一种低压负载试验的阻抗装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种低压负载试验的阻抗装置，串接于电器产品的试验回路中进行负载调节，所述试验回路具有两个接入点，所述阻抗装置包括一个或串联连接的多个阻抗单元和用于承载所述阻抗单元的柜体，所述阻抗单元包括第一连接端、N个阻抗元件、N+1个切换端、第二连接端以及大电流旋转开关；所述柜体设置有面板；所述大电流旋转开关包括分别设置于所述面板上的N+1个静触头座和切换连接所述N+1个静触头的动触头座。每个阻抗装置可以调节出多个阻抗值，满足多种电器的试验回路的阻抗值的要求，且该低压负载试验的阻抗装置采用大电流的大电流旋转开关，最高能够承受50kA，4s的热稳定电流，解决了国内没有此类大电流旋转开关配套的问题。
【专利说明】一种低压负载试验的阻抗装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种阻抗装置，具体涉及一种低压负载试验的阻抗装置。
【背景技术】
[0002]电器试验是对电器在正常工作和故障情况下所应具备的各种性能的验证，高低压电器品种多，用途广，使用情况复杂，在各种自然环境条件下，受电、机械力和发热等因素的综合作用较多，因此对其性能指标和工作的可靠性，必须用验证的方法进行。
[0003]电器试验时设计和制造电器过程中不可缺少的一个重要环节，对不断改进产品和发展新产品具有特别重要的意义，现有的电器试验分为高压电器试验和低压电器试验，无论是高压电器还是低压电器都具有多种不同的规格和性能参数要求，因此在对不同种类规格的电器进行试验时往往需要设计多种试验回路，每种回路设计不同的阻抗装置，因此就必须设计并制作很多阻抗装置，不但需要大量的资金和试验场地，而且需要频繁更换试验回路，不符合环保和节能的要求。另外由于低压电器的电流较高，容易产生火花，国内目前还没有与低压电器的试验相配套的切换开关。
实用新型内容
[0004]本实用新型所要解决的技术问题是提供一种可在电器产品试验时用于调节试验电流、功率因数及时间常数的低压负载试验的阻抗装置。
[0005]本实用新型通过以下的技术方案来实现:一种低压负载试验的阻抗装置，串接于电器产品的试验回路中进行负载调节，所述试验回路具有两个接入点，所述阻抗装置包括一个或串联连接的多个阻抗单元和用于承载所述阻抗单元的柜体，所述阻抗单元包括第一连接端、N个阻抗元件、N+1个切换端、第二连接端以及大电流旋转开关；所述柜体设置有面板；所述大电流旋转开关包括分别设置于所述面板上的N+1个静触头座和切换连接所述N+1个静触头的动触头座；所述第一连接端和N个阻抗元件依次串联连接；所述N+1个切换端分别连接于所述第一连接端和所述N个阻抗元件的输出侧并且对应连接所述N+1个静触头座；所述第二连接端连接所述动触头座并且连接其中一个所述接入点或相邻所述阻抗单元的第一连接端或第二连接端；所述第一连接端连接另外一个所述接入点或相邻所述阻抗单元的第一连接端或第二连接端。
[0006]进一步的,所述静触头座包括固定设置于所述面板上的静触头,所述动触头座包括可分别在平行和垂直于所述面板的平面内旋转的动触头；N+1个所述静触头设置于所述动触头在平行于所述面板的平面内的旋转轨迹上；每个所述静触头设置于所述动触头在垂直于所述面板的平面内的旋转轨迹上；所述动触头切换接触连接所述N+1个静触头。
[0007]进一步的,所述第二连接端通过连接铜排连接其中一个所述接入点或相邻所述阻抗单元的第一连接端或第二连接端；所述第一连接端通过连接铜排连接另外一个所述接入点或相邻所述阻抗单元的第一连接端或第二连接端。
[0008]进一步的，每个所述阻抗单元中的阻抗元件为电感元件和/或电阻元件，相邻所述阻抗单元中的阻抗元件均为电感元件或均为电阻元件或分别为电感元件和电阻元件。
[0009]进一步的，所述电阻元件设置有电阻片夹持结构。
[0010]采用以上技术方案的有益效果如下。
