专利名称：电路板的检测机台的制作方法
技术领域：
本实用新型是有关于ー种检测机台，且特别是有关于ー种电路板的检测机台。
背景技术：
现今的电路板在制造完成之后，或是在装设好(mounted)电容、电感、电阻或芯片(chip)等电子组件(electronic component)之后,会进行电性检测，以确认电路板是否能正常地工作，从而将检测结果为正常的电路板筛选出来，并淘汰检测结果为异常的电路板。如此，可以减少误用不良电路板的机率，以维持产品的良率(yield)。不过，单ー电路板所进行的电性检测通常需要花费相当的时间，因此如何缩短这些电路板进行电性检测的时间，以提高电性检测的效率，是许多厂商所想要探讨的课题。
实用新型内容本实用新型解决的技术问题在于提供一种电路板的检测机台，其能一次电性检测多个电路板。为解决上述技术问题，本实用新型提出一种电路板的检测机台，用于一次电性检测多个电路板。检测机台包括一动カ基座、ー盖体、多根探针以及一检测平台。盖体具有一底面，并枢接于动カ基座。这些探针配置于盖体，并凸出于底面。检测平台配置在动カ基座上，而这些电路板放置于检测平台上。在盖体枢转至检测平台上方之后，检测平台位于盖体与动カ基座之间，而动力基座驱动检测平台从动カ基座朝向盖体移动，以使这些探针接触这些电路板。本实用新型具有如下有益效果在本实用新型的检测机台中，由于多个电路板能放置于检测平台上，且多根探针接触多个电路板，因此本实用新型的检测机台能一次电性检测这些电路板，以缩短电性检测多个电路板的所需时间，提高电性检测的效率，进而有利于对大量的电路板进行电性检測。为让本实用新型的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。
图IA是本实用新型一实施例的电路板的检测机台。图IB是图IA中检测平台的俯视示意图。图IC是图IA中检测机台在盖体枢转至检测平台上方的后的立体示意图。图2A与图2B是图IC中检测机台在进行电性检测时的剖面示意图。
具体实施方式
图IA是本实用新型一实施例的电路板的检测机台。请參阅图1A，本实施例的检测机台100能一次电性检测多个电路板10，即检测机台100能一次电性检测ニ个或超过ニ个电路板10。以图IA为例，检测机台100能一次电性检测八个电路板10。此外，电路板10可以是已经装设好电容、电感、电阻或芯片等电子组件(未绘示)，或是完全未装设任何电子组件。所以，不论电路板10是否有装设电子组件，检测机台100都能对电路板10进行电性检测。另外，检测机台100可以电性连接ー控制系统200，并且受控于控制系统200，即控制系统200可以控制检测机台100来电性检测这些电路板10。此外，控制系统200例如是计算机设备，其可以包括一计算机主机210以及ー显示器220，其中计算机主机210能控制检测机台100对这些电路板10进行电性检测，而显示器220则可以显示各个电路板10的检测结果，让工作人员得知哪些电路板10是正常的，哪些电路板10是异常的。 检测机台100包括ー盖体110、多根探针120、一检测平台130以及ー动カ基座140。这些探针120配置于盖体110，其中盖体110具有一底面BI，而这些探针120凸出于底面BI，并且用于接触这些电路板10，以对这些电路板10进行电性检测。检测平台130配置在动カ基座140上，而这些电路板10放置于检测平台130上。盖体110枢接于动カ基座140，并能枢转至检测平台130上方，以使检测平台130位于盖体110与动カ基座140之间。在本实施例中，盖体110可以包括一透明板112与ー框体114。框体114围绕透明板112，且可为不透明框架。透明板112可为玻璃板或塑料板，而塑料板的材料例如是聚甲基丙烯酸甲酯(Polymethylmethacrylate, PMMA),也就是压克力(Acrylic)。透明板112具有底面BI，而这些探针120配置于透明板112，因此在盖体110枢转至检测平台130上方之后，工作人员可以从盖体110俯看到这些探针120以及位于检测平台130上的这些电路板10。虽然在本实施例中，盖体110包括透明板112，但是在其他实施例中，盖体110整体上可以是ー块未包括透明板112的不透明盖板。也就是说，在盖体110枢转至检测平台130上方之后，这些探针120与位于检测台130上的这些电路板10不能从盖体110俯看到。所以，图IA中所示的盖体110仅供举例说明，并非限定本实用新型。框体114枢接动力基座140。具体而言，框体114可具有至少ー个枢转部114a，而动カ基座140可具有至少ー根枢转柱142，其中枢转部114a枢接枢转柱142。以图IA为例，框体114共具有ニ个枢转部114a，而动カ基座140也共具有ニ根枢转柱142，其中这些枢转部114a分别枢接这些枢转柱142。