测试装置制造方法

文档序号:6159666阅读:169来源:国知局
测试装置制造方法
【专利摘要】一种测试装置,用于测试一焊接到电路板上的MOS管是否存在虚焊和假焊。所述测试装置包括一控制单元、一显示单元、一开关及第一至第四接触元件。测试时,所述第一及第二接触元件接触所述MOS管的漏极,所述第三接触元件接触所述MOS管的栅极,所述第四接触元件接触所述MOS管的源极,闭合所述开关,所述控制单元的引脚输出一控制信号给所述MOS管的栅极,若所述控制单元的信号接收引脚接收到高电平信号,所述显示单元显示所述MOS管存在虚焊和假焊;若所述控制单元的信号接收引脚接收到低电平信号,所述显示单元显示所述MOS管不存在虚焊和假焊。上述测试装置的测试结果准确且测试成本较低。
【专利说明】测试装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试装置,特别涉及一种测试DirectEFT封装的MOS管是否虚焊和假焊的测试装置。
【背景技术】
[0002]DirectEFT封装的MOS管因具有阻抗小,散热快等优点而被广泛应用。但由于DirectEFT封装的MOS管的栅极、漏极及源极的引脚小且均位于MOS管的底面,故,当DirectEFT封装的MOS管焊接到电路板上时,易出现虚焊和假焊。目前,业界采用X射线设备来检测焊接到电路板上的DirectEFT封装的MOS管是否出现虚焊和假焊。然而,X射线设备价格昂贵,从而使得测试成本较高。

【发明内容】

[0003]鉴于上述内容,有必要提供一种成本低且能准确地检测出DirectEFT封装的MOS管是否出现虚焊和假焊测试装置。
[0004]一种测试装置,用于测试一焊接到电路板上的MOS管是否存在虚焊和假焊,所述测试装置包括一控制单元、一与所述控制单元相连的显示单元、一开关及第一至第四接触元件,所述控制单元包括一电源引脚、一信号接收引脚、一信号输出引脚及一使能引脚,所述电源引脚与一电源相连,并通过一第一电阻与所述第一接触元件相连,还依次通过所述第一电阻及一第二电阻与所述使能引脚相连,所述信号接收引脚与所述第二接触元件相连,所述信号输出引脚与所述第三接触元件相连,所述开关的一端与所述使能引脚相连,所述开关的另一端接地并与所述第四接触元件相连,测试时,所述第一及第二接触元件接触所述MOS管的漏极与所述电路板上一第一电子元件之间的节点,所述第三接触元件接触所述MOS管的栅极与所述电路板上一第二电子元件之间的节点,所述第四接触元件接触所述MOS管的源极与所述电路板上一第三电子元件之间的节点,闭合所述开关,所述控制单元开始工作,所述信号输出引脚输出一控制信号给所述MOS管的栅极,若所述信号接收引脚接收到高电平信号,所述控制单元控制所述显示单元显示所述MOS管存在虚焊和假焊;若所述信号接收引脚接收到低电平信号,所述控制单元控制所述显示单元显示所述MOS管不存在虚焊和假焊。
[0005]本发明测试装置通过所述第一至第四接触元件来接触所述MOS管的栅极、漏极及源极,并且通过所述控制单元来测试所述MOS管的栅极、漏极及源极是否出现虚焊和假焊,且通过所述显示单元来显示测试的结果,以使测试结果准确且测试成本较低。
【专利附图】

【附图说明】
[0006]下面参照附图结合较佳实施方式对本发明作进一步详细描述:
图1为本发明测试装置较佳实施方式的电路图。
[0007]图2为本发明测试装置对MOS管进行测试的电路图。[0008]主要元件符号说明
【权利要求】
1.一种测试装置,用于测试一焊接到电路板上的MOS管是否存在虚焊和假焊,所述测试装置包括一控制单元、一与所述控制单元相连的显示单元、一开关及第一至第四接触元件,所述控制单元包括一电源引脚、一信号接收引脚、一信号输出引脚及一使能引脚,所述电源引脚与一电源相连,并通过一第一电阻与所述第一接触元件相连,还依次通过所述第一电阻及一第二电阻与所述使能引脚相连,所述信号接收引脚与所述第二接触元件相连,所述信号输出引脚与所述第三接触元件相连,所述开关的一端与所述使能引脚相连,所述开关的另一端接地并与所述第四接触元件相连,测试时,所述第一及第二接触元件接触所述MOS管的漏极与所述电路板上一第一电子元件之间的节点,所述第三接触元件接触所述MOS管的栅极与所述电路板上一第二电子元件之间的节点,所述第四接触元件接触所述MOS管的源极与所述电路板上一第三电子元件之间的节点,闭合所述开关,所述控制单元开始工作,所述信号输出引脚输出一控制信号给所述MOS管的栅极,若所述信号接收引脚接收到高电平信号,所述控制单元控制所述显示单元显示所述MOS管存在虚焊和假焊;若所述信号接收引脚接收到低电平信号,所述控制单元控制所述显示单元显示所述MOS管不存在虚焊和假焊。
2.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于:当所述MOS管为NMOS管时,所述信号输出弓丨脚输出的控制信号为高电平信号;当所述MOS管为PMOS管时,所述信号输出引脚输出的控制信号为低电平信号。
3.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于:所述第一至第四接触元件为探针。
4.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于:所述第一电阻通过一线缆与所述第一接触元件相连,所述信号接收引脚通过一线缆与所述第二接触元件相连,所述信号输出引脚通过一线缆与所述第三接触元件相连,所述开关的另一端通过一线缆与所述第四接触元件相连。
【文档编号】G01R31/02GK103472346SQ201210185984
【公开日】2013年12月25日 申请日期:2012年6月7日 优先权日:2012年6月7日
【发明者】周海清 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
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