试装置，其包括有校准件I和测试件2。图I为本实用新型校准件的主视示意图，图2为本实用新型校准件的俯视示意图，參照图I、图2，校准件I包括有底座11、基板13、两个SMA接头15构成。底座11为矩形体结构，底座11两端具有竖直的凸起结构111，两个SMA接头15分别固定于两凸起结构111的外端，基板13固定在底座11的上表面，基板13的上表面设有微带线131，微带线131的两端分别固定于两SMA接头15，并且微带线131的两端均垂直于SMA接头15的固定面，在本实施案例中，底座11设为黄铜制底座，其高度均为底座11长度的1/4 2/5，基板13的固定方式为通过螺钉133将基板13固定在底座11上表面的，基板13设为Rogers板材制基板，SMA接头15设为高频SMA接头，SMA接头15均通过螺钉151固定在凸起结构111的外端，微带线131设为50欧姆的微带线。图3为本实用新型测试件去除压片的主视示意图，图4为本实用新型测试件去除压片的俯视示意图，图5为本实用新型测试件插入环形器的主视示意图，參照图3、图4、图5，测试件2是由底座21、三块基板23、三个SMA接头25构成的，底座21为多边形柱体结构，三块基板23均固定在底座21上表面，底座21的三个端处具有竖直凸起结构211，三个SMA接头25分别固定于对应的凸起结构211的外端，每块基板23上表面均设有微带线231，每条微带线231的一端固定于所在的SMA接头25并且垂直于SMA接头25的固定面，每条微带线231的另一端设有测试引出端ロ 233悬于所在基板23タト，测试引出端ロ 233两两之间的宽度等于或略小于待测环行器微带线的宽度，三块基板23之间的位置设置有一定空间213，推送环形器3进入空间213进行测试，空间213容纳压片4，压片4能够将测试引出端ロ 233紧压在待测环行器3的三端ロ处，在本实施案例中，底座21设为黄铜制底座，其高度均为底座21长度的1/4 2/5，基板23的固定方式为通过螺钉235将基板23固定在底座21上表面的，基板23设为Rogers板材制基板，SMA接头25设为高频SMA接头，高频SMA接头25均通过螺钉251固定在凸起结构211的外端，微带线231设为50欧姆的微带线231，测试引出端ロ 233为铜箔制端ロ，压片4为聚砜材料制压片。校准件I的微带线131长度为测试件2任意两个微带线231的长度的之和。本实用新型工作时，先利用校准件，将网络分析仪校准，再将环行器推入测试件中即可进行测试。 本实用新型，X波段环行器测试装置，结构简单、加工方便、体积紧凑、重量轻，在8-12GHz范围的插入损耗测试误差在O. 05dB以内，在8_12GHz范围内的测试驻波比误差在O. 05以内，8-12GHZ范围的带内平坦度测试误差在O. 03dB以内。上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此领域技术的人士能够了解本实用新型内容并加以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。
权利要求1.ー种X波段环行器测试装置，其特征在于，所述测试装置包括有校准件、测试件； 所述校准件包括有矩形体结构的底座、基板、两个SMA接头，两个SMA接头分别固定于底座上表面的两端处，基板固定在底座的上表面，基板上表面具有微带线，其两端分别固定于两SMA接头； 所述测试件包括有多边形柱体结构的底座、三块基板、三个SMA接头、压片，三个SMA接头分别固定于底座上表面的三个端处，三块基板均固定在底座上表面，每块基板上表面均具有微带线，每条微带线的一端固定于ー个SMA接头，每条微带线的另一端设有测试引出端ロ悬于所在基板外，三块基板之间的位置留有一定空间，推送环形器进入空间进行测试，空间容纳有压片，压片能够将测试引出端ロ紧压在待测环行器的三端口处； 所述校准件的微带线长度为测试件任意两条微带线的长度之和。
2.根据权利要求I所述的X波段环行器测试装置，其特征在于，所述校准件和测试件的微带线均为50欧姆的微带线。
3.根据权利要求I所述的X波段环行器测试装置，其特征在于，所述校准件和测试件的微带线均表面镀有3微米的镀金层。
4.根据权利要求I所述的X波段环行器测试装置，其特征在于，所述校准件和测试件的底座均为黄铜制底座，高度均为底座长度的1/4 2/5。
5.根据权利要求I所述的X波段环行器测试装置，其特征在于，所述校准件和测试件的SMA接头均为高频SMA接头。
6.根据权利要求I所述的X波段环行器测试装置，其特征在于，所述校准件和测试件的基板均为Rogers板材制基板。
7.根据权利要求I所述的X波段环行器测试装置，其特征在于，所述校准件和测试件的基板均通过螺钉固定在基座的上表面。
8.根据权利要求I所述的X波段环行器测试装置，其特征在于，所述校准件和测试件的底座在SMA接头固定处具有竖直凸起结构，SMA接头通过螺钉固定在凸起结构的外端。
9.根据权利要求I所述的X波段环行器测试装置，其特征在于，所述测试件的测试引出端ロ为铜箔制端ロ，测试引出端ロ的宽度等于或略小于待测环行器微带线的宽度。
10.根据权利要求I所述的X波段环行器测试装置，其特征在于，所述测试件的压片为聚砜材料制压片。
专利摘要本实用新型公开了一种X波段环行器测试装置，包括有校准件、测试件；校准件包括有底座、基板、两个SMA接头，两个SMA接头分别固定于底座底座上表面的两端处，基板固定在底座的上表面，基板上表面具有微带线；测试件包括有底座、三块基板、三个SMA接头、压片，三个SMA接头分别固定于底座的三个端处外侧，三块基板均固定在底座上表面，每块基板上表面均具有微带线，每条微带线的另一端设有测试引出端口悬于所在基板外，测试件的中间位置留有一定空间用于推送环形器进入空间进行测试。本实用新型的优点在于结构简单、加工方便、体积紧凑、重量轻。
文档编号G01R27/26GK202421344SQ20112053451
公开日2012年9月5日 申请日期2011年12月20日 优先权日2011年12月20日
发明者丁美凤, 刘劲松, 吴华夏, 汪伦源, 王 华, 陈吉安, 鲁文婷 申请人:安徽华东光电技术研究所