一种一贯机新型测试座的制作方法

文档序号:5936474阅读:640来源:国知局
专利名称:一种一贯机新型测试座的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一贯机的测试座技术领域,确切地说涉及一种对整流桥进行测试的一贯机测试座结构。
技术背景 在整流桥的生产后续流程中,需要用到一贯机对整流桥进行测试,这时就需要用到测试座结构,而目前一贯机测试整流桥的测试座结构在稳定性和受力均衡性上表现不好。现有市售的测试座的结构主要包括测试气缸,测试气缸通过气缸活塞轴与连接板的一端连接,在连接板的另一端连接有测试探针支架,气缸活塞轴作上下升降运动,带动连接板也作上下升降运动,而连接板带动测试探针支架上下运动,气缸活塞轴与连接板之间,测试探针支架与连接板之间,均只是通过固定螺钉连接,这样的结构形式,存在如下缺陷I、一贯机运行链条上的拨动齿间距偏差较大,使产品在测试位的重复一致性极差,难以保证产品与测试探针接触良好,明显影响产品性能和测试结果,抑制生产效率,增加不必要重复生产,降低了生产效率。2、由于测试座各部件的连接方式多为螺钉固定,不可微调测试探针的精确位置,因而测试座普遍存在产品引脚与测试探针的接触一致性很差的情况,甚至有大量产品引脚与测试探针未接触的现象,易发生打火造成产品质量隐患,同时增加重新测试工作量,增加生产成本。经检索,公开号为CN202042463U,
公开日为2011年11月16日的中国专利文献公开了一种双轨轴向二极管一贯机,包括传动机构、供料机构、测试机构、引直机构、印字机构、烘烤机构、编带机构和盒装机构,其中供料机构、印字机构、烘烤机构、编带机构和盒装机构顺序排列于传动机构上,传动机构包括两条轨道,供料机构包括两个供料盘,印字机构包括一主动轮和两组印字轮,烘烤机构为一体式结构并内置两条可同时烘烤的轨道,编带机构设有两组编带传动组,两组编带传动组由两个马达分别驱动,所述盒装机构包括两组测试气缸,本实用新型通过设置两条轨道,很好的节省了空间,有效的提高了单机产量同时减少了所需的工作人员,通过使用一体式结构设计的烘烤机构,也节省了大量的能量消耗。上述一贯机结构,根本无法应用于本领域中对整流桥的测试,因而仍然未解决上述所存在的技术问题。

实用新型内容为解决上述技术问题,本实用新型提出了一种用测试气缸驱动来实现测试结果返回一贯机的新型测试座,采用本实用新型,解决了现有技术中因为运行链条拨动齿间距不一致导致的桥堆在被测位置不稳定的情况,并且便于微调测试探针的精确位置,确保探针与被测试引脚接触良好。本实用新型是通过采用下述技术方案实现的一种一贯机新型测试座,包括测试气缸、连接板和测试探针支架,测试气缸上设置有气缸活塞轴,其特征在于所述测试气缸位于测试探针支架的正上方,且连接板位于测试气缸和测试探针支架之间,测试气缸的气缸活塞轴与连接板固定连接,在所述测试探针支架的底部安装或开有倒“V”形槽结构,所述倒“V”形槽结构与被测产品配合。所述测试探针支架与所述连接板经固定螺钉连接固定,固定螺钉的安装孔为跑道形。所述测试探针支架中设置有测试探针和套筒,套筒内设置有弹簧,测试探针位于所述套筒内,在所述套筒的上部设置有限位绝缘板,每个套筒均贯穿并固定于所述限位绝 缘板上,限位绝缘板水平布置。所述的测试探针支架为两个,两个测试探针支架位于以测试气缸为对称轴的两侧。与现有技术相比,本实用新型的有益效果表现在I、本实用新型中,采用“在所述测试探针支架的底部安装或开有倒“V”形槽结构,所述倒“V”形槽结构与被测产品配合”这样的结构形式,倒“V”形槽对每只运行到测试位置的整流桥堆起矫正作用,解决了现有技术中因为运行链条拨动齿间距不一致导致的桥堆在被测位置不稳定的情况。2、本实用新型中,采用“所述测试探针支架与所述连接板经固定螺钉连接固定,固定螺钉的安装孔为跑道形”的结构形式,更便于微调测试探针的精确位置,确保探针与被测试引脚接触良好。3、本实用新型采用“测试气缸位于测试探针支架的正上方,且连接板位于测试气缸和测试探针支架之间,测试气缸的气缸活塞轴与所述连接板固定连接”这样的结构形式,由于测试气缸是位于测试探针支架的正上方位置处,通过这样的刚性结构实现了对测试探针的驱动,完成测试动作,在运行时,测试气缸驱动力的作用线与测试探针的运行轨迹是同轴的,因而气缸活塞轴承受任何剪切力,气缸活塞轴的磨损大为减轻,测试探针压力均匀,从而提高了产品性能和测试结果。4、本实用新型,“所述测试探针支架中设置有测试探针和套筒,套筒内设置有弹簧,测试探针位于所述套筒内,在所述套筒的上部设置有限位绝缘板,每个套筒均贯穿并固定于所述限位绝缘板上,限位绝缘板水平布置”的结构形式,当运行时,探针套筒上部的限位绝缘板提高了探针的运行同轴性,保证了套筒内弹簧弹性的一致性,提高了探针的使用寿命;同时,采用本实用新型,测试探针与被测引脚的接触,避免了因不良接触引起的尖峰电压冲击对产品造成的伤害,大大降低了接触不良引起的无效返工现象。5、本实用新型中,测试探针支架为两个,两个测试探针支架位于以测试气缸为对称轴的两侧,这样的结构形式,当测试探针支架为两个时,能最大程度保证测试气缸的运行作用线与测试探针的运行作用线保持同轴线,增加探针运行稳定性的同时也延长了测试气缸的使用寿命。

