一种光子计数的校正装置及方法

文档序号:6190144阅读:277来源:国知局
一种光子计数的校正装置及方法
【专利摘要】本发明公开了一种光子计数的校正装置及方法,包括光电检测器,所述光电检测器通过放大器连接脉冲整形装置,所述脉冲整形装置通过计数器连接算法处理装置。本发明结构简单,鉴别度强,准确并能灵敏地检测出光子数。
【专利说明】一种光子计数的校正装置及方法
【技术领域】[0001]本发明涉及光子计数领域,具体涉及的是一种光子计数的校正装置及方法。
【背景技术】
[0002]对于及其微弱的光信号,可以看作为离散的光子脉冲,可以通过光子计数的方法进行探测。目前有很多成熟的产品可以实现光子计数,探测微弱光信号,比如日本滨松公司的光子计数模块C8855-01。现有的光子计数模块如图1所示
光电检测器接收到光子,产生电子脉冲,经过放大器形成脉冲信号,脉冲信号再经过脉冲整形装置之后,形成矩形脉冲信号,方便计数器计数。根据设定的鉴别电平,信号大于鉴别电平时,计数器加1,代表一个触发的光子事件。
[0003]显然,按照上述方法,如果是两个或者多个光子触发信号,或者是一个光子脉冲下降到鉴别电平之前又产生光子脉冲,两个脉冲重合的情况,都计为一个触发事件,这两种情况都会导致计数结果比实际的光子数要少,因此需要进行适当的校正。
[0004]专利200710008120.6 (光子计数方法和设备)对上述的情况给出了解决方案,通过使用交叠脉冲计时器来分析重叠的光子脉冲,使用额外的强度鉴别器分析多光子脉冲。这一方法可以解决上述存在的问题,但是需要增加计时器以及强度鉴别器,增加了系统的复杂性,及成本。

【发明内容】

[0005]本发明的目的在于克服现有技术存在的以上问题,提供一种光子计数的校正装置及方法,不需计时器和强度鉴别器,能直接检测出光子数。
[0006]为实现上述技术目的,达到上述技术效果,本发明通过以下技术方案实现:
一种光子计数的校正装置,包括光电检测器,所述光电检测器通过放大器连接脉冲整形装置,所述脉冲整形装置通过计数器连接算法处理装置。
[0007]一种光子计数的校正方法,包括以下步骤:
步骤I)光子通过光电探测器形成产生电子脉冲,经过放大器形成脉冲信号,设置鉴别
电平为0.5光子,脉冲信号再经过脉冲整形装置之后,形成矩形脉冲信号,通过计数器对光
子脉冲进行计数,得到光子计数N ;
步骤2)确认最小脉冲宽度,通过数据手册确认系统最小脉冲宽度Tw;
步骤3)计算校正系数ξ,通过公式
【权利要求】
1.一种光子计数的校正装置,其特征在于:包括光电检测器(1),所述光电检测器(I)通过放大器(2)连接脉冲整形装置(3),所述脉冲整形装置(3)通过计数器(4)连接算法处理装置(5)。
2.一种光子计数的校正方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤I)光子通过光电探测器形成产生电子脉冲,经过放大器形成脉冲信号,设置鉴别电平为0.5光子,脉冲信号再经过脉冲整形装置之后,形成矩形脉冲信号,通过计数器对光子脉冲进行计数,得到光子计数N ; 步骤2)确认最小脉冲宽度,通过数据手册确认系统最小脉冲宽度Tw; 步骤3)计算校正系数1,通过公式
【文档编号】G01J11/00GK103698024SQ201310729200
【公开日】2014年4月2日 申请日期:2013年12月26日 优先权日:2013年12月26日
【发明者】陈忠祥, 裴智果, 吴云良, 钟金凤, 马玉婷, 王策, 严心涛, 赵书涛 申请人:中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
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