专利名称：电子设备工作电流的测量方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种电子设备工作电流的测量方法及装置。
背景技术：
现有技术中，电子设备内部的芯片的工作电流一般未知的，因此需要一种对电子设备内部的芯片的工作电流进行测量的方法和装置。
发明内容
本发明的目的是提供一种可以测量电子设备工作电流的方法和装置。本发明的目的是通过以下技术方案实现的
本发明提供了一种电子设备工作电流的测量方法，包括电子设备电源通过单向导通器件与电子设备工作电路形成回路，所述单向导通器件的输入端与电子设备电源正极相连；将所述单向导通器件的输出端设置为测试点，将电子设备电源负极设置为公共端；将测量电路的一端连接所述测试点，另一端连接所述公共端；通过所述测量电路测量所述电子设备的工作电流。此外，所述单向导通器件的输出端电压高于所述单向导通器件的输入端电压。此外，所述测量电路包括测量电源和测量仪器。此外，所述测量仪器为与所述测量串联的电流表。此外，所述测量电路还包括测量器件，所述测量仪器为与测量器件并联的电压表。本发明还提供另一种电子设备工作电流的测量方法，包括电子设备电源通过单向导通器件与电子设备工作电路形成回路，所述单向导通器件的输出端与电子设备电源负极相连；将所述单向导通器件的输入端设置为测试点，将电子设备电源的正极设置为公共端；将测量电路的一端连接所述测试点，另一端连接所述公共端；通过所述测量电路测量所述电子设备的工作电流。此外，所述测量电路包括测量电源和测量仪器，所述测量电源的电压大于所述电子设备电源的电压。此外，所述测量仪器为与所述测量串联的电流表。此外，所述测量电路还包括测量器件，所述测量仪器为与测量器件并联的电压表。本发明还提供一种电子设备工作电流的测量装置，包括测量电路；电子设备电源通过单向导通器件与电子设备工作电路形成回路，所述单向导通器件的输入端与电子设备电源正极相连；将所述单向导通器件的输出端设置为测试点，将电子设备电源负极设置为公共端；所述测量电路的一端连接所述测试点，所述测量电路的另一端连接所述公共端；通过所述测量电路测量所述电子设备的工作电流。此外，所述单向导通器件的输出端电压高于所述单向导通器件的输入端电压。此外，所述测量电路包括测量电源和测量仪器。此外，所述测量仪器为与所述测量串联的电流表。
此外，所述测量电路还包括测量器件，所述测量仪器为与测量器件并联的电压表。本发明还提供另一种电子设备工作电流的测量装置，包括电子设备电源通过单向导通器件与电子设备工作电路形成回路，所述单向导通器件的输出端与电子设备电源负极相连；将所述单向导通器件的输入端设置为测试点，将电子设备电源的正极设置为公共端；所述测量电路的一端连接所述测试点，所述测量电路的另一端连接所述公共端；通过所述测量电路测量所述电子设备的工作电流。此外，所述测量电路包括测量电源和测量仪器，所述测量电源的电压大于所述电子设备电源的电压。 此外，所述测量仪器为与所述测量串联的电流表。此外，所述测量电路还包括测量器件，所述测量仪器为与测量器件并联的电压表。
由此可见，本发明由于设置了外接的测量电路，并且电子设备中通过单向导通器件形成回路，防止电子设备内部的电源影响测量电路的测量，同时可以通过测量电路测量电流或者电压，直接获得或者计算得到电子设备的工作电流。
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。图I为本发明实施例I提供的电子设备工作电流的测量方法的流程图；图2为本发明实施例2提供的电子设备工作电流的测量方法的流程图；图3为本发明实施例3提供的电子设备工作电流的测量装置的第一示意图；图4为本发明实施例3提供的电子设备工作电流的测量装置的第二示意图；图5为本发明实施例4提供的电子设备工作电流的测量装置的第一示意图；图6为本发明实施例4提供的电子设备工作电流的测量装置的第二示意图。
具体实施例方式下面结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明的保护范围。下面将结合附图对本发明实施例作进一步地详细描述。实施例I图I示出了本发明的电子设备工作电流测量方法的流程图，参见图1，电子设备工作电流测量方法包括步骤SlOl，电子设备电源通过单向导通器件与电子设备工作电路形成回路，单向导通器件的输入端与电子设备电源正极相连；具体的，电子设备包括电子设备电源，电源正极连接单向导通器件的输入端，单向导通器件的输出端连接电子设备工作电路的一端，电子设备电源负极连接电子设备工作电路的另一端，以保证形成回路。同时，单向导通器件的输出端电压高于单向导通器件的输入端电压，在与测量电路配合使用时，才能令电子设备电源无法为电子设备工作电路供电，而直接使用测量电路的测量电源进行供电，以保证测量电路测量的是电子设备的工作电流。同时，电子设备电源正常工作时，单向导通器件还不影响电子设备电源正常供电。步骤S102，将单向导通器件的输出端设置为测试点，将电子设备电源负极设置为公共端；具体的，在电子设备的外壳上暴露单向导通器件的输出端和电子设备电源负极的焊点作为触点；或者在电子设备外壳的预设位置设置连接单向导通器件的输出端和电子设备电源负极的测试触点，用于方便进行测量。
