一种硅块倒角宽度的测量尺的制作方法

文档序号:5991943阅读:219来源:国知局
专利名称:一种硅块倒角宽度的测量尺的制作方法
技术领域
一种硅块倒角宽度的测量尺技术领域[0001]本实用新型涉及工程机械测量技术领域,特别是涉及一种用于硅块倒角宽度测量的测量尺。
背景技术
[0002]硅块是由多晶硅锭经过一次切割后加工而成的。由于上述切割为线性切割,切割完成后,切割出的硅块就会有90度的棱角,又由于硅材料比较硬脆,在搬运的过程中其棱角处很容易磕碰或损伤,还容易划伤搬运者,因此,现有技术中一般需要对硅块进行倒角处理,然后再进行后续的加工。[0003]所谓倒角,就是将工件的棱角进行切削,从而在其棱边上形成一个宽度较窄的斜面。通常情况下,娃块倒角宽度的合格范围为I. Omm-2. Omm。[0004]虽然经过倒角处理后硅块比较易于运输,但还是会存在一定程度的磕碰或划伤, 此时就需要对硅块进行表面修复,由于表面修复是对硅块的重新抛光,原来加工的硅块倒角就会受到影响,其倒角的宽度就会减小,可能会使得硅块倒角的宽度小于上述合格范围的最小值,即小于I. Omm ;而有时对硅块的小崩边的修复,需要将倒角的宽度增大,但增大后的倒角也有可能超出上述合格范围的最大值,即超出2.0mm。综上所述,硅块在完成第一次倒角处理后,其倒角的宽度并不是一成不变的,为保证倒角的宽度处于合格范围内,就需要对倒角的宽度进行重新测量。[0005]现有的倒角测量工具中,偏重于倒角角度的测量,主要采用投影法或者角规等进行测量,但在硅块的加工过程中,对倒角的角度要求并不是很严格,而对硅块倒角的宽度要求相对比较严格。因此,为保证硅块的倒角符合要求,关键要对倒角的宽度进行测量。[0006]现有技术中并没有专门用于硅块倒角宽度测量的仪器,按照现有的主流观点,一般采用以下两种方法进行硅块倒角宽度的测量[0007]采用直尺进行粗略的测量。测量可以采用两种方式进行一种是将硅块正放,将直尺有刻度的一边倾斜的紧密贴靠在倒角的斜面上,读出并记录倒角的宽度;一种是将直尺放平,然后倾斜硅块,将其一边作为支撑,将倒角的斜面垂直贴向直尺,读出并记录倒角的览度。[0008]采用游标卡尺进行测量,此时,也可以采用上述两种测量方式进行测量,此处不再赘述。[0009]采用上述两种测量工具进行硅块倒角宽度的测量具有以下缺点[0010]首先硅块倒角的宽度一般都要精确到毫米以下,由于直尺只能精确到毫米,故采用直尺进行测量的结果精确度不高;[0011]其次,游标卡尺虽然能够精确到毫米以下,但其精确度受读数方法的影响较大,当采用游标卡尺斜放的测量方式时,由于测量者不能够直视卡尺的刻度线,会存在较大的读数误差;当采用硅块倾斜的测量方式时,硅块的不平稳会导致测量误差的增大和操作难度的增大(当然,采用直尺进行测量时也会有此处所说的误差,不过该误差在直尺测量的误差中并非主要因素);[0012]再次,直尺和游标卡尺的重量较重,在测量的过程中很容易对硅块造成损伤。[0013]因此,如何设置一种专门用于硅块倒角宽度测量的工具,是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。实用新型内容[0014]本实用新型的目的是提供一种硅块倒角宽度的测量尺,专门用于倒角宽度的测量,结构和操作简单,测量精度高。[0015]为解决上述技术问题,本实用新型提供一种硅块倒角宽度的测量尺,倒角宽度具有合格区间,该测量尺包括[0016]尺壳,呈中空的壳体状设置;[0017]多个尺片,设置于所述尺壳内,每个所述尺片的外沿具有至少一个向外延伸的尺头,各所述尺头的宽度各不相同以形成测量区间,所述合格区间处于所述测量区间内,所述尺片上标有其尺头的宽度。[0018]在进行硅块倒角的宽度测量时,首先目测倒角的宽度,找到与待测倒角比较接近的尺头,将尺头平贴在倒角的倾斜面上,如果该尺头与倒角的斜面完全贴合,说明尺头的宽度与倒角的宽度相等,读出尺片上相应尺头的宽度,即为倒角的宽度;如果尺头将倒角的斜面覆盖后还有部分伸出倒角,说明此时选择的尺头过大,应该选用较小的尺头,直至所选的尺头按照上述方法完全贴合在倒角的斜面上;可以想到,如果尺头的宽度不足以覆盖整个倒角的斜面,说明选择的尺头过小,则应选用较大的尺头进行重新测量。