专利名称：光学仪器检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种光学仪器检测装置，具体地说是用于对光学仪器的现场快速检测。
背景技术：
对光学仪器的检测，一般都离不开平行光管来提供一无穷远基准目标。如图1所示，在传统的光学仪器检测中，平行光管一般都以水平面作为基准安装在平行光管基座上，光学仪器利用光学仪器基座安装在平行光管的出射窗口处。此种检测方式往往结构复杂、体积庞大，通用性差。由于以上的种种局限，传统对光学仪器检测、维护，往往只能把光学仪器送到修理单位或返厂。传统的光学仪器检测方式效率低、成本高，不能满足日益增多的光学仪器在维修保养中的需要。
发明内容本实用新型的目的在于克服上述不足之处，从而提供一种体积小巧、便于携带的光学仪器检测装置，能够对光学仪器进行现场检测，操作使用方便。按照本实用新型提供的技术方案，光学仪器检测装置包括平行光管和位于平行光管的出射窗口前方的检测支架，其特征是:检测支架中心设有一个第一透光孔，第一透光孔的中心线与平行光管出光轴线平行。检测支架上设有多个第二透光孔，第二透光孔位于第一透光孔外圈，多个第二透光孔之间设有连接筋。所述检测支架上设有多个第三透光孔，第三透光孔位于第二透光孔外圈。进一步的,第一透光孔为圆形。进一步的，第二透光孔共有四个。进一步的，第二透光孔为扇形。进一步的，第三透光孔共有四个。进一步的，检测支架的一角设有固定孔。进一步的，检测支架的一个对角上分别设有第一调节孔和第二调节孔。本实用新型与已有技术相比具有以下优点:本实用新型突破了传统的在水平面安装平行光管对光学仪器检测的局限，可在倾斜或竖直方向上完成对光学仪器基本光学性能指标的现场检测，检测方便快速；装置体积小巧，携带方便。
图1为传统光学仪器检测方式示意图。图2为本实用新型结构示意图。图3为检测支架结构示意图。附图标记说明:1_平行光管、2-检测支架、3-第一透光孔、4-连接筋、5-第二透光孔、6-第三透光孔、7-固定孔、8-第一调节孔、9-第二调节孔、10-平行光管基座、11-光学仪器、12-光学仪器基座。
具体实施方式
下面本实用新型将结合附图中的实施例作进一步描述:如图2 3所示，本实用新型主要包括平行光管I和位于平行光管I的出射窗口前方的检测支架2，检测支架2中心设有一个圆形的第一透光孔3，第一透光孔3为检测支架2的基准孔，第一透光孔3的中心线与平行光管I出光轴线平行。检测支架2用来稳定承托各类不同口径的光学仪器，能够在二维平面内调节，完成二维光轴修正，保证搁置在检测支架2上的光学仪器、平行光管I两者光轴的平行检测支架2上设有多个第二透光孔5，第二透光孔5位于第一透光孔3外圈，多个第二透光孔5之间设有连接筋4。连接筋4起连接固定并稳定承托光学仪器作用，其面积较小，不会影响平行光管I的出射光。如图3所示的实施例中，第二透光孔5共有四个，为扇形。所述检测支架2上设有多个第三透光孔6，第三透光孔6位于第二透光孔5外圈。如图3所示的实施例中，第三透光孔6共有四个。所述检测支架2的一角设有固定孔7，通过固定孔7来固定检测支架2。所述检测支架2的一个对角上分别设有第一调节孔8和第二调节孔9，第一调节孔8和第二调节孔9用于在二维平面内调节检测支架2的位置。本实用新型在使用时，被检光学仪器直接搁置在所述检测支架2中央，在二维平面内调整检测支架2，使被测光学仪器的光轴与平行光管I的光轴平行，后续即可进行光学仪器相应光学参数的测量。
权利要求1.一种光学仪器检测装置，包括平行光管(I)和位于平行光管(I)的出射窗口前方的检测支架(2)，其特征是:检测支架(2)中心设有一个第一透光孔(3)，第一透光孔(3)的中心线与平行光管(I)出光轴线平行；检测支架(2)上设有多个第二透光孔(5)，第二透光孔(5)位于第一透光孔(3)外圈，多个第二透光孔(5)之间设有连接筋(4);所述检测支架(2)上设有多个第三透光孔(6)，第三透光孔(6)位于第二透光孔(5)外圈。
2.如权利要求1所述的光学仪器检测装置，其特征是:所述第一透光孔(3)为圆形。
3.如权利要求1所述的光学仪器检测装置，其特征是:所述第二透光孔(5)共有四个。
4.如权利要求1所述的光学仪器检测装置，其特征是:所述第二透光孔(5)为扇形。
5.如权利要求1所述的光学仪器检测装置，其特征是:所述第三透光孔(6)共有四个。
6.如权利要求1所述的光学仪器检测装置，其特征是:所述检测支架(2)的一角设有固定孔⑵。
7.如权利要求1所述的光学仪器检测装置，其特征是:所述检测支架(2)的一个对角上分别设有第一调节孔(8)和第二调节孔(9)。
专利摘要本实用新型涉及一种光学仪器检测装置，具体地说是用于对光学仪器的现场快速检测。其包括平行光管和位于平行光管的出射窗口前方的检测支架，检测支架中心设有一个第一透光孔，第一透光孔的中心线与平行光管出光轴线平行。检测支架上设有多个第二透光孔，第二透光孔位于第一透光孔外圈，多个第二透光孔之间设有连接筋。所述检测支架上设有多个第三透光孔，第三透光孔位于第二透光孔外圈。本实用新型可在倾斜或竖直方向上完成对光学仪器基本光学性能指标的现场检测，检测方便快速；装置体积小巧，携带方便。
文档编号G01M11/00GK203069351SQ20132004339
公开日2013年7月17日 申请日期2013年1月28日 优先权日2013年1月28日
发明者黄龙清, 陆飞, 赵勇, 李东跃, 王招清 申请人:无锡市星迪仪器有限公司