步骤S103，将测量电路的一端连接测试点，另一端连接公共端；具体的，测量电路可以包括测量电源和测量仪器，其中，测量电源的负极连接公共端；测量电源的正极连接测试点，即连接单向导通器件的输出端，当然，测量电路两端可以为触笔，以保证和电子设备的触点接触形成回路。当测量仪器为电流表时，该电流表与测量电源串联；当然，当测量仪器为电流表时，也可以包括测量器件，将电流表与测量电源和测量器件串联，例如可以串联在测量电源和测量器件之间，也可以串联在测量器件和测试点或者公共端之间；当测量仪器为电压表时，测量电路中还包括测量器件，该电压表可以并联在测量器件上，测量测量器件的电压。当然，测量器件可以为电阻，变阻器等，该测量器件的导通特性是已知的，例如，电阻的阻值已知。步骤S104，通过测量电路测量电子设备的工作电流。具体的，当测量仪器为电流表时，即可以直接测量出电子设备的工作电流；当测量仪器为电压表时，根据测量测量器件的电压值以及该测量器件的特性，从而可以计算出电子设备的工作电流。实施例2图2出示了电子设备工作电流的测量方法的另一个流程图，参见图2，电子设备工作电流的测量方法包括步骤S201，电子设备电源通过单向导通器件与电子设备工作电路形成回路，单向导通器件的输出端与电子设备电源负极相连；具体的，电子设备包括电子设备电源，电源负极连接单向导通器件的输出端，单向导通器件的输入端连接电子设备工作电路的一端，电子设备电源正极连接电子设备工作电路的另一端，以保证形成回路。同时，在与测量电路配合使用时，测量电路的测量电源的电压需要大于电子设备电源的电压才能令电子设备电源无法为电子设备工作电路供电，而直接使用测量电路的测量电源进行供电，以保证测量电路测量的是电子设备的工作电流。同时，电子设备电源正常工作时，单向导通器件还不影响电子设备电源正常供电。步骤S202，将单向导通器件的输入端设置为测试点，将电子设备电源的正极设置为公共端；
具体的，在电子设备的外壳上暴露单向导通器件的输入端和电子设备电源正极的焊点作为触点；或者在电子设备外壳的预设位置设置连接单向导通器件的输入端和电子设备电源正极的测试触点，用于方便进行测量。步骤S203，将测量电路的一端连接测试点，另一端连接公共端；具体的，测量电路可以包括测量电源和测量仪器，其中，测量电源的正极连接公共端；测量电源的负极连接测试点，即连接单向导通器件的输入端，当然，测量电路两端可以为触笔，以保证和电子设备的触点接触形成回路。当测量仪器为电流表时，该电流表与测量电源串联；当然，当测量仪器为电流表时，也可以包括测量器件，将电流表与测量电源和测量器件串联，例如可以串联在测量电源和测量器件之间，也可以串联在测量器件和测试点或者公共端之间；当测量仪器为电压表时，测量电路中还包括测量器件，该电压表可以并联在测量器件上，测量测量器件的电压。
当然，测量器件可以为电阻，变阻器等，该测量器件的导通特性是已知的，例如，电阻的阻值已知。步骤S204，通过测量电路测量电子设备的工作电流。具体的，当测量仪器为电流表时，即可以直接测量出电子设备的工作电流；当测量仪器为电压表时，根据测量测量器件的电压值以及该测量器件的特性，从而可以计算出电子设备的工作电流。实施例3电子设备工作电流的测量装置可以包括测量电路，电子设备电源通过单向导通器件与电子设备工作电路形成回路，单向导通器件的输入端与电子设备电源正极相连；将单向导通器件的输出端设置为测试点，将电子设备电源负极设置为公共端；测量电路的一端连接测试点，测量电路的另一端连接公共端；通过测量电路测量电子设备的工作电流。具体的，可以通过如图3和图4所示方式实现电子设备工作电流的测量参见图3 与电子设备电源正极连接的单向导通器件(二极管)的输出端设置为测试点，电子设备电源的负极设置为公共端，测量电路包括电源以及电流表。具体的，将二极管的输出端直接作为一个暴露的触点，或者通过导线连接至电子设备壳体的预定位置作为暴露的触点，将电子设备电源负极直接作为一个暴露的触点，或者通过导线连接至电子设备壳体的预定位置暴露触点；测量电路包括两个触笔，正极触笔和负极触笔，正极触笔接触二极管输出端的触点，负极触笔接触电子设备电源负极的触点。测量电路中负极触笔连接测量电源的负极，测量电源的正极连接电流表A的一端，电流表A的另一端连接正极触笔。从而在测量电路的触笔分别接触到电子设备的两个触点时，通过读出电流表A的示数，即可以测量出电子设备的工作电流。