专利名称：一种基板检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种基板检测装置。
背景技术：
目前，在生产液晶面板过程中，一般都是在自动化生产设备中进行的，这样可减少人力的使用，使制作出的液晶面板具有良好的一致性，进而提高了液晶面板的良率。不过，上述生产制造法在减少了人为操作的同时，也对自动化生产设备中基板检测装置提出了更高的要求，以防止出现误操作情况发生；也就是说，自动化生产设备要对待处理基板进行工艺处理，首先要确认自动化生产设备中是否存在待处理基板；如在玻璃基板上制作像素电极或公共电极时，首先要判断在自动化生产设备中是否有待处理玻璃基板 存在，然后才能进行下一步的动作；但现有自动化生产设备中的基板检测装置，经常出现误判断，也就是判断待处理基板在自动化生产设备中是否存在不准确，这样导致自动化生产设备经常停机，严重的影响了液晶面板的生产效率。
实用新型内容本实用新型的目的是提供了一种基板检测装置，用于提高液晶面板的生产效率。本实用新型提供的基板检测装置包括用于承载基板的承载台，所述承载台的上侧和下侧其中一侧上设置有包括信号发射端和信号接收端的传感器，所述承载台的上侧和下侧中另一侧上设置有与所述传感器位置相对的信号处理板，以及与所述传感器信号连接的控制系统；其中，所述传感器的信号发射端和信号接收端在同一端面上，并与所述信号处理板的端面互相平行。优选地，所述传感器和所述信号处理板倾斜设置于承载台的上、下两侧。优选地，所述传感器和所述信号处理板相对于水平面的倾斜角度大于0°小于90。。优选地，所述传感器和信号处理板相对于水平面的倾斜角度为45°。优选地，所述传感器为光电传感器，所述信号处理板为用于吸收所述光电传感器发射出的光线信号的吸收板。优选地，所述信号发射端和信号接收端为光电传感器，所述信号处理板为用于将所述光电传感器发射出的光线信号反射回所述光电传感器的反射板。优选地，所述信号发射端和信号接收端为距离传感器，所述信号处理板为反射板、吸收板。从上述技术方案可知，本实用新型提供的基板检测装置，传感器具有在同一侧的信号发射端和信号接收端，传感器的信号发射端发射出的光线信号被信号处理板吸收或反射，然后根据控制系统的系统设定和传感器的信号接收端的信号状态，来判定在承载台上是否有待处理基板存在，提高了基板检测装置的性能，从而减少了自动化生产设备因基板检测装置的误检测而引起的停机次数和时间，从而提高液晶面板的生产效率。
图I为本实用新型实施例中基板检测装置的结构示意图；图2为本实用新型具体实施例一中基板检测装置上无玻璃基板时的结构示意图；图3为本实用新型具体实施例一中基板检测装置上存在没有边缘变形的玻璃基板时的结构示意图； 图4为本实用新型具体实施例一中基板检测装置上存在有边缘变形的玻璃基板时的结构示意图；图5为本实用新型具体实施例二中基板检测装置上无玻璃基板时的结构示意图；图6为本实用新型具体实施例二中基板检测装置上存在没有边缘变形的玻璃基板时的结构示意图；图7为本实用新型具体实施例二中基板检测装置上存在有边缘变形的玻璃基板时的结构示意图；图8为本实用新型具体实施例三中基板检测装置上无玻璃基板时的结构示意图；图9为本实用新型具体实施例三中基板检测装置上存在有边缘变形的玻璃基板时的结构示意图。
具体实施方式
现有自动化生产设备中的基板检测装置，经常出现误判断，也就是判断在承载台上是否存在玻璃基板不准确，这样导致自动化生产设备经常停机，严重的影响了液晶面板的生产效率。有鉴于此，本实用新型提供了一种基板检测装置，通过传感器、信号处理板及控制系统的配合使用，可提高基板检测装置的性能，减少自动化生产设备因基板检测装置的误检测而引起的停机次数和时间，从而提高液晶面板的生产效率。为了使本领域技术人员更好的理解本实用新型的技术方案，下面结合说明书附图对本实用新型实施例进行详细的描述。如图I所示，本实用新型实施例提供了一种应用在自动化生产设备中的基板检测装置，包括用于承载基板的承载台10，承载台10的上侧和下侧其中一侧上设置有包括信号发射端和信号接收端的传感器20，承载台10的上侧和下侧中另一侧上设置有与传感器20位置相对的信号处理板30，以及与传感器20信号连接的控制系统(图中未画出)；其中，传感器20的信号发射端和信号接收端在同一端面上，并与信号处理板30的端面互相平行。需要说明的是，检测在承载台10上是否有待处理基板存在，传感器20的信号发射端发射的光线信号是照射在待处理基板的边缘，这样同时可判断待处理基板在承载台10上的位置是否有偏移，即检测待处理基板是否在承载台10上的预设区域内。