一种铁矿石的x荧光分析方法

文档序号:5956105阅读:559来源:国知局
专利名称:一种铁矿石的x荧光分析方法
技术领域
本发明属于冶金工业生产的技术领域,涉及钢铁工业生产中的分析试验方法,更具体地说,本发明涉及一种铁矿石的X荧光分析方法。
背景技术
在钢铁工业生产中,铁矿石成分分析非常重要。在现有技术中,常采用湿化学分析方法。该方法分析速度慢,溶解及分离过程中较易带来人为误差,不易进行大批量分析。X荧光光谱仪分析法具有分析速度快、试样加工相对简单、偶然误差小及分析精度 高的特点,已经广泛应用于铁矿石的分析中。由于铁矿石成分复杂,基体差别大,国内主要采用熔片法。球团矿属于中间产品,分析数据主要用于指导生产和厂内结算。熔片法虽然准确度高,但制样时间长、操作繁琐、且成本较高。

发明内容
本发明提供一种铁矿石的X荧光分析方法,其目的是提高铁矿石成分分析的效率。为了实现上述目的,本发明采取的技术方案为本发明所提供的铁矿石的X荧光分析方法包括以下内容I、所述的分析方法中采用的仪器主要包括荧光光谱仪和粉末压片机,所述的粉末压片机的最大压力为50t ;2、所述的分析方法中采用样品的制备样品经粉碎研磨后,制成粒度为200目或200目以上粉样,称取粉样9. 5 10. Og于制粉器中,然后用硼酸作边,在粉末压片机上进行压片,在大于或等于40t的压力下保压40s或40s以上的时间,制成样片;将样片装入样盒,按设定的分析条件,在X荧光光谱仪上进行分析;3、仪器的工作条件铁元素选用Kp线;二氧化硅、磷、硫、钙、镁、铝、钛元素分别选用SiKa线、PKa线、SKa 线、CaKa 线、MgKa 线、AlKa 线、TiKa 线;管压40kV,管流60mA,计数时间6s。所述的荧光光谱仪的规格型号为ARL9900X。所述的粉末压片机的规格型号为JY— 2。本发明采用上述技术方案,使铁矿石成分分析简便、快速,提高效率、精密度和准确度,能够满足生产需要。本发明与现有技术中的化学法及溶片分析法比较,主要有以下优
占-
^ \\\ ·I、采用化学法分析一个球团矿试样中TFe、Si O2等7个元素需4个人,按每人用时40min,共计160min ;熔片法需要I人用40min完成;而用本发明的方法I人只需IOmin即可完成,分析速度提高了十几倍;2、采用本发明提供的方法测定球团矿,精密度较高,降低了随机误差,可及时为生产厂提供准确可靠的数据,用以指导生产;3、降低了工人的劳动强度,节约了人力;4、因本发明的方法制样只需用少量硼酸,降低了药品材料的消耗;而现有技术的熔片法需要用到钼金坩埚,损耗较大;5、现有技术中的化学法分析使用大量的浓酸,蒸发后严重污染大气;产生大量的废酸、废液,若处理不当导致直接排放,严重污染水源;而本发明提供的方法因只需用少量硼酸,避免了对水源和大气的污染。