通过枢转部114a与枢转柱142之间的转动，盖体110得以相对于动カ基座140而枢转。此外，这些枢转柱142可皆位于这些枢转部114a之间，如图IA所示。图IB是图IA中检测平台的俯视示意图。请參阅图IA与图1B，检测平台130可以包括一承载板132与多个支撑垫134，其中承载板132具有一承载面132a，而这些支撑垫134配置在承载面132a上。这些电路板10可以全放置于承载面132a，并且皆配置在这些支撑垫134上。此外，这些电路板10在检测平台130上可以呈矩阵排列。以图IB为例，承载面132a可供八个电路板10放置，而这八个电路板10在承载面132a上可以排列成ニ乘四的矩阵。另外，检测平台130可更包括两种定位组件。详细而言，在图IA所示的实施例中，这两种定位组件分别是定位柱136以及定位块138，其中定位柱136与定位块138者的数量皆为多个。这些定位柱136与定位块138皆固定于承载板132上，并皆凸出于承载面132a。在这些电路板10放置于承载面132a之后，这些定位柱136会穿过这些电路板10，而各个定位块138会位于其中一个电路板10的周围。如此，这些电路板10能被固定在检测平台130 上。须说明的是，在本实施例中，虽然检测平台130包括定位柱136与定位块138这ニ种定位组件，但是在其他实施例中，检测平台130可以只包括ー种定位组件，即检测平台130可以只包括多根定位柱136或多个定位块138。因此，图IA与图IB所示的定位柱136与定位块138仅供举例说明，并非限定本实用新型。图IC是图IA中检测机台在盖体枢转至检测平台上方之后的立体示意图，而图2A与图2B是图IC中检测机台在进行电性检测时的剖面示意图，其中图2A与图2B是从图IC中的线I-I剖面所绘制而成。请參阅图IC与图2A，在盖体110枢转至检测平台130上方之 后，检测平台130会位于盖体110与动カ基座140之间，而这些探针120全指向位于检测平台130上的电路板10。此时，检测机台100可以预备对这些电路板10进行电性测试。请參阅图2A与图2B，之后，动カ基座140驱动检测平台130从动カ基座140朝向盖体110移动，以使这些探针120接触这些电路板10。详细而言，动カ基座140可以包括一驱动器144以及一外壳146,其中驱动器144配置在外壳146内，并且包括一伸缩件144a。伸縮件144a连接检测平台130，并且可以移动检测平台130。驱动器144例如是气压缸或液压缸，并且可以更包括ー筒缸144b，其中伸縮件144a滑设于筒缸144b内。通过筒缸144b内的气压或液压所产生的力量，伸缩件144a可以相对于筒缸144b作往复移动，从而能移动检测平台130。如此，伸縮件144a可以从筒缸144b伸出，使得检测平台130沿着方向Dl而移动，让探针120接触电路板10。在这些探针120接触这些电路板10之后，检测机台100会对这些电路板10进行电性测试。例如，检测机台100会输出测试讯号至这些电路板10，而这些电路板10在接收测试讯号之后会输出电压或电流至检测机台100。此时，检测机台100能依据此电压或电流来作出检测结果，从而判断那ー个电路板10异常。如此，检测机台100能一次检测多个电路板10，以筛选出检测结果为正常的电路板10，从而減少不良电路板10被误用的机率。此外，由于盖体110可以包括透明板112，因此在电性检测这些电路板10的期间，工作人员可以从盖体110俯看到这些探针120与这些电路板10，以观察探针120与电路板10是否正常地接触。如此，在进行电性检测的过程中，工作人员可以检查探针120与电路板10是否接触异常，例如探针120是否落在电路板10的正确位置上，或是其中一根探针120是否发生断裂的情形。请參阅图2B，在检测完这些电路板10之后，动カ基座140可再次驱动检测平台130，例如让伸缩件144a缩回筒缸144b，以使检测平台130沿着方向D2移动。如此，移动中的检测平台130会远离盖体110，而探针120与电路板10分开而不接触。此时，工作人员可将盖体110打开，即枢转盖体110，让检测平台130上的这些电路板10裸露出来，进而将这些电路板10从检测平台130取出，并且分类这些电路板10，以筛选出正常的电路板10。请再次參阅图IA与图1B，值得ー提的是，检测机台100可以更包括至少ー个控制钮150。例如，在图IA与图IB所示的实施例中，检测机台100可以包括两个控制钮150。不过，在其他实施例中，检测机台100也可以只包括ー个控制钮150。因此，本实用新型并不限定检测机台100所包括的控制钮150的数量。