测试系统的制作方法
【专利摘要】本发明提供一种测试系统包括一测试箱、一客户端以及一服务器端。测试箱设置至少一待测物。客户端具有一控制装置。控制装置耦接待测物。服务器端具有一主机装置，用以控制测试箱的温度，并根据一预设信息，提供一设定信息文件予客户端。控制装置根据设定信息文件，决定待测物执行测试程序的次数。由于本发明可同时对不同种类的产品同时地进行老化测试及各种指定测试项目，因此，可大幅降低产品出厂前的测试时间。此外，对产品进行老化测试及指定的测试时，只需依据规划的老化测试行程，进行参数设定，不需再对各种指定测试项目的测试次数进行参数设定，因此，可降低控制人员的工作时间及成本。
【专利说明】测试系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试系统，尤其涉及一种可对不同种类的待测物进行老化测试的测试系统。
【背景技术】
[0002]一般而言，任何产品在出厂前，必需经过多道的测试程序，而老化测试(burn in)就是产品的测试项目之一。老化测试的方式是将产品置于测试箱(chamber)中，通过控制测试箱的温度变化，以模拟产品的老化现象，并作为后续的老化分析。然而，老化测试与其它测试项目，如传输率测试、信号强度测试等，是分开进行的。通常需等到老化测试完成后，才会进行其它测试项目，或是其它测试项目完成后，才进行老化测试。
[0003]再者，公知的测试箱仅能针对单一种产品进行测试，若有多种产品欲进行老化测试时，必需轮流测试。然而，由于每一产品的老化测试时间很长，因此，大幅增加产品出厂前的测试时间。此外，对产品进行老化测试及对产品进行指定的测试时，必须依据规划的老化测试行程及各种指定测试项目分别进行参数设定，而增加控制人员的工作时间及成本。
【发明内容】
[0004]为了克服现有技术的缺陷，本发明提供一种测试系统，包括一测试箱、一客户端以及一服务器端。测试箱设置至少一待测物。客户端具有一控制装置。控制装置耦接待测物，用以令待测物执行一测试程序。服务器端具有一主机装置，用以控制测试箱的温度，并根据一预设信息，提供一设定信息文件予客户端。控制装置根据设定信息文件，决定待测物执行测试程序的次数。
[0005]综上所述，由于本发明可同时对不同种类的产品同时地进行老化测试及各种指定测试项目，因此，可大幅降低产品出厂前的测试时间。此外，对产品进行老化测试及指定的测试时，只需依据规划的老化测试行程，进行参数设定，不需再对各种指定测试项目的测试次数进行参数设定，因此，可降低控制人员的工作时间及成本。
[0006]为让本发明的特征和优点能更明显易懂，下文特举出较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。
【专利附图】
【附图说明】
[0007]图1为本发明的测试系统的示意图。
[0008]图2A为本发明的预设信息的一可能实施例。
[0009]图2B为本发明的设定信息文件的一可能实施例。
[0010]图3为本发明的客户端的一可能操作示意图。
[0011]图4为步骤S320的一可能实施例。
[0012]其中，附图标记说明如下:
[0013]100:测试系统；[0014]110:测试箱;
[0015]131 ~133:待测物；
[0016]120:切换装置；
[0017]200:预设信息；
[0018]210:温度曲线;
[0019]CI1~CI6:客户端；
[0020]SV:服务器端；
[0021]FMl ~FM6:测试架；
[0022]ΡCI-Ρ06:控制装置；
[0023]CNf CN6:连接装置；
[0024]HS:主机装置；
[0025]SSET:设定信息文件；
[0026]S0~S7:期间；
[0027]CT1、CT2:老化期间；
[0028]TP131 ~TP133:行程时间；
[0029]S310~S330:步骤。
【具体实施方式】
