专利名称：一种轴承套圈弯曲度的测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及轴承套圈的测量领域，具体涉及一种轴承套圈弯曲度的测量装置，尤其涉及一种中大型轻、窄系列轴承套圈弯曲度测量装置。
背景技术：
已知的，轻窄、系列轴承均采用了较薄、较窄的轴承断面，实现了轻窄、系列轴承产品的轻量化，同时轻窄、系列轴承具有低摩擦扭矩、良好的回转精度等优点，轻窄、系列轴承在各个领域中的应用越来越广泛，但是由于轻、窄系列轴承套圈易受力变形的特点，给其加工和检测带来很大难度，特别是针对中大型轻、窄系列轴承端面弯曲度的测量更是一个关键要求和技术难题，因为轴承端面是轴承套圈加工的基准，其端面弯曲度的大小直接影响到轴承套圈其它表面各项形位公差的实现以及产品的旋转精度、配合精度等。但是，目前国内轴承行业对于外径尺寸大于Φ380πιπι的轴承套圈弯曲度的检测尚无专用的测量手段，很大程度上制约了该类轴承的生产和检验。
发明内容为了克服背景技术中的不足，本实用新型公开了一种轴承套圈弯曲度的测量装置，本实用新型通过在测量平板上的T型槽内设置端面支撑，将被测轴承套圈悬空后采用上下两块测量表同时对被测轴承套圈进行测量，本实用新型具有结构简单，操作方便等优点。为实现上述发明目的，本实用新型采用如下技术方案:一种轴承套圈弯曲度的测量装置，包括底座、测量平板和立柱，在底座的上部设有测量平板，所述测量平板的上部面设有三个T型槽，所述三个T型槽呈Y字型分布，所述每个T型槽中部的两侧设有刻度线，在每个T型槽内活动设置有端面支撑，在所述每个端面支撑的上部设有被测轴承套圈，在环绕被测轴承套圈外圈的的任一位置设有至少两个径向定位支撑，在底座的一侧设有立柱，在所述立柱上间隔设有上测量表和下测量表形成所述的轴承套圈弯曲度的测量装置。所述的轴承套圈弯曲度的测量装置，所述测量平板的周边设有至少两个螺孔，测量平板通过螺栓连接或铆接或焊接到底座的上部。所述的轴承套圈弯曲度的测量装置，所述上测量表通过上测量表架连接立柱。所述的轴承套圈弯曲度的测量装置，所述下测量表通过下测量表架连接立柱。所述的轴承套圈弯曲度的测量装置，所述底座的形状为方形或圆形或多角形。所述的轴承套圈弯曲度的测量装置，所述测量平板的形状为方形或圆形或多角形。由于采用如上所述的技术方案，本实用新型具有如下有益效果:本实用新型所述的一种轴承套圈弯曲度的测量装置，本实用新型通过在测量平板上的T型槽内设置端面支撑，将被测轴承套圈悬空后采用上下两块测量表同时对被测轴承套圈进行测量，本实用新型实现了外径尺寸在Φ380.ι Φ 500mm之间的轴承套圈弯曲度的测量，并且同时满足轴承套圈的高度、平行差、平面度等重要项目的测量，测量精度达到± I μ m，并且具有操作简单、高效，对环境要求不高，特别适用于轴承生产单位和用户的检测。
图1是本实用新型的结构示意图主视图；图2是本实用新型的结构示意图俯视图；图中:1、底座；2、测量平板；3、径向定位支撑、4、端面支撑；5、被测轴承套圈；6、上测量表；7、上测量表架；8、立柱；9、下测量表架；10、下测量表；11、T型槽；12、刻度线；13、螺孔。
具体实施方式
通过下面的实施例可以更详细的解释本实用新型，但本实用新型并不局限于下面的实施例；结合附图1 2所述的一种轴承套圈弯曲度的测量装置，包括底座1、测量平板2和立柱8，所述底座I的形状为方形或圆形或多角形，在底座I的上部设有测量平板2，所述测量平板2的周边设有至少两个螺孔13，测量平板2通过螺栓连接或铆接或焊接到底座I的上部，所述测量平板2的形状为方形或圆形或多角形，所述测量平板2的上部面设有三个T型槽11，所述三个T型槽11呈Y字型分布，所述每个T型槽11中部的两侧设有刻度线12，在每个T型槽11内活动设置有端面支撑4，在所述每个端面支撑4的上部设有被测轴承套圈5，在环绕被测轴承套圈5外圈的的任一位置设有至少两个径向定位支撑3，在底座I的一侧设有立柱8，在所述立柱8上间隔设有上测量表6和下测量表10形成所述的轴承套圈弯曲度的测量装置，所述上测量表6通过上测量表架7连接立柱8，所述下测量表10通过下测量表架9连接立柱8。