专利名称：辅助分析测试平台的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试装置，特别是一种辅助分析测试平台。
背景技术：
随着电子行业的飞速发展，越来越多的器件趋向于集成度高、体积小的方向发展，这对大规模贴片焊接技术提出了很高的要求，焊接技术的这种高要求难免使得焊接过程中出现虚焊、短路的现象，因而这就要求对焊接完成的电路板进行检测。然而，对于具有成千上万的元器件的电路板来说，单靠技术员凭经验一块块的来排查问题，是件很困难的事情。尤其是大批量生产电路板过程中，电路板的检测工作更是非常细致、繁琐，这种人工检测方式显得更为效率低下。目前，对电路板进行测试的装置主要分两类，一类是只对电路板上的所有器件进行测试，其缺点是电路板上的所有器件正常并不能代表电路板就一定正常；另一类对电路板的功能进行测试，功能正常则判断电路板无故障，其缺点是必须事先知道该电路板的功能，否则基本无法进行功能测试。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种能快速全面地对电路板进行测试，定位硬件问题所在，具有更好适用性的辅助分析测试平台。为解决上述技术问题，本实用新型辅助分析测试平台，包括:相互耦合连接的I/O接口、转换装置、存储装置和芯片。所述辅助分析测试平台还进一步包括一显示屏，所述显示屏与所述存储装置和所述芯片连接。所述转换装置为向量转换装置。本实用新型辅助分析测试平台运用自动生成的随机测试向量就可以对被测电路板进行分析，随着随机测试向量的增加，对被测电路板的功能分析就越全面，故障判断与是位也越准确。
图1为本实用新型辅助分析测试平台模块示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型辅助分析测试平台作进一步详细说明。本实用新型辅助分析测试平台，包括:相互耦合连接的I/O接口、转换装置、存储装置和芯片。辅助分析测试平台还进一步包括一显示屏，显示屏与存储装置和芯片连接。转换装置为向量转换装置。本实用新型辅助分析测试平台根据人工指令或者随机生成测试向量，通过向量转换装置和I/o接口施加于被测试电路板，通过I/O接口和向量转换装置读取、记录被测试电路板的响应，将己知无故障的电路板的响应存贮在存储装置中作为标准响应，将被测试电路板的响应与标准响应进行比较和分析，给出测试结论，并存储故障记录。[0010]本实用新型辅助分析测试平台运用自动生成的随机测试向量就可以对被测电路板进行分析，随着随机测试向量的增加，对被测电路板的功能分析就越全面，故障判断与是位也越准确。以上已对本实用新型创造的较佳实施例进行了具体说明，但本实用新型创造并不限于实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明创造精神的前提下还可作出种种的等同的变型或替换，这些等同的变型或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。
权利要求1.辅助分析测试平台，其特征在于，包括:相互耦合连接的I/o接口、转换装置、存储装置和芯片。
2.根据权利要求1所述的辅助分析测试平台，其特征在于，所述辅助分析测试平台还进一步包括一显示屏，所述显示屏与所述存储装置和所述芯片连接。
3.根据权利要求1所述的辅助分析测试平台，其特征在于，所述转换装置为向量转换>J-U装直。
专利摘要本实用新型辅助分析测试平台，包括相互耦合连接的I/O接口、转换装置、存储装置和芯片。所述辅助分析测试平台还进一步包括一显示屏，所述显示屏与所述存储装置和所述芯片连接。所述转换装置为向量转换装置。本实用新型辅助分析测试平台运用自动生成的随机测试向量就可以对被测电路板进行分析，随着随机测试向量的增加，对被测电路板的功能分析就越全面，故障判断与是位也越准确。
文档编号G01R31/28GK203054184SQ20122067756
公开日2013年7月10日 申请日期2012年12月10日 优先权日2012年12月10日
发明者汪翔 申请人:上海宝景信息技术发展有限公司