下面对本说明书各幅附图所表达的内容及图中的标记作简要说明图I为压力对SiO2强度影响试验结果曲线图;图2为静压时间对SiO2强度影响试验结果曲线图。
具体实施例方式下面对照附图,通过对实施例的描述,对本发明的具体实施方式
作进一步详细的说明,以帮助本领域的技术人员对本发明的发明构思、技术方案有更完整、准确和深入的理解。本发明所要解决的技术问题是提供一种可降低成本,提高效率的分析方法。为解决现有技术中的问题,本发明的技术方案是球团矿采用粉末压片法,该法简便、快速,精密度和准确度能够满足生产需要。为了解决现有技术存在的问题并克服其缺陷,实现提高铁矿石成分分析的效率的发明目的,本发明采取的具体技术方案为本发明所提供的铁矿石的X荧光分析方法包括以下内容I、所述的分析方法中采用的仪器主要包括荧光光谱仪和粉末压片机。所述的荧光光谱仪的规格型号为ARL9900X ;所述的粉末压片机的规格型号为JY — 2 ;所述的粉末压片机的最大压力为50t。2、所述的分析方法中采用样品的制备样品经粉碎研磨后,制成粒度为200目或200目以上粉样,称取粉样9. 5 10. Og于制粉器中,然后用硼酸作边,在粉末压片机上进行压片,在大于或等于40t的压力下,保压40s或40s以上的时间,制成样片;将样片装入样盒,按设定的分析条件,在X荧光光谱仪上进行分析。3、仪器的工作条件铁元素选用Kp线;二氧化硅、磷、硫、钙、镁、铝、钛元素分别选用SiKa线、PKa线、SKa 线、CaKa 线、MgKa 线、AlKa 线、TiKa 线;管压40kV,管流60mA,计数时间6s。4、分析(I)、粒度试验
样品的粒度是粉末压片法的关键因素之一,尤其是硅的测定受粒度效应影响较大,为此,对同一试样进行了粒度效应试验。结果表明,随着粒度变小,各元素X射线强度有所增加,大于200目强度变化较小,因此,选择样品的粒度至少要达到200目。(2)、样片制备条件的选择粒度不变时,在一定压力范围内,分析线强度随压力增大而增强;静压时间及样品量影响样片的均匀性和硬度。因此,应严格控制压力、静压时间和样品量。通过试验,在压力为4. 0X104kg,静压时间为40s,样品量为9. 5 10. Og的条件下,制成的样片较好。试验结果如图I和图2所示。其中,图I为压力对Si O2强度影响试验结果曲线; 图2为静压时间对Si O2强度影响试验结果曲线。3. 4、化学法与荧光法比较
~[Al [Ca [TFe [Mg fp fs fslo^ PFI
~ 化学值 O. 717 O. 53~ 62.27 0.116 0.078 0.012 8.42~ O. 092_ 荧光值 O. 721 O. 526 62. 35 O. 108 O. 075 O. 018 8. 31 ~ O. 088
2~~ 化学值 O. 70~ 0752~ 62. 45 O. 102 O. 048 O. 014 8. 12~ O. 088 —荧光值 0.69~ (Γδ ~ 62. 28 O. 099 O. 042 O. 016 8. 02~ O. 093
F"化学值 0.67~ O. 49~ 62.68 O. 114 O. 045 O. 013 8.36~ O. 084_ 荧光值 0.64~ O. 47~ 62.52 O. 120 O. 046 O. 011 8.24~ O. 087经过对比试验验证该方法的检测结果是准确可靠的。本发明提供的分析方法与现有技术中的化学法及溶片分析法比较,主要有以下优
占-
^ \\\ ·I、采用化学法分析一个球团矿试样中TFe、Si02等7个元素需4个人,按每人用时40min,共计160min ;熔片法需要I人用40min完成;而采用本发明提供的分析方法I人只需IOmin即可完成,分析速度提高了十几倍。2、本发明提供的分析方法测定球团矿,精密度较高,降低了随机误差,可及时为生产厂提供准确可靠的数据,用以指导生产。3、降低了工人的劳动强度,节约了人力。4、因为本发明提供的分析方法制样,只需用少量硼酸,降低了药品材料的消耗;而现有技术中的熔片法需要用到钼金坩埚,损耗较大。
5、现有技术中的化学法分析使用大量的浓酸,蒸发后严重污染大气;产生大量的废酸、废液,若处理不当导致直接排放,严重污染水源;而本发明提供的分析方法因只需用少量硼酸,避免了对水源和大气的污染。上面结合附图对本发明进行了示例性描述,显然本发明具体实现并不受上述方式的限制,只要采用了本发明的方法构思和技术方案进行的各种非实质性的改进,或未经改进将本发明的构思和技术方案直接应 用于其它场合的,均在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种铁矿石的X突光分析方法,其特征在于 1)、所述的分析方法中采用的仪器主要包括 荧光光谱仪和粉末压片机,所述的粉末压片机的最大压力为50t ; 2)、所述的分析方法中采用样品的制备 样品经粉碎研磨后,制成粒度为200目或200目以上粉样,称取粉样9. 5 10. Og于制粉器中,然后用硼酸作边,在粉末压片机上进行压片,在大于或等于40t的压力下保压40s或40s以上的时间,制成样片; 将样片装入样盒,按设定的分析条件,在X荧光光谱仪上进行分析; 3)、仪器的工作条件 铁元素选用Kp线;二氧化硅、磷、硫、钙、镁、铝、钛元素分别选用SiKa线、PKa线、SKa线、CaKa 线、MgKa 线、AlKa 线、TiKa 线; 管压40kV,管流60mA,计数时间6s。
2.按照权利要求I所述的铁矿石的X荧光分析方法,其特征在于所述的荧光光谱仪的规格型号为ARL9900X。
3.按照权利要求I所述的铁矿石的X荧光分析方法,其特征在于所述的粉末压片机的规格型号为JY— 2。
全文摘要
本发明公开了一种铁矿石的X荧光分析方法,1)所述的分析方法中采用的仪器主要包括荧光光谱仪和粉末压片机,所述的粉末压片机的最大压力为50t;2)所述的分析方法中采用样品的制备样品经粉碎研磨后,制成粒度为200目或200目以上粉样,称取粉样9.5~l0.0g于制粉器中,然后用硼酸作边,在粉末压片机上进行压片,在大于或等于40t的压力下保压40s或40s以上的时间,制成样片;将样片装入样盒,按设定的分析条件,在X荧光光谱仪上进行分析。采用上述技术方案,使铁矿石成分分析简便、快速,提高效率、精密度和准确度,能够满足生产需要。
文档编号G01N1/28GK102854210SQ201210310199
公开日2013年1月2日 申请日期2012年8月28日 优先权日2012年8月28日
发明者王春, 王再鼎, 丁连萍 申请人:芜湖新兴铸管有限责任公司
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