[0030]图1为本发明实施例的测试系统的示意图。如图所示,测试系统100包括，一测试箱110、客户端CIfCie以及一服务器端SV。服务器端sv通过测试箱ιιο，对待测物进行老化测试。在本实施例中，测试箱110具有测试架FMfFM6，但并非用以限制本发明。在其它实施例中，测试箱110具有其它数量的测试架。
[0031]测试箱110内的每一测试架FMfFM6具有至少一待测物。本发明并不限定每一测试架的待测物的数量及种类。在一实施例中，测试架FMfFM6的一个的待测物数量可能相同或不同于测试架FMfFM6的另一个的待测物数量。另外，在本实施例中，同一测试架具有相同种类的待测物，而不同测试架具有不同种类的待测物。在其它实施例中，同一测试架具有不同种类的待测物。
[0032]在本实施例中，测试系统100具有客户端Cl f CI6，但并非用以限制本发明。在其它实施例中，测试系统100具有至少一客户端。在本实施例中，相同种类的待测物置放于同一测试架上。因此，客户端CIf CI6分别耦接一相对应的测试架FMf FM6，用以控制测试架FMfFM6的待测物。在其它实施例中，同一测试架可能具有不同种类的待测物。在此例中，多个客户端将耦接同一测试架，不过，不同客户端控制不同种类的待测物。
[0033]在本实施例中，客户端CIf CI6各自具有一控制装置以及一连接装置。在一可能实施例中，控制装置可以是电脑、控制器、控制电路、处理器等，但不用以限定本发明。每一控制装置通过相对应的连接装置，控制相对应的测试架上的待测物。以客户端CI2为例，客户端CI2具有一控制装置PC2以及一连接装置CN2。控制装置PC2通过连接装置CN2控制测试架FM2上的所有待测物。
[0034]在本实施例中，控制装置PC2令测试架FM2上的所有待测物执行同一测试程序。在其它实施例中，控制装置PC1~PC6可通过同一连接装置，耦接测试架FM1~FM6。[0035]本发明实施例不限定待测物所执行的测试程序。在一可能实施例中，测试架FMfFM6的一个的待测物所执行测试程序可能相同或不同于测试架FMfFM6的另一个的待测物所执行测试程序。在不同的测试程序中，测试的项目、时间、顺序并不相同。
[0036]本发明实施例并不限制连接装置CNf CN6与待测物之间的传输介面的种类。在一可能实施例中，连接装置CNf CN6通过有线方式(如RS-232、USB)或是无线方式(如红外线、蓝牙)的传输介面，传送信号予测试架FMfFM6上的待测物。在其它实施例中，连接装置CNf CN6的一个耦接待测物的传输介面不同于连接装置CNf CN6的另一个耦接待测物的传输介面。
[0037]服务器端SV具有一主机装置HS。主机装置HS根据一预设信息控制测试箱110的温度，并对应该预设信息，提供一设定信息文件SSET予客户端CIf CI6。需说明的是，在本实施例中，预设信息在服务器端SV的作用是控制测试箱，而设定信息文件SSET在客户端CIfCie则是用来定义老化期间及在各老化期间中测试程序的执行次数。
[0038]本发明并不限定预设信息的来源。在一可能实施例中，预设信息由一规划人员事先规划，再输入至主机装置HS。另外，本发明亦不限定主机装置HS如何根据该预设信息，提供一设定信息文件SSET予客户端CIf CI6。在一可能实施例中，只要与主机装置HS的供电时间有关的信息，均可作为设定信息文件SSET。在另一可能实施例中，主机装置HS直接将预设信息作为一设定信息文件SSET，再提供予控制装置PCf PC6。
[0039]在本实施例中，主机装置HS根据预设信息，决定是否供电予测试箱110内的待测物。在一可能实施例中，主机装置HS同时供电予测试箱110内的所有待测物，或是同时不供电予测试箱110内的所有待测物。在主机装置HS供电后，客户端CIf CI6令待测物执行相对应的测试程序。因此，在本实施例中，可同时对待测物进行一老化测试以及其它项目的测试。
