专利名称：分析仪器试管及比色皿样本信息读写记忆芯片卡环的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及各种分析仪器试管和比色皿的样本信息读写记忆芯片卡环(后简称记忆芯片卡环)，适用于各种分光光度计及分析仪的试管及比色皿的样本全部信息读写存储。
技术背景目前，分析类仪器特别是各种分光光度计的样本试管及比色皿的标识信息都是使用条形码，这些条码由打印机打印，再由条码扫描设备读出。由于条形码的信息很有限，最多十余个字母和数字，之后的检测结果也不可以反映于其上。并且，条形码的读出设备对于仪器整体来说造价高，体积大，条码标准也不统一，诸多原因，使得条形码在试管及比色皿 的标识信息上有极大的局限性，特别是在今天的信息时代的技术应用更显得性能落后和缺失。使用更有效率的信息标示技术的存储芯片代替条形码是目前最高性价比的解决方案。
发明内容为了克服现有的试管及比色皿的标识信息都是使用条形码的多方面的缺点和局限性，本实用新型所发明的技术方案是一个卡环带有用于卡在样本试管或比色皿上的弹性部分，内置24系列记忆芯片，以及记忆芯片读写的I2C总线的外接信号插头部分。本实用新型的技术方案为解决条形码的使用局限，缺陷及低性能，本实用新型采用一种分析仪器试管及比色皿样本信息读写记忆芯片卡环，其技术方案是忆芯片卡环带有用于卡在样本试管或比色皿上的弹性部分，内置24系列记忆芯片，以及记忆芯片读写的I2C总线的外接信号插头部分，可以重复使用，可以长期保存测试结果，用以替代以往传统的条形码信息及文字印刷 目息。本实用新型其技术特征是用于记录样本的全部测试信息，名称，序号，方法，方法参数，以及用以记忆每个样本的检测过程数据及检测结果，其包括连续时间检测及全频谱扫描的全部数据。24系列集成电路记忆芯片(例如24C02，24C512等等型号)，将其嵌入具有弹性的卡环，做成外露插头的一体卡环。使用时卡在样本试管及比色皿上。使用前由操作者通过计算机将样本信息写入记忆芯片，检测时芯片卡与样本器皿放置的同时插街道在仪器内置的接口插座。仪器自动读出识别样本的标示信息，根据其要求进行检测，待检测结束后结果由仪器自动存入记忆芯片。取出样本器皿时，记忆卡同时拔出。其可以由样本用户自己重新读出结果，转存，分析和长期保存。记忆片的读写设备或接口技术非常简单，通用，成本低，常用I2C总线。记忆芯片的信息容量从128字节到64Κ字节甚至更大范围可选。满足几乎所有样本及检测方法的信息存储需要。本实用新型的有益效果是不同于条形码所反映的简单名称序号信息，本实用新型使得全部完整的样本检测前后的全量信息可因其得以全面记录和使用。并且省略了分析类仪器为条形码读取所设计安装的复杂的机械，光学电子装置，为此极大地节省了仪器的空间和由条形码所引入的仪器多方面的制造和使用成本。
以下结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。图I是本实用新型的原理图。图2是样本信息读写记忆芯片卡环示意图。
具体实施方式
图I中I.样本试管或比色皿，2.内嵌24系列记忆芯片，具外插头的卡环，3.对外·信号插头，4. I2C总线插座，5.仪器(分光光度计)的电子电路部分。图2中I.记忆芯片卡环的弹性部分，2.内嵌24系列记忆芯片的部分，3.内置记忆芯片的I2C总线的外接信号插头部分。在图I中记忆芯片卡环⑵内置24系列记忆芯片，样本检测之前，将该样本的序号，名称及方法参数写入内置24系列记忆芯片中，将其卡在(I)样本试管或比色皿一起。将样本试管或比色皿放置分析仪器的检测位，同时记忆芯片卡环的信号插头正确插入(4)仪器的I2C总线插座中，以连接电路。仪器开始自动或手动检测该样本。检测结束后，全部结果信息写入记忆芯片卡环内，连同样本试管或比色皿一同取出，以备用户长期存储和读取。
权利要求1.一种分析仪器试管及比色皿样本信息读写记忆芯片卡环，其技术特征是记忆芯片卡环带有用于卡在样本试管或比色皿上的弹性部分，内置24系列记忆芯片，以及记忆芯片读写的I2C总线的外接信号插头部分。
专利摘要一种分析仪器特别是分光光度计的样本标示用的样本全部信息读写记忆芯片卡环。它由带弹性部分的卡环，内嵌24系列记忆芯片的部分，以及记忆芯片读写的I2C总线的外接信号插头部分组成。它用于记录单个样本的全部测试信息，如名称，序号，方法，方法参数，以及检测过程数据及检测结果，包括记忆连续时间检测及全频谱扫描的全部数据。它可以重复使用，也可以长期保存测试结果。它克服了条形码信息及文字印刷信息的局限性和缺点。用于存储样本的全部测试信息，包括条形码及文字印刷所不能反映的全部样本检测信息。在分析仪器上用以替代以往传统的样本条形码信息及样本文字印刷信息技术。
文档编号G01N21/31GK202711714SQ201220046639
公开日2013年1月30日 申请日期2012年2月14日 优先权日2012年2月14日
发明者刘可滇 申请人:刘可滇