专利名称：探针式测试治具的制作方法
技术领域：
本发明涉及测试工装治具领域，特别地，是一种用于测试主板的测试治具。
背景技术：
在社会高速发展的现代，越来越多的电子产品进入千家万户，这些设备一般都含有一块甚至多块或大或小的电路板，这些电路板上焊接了各种各样的接口，特别是微机使
用的主板接口更多，这些电子产品在出厂时都需要进行一系列的检测。一般检测都是通过在电路板的接口插接相应的插头，然后进行相关测试，但是这样的测试会将电路板接口的金属触片产生磨损，这种磨损会给挑剔的客户借口使用过而产生退货，更重要的是这种磨损的存在，会加速接口的氧化。
发明内容
为了解决上述问题，本发明的目的在于提供一种探针式测试治具，该探针式测试治具能通过电路板接口的焊点，与电路板电气连接进行测试。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是
该探针式测试治具包括测试台和测试器，所述测试台上设置有固定电路板的铜柱，所述测试台上方设置有与其平行的滑杆，所述滑杆两端通过连杆固定在所述测试台上，所述滑杆上套接有至少二根套环，所述套环能在所述滑杆上滑动，所述套环上设置有锁定螺杆，所述套环上固定一垂直于所述滑杆的伸缩杆，所述伸缩杆的另一端设置有测试探针，所述测试探针与所述测试器电气连接。作为优选，所述伸缩杆为气动伸缩杆且分别通过通气管与同一气泵连通。作为优选，所述测试器和所述气泵集成在同一壳体中，所述测试器与测试探针之间的导线分别设置在对应的通气管内。作为优选，所述测试台上设置有旋转平台，所述铜柱设置在所述旋转平台上。作为优选，所述连杆为含有锁定环的伸缩柱。作为优选，所述测试探针的顶部为导电胶或者导电硅胶。本发明的优点在于
1.通过测试探针接触电路板的接口，进行测试，防止了接口的磨损，使接口不产生老化
2.结构简单，成本低廉。
图I是本探针式测试治具一实施例立体结构示意图。图2是本探针式测试治具图I实施例测试主板的立体结构示意图。图3是本探针式测试治具图I实施例测试探针的结构示意图。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明进一步说明
参阅图I、图2，在本实施例中，该探针式测试治具包括测试台100和测试器，所述测试台100上设置有固定电路板500的铜柱120，所述测试台100上方设置有与其平行的滑杆600，所述滑杆600两端通过连杆200固定在所述测试台100上，所述滑杆600上套接有四
根套环320，所述套环320能在所述滑杆600上滑动，所述套环320上设置有锁定螺杆330，所述套环320上固定一垂直于所述滑杆600的伸缩杆300，所述伸缩杆300的另一端设置有测试探针310，所述测试探针310与所述测试器电气连接。上述的探针式测试治具，所述伸缩杆300为气动伸缩杆且分别通过一通气管410
与同一气泵连通。上述的探针式测试治具，所述测试器和所述气泵集成在同一壳体400中，所述测试器与测试探针310之间的导线分别设置在对应的通气管410内，简化整个装置的结构。上述的探针式测试治具，所述测试台100上设置有旋转平台110，所述铜柱120设置在所述旋转平台110上，旋转平台能够使测试探针310减少因为电路板500本身的元件阻挡而产生死角。上述的探针式测试治具，所述连杆200为含有锁定环210的伸缩柱，通过调整连杆200的高低，可以调整测试探针310的最佳接触角度。参阅图3，上述的探针式测试治具，所述测试探针310的顶部为导电胶或者导电硅胶，导电胶或者导电硅胶能够使测试探针310不划伤电路板500的焊点。上述的探针式测试治具的使用方式
将电路板500固定在所述旋转平台110的铜柱120上，然后调整旋转平台110和连杆200，使所述测试探针310避免所述电路板500上元器件的阻挡，将测试探针310调整至对应接口的焊点上，锁定所述锁定螺杆330固定所述伸缩杆300，驱动所述气泵，所述伸缩杆300将所述测试探针310送至对应接口的焊点上，所述测试器对所述电路板500进行测试。以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种探针式测试治具，包括测试台(100)和测试器，其特征在于所述测试台(100)上设置有固定电路板(500)的铜柱(120)，所述测试台(100)上方设置有与其平行的滑杆(600),所述滑杆(600)两端通过连杆(200)固定在所述测试台(100)上，所述滑杆(600)上套接有至少ニ根套环(320 )，所述套环(320 )能在所述滑杆(600 )上滑动，所述套环(320 )上设置有锁定螺杆(330)，所述套环(320)上固定一垂直于所述滑杆(600)的伸缩杆(300)，所述伸缩杆(300)的另一端设置有测试探针(310)，所述测试探针(310)与所述测试器电气连接。
2.根据权利要求1所述的探针式测试治具，其特征在于所述伸缩杆(300)为气动伸縮杆且分别通过一通气管(410)与同一气泵连通。
3.根据权利要求I或权利要求2所述的探针式测试治具，其特征在于所述测试器和所述气泵集成在同一壳体(400)中，所述测试器与测试探针(310)之间的导线分别设置在对应的通气管(410)内。
4.根据权利要求I所述的探针式测试治具，其特征在于所述测试台(100)上设置有旋转平台(110 )，所述铜柱(120 )设置在所述旋转平台(110 )上。
5.根据权利要求I所述的探针式测试治具，其特征在于所述连杆(200)为含有锁定环(210)的伸缩柱。
6.根据权利要求I所述的探针式测试治具，其特征在于所述测试探针(310)的顶部为导电胶或者导电硅胶。
全文摘要
本发明提供一种探针式测试治具，包括测试台和测试器，所述测试台上设置有固定电路板的铜柱，所述测试台上方设置有与其平行的滑杆，所述滑杆两端通过连杆固定在所述测试台上，所述滑杆上套接有至少二根套环，所述套环能在所述滑杆上滑动，所述套环上设置有锁定螺杆，所述套环上固定一垂直于所述滑杆的伸缩杆，所述伸缩杆的另一端设置有测试探针，所述测试探针与所述测试器电气连接，本发明通过所述测试探针接触电路板的接口，进行测试，防止了接口的磨损，使接口不产生老化。
文档编号G01R31/28GK102854453SQ20121029296
公开日2013年1月2日 申请日期2012年8月17日 优先权日2012年8月17日
发明者金湖滨 申请人:苏州启智机电技术有限公司