[0019]本实用新型的测量尺,借助尺头对倒角的宽度进行测量,使用过程中仅仅需要将尺头贴合在倒角的斜面上,然后读取尺片上标记的读数即可,操作简单,对操作人员的要求较低,对测试的环境也没有任何要求,可以随时随地对倒角进行测量,适用范围广;由于倒角的宽度通过尺头的大小反应,测量时尺头要倾斜的贴合在倒角的斜面上,然后在尺片上直接读出尺头的宽度,无需采用工具对尺头进行测量,也不用通过刻度线在尺头上标记刻度,这样就避免了因为读数产生的误差,测量的精度较高;在不使用时尺片可以收进尺壳内部,不仅尺片得到了有效的保护,还减小了整个测量尺的体积,携带更加方便;测量尺包括尺壳和尺片两部分,其结构简单,易于生产制造,成本较低。[0020]优选地,各所述尺头的宽度在所述测量区间等差分布。[0021]优选地,所述尺片的个数至少为6个。[0022]优选地,所述合格区间为I. Omm-2. 0mm,所述测量区间为O. 5mm-2. 5mm ;各所述尺片均具有两个尺头;所述尺片的数目为六个,六个所述尺片包括三个一级尺片和三个二级尺片,三个所述一级尺片的尺头的宽度分别为I. 0mm、l. 2mm、I. 4mm、I. 6mm、I. 8mm、2. 0mm,三个所述二级尺片的尺头的宽度分别为O. 5mm、0. 7mm、0. 9mm、2. lmm、2. 3mm、2. 5mm。[0023]尺片分为三个一级尺片和三个二级尺片,一级尺片的尺头宽度在I. 0mnT2. Omm之间,尺头宽度的差值为O. 2mm,此范围内的倒角符合要求,为合格倒角,也可以说是一级倒角;二级尺片的尺头宽度包括O. 5mnT0. 9mm和2. lmnT2. 5mm两个区间范围,尺头宽度的差值也为O. 2_,该范围内的倒角基本上符合硅块倒角的要求,但其后续的利用效果相对较差, 属于二级倒角。由于倒角的合格范围是I. 0mnT2. 0mm,将尺片分为差值为O. 2mm的两组尺片,将测量区间限定在O. 5mnT2. 5mm之间,尺头的宽度差不多能够涵盖所有基本符合要求的倒角,也就是说上述两组尺片的设置采用较少的尺片实现了较大范围内倒角的测量,每个尺片都能够得到充分利用,O. 2mm的差值设置符合硅块倒角的规律,对倒角宽度测量的影响较为微小。[0024]优选地,位于同一个所述一级尺片上的两个所述尺头的宽度为所述一级尺片的尺头宽度值中相邻的两个值和/或[0025]位于同一个所述二级尺片上的两个所述尺头的宽度为所述二级尺片的尺头宽度值中相邻的两个值。[0026]由于测量时需要首先根据目测选定尺头,这个过程中很可能存在错误选取的情况,此时就要更换尺头,但通常目测的结果与实际结果不会存在较大差异,只需要更换一个稍大的尺头或者稍小的尺头即可。将同一尺片的两个尺头的宽度值设置成相邻的两个数值,如果尺片一侧的尺头不能与倒角相匹配,尺片另一侧的尺头与倒角相匹配的几率相对较大,这在一定程度上减小了重新选定尺头的时间,从而提高测量效率。[0027]优选地,各所述尺片的两所述尺头位于其两端。[0028]优选地,各所述尺片同轴地枢装于所述尺壳内;所述尺壳的两侧具有开口,以便所述尺片沿枢装轴线旋转后能够将其尺头伸出所述尺壳。[0029]尺壳两侧设有开口,尺片的旋转就能够将尺头伸出尺壳外部,不用单独将尺片从尺壳内取出,使用方便,还减少了取放过程中对尺片造成的损伤。[0030]优选地,所述尺壳设有转轴,各所述尺片的中部均具有连接通孔,所述转轴能够贯穿所述连接通孔。[0031]优选地,所述尺片为不锈钢尺片。


[0032]图I为本实用新型所提供测量尺在一种具体实施方式