当然，本实施例中，电流表A还可以连接在负极触笔和测量电源的负极之间；当然，本实施例中，测量电路还可以包括测量器件，例如电阻R，测量电源连接电阻R的一端，电阻R的另一端连接电流表A的一端，电流表A的另一端连接正极触笔或者负极触笔；还可以令电源连接电流表A的一端，电流表A的另一端连接电阻R的一端，电阻R的另一端连接正极触笔或者负极触笔。当然，本实施例中，单向导通器件还可以为三极管，MOS管等可以实现单向导通功能的器件；测量器件还可以为变阻器等器件。参见图4 本实施例与图3的区别在于，测量电路包括电源、测量器件以及电压表。此时，测量电路中负极触笔连接测量电源的负极，测量电源的正极连接测量器件的一端，例如电阻R，电阻R的另一端连接正极触笔，测量器件并联电压表V。从而在测量电路的触笔分别接触到电子设备的两个触点时，通过读出电压表V的示数，并通过预先知悉的测量器件特性，例如电阻R的阻值，即可以计算出电子设备的工作 电流。当然，本实施例中，还可以令测量电路中负极触笔连接测量器件的一端，例如电阻R，电阻R另一端连接电源的负极，电源的正极连接正极触笔，测量器件并联电压表V。当然，本实施例中，单向导通器件还可以为三极管，MOS管等可以实现单向导通功能的器件；测量器件还可以为变阻器等器件。实施例4电子设备工作电流的测量装置可以包括测量电路，电子设备电源通过单向导通器件与电子设备工作电路形成回路，单向导通器件的输出端与电子设备电源负极相连；将单向导通器件的输入端设置为测试点，将电子设备电源的正极设置为公共端；测量电路的一端连接测试点，测量电路的另一端连接公共端；通过测量电路测量电子设备的工作电流。其中，在与测量电路配合使用时，测量电路的测量电源的电压需要大于电子设备电源的电压才能令电子设备电源无法为电子设备工作电路供电，而直接使用测量电路的测量电源进行供电，以保证测量电路测量的是电子设备的工作电流。同时，电子设备电源正常工作时，单向导通器件还不影响电子设备电源正常供电。具体的，可以通过如图5和图6所示方式实现电子设备工作电流的测量参见图5 与电子设备电源负极连接的单向导通器件(二极管)的输入端设置为测试点，电子设备电源的正极设置为公共端，测量电路包括电源以及电流表。具体的，将二极管的输入端直接作为一个暴露的触点，或者通过导线连接至电子设备壳体的预定位置作为暴露的触点，将电子设备电源正极直接作为一个暴露的触点，或者通过导线连接至电子设备壳体的预定位置暴露触点；测量电路包括两个触笔，正极触笔和负极触笔，正极触笔电子设备电源正极的触点，负极触笔接触二极管输入端的触点。测量电路中负极触笔连接测量电源的负极，测量电源的负极连接电流表A的一端，电流表A的另一端连接负极触笔。从而在测量电路的触笔分别接触到电子设备的两个触点时，通过读出电流表A的示数，即可以测量出电子设备的工作电流。当然，本实施例中，电流表A还可以连接在正极触笔和测量电源的正极之间；当然，本实施例中，测量电路还可以包括测量器件，例如电阻R，测量电源连接电阻R的一端，电阻R的另一端连接电流表A的一端，电流表A的另一端连接正极触笔或者负极触笔；还可以令电源连接电流表A的一端，电流表A的另一端连接电阻R的一端，电阻R的另一端连接正极触笔或者负极触笔。当然，本实施例中，单向导通器件还可以为三极管，MOS管等可以实现单向导通功能的器件；测量器件还可以为变阻器等器件。参见图6 本实施例与图5的区别在于，测量电路包括电源、测量器件以及电压表。此时，测量电路中负极触笔连接测量器件的一端，例如电阻R，电阻R的另一端连接测量电源的负极，测量电源的正极连接正极触笔，测量器件并联电压表V。从而在测量电路的触笔分别接触到电子设备的两个触点时，通过读出电压表V的示数，并通过预先知悉的测量器件特性，例如电阻R的阻值，即可以计算出电子设备的工作 电流。当然，本实施例中，还可以令测量电路中负极触笔连接测量器件的一端，例如电阻R，电阻R另一端连接电源的负极，电源的正极连接正极触笔，测量器件并联电压表V。当然，本实施例中，单向导通器件还可以为三极管，MOS管等可以实现单向导通功能的器件；测量器件还可以为变阻器等器件。由此可见，本发明由于设置了外接的测量电路，并且电子设备中通过单向导通器件形成回路，防止电子设备内部的电源影响测量电路的测量，同时可以通过测量电路测量电流或者电压，直接获得或者计算得到电子设备的工作电流。以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式
，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明披露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。
权利要求