[0011]低压负载试验的阻抗装置作为低压电器通断能力、动热稳定试验及电寿命试验的调节负载，广泛应用于电器实验室、科研院所、质量监督检验中心和企业研发中心、试验站等，它串接于高、低压电器产品的试验回路中，在交流电器试验时用于调节试验电流及功率因数，在直流电器试验时用于调节试验电流及时间常数；每个阻抗装置可以调节出多个阻抗值，满足多种电器的试验回路的阻抗值的要求，且该低压负载试验的阻抗装置采用大电流的大电流旋转开关，最闻能够承受:50kA,4s的热稳定电流，解决了国内没有此类大电流旋转开关配套的问题。
[0012]分别设置的动触头座和动触头座，可以实现动触头分别在平行和垂直于面板的平面内的旋转，不但保证了动触头可切换连接多个静触头，而且可实现动触头与静触头的卡接牢固。
【专利附图】
【附图说明】
[0013]图1为本实用新型公开的低压负载实验的阻抗装置实施例1和实施例2的主视图；
[0014]图2为本实用新型公开的低压负载实验的阻抗装置实施例1的左视图；
[0015]图3为本实用新型公开的低压负载实验的阻抗装置实施例1的电路图；
[0016]图4为本实用新型公开的低压负载实验的阻抗装置实施例2的左视图；
[0017]图5为本实用新型公开的低压负载实验的阻抗装置实施例2的电路图；
[0018]图6为本实用新型公开的低压负载实验的阻抗装置实施例3和实施例4的主视图；
[0019]图7为本实用新型公开的低压负载实验的阻抗装置实施例3的左视图；
[0020]图8为本实用新型公开的低压负载实验的阻抗装置实施例3的电路图；
[0021]图9为本实用新型公开的低压负载实验的阻抗装置实施例4的左视图；
[0022]图10为本实用新型公开的低压负载实验的阻抗装置实施例4的电路图；
[0023]图11为本实用新型公开的低压负载实验的阻抗装置实施例5的主视图；
[0024]图12为本实用新型公开的低压负载实验的阻抗装置实施例5的左视图；
[0025]图13为本实用新型公开的低压负载实验的阻抗装置实施例5的电路图。
[0026]其中，1.试验回路 11.接入点 21.第一连接端 22.电感元件 23.切换端24.第二连接端25.分流电阻26.电阻元件3.柜体31.面板 P.连接铜排 K01、Κ1、Κ2、Κ3、Κ02、Κ4、Κ5、Κ6、Κ03、Κ7、Κ8、Κ9、Κ04、Κ10、Κ11、Κ12.静触头 D1、D2.动触头。
【具体实施方式】
[0027]下面结合附图详细说明本实用新型的优选实施方式。
[0028]实施例1
[0029]参见图1、图2以及图3，如其中的图例所示，一种低压负载试验的阻抗装置，串接于电器产品的试验回路I中进行负载调节，试验回路I具有两个接入点11，上述阻抗装置包括一个阻抗单元和用于承载该阻抗单元的一柜体3，阻抗单元包括一个第一连接端21、三个电感元件22、四个切换端23、一个第二连接端24以及一大电流旋转开关，柜体3设置有一面板31，上述大电流旋转开关包括分别设置于面板31上的四个静触头座和一个切换连接上述四个静触头座的动触头座，第一连接端21和三个电感元件22依次串联连接；四个切换端23分别连接于第一连接端21和三个电感元件22的输出侧并且对应连接四个静触头座；第二连接端24连接动触头座并且并且连接其中一个接入点11 ;第一连接端21连接另外一个接入点11。
[0030]每个电感元件22上并联一个分流电阻26。
[0031]上述四个静触头座对应包括固定设置于面板31上的静触头K01、静触头K1、静触头K2以及静触头K3，上述动触头座包括可分别在平行和垂直于面板31的平面内旋转的动触头D ;静触头KO1、静触头K1、静触头K2以及静触头K3设置于动触D在平行于面板31的平面内的旋转轨迹上；触头K01、静触头K1、静触头K2以及静触头K3分别设置于动触头D在垂直于面板31的平面内的旋转轨迹上；动触头D切换接触连接静触头K01、静触头K1、静触头K2以及静触头K3。
[0032]上述第一连接端21和第二连接端24分别通过连接铜排P对应连接两个接入点11。