中的侧视结构示意图;[0033]图2为本实用新型所提供测量尺在两个尺片伸出尺壳时的俯视结构示意图;[0034]图3为本实用新型所提供尺壳一种设置方式的侧视结构示意图;[0035]图4为图3所示尺壳的左视结构示意图;[0036]图5为本实用新型所提供尺片一种设置方式的俯视结构示意图;[0037]图6为图5所示尺片一种组合方式的结构示意图;[0038]图7为本实用新型所提供测量尺在测量硅块倒角宽度时的使用状态示意图。
具体实施方式
[0039]本实用新型的核心是提供一种硅块倒角宽度的测量尺,专门用于倒角宽度的测量,结构和操作简单,测量精度高。[0040]为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案,
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步的详细说明。[0041]请参考图I至图2,图I为本实用新型所提供测量尺在一种具体实施方式
中的侧视结构示意图;图2为本实用新型所提供测量尺在两个尺片伸出尺壳时的俯视结构示意图。[0042]在一种具体实施方式
中,本实用新型的测量尺包括尺壳I和多个尺片2,尺壳I呈中空的壳体状设置,尺片2 —般呈薄片状设置,多个尺片2均内置于尺壳I内,每个尺片2 的外沿至少具有一个向外延伸设置的尺头21,每个尺头21的宽度各不相同,所有尺头21的宽度能够形成一个测量区间,硅块倒角的宽度存在一个合格区间,该合格区间就处于所述测量区间内。所有尺头21的宽度取值应该尽量分散,优选的方案是,尺头21的宽度可以呈等差分布,以尽量满足较大范围内倒角宽度测量的要求。尺头21的宽度标注在其所在的尺片2上,操作者可以直接读取尺头21的宽度,显然,尺片2的尺寸应当满足标注和易于读取的需求。[0043]尺壳I的两侧可以具有开口,各个尺片2均同轴地枢装在尺壳I内,则尺片2可以沿其枢装轴线相对于尺壳I作旋转运动,当尺片2旋转到一定程度,尺头21就会伸出尺壳 1,如图2所示(为显示的需要,图2中仅以两个尺片2的旋转为例进行说明,其他部分隐去, 但这并不能解释为图2中的尺片2仅有两个)。在测量硅块倒角的宽度时,操作者不必单独取出尺片2进行测量,可以直接旋转尺片2到适当的位置,从而让尺头21完全伸出尺壳1, 再将尺头21贴合在倒角的斜面上,然后在尺片2上读出尺头21的宽度,即为倒角的宽度。[0044]尺壳I的两侧设有开口,就可以直接将尺片2旋转一定的角度进而将尺头21伸出尺壳1,操作十分方便,不必将尺片2取出,节省了操作的时间;可想而知,如果每次测量都要将尺片2取出和放回,会给尺片2造成一定的损伤,影响其测量的精度,甚至将尺片2损坏。[0045]当然,尺壳I的两侧也可以不设置开口,当需要测量倒角宽度时,直接将尺片2从尺壳I内取出,当测量完成后再重新将其放回尺壳I内。[0046]需要说明的是,倒角宽度的测量实际上是两个尺寸的对比,即找到与倒角宽度大小相等的尺头21。因此,在进行测量时,首先要目测倒角的宽度,然后找一个相对比较接近的尺头21,将该尺头21平贴在待测倒角的斜面上,如果尺头21能够将斜面完全覆盖,且没有多余或不足的部分,说明尺头21的大小与倒角的宽度相吻合,然后在该尺片2上读出尺头21的大小,即为倒角的宽度;如果该尺头21覆盖倒角的斜面后还有多出的部分,说明选择的尺头21过大,要换较小的尺头21进行重新测量;相应地,如果尺头21不足以覆盖斜面,说明该尺头21过小,应该选用较大的尺头21。[0047]可以对上述测量尺进行进一步的改进。[0048]请参考图3至图5,图3为本实用新型所提供尺壳一种设置方式的侧视结构示意图;图4为图3所示尺壳的左视结构示意图;图5为本实用新型所提供尺片一种设置方式的俯视结构示意图。[0049]尺壳I设有转轴11,各个尺片2的中部均具有连接通孔22,转轴11能够贯穿连接通孔22,从而将多个尺片2枢装在尺壳I内,形成一个整体。为保证连接的可靠性,尺片 2的中部一般设置成与尺壳I的尺寸基本相同的薄板状,薄板的一侧外沿向外延伸设置,形成至少一个所述的尺头21。[0050]尺片2可以采用多种材料制成,例如可以采用不锈钢材料制成,该不锈钢的厚度不宜过厚,一般为O. 3_的不锈钢,该厚度的不锈钢片能够在保证尺片2的刚度的同时不影响其使用的便捷性。尺片2也可以采用塑料等材料制成,其重量较轻,不会对硅块造成损伤。[0051]请参考图6和图7,图6为图5所示尺片一种组合方式的结构示意图;图7为本实用新型所提供测量尺在测量硅块倒角宽度时的使用状态示意图。[0052]在另一种具体实施方式