实施本实用新型的具体作过程为:将底座I与测量平板2之间用螺栓固定安装，测量平板2的测量面尺寸为505mmX 480mm，其上开有三个间隔120°的T形槽，用来安装三个可调整的端面支撑4，作为被测轴承5的轴向定位支撑，轴承套圈的径向由两个径向定位支撑3定位，并且测量平板2上的T形槽边刻有间隔为Imm长的刻度线，方便端面支撑4和径向定位支撑3的调整；底座I上有一立柱8，用来安装固定上测量表架7及下测量表架9 ;上测量表6和下测量表10分别安装在上测量表架7及下测量表架9的安装孔中，上测量表6和下测量表10的测点分别接触被测套圈5的上表面和下表面，将被测轴承5以轴心线为中心旋转一周以上，下测量表10上显示的最大值与最小值之差，即为被测轴承套圈端面的弯曲度值。另外在测量过程中，通过上测量表6的示值还可以得到被测轴承套圈5的高度、高度变动量、平行度、平面度等测值。本实用新型未详述部分为现有技术。 为了公开本实用新型的目的而在本文中选用的实施例，当前认为是适宜的，但是，应了解的是，本实用新型旨在包括一切属于本构思和发明范围内的实施例的所有变化和改进。
权利要求1.一种轴承套圈弯曲度的测量装置，包括底座(I)、测量平板(2)和立柱(8)，其特征是:在底座(I)的上部设有测量平板(2 )，所述测量平板(2 )的上部面设有三个T型槽(11)，所述三个T型槽(11)呈Y字型分布，所述每个T型槽(11)中部的两侧设有刻度线(12)，在每个T型槽(11)内活动设置有端面支撑(4)，在所述每个端面支撑(4)的上部设有被测轴承套圈(5)，在环绕被测轴承套圈(5)外圈的的任一位置设有至少两个径向定位支撑(3)，在底座(I)的一侧设有立柱(8 )，在所述立柱(8 )上间隔设有上测量表(6 )和下测量表(10 )形成所述的轴承套圈弯曲度的测量装置。
2.根据权利要求1所述的轴承套圈弯曲度的测量装置，其特征是:所述测量平板(2)的周边设有至少两个螺孔(13)，测量平板(2)通过螺栓连接或铆接或焊接到底座(I)的上部。
3.根据权利要求1所述的轴承套圈弯曲度的测量装置，其特征是:所述上测量表(6)通过上测量表架(7 )连接立柱(8 )。
4.根据权利要求1所述的轴承套圈弯曲度的测量装置，其特征是:所述下测量表(10)通过下测量表架(9 )连接立柱(8 )。
5.根据权利要求1所述的轴承套圈弯曲度的测量装置，其特征是:所述底座(I)的形状为方形或圆形或多角形。
6.根据权利要求1所述的轴承套圈弯曲度的测量装置，其特征是:所述测量平板(2)的形状为方形或圆形或多角形。
专利摘要一种轴承套圈弯曲度的测量装置，涉及轴承套圈的测量领域，在底座(1)的上部设有测量平板(2)，所述测量平板的上部面设有三个T型槽(11)，所述三个T型槽呈Y字型分布，在每个T型槽内活动设置有端面支撑(4)，在所述每个端面支撑的上部设有被测轴承套圈(5)，在环绕被测轴承套圈外圈的任一位置设有至少两个径向定位支撑(3)，在底座的一侧设有立柱(8)，在所述立柱上间隔设有上测量表(6)和下测量表(10)，本实用新型将被测轴承套圈悬空后采用上下两块测量表同时对被测轴承套圈进行测量，测量精度达到±1μm，具有操作简单、高效，对环境要求不高，特别适用于轴承生产单位和用户的检测。
文档编号G01B21/20GK203069170SQ20122063501
公开日2013年7月17日 申请日期2012年11月27日 优先权日2012年11月27日
发明者孙金花, 张帅军, 康延辉 申请人:洛阳Lyc轴承有限公司