[0040]本发明不限定服务器端sv与客户端cifcie或是与测试箱ιιο间的传输介面。在本实施例中，主机装置HS通过切换装置120，以线材(cable)的方式，提供设定信息文件SSET予客户端Cl1~CΙ6,或是通过切换装置120，接收来自客户端Cl1~CΙ6的信息。在一可能实施例中，切换装置120是以太网络交换器，因此服务器端SV可通过以太网络(Ethernet)与测试箱110及切换装置120进行通信。在其它实施例中，切换装置120可以是无线存取装置，例如无线路由器或无线存取点，因此主机装置HS与切换装置120间的传输方式为无线通信传输，或是切换装置120与客户端CIfCie间的传输方式为无线通信传输，如依据IEEE802.11或W1-FI无线通信标准的无线通信传输技术。
[0041 ] 控制装置PCf PC6根据主机装置HS所告知的设定信息文件SSET，决定相对应待测物执行测试程序的次数。举例而言，由于待测物131及133为相同种类的待测物，但不同于待测物132，因此，控制装置PC2根据设定信息文件SSET，决定待测物131及133执行一第一测试程序的次数，控制装置PC6根据设定信息文件SSET，决定待测物132执行一第二测试程序的次数。
[0042]在本实施例中，虽然待测物131及132执行不同的测试程序，但待测物131及132执行测试程序的次数 可能相同或不同，其依照测试程序执行一次测试行程的时间长短而定。在其它实施例中，待测物131及133属相同种类的产品，但因其内部元件的效能不同，故待测物131与133执行测试程序的次数不一定相同。[0043]图2A为服务器端所接收到的预设信息的一可能实施例。主机装置HS根据预设信息200，设定测试箱110的温度，并供电或不供电予待测物。在一可能实施例中，预设信息200由一规划人员提供予主机装置HS。在本实施例中，预设信息200包括参数信息组0-7，但并非用以限制本发明。在其它实施例中，参数信息组的数量可能大于或小于8。
[0044]在本实施例中，每一参数信息组包括一供电状态参数P (η)、一温度参数T (η)、一等待时间参数WT(n)以及一维持时间参数MT (η)，其中O S n S 7。于本实施例中，该供电状态参数Ρ(η)包括第一及第二状态，第一状态为供电状态；第二状态为停止供电状态。举例而言，由于参数信息组O中的供电状态参数P(O)为第一状态，因此，主机装置HS供电予待测物，并且根据温度参数T (O)，将测试箱110的温度控制在25°C。主机装置HS根据等待时间参数WT (O)，等待60分钟，再根据维持时间参数MT (O)，将测试箱110的温度维持在25°C，并维持120分钟。
[0045]在其它实施例中，当主机装置HS根据参数信息组O控制测试箱的温度时，控制装置pcrpce令待测物执行相对应的测试程序，用以撷取待测物执行测试程序所需的行程时间。在另一实施例中，待测物执行测试程序所需的行程时间为事先预设，并且主机装置HS通过设定信息文件SSET，将待测物执行测试程序所需的行程时间告知控制装置PCfPC-6。在其它实施例中，控制装置PCf PC-6在未取得设定信息文件SSET前，先令待测物依据测试程序执行至少一次的测试行程，并计时该测试行程的执行时间，用以得知待测物执行测试程序所需的行程时间。
[0046]另外，请参考图2A，参数信息组I中的供电状态参数P(I)为第二状态，因此，主机装置HS停止供电予待测物，并且根据温度参数T(I)，令测试箱110的温度由25°C变化至_40°C。当测试箱110的温度开始变化时，主机装置HS根据等待时间参数WT (I)，等待40分钟，并在40分钟后，根据维持时间参数MT (I)，令测试箱110的温度维持在_40°C，并维持30分钟。
