专利名称：探测器模块测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及正电子发射断层扫描成像领域，更具体的说涉及一种探测器模块测试
>J-U ρ α装直。
背景技术：
正电子发射断层扫描成像(PET)设备的探测器模块与电子学模块均为PET设备中的核心部件，每一个探测器模块和电子学模块的性能是否稳定和满足需求都需要进行测试。目前，对电子学模块的测试一般是先把电子学模块内的各个电路板单独进行测试，测试通过后，再做子系统集成测试。对探测器模块的测试一般是在探测器单元拼接成探测器模块前进行单独测试，光电倍增管(PMT)也单独进行测试，当探测器单元拼接成探测器模块后，通常安装到PET机架(Gantry)上，与单独测试好的电子学模块进行集成测试。集成测试通常用以下两种方式进行测试:(I)、安装一对或几对探测器模块与电子学模块进行测试，检测探测器模块和电子学模块以及它们之间的连接线是否存在问题。如有问题，通常需要拆卸PET设备中某些零部件，查找问题根源，再进行安装测试，如此反复这个过程，直到解决问题。测试完一对或几对探测器模块和电子学模块后，再安装其它的探测器模块和电子学模块进行测试，重复以上过程，直到所有的探测器模块和电子学模块都没有问题。(2)、将所有 的探测器模块和电子学模块安装到PET Gantry上，根据实际情况选择其中的一对或几对探测器模块和电子学模块甚至全部的探测器模块和电子学模块进行测试，出现问题后拆卸PET设备中某些零部件，查找问题根源，对相应问题做调整修改后，再安装测试。不断重复拆卸、测试、安装工作，直到所有的探测器模块和电子学模块都没有问题。在测试过程中，需要反复多次地拆卸和安装，测试前的准备时间会占测试时间的很大一部分，造成测试效率低下。由于PET的探测器模块是形成一个闭合的环形，在某些位置的探测器模块与电子学模块安装与拆卸会比较困难，测试人员的劳动强度更大，拆卸与安装所需时间更长，会更增加测试前的准备时间，从而在很大程度上降低测试效率。
实用新型内容为解决现有技术中PET设备中探测器模块和电子学模块测试效率低的问题，本实用新型所要解决的技术问题是提供一种测试方便并且测试效率高的探测器模块测试装置。本实用新型提供一种探测器模块测试装置，包括第一测试装置、第二测试装置和基座，第一测试装置包括可用于容纳第一探测器模块和第一电子学模块的第一测试箱；第二测试装置包括可用于容纳第二探测器模块和第二电子学模块的第二测试箱；基座包括基板，第一测试装置和第二测试装置相对布置且固定于基板上。在另一个方案中，基座还包括导轨和滑块，导轨固定于基板上，第一测试装置和第二测试装置分别通过相应的滑块固定于导轨上，第一测试装置和第二测试装置之间的距离通过滑块在导轨上滑动调节。在又一个方案中，第一测试装置和第二测试装置之间设有放射源。在又一个方案中，第一测试箱包括将第一测试箱形成为具有第一光密闭空间的第一底板、第一前板、第一后板、第一左板、第一右板和第一顶板。在又一个方案中，第一测试箱包括第一固定装置，第一固定装置包括设于第一后板上的第一固定板和第二固定板，第一固定板、第二固定板和第一后板将第一探测器模块固定于第一测试箱内。在又一个方案中，第一测试箱包 括第二固定装置，第二固定装置包括设于第一左板上的第一固定结构和设于第一右板上的第二固定结构，第一固定结构和第二固定结构将第一电子学模块固定于第一测试箱内。在又一个方案中，第一固定结构包括第一薄板和第二薄板，第二固定结构包括第三薄板和第四薄板，第一电子学模块的两端分别插入由第一薄板、第二薄板限定的第一凹槽和由第三薄板、第四薄板限定的第二凹槽。在又一个方案中，第一左版上设有第一通孔，第一右板上设有第二通孔。在又一个方案中，第二测试箱包括将第二测试箱形成为具有第二光密闭空间的第二底板、第二前板、第二后板、第二左板、第二右板和第二顶板。在又一个方案中，第二测试箱包括第三固定装置，第三固定装置包括设于第二后板上的第三固定板和第四固定板，第三固定板、第四固定板和第二后板将第二探测器模块固定于第二测试箱内。