控制系统根据系统设定和传感器20的信号接收端的信号状态来判断在承载台10上是否存在待处理基板，具体如下具体实施例一，如图2所示，本实用新型具体实施例一提供了一种应用在自动化生产设备中的基板检测装置，包括用于承载基板的承载台100，位于承载台100的上侧和下侧的光电传感器110和信号处理板120，以及与光电传感器110信号连接的控制系统(图中未画出);其中，光电传感器110的信号发射端和信号接收端在同一端面上，并与信号处理板120的端面互相平行。具体地，上述基板检测装置位于自动化生产设备的处理室I内，其中，承载台100位于处理室I中，承载台100的上表面与水平面平行；光电传感器110在承载台100上侧，设置在处理室I的内壁顶面上；信号处理板120为用于吸收光电传感器110发射出的信号的吸收板；信号处理板120在承载台100下侧，设置在处理室I的内壁底面上，且光电传感器110和信号处理板120位置相对，并且光电传感器110的信号发射端和信号接收端所在的端面与水平面平行，信号处理板120的端面也与水平面平行，即信号处理板120的端面与光电传感器110的信号发射端和信号接收端所在的端面相对且平行。当然，上述基板检测装置，信号处理板120也可以设置在处理室I的内壁顶面上，相应的光电传感器110设置在处理室I的内壁底面上。控制系统与光电传感器110信号连接，一方面用于控制光电传感器110的信号发射端发射光线信号；另一方面用于根据系统设定和光电传感器110的信号接收端的信号状 态判断自动化生产设备中是否存在玻璃基板。如图2所示，当光电传感器110的信号接收端接收不到反射光线信号时，也就是说，光电传感器Iio的信号发射端发射的光线信号被信号处理板120吸收，信号接收端接收不到反射光线信号，此时，与光电传感器110信号连接的控制系统根据系统设定及光电传感器110信号接收端的信号状态确定承载台100上没有玻璃基板。如图3所示，当光电传感器110的信号接收端接收到反射光线信号时，也就是说，光电传感器110的信号发射端发射的光线信号经物体反射到信号接收端接，此时，控制系统根据系统设定及光电传感器110信号接收端的信号状态确定承载台100上有玻璃基板130存在。不过，在具体实施例一中，当玻璃基板130的厚度较薄(通常是玻璃基板的厚度小于O. 6T时，在玻璃基板的边缘有变形情况发生)或硬度较低时，在的边缘易出现变形，此时光电传感器110的信号接收端接收不到反射光线信号，如图4所示，玻璃基板131的在边缘位置有变形，光电传感器110的信号发射端发射的光线信号照射在玻璃基板131的变形区域，根据光的反射规律，入射的光线信号将会被反射到其他地方，不会反射到光电传感器110的信号接收端，即光电传感器110的信号接收端没有接收到反射光线信号，此时，控制系统根据系统设定及光电传感器110信号接收端的信号状态确定承载台100上没有玻璃基板131存在，造成控制系统确认的信息与事实不符，控制系统将启动自我保护程序，自动将自动化生产设备停止运行，特别是在变换不同厚度(厚度小于O. 6T玻璃基板，在玻璃基板的边缘位置易出现变形)玻璃基板比较频繁的情况下，造成自动化生产设备经常停止，降低液晶面板的生产效率。因此下面提供了一种基于具体实施例一的改进技术方案。具体实施例二，如图5所示，本实用新型具体实施例二提供了一种应用在自动化生产设备中的基板检测装置，包括用于承载基板的承载台200，位于承载台200的上侧和下侧的光电传感器210和信号处理板220，以及与光电传感器210信号连接的控制系统(图中未画出);其中，光电传感器210的信号发射端和信号接收端在同一端面上，并与信号处理板220的端面互相平行，且光电传感器210和信号处理板220倾斜的设置在承载台200的上侧和下侧。[0035]具体地，上述基板检测装置位于自动化生产设备的处理室I内，其中，承载台200位于处理室I中，承载台200的上表面与水平面平行。光电传感器210包括信号发射端和信号接收端，并且信号发射端的端面和信号接收端的端面在同一平面内；光电传感器210在承载台200上方，安装在处理室I的内壁顶面上，并且相对于水平面的倾斜角度大于0°小于90°，即光电传感器210的信号发射端和信号接收端所在的端面相对于水平面的倾斜角大于0°小于90°，较佳地，所述倾斜角为45°。