专利名称：一种等离子显示器用玻璃基板检测系统及方法
技术领域：
本发明涉等离子显示器制作エ艺技术领域，更具体地说，涉及一种等离子显示器用玻璃基板检测系统及方法。
背景技术：
等离子显示器F1DP (Plasma Display Panel)以视角广、薄型、图像无畸变、响应速度快、寿命长、高发光效率、高亮度、存储功能、不易受电磁干扰、易制作大尺寸屏幕等优点成为继显像管 CRT (Cathod Ray Tube)、液晶显示器 IXD (Liquid Crystal Display)之后的新一代显示器，且属于主动发光器件，其可以与CRT —祥色彩丰富，却比CRT更适用于大屏幕显示，同时在显示效果方面又大大优于LCD，成为实现高清晰度大屏幕显示的佼佼者。PDP的主要载体是特制的玻璃基板，所述玻璃基板的反面通过浮法制备有ー层锡膜。其有锡面和无锡面在外观上没有区别，所以很难直观通过观察判断来区分两个表面。所述玻璃基板在进行电极烧制エ艺时如果有锡面和无锡面放置错误将会发生电极红化现象，造成制作的失败。当前在进行PDP生产时并没有有效的方法或装置用于检测玻璃基板的有锡面和无锡面，所以开发研制一种等离子显示器用玻璃基板检测系统和/或方法是PDP生产提高成品率、降低生产成本亟待解决的问题。
发明内容
为解决上述技术问题，本发明提供一种等离子显示器用玻璃基板检测系统及方法，该检测装置能够快速检测区分等离子显示器用玻璃基板的有锡面和无锡面，从而提高了成品率、降低了生产成本。为实现上述目的，本发明提供如下技术方案一种等离子显示器用玻璃基板检测系统，该系统包括一种等离子显示器用玻璃基板检测系统，该系统包括发射装置，所述发射装置向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号；接收装置，所述接收装置用于采集所述待检测面反射的检测信号；处理装置，所述处理装置根据所述接收装置采集的反射后检测信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。优选的，上述系统中，所述发射装置为紫外线发射器。优选的，上述系统中，所述接收装置为紫外线接收器。优选的，上述系统中，所述处理装置为可数字显示的光电转换器，用以将采集的反射后的检测信号转换为与之对应的电信号以表征所述反射后的检测信号的強度。优选的，上述系统中，所述系统还包括与所述光电转换器连接的处理器，所述处理器通过将所述光电转换器将表征所述反射后的检测信号的强度电信号与其存储的标准值比较自动区分所述玻璃基板的有锡面、和无锡面。本发明还提供了一种等离子显示器用玻璃基板检测方法，该方法包括向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号；采集经过所述待检测面反射后的检测信号；根据采集的反射信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。优选的，上述方法中，所述检测信号为紫外信号。从上述技术方案可以看出，本发明所提供的等离子显示器用玻璃基板检测系统包 括发射装置，所述发射装置向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号；接收装置，所述接收装置用于采集所述待检测面反射的检测信号；处理装置，所述处理装置根据所述接收装置采集的反射检测信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。本发明所述检测系统在对待测玻璃基板进行检测时，由发射装置发射一定強度的检测信号，经过所述待检测面反射后被所述接收装置采集，由于所述玻璃基板有锡面和无锡面对检测信号的反射率不同，即反射后检测信号的強度不同，所以处理装置可以根据所述接收装置采集的检测信号的强度判断所述待检测面为有锡面还是无锡面，从而区分出所述玻璃基板的有锡面和无锡面。因此，所述检测系统可以简单快速的检测所述玻璃基板，区分其有锡面和无锡面，避免了由于玻璃基板有锡面和无锡面放置错误导致的电极红化现象，从而提高了 PDP进行电极烧制时的成品率，降低了生产成本。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图I为本发明实施例所述等离子显示器用玻璃基板检测系统的结构示意图；图2为本发明实施例所述等离子显示器用玻璃基板检测方法的方法流程示意图。
具体实施例方式正如背景技术部分所述，等离子显示器用玻璃基板的有锡面和无锡面在外观上没有区别，所以很难直观通过观察判断来区分两个表面。当前在进行PDP生产时并没有有效的方法或装置用于检测玻璃基板的有锡面和无锡面，所以开发研制一种等离子显示器用玻璃基板检测系统和/或方法是PDP生产提高成品率、降低生产成本亟待解决的问题。而通过在所述玻璃基板上做标记虽然可便于分辨所述基板有锡面和无锡面，但是要保证所述基板生产成本、表面的整洁等，该方法的实现增加玻璃基板生产エ艺，降低生产效率，从而增加玻璃基板的使用成本。所以，现有PDP技术在进行PDP生产时一般不采用上述做标记的方法，而只通过简单的生产管理，即将浮法制造后的玻璃基板进行统ー的摆放，如将有锡面统一朝上放置或统一朝下放置。但是，一方面，由于操作问题，并不能保证所有基板都按照管理方法正确摆放；另ー方面，浮法生产的玻璃基板客户使用阶段的品质检验后也不能保证检验后的玻璃基板的按照管理方法正确摆放。在对玻璃基板进行电极烧制吋，如果所述玻璃基板的有锡面和无锡面摆放不正确将会导致电极红化现象，从而导致制作失败，且此时的玻璃基板已经不能在进行返修处理，只能报废，导致成品率不高，且浪费了玻璃基板，造成生产成本过高。所以，开发研制ー种等离子显示器用玻璃基板检测系统和/或方法是PDP生产中提高成品率、降低生产成本亟待解决的问题。