[0047]在一可能实施例中，当测试箱110的温度太快或太慢到达_40°C时，表示测试箱110不稳定，因此，主机装置HS将发出一警示信息，用以提醒测试人员。举例而言，当主机装置HS依据温度参数T(I)，控制测试箱110的温度由25°C变化至_40°C时，主机装置HS将等待40分钟，并在40分钟后，判断测试箱110的温度是否已达_40°C。若测试箱110的温度不等于预设温度，表示测试箱110发生异常，主机装置HS发出一警示信息，用以提醒测试人员，并发出一中断信息予控制装置PCf PC6，用以令所有待测物停止执行相对应的测试程序，并且主机装置HS立即停止供电予所有待测物。在另一可能实施例中，当主机装置HS控制测试箱110的温度由25°C变化至_40°C时，若于一预定时间之内，测试箱温度超过一预设温度时，判定测试箱110发生异常，例如爆炸事件发生，主机装置HS发出一警示信息，用以提醒测试人员，并发出一中断信息予控制装置PCf PC6，用以令所有待测物停止执行相对应的测试程序，并立即停止供电予所有待测物，其中，该预定时间由等待时间参数WT(I)乘以一预设百分比(例如10%)取得；而该预设温度由温度参数T(I)乘以一预设数值(例如5)取得，需说明的是，该预设数值可依测试箱内的容许温度做适当调整。于另一实施例中，测试箱温度只要测试箱110的温度一达到_40°C，主机装置HS不再等待，并立即维持测试箱110的温度。
[0048]在本实施例中，通过图2A所示的预设信息200，便可推测出每一老化期间的持续时间。举例而言，当主机装置HS接收到参数信息组O时，供电予待测物并维持120分钟。由于当主机装置HS接收到参数信息组I时，不再供电予待测物，因此，第一老化期间的长度为120分钟。
[0049]同样地，请参考参数信息组2及3，由于主机装置HS供电予待测物的总维持时间为MT(2)+MT(3) =290分钟，因此，第二老化期间的长度为290分钟。在参数信息组5及6中，由于主机装置HS供电予待测物的总维持时间为MT(5)+MT(6)=425分钟，因此，第三老化期间的持续时间为425分钟。在另一实施例中，上述主机装置HS推测每一老化期间的持续时间由控制装置PCf PC6执行，因此，服务器端SV的主机装置HS将预设信息200作为设定信息文件SSET (预设信息200等同设定信息文件SSET)传送至客户端CI1?CI6，控制装置pcrpce可取得每一老化期间的持续时间，【具体实施方式】请参考图3及其说明。
[0050]在上述实施例中，老化期间并未包含等待时间。然而，在其它实施例中，老化期间还包含等待时间。举例而言，第一老化期间的持续时间为WT(0)+MT(0)=180分钟。第二老化期间的持续时间为MT (2) +WT (3) +MT (3) =350分钟。第三老化期间的持续时间为MT (5) +WT (6) +MT (6) =525 分钟。
[0051]主机装置HS根据预设信息200，产生一设定信息文件SSET予控制单元PCf PC6，用以告知供电时间，好让控制单元pcfpce决定待测物执行测试时间的次数。
[0052]图2B为设定信息文件SSET的一可能实施例。在本实施例中，设定信息文件SSET在客户端cifcie的作用则是用来定义老化期间的长度及待测物执行测试程序的次数。于本实施例中，控制装置PCf PC6根据主机装置HS所告知的设定信息文件SSET，可推得温度曲线210，再由温度曲线210，便可得知老化期间CT1?CT3的持续时间，也就是主机装置HS供电的时间。
[0053]控制装置PCf PC6根据老化期间CTf CT3的持续时间，决定相对应待测物执行相对应测试程序的次数。举例而言，假设，待测物131执行测试程序所需的行程时间为TP131。控制装置PC2将老化期间CTl的持续时间除以待测物131的行程时间TP131，便可得知在老化期间CTl内，待测物131可执行I次测试程序。
[0054]由于老化期间CT2的持续时间大于老化期间CTl的持续时间，因此，在老化期间CT2中，待测物131执行测试程序的次数(4次)大于在老化期间CTl中，待测物131执行测试程序的次数(I次)。其它的待测物的测试次数依此类推。