信号处理板220为用于将光电传感器210发射出的信号反射回光电传感器210的信号接收端的反射板，包括反射镜面；信号处理板220在承载台200的下方，安装在处理室I的内壁侧面上，并且信号处理板220的反射镜面与光电传感器210的信号发射端的端面平行；也就是说，信号处理板220相对于水平面的倾斜角度大于0°小于90°，光电传感器210的信号发射端发射的光线信号照射到反射板的反射镜面上，反射的光线信号可被信号发射端接收到，即所述反射镜面可把信号发射端发射的光线信号反射到信号接收端。控制系统与光电传感器210信号连接,一方面用于控制光电传感器210的信号发射端发射光线信号；另一方面用于根据系统设定和光电传感器210的信号接收端的信号状态判断承载台200上是否存在玻璃基板。检测方式为当信号接收端接收到反射光线信号时，也就是说，信号发射端发射的光线信号直接照射到反射镜面上，根据光线的反射规律，入射光线信号被反射镜面反射到信号接收端，此时，控制系统根据系统设定及信号接收端的信号状态认为承载台200上没有玻璃基板存在。当信号接收端没有接收到反射光线信号时，也就是说，信号发射端发射的光线信号倾斜的照射到待检测玻璃基板的边缘，根据光线的反射规律，入射光线信号被待检测玻璃基板反射到除信号接收端以外地方，信号接收端接收不到反射光线信号，此时，控制系统根据光电传感器210的信号接收端的信号状态确定承载台200上有玻璃基板存在。为了防止其它反射造成的干扰以及提高设备控制系统的判断精度，根据在承载台200上没有玻璃基板时，信号发射端发射的光线信号直接被反射镜面反射到信号接收端，此时，信号接收端接收到的反射光线信号强度最强，通过统计多次反射镜面直接反射光线信号时信号接收端能够接收到的光线信号强度，根据统计结果可得到反射镜面直接反射光线信号时信号接收端能够接收到的光线信号强度的最小值。因此，设备控制系统根据信号接收端接收到的光线信号强度大小来判断承载台200上是否有待检测玻璃基板存在。当信号接收端接收到光线信号强度小于反射镜面直接反射时信号接收端能够接收到的光线信号强度最小值时，设备控制系统确定承载台200上有待检测玻璃基板；反之，当信号接收端接收到光线信号强度大于或等于反射镜面直接反射时信号接收端能够接收到的光线信号强度最小值时，控制系统确定承载台200上没有待检测玻璃基板。如图6所示，当承载台200上有玻璃基板230，并且玻璃基板230的边缘没有变形时，信号发射端发射的光线信号以一定的倾斜角照射到玻璃基板230，根据光线的反射规律，入射光线信号被反射到除信号接收端以外地方，而且既使有部分光线信号因折射透过玻璃基板230到达信号处理板220的反射镜面，因入射角度的改变，反射镜面会把透过的光线信号反射到信号接收端，信号接收端接收到光线信号强度很弱，也就是说，信号接收端接收到光线信号强度小于反射镜面直接反射时信号接收端能够接收到的光线信号强度最小值，此时，控制系统根据信号接收端接收到的光线信号强度大小确定承载台200上有玻璃基板230存在。如图7所示，当承载台200上有玻璃基板231，并且玻璃基板231的边缘有变形时，此时，信号发射端发射的光线信号以一定的倾斜角照射到玻璃基板231的变形部分，根据光线的反射规律，入射光线信号被反射到除信号接收端以外地方，信号接收端接收不到反射光线信号，或接收到的反射光线信号强度小于反射镜面直接反射时信号接收端能够接收到的光线信号强度最小值，控制系统根据信号接收端接收到的光线信号强度大小确定承载台200上有玻璃基板231存在。从上述具体实施例二中可知，通过改变光电传感器210的安装方式，即使光电传感器210的信号发射端的端面与水平面之间有一定的倾斜角，光电传感210器的信号发射端发射的光线可被信号处理板220的反射镜面反射到光电传感器210的信号发射端，光电传感器210可检测边缘存在变形的待处理基板，这样可提高控制系统判断在承载台200上是否有待处理基板的精度，有效的减少自动化生产设备的不必要停机时间，从而提高了液晶面板的生产效率。 具体实施例三，如图8所示，本实用新型具体实施例三提供了一种应用在自动化生产设备中的基板检测装置，包括设备控制系统(图中未画出)、承载台300、距离传感器310以及信号处理板；其中，距离传感器310包括信号发射端和信号接收端；距离传感器310在承载台300的上侧，安装在处理室I的内壁顶面上，且信号发射端发射的光线可被处理室I的内壁底面反射到信号接收端。信号处理板为反射板、吸收板或其它障碍物，在本实施例中信号处理板为处理室I的内壁底面。控制系统与距离传感器310信号连接，用于判断承载台300上是否存在玻璃基板。