[0033]上述三个电感元件22的电感分别为1L、2L以及3L，当动触头Dl与静触头KOl接触时，没有电感元件被接入试验回路I中，当动触头Dl与静触头Kl接触时，电感元件22(1L)被接入试验回路I中，当动触头Dl与静触头K2接触时，电感元件22 (2L)被接入试验回路I中，当动触头Dl与静触头K3接触时，电感元件22 (3L)被接入试验回路I中。
[0034]试验回路I的阻抗值根据接入的电感元件22确定。
[0035]静触头K01、静触头K1、静触头K2、静触头K3和动触头Dl均安装于面板31的外侦牝其余部件收纳并安装于柜体3的内部空间中。
[0036]本实施例中的低压负载试验的阻抗装置作为低压电器通断能力、动热稳定试验及电寿命试验的调节负载，广泛应用于电器实验室、科研院所、质量监督检验中心和企业研发中心、试验站等，它串接于高、低压电器产品的试验回路中，在交流电器试验时用于调节试验电流及功率因数，在直流电器试验时用于调节试验电流及时间常数；每个阻抗装置可以调节出多个阻抗值，满足多种电器的试验回路的阻抗值的要求，且该低压负载试验的阻抗装置采用大电流的大电流旋转开关，最高能够承受50kA，4s的热稳定电流，解决了国内没有此类大电流旋转开关配套的问题。
[0037]实施例2
[0038]参见图1、图4以及图5,如其中的图例所示,其余与所述实施例1相同,不同之处在于，电感元件替换为电阻元件26,电阻元件26不需并联上述分流电阻25。
[0039]上述三个电阻元件26的电阻分别为1R、2R以及3R，当动触头Dl与静触头KOl接触时，没有电阻元件被接入试验回路中，当动触头Dl与静触头Kl接触时，电阻元件26(1R)被接入试验回路中，当动触头Dl与静触头K2接触时，电阻元件26(2R)被接入试验回路中，当动触头Dl与静触头K3接触时，电阻元件26 (3R)被接入试验回路I中。
[0040]试验回路I的阻抗值根据接入的电阻元件26确定。
[0041]实施例3[0042]参见图6、图7以及图8，如其中的图例所示，其余与所述实施例1相同，不同之处在于，上述阻抗装置包括串联连接的两个阻抗单元。
[0043]第一个阻抗单元的三个电感元件22的电感分别为1L、2L以及3L，第二个阻抗元件的三个电感元件22的电感分别为4L、5L以及6L，第一个阻抗单元的第一连接端21通过连接铜排P连接其中一个接入点11，第一个阻抗单元的第二连接端24通过连接铜排P连接第二个阻抗单元的第一连接端21，第二个阻抗单元的第二连接端24通过连接铜排P连接另一个接入点11。
[0044]对于第一个阻抗单元来说，当动触头Dl与静触头KOl接触时，没有电感元件被接入试验回路I中，当动触头Dl与静触头Kl接触时，电感元件22(1L)被接入试验回路I中，当动触头Dl与静触头K2接触时，电感元件22 (2L)被接入试验回路I中，当动触头Dl与静触头K3接触时，电感元件22 (3L)被接入试验回路I中。
[0045]对于第二个阻抗单元来说，当动触头D2与静触头K02接触时，被接入试验回路I中，当动触头D2与静触头K4接触时，电感元件22 (4L)被接入试验回路I中，当动触头D2与静触头K5接触时，电感元件22 (5L)被接入试验回路I中，当动触头D2与静触头K6接触时，电感元件22 (6L)被接入试验回路I中。
[0046]对于整个试验回路I来说，试验回路I的阻抗值根据第一个阻抗单元和第二个阻抗单元的阻抗值的总和确定。
[0047]实施例4
[0048]参见图6、图9以及图10,如其中的图例所示,其余与所述实施例2相同,不同之处在于，上述阻抗装置包括串联连接的两个阻抗单元。
[0049]第一个阻抗单元的三个电阻元件26的电阻分别为1R、2R以及3R，第二个阻抗元件的三个电阻元件26的电阻分别为4R、5R以及6R，第一个阻抗单元的第一连接端21通过连接铜排P连接其中一个接入点11，第一个阻抗单元的第二连接端24通过连接铜排P连接第二个阻抗单元的第一连接端21，第二个阻抗单元的第二连接端24通过连接铜排P连接另一个接入点11。
[0050]对于第一个阻抗单元来说，当动触头Dl与静触头KOl接触时，没有电阻元件被接入试验回路I中，当动触头Dl与静触头Kl接触时，电阻元件26( IR)被接入试验回路I中，当动触头Dl与静触头K2接触时，电阻元件26 (2R)被接入试验回路I中，当动触头Dl与静触头K3接触时，电阻元件26 (3R)被接入试验回路I中。