[0055]本发明并不限定每一待测物执行测试程序的次数。在一可能实施例中，针对同一待测物(如131)而言，在不同的老化期间(CTfCT3)中，执行不同次数的测试程序(如I次、4次、6次)。在另一可能实施例中，针对不同种类的待测物(如131、132)而言，在同一老化期间(CT2)中，执行不同次数的测试程序(4次、2次)。在其它实施例中，针对相同种类的待测物(如131、133)而言，在同一老化期间(CT2)中，执行不同次数的测试程序(4次、3次)。
[0056]由于测试系统100具有多个客户端，因此，可自动且同时对多个不同类型的机种产品进行老化测试，而不需测试人员再重新设定。另外，在进行老化测试的同时，亦可一并对待测物进行其它的测试项目，以达到单位时间内进行多项测试，缩短待测物所需的测试时间，并提供简单的行程规划方法。
[0057]图3为本发明的客户端的一可能操作示意图。请配合本发明图1，由于客户端CIfCie的操作原理均相同，故以下以客户端CI2为例。如图3所示，首先，接收一设定信息文件SSET (步骤S310)。本发明并不限定设定信息文件SSET的接收方式。举例而言，客户端CIfCie可利用有线或无线方式，接收设定信息文件SSET。本发明亦不限定设定信息文件SSET的内容。只要能够让客户端CIf CI6得知主机装置HS供电时间的信息，均可作为设定信息文件SSET。
[0058]在另一可能实施例中，在接收设定信息文件SSET前，客户端CI2先判断是否接收到一开机信息(boot-up message)。若否,则再继续判断是否接收到开机信息,直到确实接收到开机信息。在一可能实施例中，开机信息由待测物131所提供，客户端根据此开机信息，接收设定信息文件SSET。另外，客户端CIl亦可在开机信息后，撷取待测物131执行测试程序的行程时间TP131。在其它实施例中，待测物131的行程时间亦含括在设定信息文件SSET 中。
[0059]计算待测物131执行测试程序的次数(步骤S320)。在一可能实施例中，客户端CI2根据设定信息文件SSET，便可得知主机装置HS供电的时间，即老化期间CTf CT3的持续时间。
[0060]在本实施例中，只要根据老化期间CTfCT3的持续时间以及待测物131的行程时间TP131，便可决定出待测物131在老化期间CTf CT3执行测试程序的次数。在一可能实施例中，将老化期间CTl的持续时间除以行程时间TP131，便可得知待测物131在老化期间CTl内的执行次数。在其它实施例中，亦可利用其它的运算公式，计算化期间CTl的持续时间以及行程时间TP131。
[0061]依据设定的行程规划，执行测试程序(步骤S330)。在一可能实施例中，客户端CI2的控制装置PC2具有一测试软体，根据设定信息文件SSET，便可设定测试软体的参数，用以规划待测物131的测试行程，因此，当控制装置PC2执行测试软体后，便可令待测物131执行测试程序。
[0062]在本实施例中，待测物131执行测试程序的同时，待测物131亦同时接受老化测试。因此，大幅降低测试时间。再者，当待测物131进行测试时，另一种类的待测物(132)亦同时进行测试，因此，测试人员不需等待测物131完成测试后，再能开始进行待测物132的测试。
[0063]图4为步骤S320的一可能实施方式。首先，初始化系数n、i及CTi (步骤S410)。在本实施例中，经初始化后，n=0, i=l, CTi=O。
[0064]判断供电状态参数P(n)是否为一第一状态(步骤S420)。如图2A所示，供电状态参数P(O)为第一状态，即供电状态，因此，执行步骤S421。在步骤S421中，〇1'1=(:11+11'(0)=0+120=120。接着，判断供电状态参数？(1)是否为一第一状态(步骤S430)。
