一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置制造方法
【专利摘要】本发明涉及一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置，包括第一处理器、第二处理器、主处理器、显示屏及若干条测试连接线，所述的第一处理器和第二处理器分别通过测试连接线与待测仪表连接，所述的主处理器一端分别连接第一处理器和第二处理器，另一端与显示屏连接；第一处理器、第二处理器分别对待测仪表进行测试，并将将测试结果传输给主处理器，主处理器比较并存储第一处理器和第二处理器的测试结果，并将比较结果和测试结果显示在显示屏上。与现有技术相比，本发明具有可抵消线电阻、提高测试准确性等优点。
【专利说明】一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试装置，尤其是涉及一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置。
【背景技术】
[0002]随着科学技术的发展，多数产品都实现了大规模的自动化生产，为了使这些流水线出来的产品能够达到相应质量标准的要示，因此，在出厂前需要进行严格的测试。
[0003]在仪表测试过程中，常常会碰到由于忽略某些小电阻的影响，而引起测量数据与理论值之间存在较大误差的情况，从而影响检测结果。特别是在仪表计量测试和要求测试准确性较高的一些工作中，由于布线系统存在线电阻且一般的指针万用表无法对其进行测量，在对内阻较小(< 100Ω)的仪表进行测试时，布线系统存在的线电阻对测量值有很大影响，影响测试值可能超出容许的误差范围，以至于得出错误的结论。
【发明内容】
[0004]本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种可抵消线电阻、提高测试准确性的可消除连接线电阻误差的仪表测试装置。
[0005]本发明的目的可以通过以下技术方案来实现:
[0006]一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置，包括第一处理器、第二处理器、主处理器、显示屏及若干条测试连接线，所述的第一处理器和第二处理器分别通过测试连接线与待测仪表连接，所述的主处理器一端分别连接第一处理器和第二处理器，另一端与显示屏连接；
[0007]第一处理器、第二处理器分别对待测仪表进行测试，并将将测试结果传输给主处理器，主处理器比较并存储第一处理器和第二处理器的测试结果，并将比较结果和测试结果显示在显示屏上。
[0008]所述的测试连接线设有至少四条。
[0009]所述的第一处理器和第二处理器中均设有仪表测试电路和按键控制面板。
[0010]所述的第二处理器中设有测试电阻。
[0011]所述的待测仪表上设有多个测试端口，分布设置在待测仪表两端。
[0012]所述的每个测试端口均分别连接第一处理器和第二处理器。
[0013]与现有技术相比，本发明采用两组处理器对待测仪表进行测试，同时在第二处理器中设置阻值较高的测试电阻，通过两组测试结果的比较，获得较准确的测试结果，消除了测试时测试连接线电阻带来的误差，从而提高了测试的准确性。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为本发明的结构示意图。【具体实施方式】
[0015]下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细说明。本实施例以本发明技术方案为前提进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本发明的保护范围不限于下述的实施例。
[0016]如图1所示，一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置，包括第一处理器1、第二处理器2、主处理器3、显示屏4及至少四条测试连接线，所述的第一处理器I和第二处理器2分别通过测试连接线与待测仪表5连接，所述的主处理器3 —端分别连接第一处理器I和第二处理器2，另一端与显示屏4连接。所述的待测仪表5上设有多个测试端口，分布设置在待测仪表两端，每个测试端口均分别连接第一处理器I和第二处理器2。
[0017]所述的第一处理器I和第二处理器2中均设有仪表测试电路和按键控制面板。所述的第二处理器2中设有阻值较高的测试电阻，使流经第二处理器2的测量回路的测试电流较小，从而抵消连接线的线电阻带来的影响。
[0018]上述可消除连接线电阻误差的仪表测试装置的工作原理为:第一处理器、第二处理器分别对待测仪表进行测试，并将将测试结果传输给主处理器，主处理器比较并存储第一处理器和第二处理器的测试结果获得较准确的测试结果，并将比较结果和测试结果显示在显示屏上。
【权利要求】
1.一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置，其特征在于，包括第一处理器、第二处理器、主处理器、显示屏及若干条测试连接线，所述的第一处理器和第二处理器分别通过测试连接线与待测仪表连接，所述的主处理器一端分别连接第一处理器和第二处理器，另一端与显示屏连接； 第一处理器、第二处理器分别对待测仪表进行测试，并将将测试结果传输给主处理器，主处理器比较并存储第一处理器和第二处理器的测试结果，并将比较结果和测试结果显示在显示屏上。
2.根据权利要求1所述的一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置，其特征在于，所述的测试连接线设有至少四条。
3.根据权利要求1所述的一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置，其特征在于，所述的第一处理器和第二处理器中均设有仪表测试电路和按键控制面板。
4.根据权利要求1所述的一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置，其特征在于，所述的第二处理器中设有测试电阻。
5.根据权利要求1所述的一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置，其特征在于，所述的待测仪表上设有多个测试端口，分布设置在待测仪表两端。
6.根据权利要求5所述的一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置，其特征在于，所述的每个测试端口均分别连接第一处理器和第二处理器。
【文档编号】G01R35/00GK103941206SQ201310022118
【公开日】2014年7月23日 申请日期:2013年1月21日 优先权日:2013年1月21日
【发明者】邹敏琦 申请人:上海共联通信信息发展有限公司