在又一个方案中，第二测试箱包括第四固定装置，第四固定装置包括设于第二左板上的第三固定结构和设于第二右板上的第四固定结构，第三固定结构和第四固定结构将第二电子学模块固定于第二测试箱内。在又一个方案中，第三固定结构包括第五薄板和第六薄板，第四固定结构包括第七薄板和第八薄板，第二电子学模块的两端分别插入由第五薄板、第六薄板限定的第三凹槽和由第七薄板、第八薄板限定的第四凹槽。在又一个方案中，第二左板上设有第三通孔，第二右板上设有第四通孔。本实用新型提供的探测器模块测试装置，能够快速地安装PET设备的探测器模块和电子学模块，模拟PET设备中探测器模块和电子学模块的真实工作状态进行模块化测试，在安装到PET Gantry之前发现和解决探测器模块和电子学模块中存在的问题，能够降低测试人员的劳动强度、缩短探测器模块和电子学模块在PET设备上的调试时间以及提高测试效率。
图1是本实用新型的探测器模块测试装置的结构示意图；图2是本实用新型的探测器模块测试装置的俯视图；图3是本实用新型的基座的结构示意图；图4是本实用新型的第一测试箱和第二测试箱的结构示意图。
具体实施方式
下面，结合附图对本实用新型的探测器模块测试装置实施例加以描述。需要指出的是，这里所描述的实施例是为了使本领域的技术人员理解本实用新型提供的，并不能理解成是对本实用新型的限制。图1是本实用新型的探测器模块测试装置100的结构示意图。如图1所示，探测器模块测试装置100包括第一测试装置104、第二测试装置106和基座102。因为在PET设备中，探测器模块都是成对存在的，因此，探测器模块测试装置100包括第一测试装置104和第二测试装置106，这是为了模拟PET设备中探测器装置成对存在的真实工作环境。图2是本实用新型的探测器模块测试装置100的俯视图。如图2所示，第一测试装置104包括可用于容纳第一探测器模块114和第一电子学模块116的第一测试箱112。第二测试装置106包括可用于容纳第二探测器模块124和第二电子学模块126的第二测试箱 122。第一测试箱112和第二测试箱122由对Y射线吸收很少的材料构成，通常选用密度较小的材料，第一测试箱112和第二测试箱122的材料优选为木板或铝。由于第一测试箱112和第二测试箱122对Y射线吸收得少，第一探测器模块114和第二探测器模块124接收到的自然环境中的Y射线的计数率较多，测试时所用的时间较少，能提高测试效率。如果自然环境中的Y射线的计数率达不到设计要求，可以在第一测试装置104和第二测试装置106之间设有放射源以增加Y射线的计数率，进一步提高测试效率。在第一测试箱112和第二测试箱122的内部喷涂黑色哑光漆或粘黑色绒布，以减少光子在第一测试箱112和第二测试箱122内散射对测试信号的干扰。图3是本实用 新型的基座102的结构不意图。如图3所不，基座102包括基板202、导轨204和滑块206。第一测试装置104和第二测试装置106固定于基板202上，使第一探测器模块114和第二探测器模块124相对，以模拟PET设备中的真实工作环境。导轨204固定于基板202上，第一测试装置104和第二测试装置106分别通过相应的滑块206固定于导轨204上。第一测试装置104和第二测试装置106之间的距离通过滑块206在导轨204上滑动调节。在本实施例中，第一测试装置104和第二测试装置106分别通过四个滑块206固定于导轨204上。图4是本实用新型的第一测试箱112和第二测试箱122的结构示意图。如图4所示,第一测试箱112包括第一底板402、第一前板404、第一后板406、第一左板408、第一右板410和第一顶板412。第一底板402、第一前板404、第一后板406、第一左板408、第一右板410和第一顶板412形成第一光密闭空间，为第一探测器模块114和第一电子学模块116的测试提供光密闭的测试环境。第一测试箱112包括第一固定装置414，第一固定装置414包括设于第一后板406上的第一固定板416和第二固定板418，第二固定板418的形状优选为L型。第一固定板416、第二固定板418和第一后板406将第一探测器模块114固定于第一测试箱112内。第一测试箱112包括第二固定装置420，第二固定装置420包括设于第一左板408上的第一固定结构422和设于第一右板410上的第二固定结构424。