中,本实用新型的测量尺具有至少6个尺片2。如图6所示,以6个尺片2为例,各个尺片2均具有两个尺头21。硅块倒角宽度的合格区间一般为 I. Omm-2. 0mm,该实施例中各尺头21宽度形成的测量区可以是O. 5mnT2. 5mm。该实施例中的测量尺具有12个尺头21,各个尺头21的宽度的值较为分散且其差值可以基本相等,也就是说12个尺头基本上能够覆盖倒角的宽度范围。实验表明,6个以上的尺片2能够提高测量的精确程度。[0053]可以想到,各个尺片2的两个尺头21可以位于其两端,也就是说,尺片2的两个端部分别沿其外边沿向外延伸设置,从而在两端形成两个尺头21。当旋转尺片2时,两端尺头21均可以伸出尺壳1,以便测量。还可以想到,一个尺片2上也可以设置两个以上的尺头 21,且一个尺片2上的尺头21宽度可以等差设置,这样,根据目测采用一个尺片2就基本上可以满足测量需求。当然,为了便于在尺片2上标注和读取,一个尺片2上设置两个尺头21 为较为优选的方案。还是以6个尺片2为例,这6个尺片2可以分为数量相等的两组,一组一级尺片和一组二级尺片,三个一级尺片的尺头的宽度分别为I. 0mm、I. 2mm、I. 4mm、I. 6mm、1.8謹、2. 0mm,三个二级尺片的尺头的宽度分别为O. 5謹、O. 7謹、O. 9謹、2. I謹、2. 3謹、2.5mm。上述尺头21的宽度即在测量区间内等差分布。所述一级尺片和二级尺片的尺头21 可以是按照上述顺序从小到大依次排列,也可以将上述尺头的宽度进行任意组合。即位于同一个一级尺片2上的两个尺头21的宽度为所述一级尺片2的尺头宽度值中相邻的两个值,位于同一个二级尺片2上的两个尺头21的宽度也可以为二级尺片2的尺头宽度值中相邻的两个值。举例来说,一个一级尺片的两端的尺头21可以分别为I. Omm和I. 2mm,或者是 I. 4mm和I. 6mm,也可以是任意两个宽度的尺头21。或者,两相邻尺片2的尺头21的宽度按照上述顺序排列,即在三个一级尺片2同一侧的尺头21宽度依次为I. OmmU. 2mm、I. 4mm,另一侧的尺头21的宽度依次为I. 6mm、I. 8mm,2. 0mm。二级尺片2的尺头21的排列也按照上述规律进行,这样设置有助于操作者选择合适的尺头,从而节省操作时间。[0054]需要说明的是,上述一级尺片2和二级尺片2的分类并不是针对尺片2本身,而是针对被测的倒角而言的。即如果一个硅块的倒角属于一级尺片2的尺头21的宽度范围,则该硅块的倒角质量较好,属于一级倒角;对应的,倒角在二级尺片2的尺头21的宽度范围内就属于二级倒角。一级尺片2的尺头21宽度在I. 0mnT2. Omm之间,尺头21宽度的差值为O.2_,此范围内的倒角符合要求,为合格倒角,也可以说是一级倒角;二级尺片2的尺头21 宽度包括O. 5mnT0. 9mm和2. lmnT2. 5mm两个区间范围,尺头21宽度的差值也为O. 2_,该范围内的倒角基本上符合硅块倒角的要求,但其后续的利用效果相对较差,属于二级倒角。由于倒角的合格范围是I. 0mnT2. 0_,将尺片2分为差值为O. 2_的两组尺片,尺头21的宽度差不多能够涵盖所有基本符合要求的倒角,也就是说两组尺片的设置采用较少的尺片2实现较大范围内倒角的测量,每个尺片2都能够得到充分利用,O. 2mm的差值设置符合硅块倒角的规律,对倒角宽度测量的影响较为微小。