1.一种电子设备工作电流的测量方法，其特征在于，包括 电子设备电源通过单向导通器件与电子设备工作电路形成回路，所述单向导通器件的输入端与电子设备电源正极相连； 将所述单向导通器件的输出端设置为测试点，将电子设备电源负极设置为公共端； 将测量电路的一端连接所述测试点，另一端连接所述公共端； 通过所述测量电路测量所述电子设备的工作电流。
2.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，所述单向导通器件的输出端电压高于所述单向导通器件的输入端电压。
3.根据权利要求I或2所述的方法，其特征在于，所述测量电路包括测量电源和测量仪器。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述测量仪器为与所述测量串联的电流表。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述测量电路还包括测量器件，所述测量仪器为与测量器件并联的电压表。
6.一种电子设备工作电流的测量方法，其特征在于，包括 电子设备电源通过单向导通器件与电子设备工作电路形成回路，所述单向导通器件的输出端与电子设备电源负极相连； 将所述单向导通器件的输入端设置为测试点，将电子设备电源的正极设置为公共端； 将测量电路的一端连接所述测试点，另一端连接所述公共端； 通过所述测量电路测量所述电子设备的工作电流。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述测量电路包括测量电源和测量仪器，所述测量电源的电压大于所述电子设备电源的电压。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述测量仪器为与所述测量串联的电流表。
9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述测量电路还包括测量器件，所述测量仪器为与测量器件并联的电压表。
10.一种电子设备工作电流的测量装置，其特征在于，包括测量电路； 电子设备电源通过单向导通器件与电子设备工作电路形成回路，所述单向导通器件的输入端与电子设备电源正极相连； 将所述单向导通器件的输出端设置为测试点，将电子设备电源负极设置为公共端； 所述测量电路的一端连接所述测试点，所述测量电路的另一端连接所述公共端； 通过所述测量电路测量所述电子设备的工作电流。
11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述单向导通器件的输出端电压高于所述单向导通器件的输入端电压。
12.根据权利要求10或11所述的装置，其特征在于，所述测量电路包括测量电源和测量仪器。
13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述测量仪器为与所述测量串联的电流表。
14.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述测量电路还包括测量器件，所述测量仪器为与测量器件并联的电压表。
15.一种电子设备工作电流的测量装置，其特征在于，包括 电子设备电源通过单向导通器件与电子设备工作电路形成回路，所述单向导通器件的输出端与电子设备电源负极相连； 将所述单向导通器件的输入端设置为测试点，将电子设备电源的正极设置为公共端； 所述测量电路的一端连接所述测试点，所述测量电路的另一端连接所述公共端； 通过所述测量电路测量所述电子设备的工作电流。
16.根据权利要求15所述的装置，其特征在于，所述测量电路包括测量电源和测量仪器，所述测量电源的电压大于所述电子设备电源的电压。
17.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，所述测量仪器为与所述测量串联的电流表。
18.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，所述测量电路还包括测量器件，所述测量仪器为与测量器件并联的电压表。
全文摘要
本发明公开了一种电子设备工作电流的测量方法及装置，其中，方法包括电子设备电源通过单向导通器件与电子设备工作电路形成回路，所述单向导通器件的输入端与电子设备电源正极相连；将所述单向导通器件的输出端设置为测试点，将电子设备电源负极设置为公共端；将测量电路的一端连接所述测试点，另一端连接所述公共端；通过所述测量电路测量所述电子设备的工作电流。本发明由于设置了外接的测量电路，并且电子设备中通过单向导通器件形成回路，防止电子设备内部的电源影响测量电路的测量，同时可以通过测量电路测量电流或者电压，直接获得或者计算得到电子设备的工作电流。
文档编号G01R19/00GK102721852SQ20121020526
公开日2012年10月10日 申请日期2012年6月21日 优先权日2012年6月21日
发明者李东声 申请人:天地融科技股份有限公司