专利名称：一种usb测试公头的制作方法
技术领域：
本发明涉及USB接口测试技术领域，具体而言涉及一种USB测试公头。
背景技术：
USB (Universal Serial Bus,串行数据总线)公头是一种常见的连接器,用途广泛。用户在使用手机的USB 功能过程中，由于频繁插拔在某一方向用力较大，可能出现USB功能失效的情况。因此，在手机的设计阶段会对USB的接口做耐压性能测试。图I是现有技术中USB测试公头的正面视图。如图I所示，测试时将USB测试公头10插入手机USB母座内，然后通过手持部11对USB测试公头10分别施加正对于手机USB母座的向上、向下、向左、向右以及向内5个方向的推力不同方向的推力，由于手持部11为塑胶材料，在测试员施加足够大的推力时，手持部11可能会在力的同方向上出现变形，工作部12会随着变形而同时向后移动，造成压力的力矩变大，从而影响实验结果的准确性。综上所述，有必要提供一种USB测试公头，以解决上述问题。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种USB测试公头，以提高USB接口的耐压性能测试结果的准确性。为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是提供一种USB测试公头，用于测试手机USB母座的耐压性能，该USB测试公头包括矩形金属外壳，矩形金属外壳设置有工作部和延伸部，工作部与手机USB母座配合设置，在测试时工作部的一端插置于手机USB母座以使得工作部容置于手机USB母座，延伸部自工作部的另一端延伸，在工作部容置于手机USB母座时，延伸部接收施加于其上的正对于手机USB母座的向上、向下、向左、向右以及向内方向的推力。其中，工作部和延伸部一体成型。其中，工作部和延伸部以拼接方式结合。其中，工作部设置有空腔，在工作部容置于手机USB母座时，空腔容纳手机USB母座中的USB线路板。其中，金属外壳的长度为30±0· 2mm。本发明的有益效果是本发明通过延长USB测试公头的金属外壳，避免了测试时因测试员施加推力导致的USB测试公头变形，提高了测试结果的准确性。进一步地，USB测试公头金属外壳的延长，使得测试员在测试时对于施加推力部位的选择性大大增加，从而提高了测试结果的精准度。
图I是现有技术中USB测试公头的正面视图；图2是本发明USB测试公头一实施例的正面视图3是本发明USB测试公头一实施例的侧面视图；图4是本发明USB测试公头一实施例的立体视图；图5是本发明USB测试公头一实施例的底面视图。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明进行详细说明。图2是本发明USB测试公头一实施例的正面视图，图3是本发明USB测试公头一实施例的侧面视图。结合图2和图3所示，USB测试公头100用于测试手机USB母座的耐压性能，其包括金属外壳110。其中，该金属外壳110包括工作部120和延伸部130，工作部120与手机USB母座配合设置，延伸部130自工作部120的另一端延伸设置。 在本实施例中，工作部120和延伸部130 —体成型，即工作部120和延伸部130之间没有任何外部的接口和焊点。在其它实施例中，为方便组装，工作部120和延伸部130可为以拼接方式结合形成。在本实施例中，优选金属外壳110的工作部120的一面还设置有向外凸起的弹片140，使得USB测试公头100与手机USB母座的摩擦阻力增大，增强了两者之间的结合的牢固性。图4是本发明USB测试公头100的立体视图。如图4所示，工作部120还设置有空腔121，在工作部120容置于手机USB母座时，空腔121用于容纳手机USB母座中的USB线路板。其中，为便于更牢固的容纳手机USB母座中的USB线路板以及更真实的模拟USB公头的结构，在空腔121内还可设置USB线路板支架(图未示)。该USB线路板支架与工作部120在空腔121中实现面接触并直接贴合，并且在测试时与手机USB母座中的USB线路板相配合。本发明的USB测试公头100的工作原理为当对手机USB母座的耐压性能进行测试时，测试员将工作部120的一端插置于手机USB母座，以使得工作部120容置于手机USB母座。继而通过延伸部130施加正对于手机USB母座的向上、向下、向左、向右以及向内5个方向的推力(如图5所示)，以令USB测试公头100的工作部120对手机USB母座进行连续、多方向的施压，由于延伸部130为质地坚硬的金属材料，不会因为推力的作用而变形，因此可显著提高手机USB母座的耐压性能的测试结果的准确性。需要说明的是，延伸部130还可以设置防滑部，以便于测试员进行手动测试时起到防滑作用。另外，也可以使用类似机器人手臂的机械设备来代替测试员施加推力，本发明对此不作限定。在本实施例中，针对真实的USB公头插入手机USB母座的长度一般为5. 88mm，优选金属外壳110的长度为30 ±O. 2mm，工作部120的长度大于或等于5. 88mm，延伸部130的长度可根据对USB测试公头100的设计需求，适当调整。在其它实施例中，根据测试的需要，金属外壳110的长度也可以为其它数值。需要说明的是，空腔121以及工作部120的具体结构以及尺寸可参照现有技术，此处不再赘述。
综上所述，本发明通过延长USB测试公头的金属外壳，避免了测试时因测试员施加推力导致的USB测试公头变形，提高了测试结果的准确性。进一步地，USB测试公头金属外壳的延长，使得测试员在测试时对于施加推力部位的选择性大大增加，从而提高了测试结果的精准度。以上所述仅为本 发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
权利要求
1.一种USB测试公头，用于测试手机USB母座的耐压性能，其特征在于，所述USB测试公头包括矩形金属外壳，所述矩形金属外壳设置有工作部和延伸部，所述工作部与所述手机USB母座配合设置，在测试时所述工作部的一端插置于所述手机USB母座以使得所述工作部容置于所述手机USB母座，所述延伸部自所述工作部的另一端延伸，在所述工作部容置于所述手机USB母座时，所述延伸部接收施加于其上的正对于所述手机USB母座的向上、向下、向左、向右以及向内方向的推力。
2.根据权利要求I所述的USB测试公头，其特征在于，所述工作部和所述延伸部一体成型。
3.根据权利要求I所述的USB测试公头，其特征在于，所述工作部和所述延伸部以拼接方式结合。
4.根据权利要求I所述的USB测试公头，其特征在于，所述工作部设置有空腔，在所述工作部容置于所述手机USB母座时，所述空腔容纳所述手机USB母座中的USB线路板。
5.根据权利要求I所述的USB测试公头，其特征在于，所述金属外壳的长度为30±0. 2mm。
全文摘要
本发明提供了一种USB测试公头，用于测试手机USB母座的耐压性能，其包括矩形金属外壳，矩形金属外壳设置有工作部和延伸部，工作部与手机USB母座配合设置，在测试时工作部的一端插置于手机USB母座以使得工作部容置于手机USB母座，延伸部自工作部的另一端延伸，在工作部容置于手机USB母座时，延伸部接收施加于其上的正对于所述手机USB母座的向上、向下、向左、向右以及向内方向的推力。本发明通过延长USB测试公头的金属外壳，避免了测试时因施加推力导致的USB测试公头变形，提高了测试结果的准确性。
文档编号G01N3/02GK102818727SQ201210274059
公开日2012年12月12日 申请日期2012年7月31日 优先权日2012年7月31日
发明者刘鑫 申请人:惠州Tcl移动通信有限公司