第一固定结构422和第二固定结构424将第一电子学模块116固定于第一测试箱112内。[0037]进一步地，第一固定结构422包括第一薄板440和第二薄板426，第二固定结构424包括第三薄板428和第四薄板430。第一电子学模块116的两端分别插入由所述第一薄板440、第二薄板426限定的第一凹槽432和由第三薄板428、第四薄板430限定的第二凹槽434。进一步地,第一左板408上设有第一通孔436,第一右板410上设有第二通孔438,第一通孔436、第二通孔438通过管道与冷却系统相连。第一通孔436为进气孔，第二通孔438为出气孔,测试时需要启动冷却系统，向第一测试箱112内输入冷气，以确保测试的环境温度。当然，也可以做一个调换，第一通孔436为出气孔，第二通孔438为进气孔。如图4所示，第二测试箱122包括第二底板442、第二前板444、第二后板446、第二左板448、第二右板450和第二顶板452。第二底板442、第二前板444、第二后板446、第二左板448、第二右板450和第二顶板452形成第二光密闭空间，为第二探测器模块124和第二电子学模块126的测试提供光密闭的测试环境。第二测试箱122包括第三固定装置454，第三固定装置454包括设于第二后板446上的第三固定板456和第四固定板458,第四固定板458的形状优选为L型。第三固定板456、第四固定板458和第二后板446将第二探测器模块124固定于第二测试箱122内。第二测试箱122包括第四固定装置460，第四固定装置460包括设于第二左板448上的第三固定结构462和设于第二右板450上的第四固定结构464。第三固定结构462和第四固定结构464将第二电子学模块126固定于第二测试箱122内。进一步地，第三固定结构462包括第五薄板480和第六薄板466，第四固定结构464包括第七薄板468和第八薄板470。第二电子学模块126的两端分别插入由所述第五薄板480、第六薄板466限定的第三凹槽472和由第七薄板468、第八薄板470限定的第四凹槽474。
进一步地，第二左板448上设有第三通孔476，第二右板450上设有第四通孔478，第三通孔476、第四通孔478通过管道与冷却系统相连。第三通孔476为进气孔，第四通孔478为出气孔，测试时需要启动冷却系统，向第二测试箱122内输入冷气，以确保测试的环境温度。当然，也可以做一个调换，第三通孔476为出气孔，第四通孔478为进气孔。进行测试前，装配好第一探测器模块114、第一电子学模块116、第二探测器模块124和第二电子学模块126。然后将第一探测器模块114和第一电子学模块116用导线连接，将第二探测器模块124和第二电子学模块126用导线连接。第一固定装置414将第一探测器模块114固定于第一测试箱112内，第二固定装置420将第一电子学模块116固定于第一测试箱112内，通过第一通孔436和第二通孔438连接冷却管道。第三固定装置454将第二探测器模块124固定于第二测试箱122内，第四固定装置460将第二电子学模块126固定于第二测试箱122内，通过第三通孔476和第四通孔478连接冷却管道。通过滑块206将第一测试装置104和第二测试装置106固定于基板202上，以使第一探测器模块114和第二探测器模块116相对。通过移动滑块206调整第一测试装置104和第二测试装置106之间的距离，以使第一测试装置104和第二测试装置106之间的距离达到测试条件。在测试过程中出现问题时，打开第一测试箱112的第一顶板412或第二测试箱122的第二顶板452，取出第一探测器模块114与第一电子学模块116或第二探测器模块124与第二电子学模块126。检查出现问题的地方，并进行相应的调整，确认无误后再放入第一测试箱112或第二测试箱122内，重复以上操作，直至测试结束。该测试过程所耗时间比在PET Gantry上测试所用时间明显减少，而且操作方便。虽然本申请详细说明了本实用新型的优选的具体实施例，图示并描绘了本实用新型的某些优选特征，但是对于本领域的技术人员来说，只要原则上不背离本实用新型的新型特征和优点，可以对本实用新型做出许多变化和改进。因此，所提出的权利要求书将在本实用新型的真正构 思范围内覆盖所有这些变化和改进。