[0065]如图2A所示，供电状态参数P(I)为第二状态，即不供电状态，因此，执行步骤S440，计算待测物在老化期间CTl中，执行测试程序的次数Ni。在本实施例中，步骤S440将老化期间CTl除以待测物执行测试程序的时间TP，用以得到一第一计算结果NI。
[0066]接着，判断供电状态参数P (I)是否为空值(步骤S450)。由图2A可知，供电状态参数P (I)并非为空值，因此，执行步骤S452，将系数i设定成2，以及执行步骤S423，将系数η设定成1，再回到步骤S420。
[0067]步骤S420判断供电状态参数P(I)是否为第一状态。由图2Α可知，供电状态参数P(I)为一第二状态(即不供电状态)，因此，执行步骤S422，判断供电状态参数P(2)是否为空值。由图2A可知，供电状态参数P(2)并非空值，因此，执行步骤S423，将η设定成2，再回到步骤S420。
[0068]在步骤S420中，判断供电状态参数Ρ(2)是否为第一状态。由图2Α可知，供电状态参数P(2)为第一状态，因此，执行步骤S421，CT2=CTi+MT(2) =0+90=90。接着，判断供电状态参数P(3)是否为第一状态(步骤S430)。由图2A可知，供电状态参数P(3)为第一状态，因此，执行步骤S423，将系数η设定成3，再执行步骤S420。
[0069]在步骤S420中，判断供电状态参数Ρ(3)是否为第一状态。由图2Α可知，供电状态参数P (3)为第一状态，因此，执行步骤S421，将先前所计算出的CT2再加上参数MT (3)，便求得新的老化期间CT2。因此新CT2=先前CT2+MT (3) =90+200=290。
[0070]接着，判断供电状态参数Ρ(4)是否为第一状态(步骤S430)。由图2Α可知，供电状态参数Ρ(4)为一第二状态(即不供电状态)，因此，执行步骤S440，将老化期间CT2除以待测物执行测试程序的时间ΤΡ，用以得到一第二计算结果Ν2。接着，判断供电状态参数P (4)是否为空值(步骤S450)。由图2Α可知，参数P (4)并非为空值，因此，执行步骤S452，将系数i设定成3，并将η系数设定成4 (步骤S423)，再执行步骤S420。
[0071]步骤S420判断供电状态参数P (4)是否为第一状态。由图2Α可知，供电状态参数P(4)为一第二状态(即不供电状态)，因此，执行步骤S422，判断供电状态参数Ρ(5)是否为空值(步骤S422)。由图2Α可知，供电状态参数Ρ(5)并非空值，因此，执行步骤S423，将系数η设定成5，再执行步骤S420。
[0072]在步骤S420中，判断供电状态参数Ρ(5)是否为第一状态。由图2Α可知，供电状态参数P (5)为第一状态，因此，执行步骤S421，CT3=CTi+MT (5) =0+150=150ο接着，判断供电状态参数P (6)是否为第一状态。由图2A可知，供电状态参数P (6)为第一状态，因此，执行步骤S423，将系数η设定成6，再执行步骤S420。
[0073]在步骤S420中，判断供电状态参数Ρ(6)是否为第一状态。由图2Α可知，供电状态参数P (6)为第一状态，因此，执行步骤S421，将先前所计算出的CT3再加上参数MT (6)，便求得新的老化期间CT3。在本实施例中，新CT3=先前CT3+MT6=150+275=425。
[0074]接着，判断供电状态参数P(7)是否为第一状态(步骤S430)。由图2A可知，供电状态参数P(7)为一第二状态(即不供电状态)，因此，执行步骤S440，将老化期间CT3除以待测物执行测试程序的时间TP，用以得到一第三计算结果N3。接着，判断供电状态参数P (7)是否为空值(步骤S450)。由图2A可知，供电状态参数P(7)并非为空值，因此，执行步骤S452，将系数i设定成4，然后再执行步骤S423，将η设定成7，再执行步骤S420。
[0075]在步骤S420中，判断供电状态参数Ρ(7)是否为第一状态。由图2Α可知，供电状态参数Ρ(7)为第二状态，因此，执行步骤S422，判断供电状态参数Ρ(8)是否为空值。由于图2Α并未具有供电状态参数P (8)，因此，判定供电状态参数P (8)空值，并执行步骤S451，结束测试次数的计算。