请參阅图1A、图IB与图2A，动カ基座140的外壳146具有一外表面146a，而这些控制钮150裸 露于外表面146a，并且电性连接动力基座140的驱动器144，其中控制钮150能控制动力基座140驱动检测平台130移动。当检测机台100预备好对这些电路板10进行电性测试时，工作人员可以按压其中ー个控制钮150，例如右边的控制钮150，以启动动力基座140，让检测平台130从动カ基座140朝向盖体110移动。如此，对这些电路板10进行电性检测。承上述，在这些电路板10电性检测完毕之后，工作人员可以按压另ー个控制钮150，例如左边的控制钮150，以再次启动动力基座140，让检测平台130朝向远离盖体110的方向而移动。如此，这些探针120会与这些电路板10分开而不接触。由此可知，在本实施例中，这些控制钮150皆可以作为用来启动动力基座140的启动钮。不过，需强调的是，在其他实施例中，检测机台100所包括的控制钮150的数量可以仅为ー个，而且控制钮150不一定要用来作为启动钮。举例而言，控制钮150可以用来作为停止钮，以在紧急状况下停止检测机台100运作。因此，本实用新型并不限定控制钮150的数量与功能。综上所述，在本实用新型的检测机台中，由于多个电路板能放置于检测平台上，且多根探针接触多个电路板，因此本实用新型的检测机台能一次电性检测这些电路板，以缩短电性检测多个电路板的所需时间，提高电性检测的效率，进而有利于对大量的电路板进行电性检测。以上所述仅为本实用新型的实施例，其并非用以限定本实用新型的专利保护范围。任何熟习相关技术者，在不脱离本实用新型的精神与范围内，所作的更动及润饰的等效替换，仍在本实用新型的专利保护范围内。
权利要求1.一种电路板的检测机台，用于一次电性检测多个电路板，其特征在干，该检测机台包括 动カ基座； 盖体，具有底面，并枢接于该动力基座； 多根探针，配置于该盖体，并凸出于该底面；以及 检测平台，配置在该动カ基座上，而该些电路板放置于该检测平台上，在该盖体枢转至该检测平台上方之后，该检测平台位于该盖体与该动カ基座之间，而该动カ基座驱动该检测平台从该动力基座朝向该盖体移动，以使该些探针接触该些电路板。
2.如权利要求I所述的电路板的检测机台，其特征在干，该检测平台包括 承载板，具有承载面；以及 多个支撑垫，配置在该承载面上，其中该些电路板配置在该些支撑垫上。
3.如权利要求2所述的电路板的检测机台，其特征在干，该检测平台更包括 多个定位柱，固定于该承载板上，并且凸出于该承载面，其中该些定位柱穿过该些电路板。
4.如权利要求2或3所述的电路板的检测机台，其特征在干，该检测平台更包括 多个定位块，固定于该承载板上，并且凸出于该承载面，其中各该定位块位于其中ー电路板的周围。
5.如权利要求I所述的电路板的检测机台，其特征在于，该些电路板的数量大于ニ个。
6.如权利要求5所述的电路板的检测机台，其特征在于，该些电路板的数量为八个。
7.如权利要求5所述的电路板的检测机台，其特征在于，该些电路板在该检测平台上呈矩阵排列。
8.如权利要求I所述的电路板的检测机台，其特征在于，该动力基座包括 外壳；以及 驱动器，配置在该外壳内，并包括伸縮件，其中该伸缩件连接该检测平台，并用于移动该检测平台。
9.如权利要求8所述的电路板的检测机台，其特征在于，该驱动器为气压缸或液压缸。
10.如权利要求I所述的电路板的检测机台，其特征在干，该检测机台更包括至少ー控制钮，而该动カ基座具有外表面，其中该至少一控制钮裸露于该外表面，并电性连接该动カ基座，以用于控制该动カ基座驱动该检测平台。
11.如权利要求I所述的电路板的检测机台，其特征在于，该盖体包括 透明板，具有该底面，而该些探针配置于该透明板；以及 框体，枢接该动カ基座，并围绕该透明板。
12.如权利要求11所述的电路板的检测机台，其特征在于，该框体具有至少ー枢转部，而该动力基座具有至少ー枢转柱，该至少ー枢转部枢接该至少ー枢转柱。
专利摘要本实用新型公开一种电路板的检测机台，其能一次电性检测多个电路板。检测机台包括一动力基座、一盖体、多根探针以及一检测平台。盖体具有一底面，并枢接于动力基座。这些探针配置于盖体，并凸出于底面。检测平台配置在动力基座上，而这些电路板放置于检测平台上。在盖体枢转至检测平台上方之后，检测平台位于盖体与动力基座之间，而动力基座驱动检测平台从动力基座朝向盖体移动，以使这些探针接触这些电路板。本实用新型的检测机台能一次电性检测这些电路板，以缩短电性检测多个电路板的所需时间，提高电性检测的效率，进而有利于对大量的电路板进行电性检测。
文档编号G01R31/00GK202421367SQ20112053453
公开日2012年9月5日 申请日期2011年12月19日 优先权日2011年12月19日
发明者唐于斌, 陈忠贤 申请人:金宝电子(中国)有限公司, 金宝电子工业股份有限公司