发明人研究发现，等离子显示器用玻璃基板其有锡面和无锡面两个表面对光线的反射率是不同的。即当一定強度的光线入射后，由于有锡面和无锡面的反射率不同，接收到的反射后的光线的强度值不同。所以，利用一定強度的光检测线号入射其中ー个表面(待检测面)，然后根据反射后的光检测信号的強度判断所述待检测面是有锡面还是无锡面。基于上述研究，本发明提供了一种等离子显示器用玻璃基板检测系统，该系统包括发射装置，所述发射装置向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号；接收装置，所述接收装置用于采集所述待检测面反射的检测信号；处理装置，所述处理装置根据所述接收装置采集的反射检测信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。本发明所述等离子显示器用玻璃基板检测系统通过一个发射装置发射检测信号，然后通过接收装置采集经过所述待检测玻璃基板表面反射后的检测信号，处理装置根据采集的反射后的检测信号強度判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。如上述所述玻璃基板的有锡面和无锡面的反射率是不同的，一定強度的检测信号入射后，两个表面反射的检测信号的強度是两个不同的定值，对于一定型号的玻璃基板，根据反射后的检测信号的强度便可区分待检测玻璃基板的有锡面和无锡面，即如所述待检测面反射后的信号的強度与该待检测玻璃基板理论反射強度相符，则所述待检测面为有锡面，否则，则所述待检测面为无锡面。可见，所述检测系统实现简单，能够快速区分待检测玻璃基板的有锡面和无锡面，避免了 PDP生产时由于玻璃基板有锡面和无锡面放置错误导致的生产失败，提高了成品率；同时降低了玻璃基板由于制作失败的消耗，降低了生产成本；且所述系统实现简单，检测成本较低。本发明还提供了一种等离子显示器用玻璃基板检测方法，该方法包括向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号；采集经过所述待检测面反射后的检测信号；根据采集的反射信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。本发明所述等离子显示器用玻璃基板检测方法利用一定強度的检测信号入射所述玻璃基板的ー个表面(待检测面)，根据反射后的检测信号判断所述待检测面是有锡面还是无锡面，可以快速区分玻璃基板的有锡面和无锡面，提高了 PDP生产的成品率，降低了成本；同时，实现方式简单，检测成本较低。以上是本申请的核心思想，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。其次，本发明结合示意图进行详细描述，在详述本发明实施例时，为便于说明，表示装置件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本发明保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及高度的三维空间尺寸。实施例一基于上述思想，本实施例提供了一种 等离子显示器用玻璃基板检测系统，參考图1，所述检测系统包括紫外线发射器I、紫外线接收器3、光电转换器4。其中，所述光电转换器4可数字显示。所述等离子显示器用玻璃基板检测系统在进行剥离基板检测区分其有锡面和无锡面时，首先通过所述紫外线发射器I向待检测的玻璃基板的待检测面发射一定強度的紫外线检测信号，然后通过紫外线接收器3采集经过所述待检测面反射后的检测信号，并将所采集的反射后的检测信号传送给所述光电转换器4，所述光电转换器4根据所述反射后的检测信号将其转换为与之对应的电信号并显示，通过所述电信号来表征所述检测信号的强度值。如上述，等离子显示器用玻璃基板的有锡面与无锡面的反射率是不同的，特别的，有锡面与无锡面其对紫外线的反射率差值较大，通过一定強度的紫外线检测信号对待检测的玻璃基板进行照射，反射后的检测信号強度为两个相差较大的定值。所以，根据反射后的检测信号的强度即可区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面，即将反射后的检测信号強度分别与所述基板有锡面和无锡面理论上的反射后的标准值比较，如果与有锡面的标准值近似相等则为有锡面，如果与无锡面的标准值相同则为无锡面。在实际操作中，只需进行一次比较即可，如与有锡面的标准值比较，相同则所述待检测面为有锡面，否则为无锡面。所述检测系统还包括与所述光电转换器连接的处理器。所述处理器内部存储有上述标准值，能够将表征所述反射后的检测信号的强度电信号与其存储的标准值比较自动区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面，从而提高了检测效率。