[0076]综上所述，由于本发明可同时对不同种类的产品同时地进行老化测试及各种指定测试项目，因此，可大幅降低产品出厂前的测试时间。此外，对产品进行老化测试及指定的测试时，只需依据规划的老化测试行程，进行参数设定，不需再对各种指定测试项目的测试次数进行参数设定，因此，可降低控制人员的工作时间及成本。[0077]除非另作定义，在此所有词汇(包含技术与科学词汇)均属本领域普通技术人员的一般理解。此外，除非明白表示，词汇于一般字典中的定义应解释为与其相关【技术领域】的文章中意义一致，而不应解释为理想状态或过分正式的语态。
[0078]虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视所附的权利要求所界定的范围为准。
【权利要求】
1.一种测试系统,包括:一测试箱，设置至少一待测物；一客户端，具有一控制装置，耦接该待测物，用以令该待测物执行一测试程序；以及一服务器端，具有一主机装置，用以控制该测试箱的温度，并根据一预设信息，提供一设定信息文件予该客户端；其中该控制装置根据该设定信息文件，决定该待测物执行该测试程序的次数。
2.如权利要求1所述的测试系统，其中该主机装置根据该预设信息，决定一老化期间的持续时间，并在该老化期间，通过该测试箱，供电予该待测物。
3.如权利要求2所述的测试系统，其中该设定信息文件包括一第一参数信息组、一第二参数信息组以及一第三参数信息组；该控制装置判断该第一参数信息组中的一第一供电状态参数是否为一预设状态，当该第一供电状态参数为该预设状态，该控制装置撷取该第一参数信息组中的一第一维持时间参数，并判断该第二参数信息组中的一第二供电状态参数是否为该预设状态。
4.如权利要求3所述的测试系统，其中当该第二供电状态参数不为该预设状态，该控制装置将该第一维持时间参数作为该老化期间的持续时间。
5.如权利要求3所述的测试系统，其中当该第一供电状态参数为该预设状态，该控制装置还撷取该第一参数信息组中的一第一等待时间参数，当该第二供电状态参数不为该预设状态，该控制装置将该第一维持时间参数及该第一等待时间参数的一总合做为该老化期间的持续时间。
6.如权利要求3所述的测试系统，其中当该第二供电状态参数为该预设状态时，该控制装置撷取该第二参数信息组中的一第二维持时间参数，并判断该第三参数信息组中的一第三供电状态参数是否为该预设状态。
7.如权利要求6所述的测试系统，其中当该第三供电状态参数不为该预设状态，该控制装置将该第一及第二维持时间参数的一总合作为该老化期间的持续时间。
8.如权利要求7所述的测试系统，其中当该第一供电状态参数为该预设状态，该控制装置还撷取该第一参数信息组中的一第一等待时间参数，当该第二供电状态参数为该预设状态，该控制装置还撷取该第二参数信息组中的一第二等待时间参数，当该第三供电状态参数不为该预设状态时，该控制装置将该第一维持时间参数、该第一等待时间参数、该第二维持时间参数、该第二等待时间参数的一总合做为该老化期间的持续时间。
9.如权利要求2所述的测试系统，其中该控制装置根据该设定信息文件，得知该待测物执行该测试程序所需的一测试时间，并将该老化期间的持续时间除以该测试时间，用以决定该待测物执行该测试程序的次数。
10.如权利要求2所述的测试系统，其中在一启始期间，该控制装置令该待测物执行该测试程序，并撷取该待测物执行该测试程序所需的一测试时间，并将该老化期间的持续时间除以该测试时间，用以决定该待测物在该老化期间内，执行该测试程序的次数。
【文档编号】G01R31/00GK103592527SQ201210341395
【公开日】2014年2月19日 申请日期:2012年9月14日 优先权日:2012年8月14日
【发明者】王宜铭, 辛承纬, 林克勤, 黄建轩, 赖建名 申请人:智邦科技股份有限公司