权利要求1.一种探测器模块测试装置，其特征在于:包括第一测试装置、第二测试装置和基座，所述第一测试装置包括可用于容纳第一探测器模块和第一电子学模块的第一测试箱； 所述第二测试装置包括可用于容纳第二探测器模块和第二电子学模块的第二测试箱； 所述基座包括基板，所述第一测试装置和所述第二测试装置相对布置且固定于所述基板上。
2.如权利要求1所述的探测器模块测试装置，其特征在于:所述基座还包括导轨和滑块，所述导轨固定于所述基板上，所述第一测试装置和所述第二测试装置分别通过相应的滑块固定于所述导轨上，所述第一测试装置和所述第二测试装置之间的距离通过所述滑块在所述导轨上滑动调节。
3.如权利要求1所述的探测器模块测试装置，其特征在于:所述第一测试装置和所述第二测试装置之间设有放射源。
4.如权利要求1所述的探测器模块测试装置，其特征在于:所述第一测试箱包括将所述第一测试箱形成为具有第一光密闭空间的第一底板、第一前板、第一后板、第一左板、第一右板和第一顶板。
5.如权利要求4所述的探测器模块测试装置，其特征在于:所述第一测试箱包括第一固定装置，所述第一固定装置包括设于所述第一后板上的第一固定板和第二固定板，所述第一固定板、所述第二固定板和所述第一后板将所述第一探测器模块固定于所述第一测试箱内。
6.如权利要求4所述的探测器模块测试装置，其特征在于:所述第一测试箱包括第二固定装置，所述第二固定装置包括设于所述第一左板上的第一固定结构和设于所述第一右板上的第二固定结构，所述第一固定结构和所述第二固定结构将所述第一电子学模块固定于所述第一测试箱内。
7.如权利要求6所述的探测器模块测试装置，其特征在于:所述第一固定结构包括第一薄板和第二薄板，所述第二固定结构包括第三薄板和第四薄板，所述第一电子学模块的两端分别插入由所述第一薄板、所述第二薄板限定的第一凹槽和由所述第三薄板、所述第四薄板限定的第二凹槽。
8.如权利要求4所述的探测器模块测试装置，其特征在于:所述第一左版上设有第一通孔，所述第一右板上设有第二通孔。
9.如权利要求1所述的探测器模块测试装置，其特征在于:所述第二测试箱包括将所述第二测试箱形成为具有第二光密闭空间的第二底板、第二前板、第二后板、第二左板、第二右板和第二顶板。
10.如权利要求9所述的探测器模块测试装置，其特征在于:所述第二测试箱包括第三固定装置，所述第三固定装置包括设于所述第二后板上的第三固定板和第四固定板，所述第三固定板、所述第四固定板和所述第二后板将所述第二探测器模块固定于所述第二测试箱内。
11.如权利要求9所述的探测器模块测试装置，其特征在于:所述第二测试箱包括第四固定装置，所述第四固定装置包括设于所述第二左板上的第三固定结构和设于所述第二右板上的第四固定结构，所述第三固定结构和所述第四固定结构将所述第二电子学模块固定于所述第二测试箱内。
12.如权利要求11所述的探测器模块测试装置，其特征在于:所述第三固定结构包括第五薄板和第六薄板，所述第四固定结构包括第七薄板和第八薄板，所述第二电子学模块的两端分别插入由所述第五薄板、所述第六薄板限定的第三凹槽和由所述第七薄板、所述第八薄板限定的第四凹槽。
13.如权利要求9所述的探测器模块测试装置，其特征在于:所述第二左板上设有第三通孔，所述第二右板上设·有第四通孔。
专利摘要本实用新型涉及一种探测器模块测试装置，包括第一测试装置、第二测试装置和基座，第一测试装置包括可用于容纳第一探测器模块和第一电子学模块的第一测试箱；第二测试装置包括可用于容纳第二探测器模块和第二电子学模块的第二测试箱；基座包括基板，第一测试装置和第二测试装置相对布置且固定于基板上。本实用新型提供的探测器模块测试装置能够降低测试人员的劳动强度、缩短探测器模块和电子学模块在PET设备上的调试时间以及提高测试效率。
文档编号G01R31/00GK203149126SQ20132004736
公开日2013年8月21日 申请日期2013年1月29日 优先权日2013年1月29日
发明者覃伯奇 申请人:上海联影医疗科技有限公司