通过上述论述可知，本发明技术方案所述等离子显示器用玻璃基板检测系统能够快速区分待检测玻璃基板的有锡面和无锡面，避免了 PDP生产时由于玻璃基板有锡面和无锡面放置错误导致的生产失败，提高了成品率；同时降低了玻璃基板由于制作失败的消耗，降低了生产成本；且所述系统实现简单，检测成本较低。实施例ニ基于上述思想，本实施例提供了ー种离子显示器用玻璃基板检测方法，參考图2，该方法包括步骤Sll :向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号。鉴于所述玻璃基板的有锡面和无锡面对光信号的反射率不同，特别的是对紫外线反射率有明显的差异。所以，本实施例优选的采用紫外线作为检测信号，在实际检测过程中，可通过ー个紫外线发射器向待检测的玻璃基板的待检测面发射一定強度的紫外线检测信号。步骤S12 :采集经过所述待检测面反射后的检测信号。与上述紫外线发射器对应的，在本步骤中，采用ー紫外线接收器采集经过所述待检测面反射厚度的检测信号。
步骤S13 :根据采集的反射信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。可通过一光电转换器接收上述采集的反射后的检测信号，将其转换为与之对应的电信号以表征所述检测信号的強度，根据所述检测信号的強度大小判读区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。具体的判断区分方法与实施例一中相同。同样，可采用ー个处理器进行自动判断，以提闻检测效率。本实施例所述等离子显示器用玻璃基板检测方法利用一定強度的检测信号入射所述玻璃基板的ー个表面(待检测面)，根据反射后的检测信号判断所述待检测面为有锡面还是无锡面，可以快速区分玻璃基板的有锡面和无锡面，提高了 PDP生产的成品率，降低了成本；同时，实现方式简单，检 测成本较低。需要说明的是，本发明实施例中才用紫外线作为检测信号以实现区分所述玻璃几班的有锡面和无锡面的实现方式只是本发明技术方案实现的优选实施方式，并不是唯一实现方式，也可以采用其他检测信号根据反射后的信号強度的大小来判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面的其他实现方式。对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
权利要求
1.一种等离子显示器用玻璃基板检测系统，其特征在于，包括 发射装置，所述发射装置向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号； 接收装置，所述接收装置用于采集所述待检测面反射的检测信号； 处理装置，所述处理装置根据所述接收装置采集的反射后检测信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。
2.根据权利要求I所述的系统，其特征在于，所述发射装置为紫外线发射器。
3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述接收装置为紫外线接收器。
4.根据权利要求所述的系统，其特征在于，所述处理装置为可数字显示的光电转换器，用以将采集的反射后的检测信号转换为与之对应的电信号以表征所述反射后的检测信号的强度。
5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述系统还包括 与所述光电转换器连接的处理器，所述处理器通过将所述光电转换器将表征所述反射后的检测信号的强度电信号与其存储的标准值比较自动区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。
6.一种等离子显示器用玻璃基板检测方法，其特征在于，包括 向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号； 采集经过所述待检测面反射后的检测信号； 根据采集的反射信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述检测信号为紫外信号。
全文摘要
本发明所提供的等离子显示器用玻璃基板检测系统包括发射装置，所述发射装置向所述玻璃基板的待检测面发射检测信号；接收装置，所述接收装置用于采集所述待检测面反射的检测信号；处理装置，所述处理装置根据所述接收装置采集的反射检测信号判断区分所述玻璃基板的有锡面和无锡面。由于所述玻璃基板有锡面和无锡面对检测信号的反射率不同，所以可以根据采集的检测信号的强度区分有锡面和无锡面，从而区分出所述玻璃基板的有锡面和无锡面。因此，所述检测系统可以简单快速的检测所述玻璃基板，区分其有锡面和无锡面，避免了由于玻璃基板有锡面和无锡面放置错误导致的电极红化现象，从而提高了PDP进行电极烧制时的成品率，降低了生产成本。
文档编号G01N21/55GK102636460SQ20121010888
公开日2012年8月15日 申请日期2012年4月13日 优先权日2012年4月13日
发明者赵之明 申请人:安徽鑫昊等离子显示器件有限公司