通常距离传感器310是利用“飞行时间法”(flying time)的原理来实现测距离，以检测物体的距离的一种传感器。“飞行时间法”是通过发射特别短的光脉冲，并测量此光脉冲从发射到被物体反射回来的时间，通过测时间间隔来计算与物体之间的距离。因此，距离传感器310的检测方式为距离传感器310的信号发射端发射光脉冲，测量所述光脉冲从发射到被物体反射回来的时间，通过测时间间隔来计算距离传感器310与物体之间的距离，当所述距离小于等于设定的待处理基板与距离传感器310之间的最远距离时，控制系统根据所述距离传感器310反馈的距离信号，确定承载台300上存在待处理基板；反之，当所述距离大于设定的待处理基板与距离传感器310之间的最远距离时，控制系统根据所述距离传感器310反馈的距离信号，确定承载台300上没有待处理玻璃基板。其中，所述最远距离为待处理玻璃基板与处理室I内壁的底面完全接触时，距离传感器310到待处理玻璃基板的距离；或者说，距离传感器310到处理室I内壁的底面距离减去待处理玻璃基板厚度得到的距离。如图9所示，当承载台300上有待处理玻璃基板(不限于待处理玻璃基板的边缘是否存在变形)存在时，距离传感器310检测到的距离传感器310检测与物体之间的距离小于等于设定的待处理基板与距离传感器310之间的最远距离时，控制系统根据所述距离传感器310反馈的距离信号，确定承载台300上存在待处理玻璃基板。可见，具体实施例三中，通过改变传感器的类型，即采用距离传感器310 ;可检测边缘存在变形的待处理基板，显著提高了控制系统判断在承载台300上是否有待处理基板的精度，有效的减少自动化生产设备的不必要停机时间，从而提高了液晶面板的生产效率。在上述三个具体实施例中，基板检测装置的传感器和信号处理板位于承载台的上下方，即对应处理室I内壁上，但不限于此，传感器和信号处理板也可通过其它安装方式设置在承载台的上下两侧，如，采用支架形式，把传感器设置在承载台的上侧，把信号处理板设置在承载台的下侧。显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
权利要求1.一种基板检测装置，其特征在于，包括用于承载基板的承载台，所述承载台的上侧和下侧其中一侧上设置有包括信号发射端和信号接收端的传感器，所述承载台的上侧和下侧中另一侧上设置有与所述传感器位置相对的信号处理板，以及与所述传感器信号连接的控制系统；其中，所述传感器的信号发射端和信号接收端在同一端面上，并与所述信号处理板的端面互相平行。
2.如权利要求I所述的基板检测装置，其特征在于，所述传感器和所述信号处理板倾斜设置于承载台的上、下两侧。
3.如权利要求2所述的基板检测装置，其特征在于，所述传感器和所述信号处理板相对于水平面的倾斜角度大于0°小于90°。
4.如权利要求3所述的基板检测装置，其特征在于，所述传感器和信号处理板相对于水平面的倾斜角度为45°。
5.如权利要求r4所述的基板检测装置，其特征在于，所述传感器为光电传感器，所述信号处理板为用于吸收所述光电传感器发射出的光线信号的吸收板。
6.如权利要求r4所述的基板检测装置，其特征在于，所述信号发射端和信号接收端为光电传感器，所述信号处理板为用于将所述光电传感器发射出的光线信号反射回所述光电传感器的反射板。
7.如权利要求r4所述的基板检测装置，其特征在于，所述信号发射端和信号接收端为距离传感器，所述信号处理板为反射板、吸收板。
专利摘要本实用新型涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种基板检测装置，用于提高液晶面板的生产效率。本实用新型公开了一种基板检测装置，包括用于承载基板的承载台，承载台的上侧和下侧其中一侧上设置有包括具有信号发射端和信号接收端的传感器，承载台的上侧和下侧中另一侧上设置有与传感器位置相对的信号处理板，以及与传感器信号连接的控制系统；其中，传感器的信号发射端和信号接收端在同一端面上，并与信号处理板的端面互相平行。控制系统根据系统设定和传感器的信号接收端的信号状态，可精确的判定在承载台上是否有待处理基板存在，减少了因误检测而引起自动化生产设备的停机次数和时间，从而提高液晶面板的生产效率。
文档编号G01V8/10GK202649489SQ201220328429
公开日2013年1月2日 申请日期2012年7月6日 优先权日2012年7月6日
发明者李楠, 王文勇, 张君, 姚大青 申请人:北京京东方光电科技有限公司