[0055]本实用新型的测量尺,借助尺头21对倒角的宽度进行测量,使用过程中仅仅需要将尺头21贴合在倒角的斜面上,如图7所示,然后读取尺片2上标记的读数即可,操作简单,对操作人员的要求较低,对测试的环境也没有任何要求,可以随时随地对倒角进行测量,适用范围广;由于倒角的宽度通过尺头21的大小反应,测量时尺头21要倾斜的贴合在倒角的斜面上,然后在尺片2上直接读出尺头21的宽度,无需采用工具对尺头21进行测量,也不用通过刻度线在尺头21上标记刻度,这样就避免了因为读数产生的误差,测量的精度较高;在不使用时,尺片2可以收进尺壳I内部,不仅尺片2得到了有效的保护,还减小了整个测量尺的体积,携带更加方便;测量尺包括尺壳I和尺片2两部分,其结构简单,易于生产制造,成本较低。[0056]以上对本实用新型所提供的硅块倒角宽度的测量尺进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的核心思想。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理的前提下,还可以对本实用新型进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本实用新型权利要求的保护范围内。
权利要求1.一种硅块倒角宽度的测量尺,倒角宽度具有合格区间,其特征在于,该测量尺包括 尺壳,呈中空的壳体状设置;多个尺片,设置于所述尺壳内,每个所述尺片的外沿具有至少一个向外延伸的尺头,各所述尺头的宽度各不相同以形成测量区间,所述合格区间处于所述测量区间内,所述尺片上标有其尺头的宽度。
2.如权利要求I所述的测量尺,其特征在于,各所述尺头的宽度在所述测量区间等差分布。
3.如权利要求I所述的测量尺,其特征在于,所述尺片的个数至少为6个。
4.如权利要求3所述的测量尺,其特征在于,所述合格区间为I.Omm-2. 0mm,所述测量区间为O. 5mm-2. 5mm ;各所述尺片均具有两个尺头;所述尺片的数目为六个,六个所述尺片包括三个一级尺片和三个二级尺片,三个所述一级尺片的尺头的宽度分别为I. OmmU. 2mm、1.4謹、I. 6謹、I. 8謹、2. Ctam,三个所述二级尺片的尺头的宽度分别为O. 5謹、O. 7謹、O. 9謹、2.lmm、2. 3mm、2. 5mm0
5.如权利要求4所述的测量尺,其特征在于,位于同一个所述一级尺片上的两个所述尺头的宽度为所述一级尺片的尺头宽度值中相邻的两个值和/或位于同一个所述二级尺片上的两个所述尺头的宽度为所述二级尺片的尺头宽度值中相邻的两个值。
6.如权利要求4所述的测量尺,其特征在于,各所述尺片的两所述尺头位于其两端。
7.如权利要求I至6任一项所述的测量尺,其特征在于,各所述尺片同轴地枢装于所述尺壳内;所述尺壳的两侧具有开口,以便所述尺片沿枢装轴线旋转后能够将其尺头伸出所述尺壳。
8.如权利要求7所述的测量尺,其特征在于,所述尺壳设有转轴,各所述尺片的中部均具有连接通孔,所述转轴能够贯穿所述连接通孔。
9.如权利要求I至6任一项所述的测量尺,其特征在于,所述尺片为不锈钢尺片。
专利摘要本实用新型提供一种硅块倒角宽度的测量尺,专门用于倒角宽度的测量,结构和操作简单,测量精度高。本申请的倒角宽度具有合格区间,该测量尺包括尺壳,呈中空的壳体状设置;多个尺片,设置于所述尺壳内,每个所述尺片的外沿具有至少一个向外延伸的尺头,各所述尺头的宽度各不相同以形成测量区间,所述合格区间处于所述测量区间内,所述尺片上标有其尺头的宽度。本实用新型借助尺头的尺寸对倒角的宽度进行测量,将尺头贴合在倒角的斜面上,然后读取尺片上标记的读数即可,操作简单,对操作人员的要求较低,对测试的环境也没有任何要求,适用范围广;由于尺片上直接标记尺头宽度的大小,无需测量读取,避免了读数产生的误差,测量精度较高。
文档编号G01B5/02GK202747971SQ20122042859
公开日2013年2月20日 申请日期2012年8月27日 优先权日2012年8月27日
发明者庞乃东, 张凯 申请人:天津英利新能源有限公司
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