下面将结合说明书附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步的详细说明,其中图I为本实用新型的结构示意图[0021]图2为倒“V”形槽结构示意图图3为图2中侧视图图中标记I、测试气缸,2、气缸活塞轴,3、连接板,4、测试探针支架,5、测试探针,6、套筒,7、限位绝缘板,8、倒“V”形槽,9、跑道形安装孔。
具体实施方式
实施例I本实用新型公开了一种一贯机新型测试座,包括测试气缸I、连接板3和测试探针支架4,测试气缸I上设置有气缸活塞轴2,所述测试气缸I位于测试探针支架4的正上方, 3固定连接,在所述测试探针支架4的底部安装或开有倒“V”形槽8结构,所述倒“V”形槽8结构与被测产品配合。实施例2作为本实用新型的最佳实施方式,所述测试探针支架4与所述连接板3经固定螺钉连接固定,固定螺钉的安装孔9为跑道形。所述测试探针支架4中设置有测试探针5和套筒6,套筒6内设置有弹簧,测试探针5位于所述套筒6内,在所述套筒6的上部设置有限位绝缘板7,每个套筒6均贯穿并固定于所述限位绝缘板7上,限位绝缘板7水平布置。所述的测试探针支架4为两个,两个测试探针支架4位于以测试气缸I为对称轴的两侧。其余同实施例I.本实施例所述结构的工作原理如下当被测整流桥在一贯机上运行到测试位置时,测试气缸I开始向下运动,在向下运动的过程中,位置较低的倒“V”形槽8首先将产品纳入倒“V”形槽8内,测试气缸I继续向下运动,倒“V”形槽8宽度变小,致使被测产品被约束到宽度变小的槽内,直到槽宽与被测产品宽度相当时,产品被约束定位,此时测试探针5压到了被测引脚上,因此,对于探针支架而言,每只运行到测试位置的产品其绝对位置均在倒“V”形槽8的低位宽度范围内,基本保证了测试位置的一致性。在整个过程中,因测试气缸I与测试探针5保持同轴,所以测试气缸I内活塞杆不受剪切力的作用,测试探针5在套筒6内一样不受剪切力的作用,使两者的使用寿命均增长,每个测试探针支架4下的8根探针受力均匀,而限位绝缘板7保证了每8根探针的高度保持一致,弹力均匀,使探针的行程较短,增加了探针运行的稳定性,进一步延长了探针的使用寿命。
权利要求1.一种一贯机新型测试座,包括测试气缸(I)、连接板(3)和测试探针支架(4),测试气缸(I)上设置有气缸活塞轴(2),其特征在于所述测试气缸(I)位于测试探针支架(4)的正上方,且连接板(3)位于测试气缸(I)和测试探针支架(4)之间,测试气缸(I)的气缸活塞轴(2)与连接板(3)固定连接,在所述测试探针支架(4)的底部安装或开有倒“V”形槽(8)结构,所述倒“ V”形槽(8 )结构与被测产品配合。
2.根据权利要求I所述的一贯机新型测试座,其特征在于所述测试探针支架(4)与所述连接板(3)经固定螺钉连接固定,固定螺钉的安装孔(9)为跑道形。
3.根据权利要求I所述的一贯机新型测试座,其特征在于所述测试探针支架(4)中设置有测试探针(5)和套筒(6),套筒(6)内设置有弹簧,测试探针(5)位于所述套筒(6)内,在所述套筒(6)的上部设置有限位绝缘板(7),每个套筒(6)均贯穿并固定于所述限位绝缘板(7 )上,限位绝缘板(7 )水平布置。
4.根据权利要求I所述的一贯机新型测试座,其特征在于所述的测试探针支架(4)为两个,两个测试探针支架(4)位于以测试气缸(I)为对称轴的两侧。
专利摘要本实用新型公开了一种一贯机新型测试座,涉及一贯机的测试座技术领域,包括测试气缸、连接板和测试探针支架,测试气缸上设置有气缸活塞轴,所述测试气缸位于测试探针支架的正上方,且连接板位于测试气缸和测试探针支架之间,测试气缸的气缸活塞轴与连接板固定连接,在所述测试探针支架的底部安装或开有倒“V”形槽结构,所述倒“V”形槽结构与被测产品配合。采用本实用新型,解决了现有技术中因为运行链条拨动齿间距不一致导致的桥堆在被测位置不稳定的情况,并且便于微调测试探针的精确位置,确保探针与被测试引脚接触良好。
文档编号G01R1/04GK202383170SQ201120562610
公开日2012年8月15日 申请日期2011年12月29日 优先权日2011年12月29日
发明者孙晓家, 邓华鲜 申请人:乐山嘉洋科技发展有限公司
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