[0051]对于第二个阻抗单元来说，当动触头D2与静触头K02接触时，被接入试验回路I中，当动触头D2与静触头K4接触时，电阻元件26 (4R)被接入试验回路I中，当动触头D2与静触头K5接触时，电阻元件26 (5R)被接入试验回路I中，当动触头D2与静触头K6接触时，电阻元件26 (6R)被接入试验回路I中。
[0052]对于整个试验回路I来说，试验回路I的阻抗值根据第一个阻抗单元和第二个阻抗单元的阻抗值的总和确定。
[0053]实施例5
[0054]参见图11-图13，如其中的图例所示，本实施例中的阻抗装置包括两个阻抗装置。
[0055]第一个阻抗装置包括四个阻抗单元，第一个阻抗装置的第一个阻抗单元的三个电感元件22的电感分别为1L、2L以及3L，第一个阻抗装置的第二个阻抗元件的三个电感元件22的电感分别为4L、 5L以及6L，第一个阻抗装置的第三个阻抗元件的三个电感元件22的电感分别为7L、8L以及9L，第一个阻抗装置的第四个阻抗元件的三个电感元件22的电感分别为IOLUlL以及12L，第一个阻抗装置的第一个阻抗单元的第一连接端21通过连接铜排P连接其中一个接入点11，第一个阻抗装置的第一个阻抗单元的第二连接端24通过连接铜排P连接第一个阻抗装置的第二个阻抗单元的第一连接端21，第一个阻抗装置的第二个阻抗单元的第二连接端24通过连接铜排P连接第一个阻抗装置的第三个阻抗单元的第一连接端21，第一个阻抗装置的第三个阻抗单元的第二连接端24通过连接铜排P连接第一个阻抗装置的第四个阻抗单元的第一连接端21。
[0056]对于第一个阻抗装置来说，静触头K01、静触头K1、静触头K2、静触头K3、静触头K02、静触头K4、静触头K5、静触头K6、静触头K03、静触头K7、静触头K8、静触头K9、静触头K04、静触头K10、静触头KU、静触头K12分别对应连接于第一个阻抗装置的第一个阻抗单元的第一连接端、电感元件22 (1L)、电感元件22 (2L)、电感元件22 (3L)、第一个阻抗装置的第二个阻抗单元的第一连接端、电感元件22 (4L)、电感元件22 (5L)、电感元件22 (6L)、第一个阻抗装置的第三个阻抗单元的第一连接端、电感元件22 (7L)、电感元件22 (8L)、电感元件22 (9L)、第一个阻抗装置的第四个阻抗单元的第一连接端、电感元件22 (10L)、电感元件22 (11L)、电感元件22 (12L)的输出侧的切换端上。
[0057]对于第一个阻抗装置的第一个阻抗单元来说，当动触头Dl与静触头KOl接触时，没有电感元件被接入试验回路I中，当动触头Dl与静触头Kl接触时，电感元件22 (IL)被接入试验回路I中，当动触头Dl与静触头K2接触时，电感元件22 (2L)被接入试验回路I中，当动触头Dl与静触头K3接触时，电感元件22 (3L)被接入试验回路I中。
[0058]对于第一个阻抗装置的第二个阻抗单元来说，当动触头D2与静触头K02接触时，没有电感元件被接入试验回路I中，当动触头D2与静触头K4接触时，电感元件22 (4L)被接入试验回路I中，当动触头D2与静触头K5接触时，电感元件22 (5L)被接入试验回路I中，当动触头D2与静触头K6接触时，电感元件22 (6L)被接入试验回路I中。
[0059]对于第一个阻抗装置的第三个阻抗单元来说，当动触头D3与静触头K03接触时，没有电感元件被接入试验回路I中，当动触头D3与静触头K7接触时，电感元件22 (7L)被接入试验回路I中，当动触头D3与静触头K8接触时，电感元件22 (8L)被接入试验回路I中，当动触头D3与静触头K9接触时，电感元件22 (9L)被接入试验回路I中。
[0060]对于第一个阻抗装置的第四个阻抗单元来说，当动触头D4与静触头K04接触时，被接入试验回路I中，当动触头D4与静触头KlO接触时，电感元件22 (IOL)被接入试验回路I中，当动触头D4与静触头Kll接触时，电感元件22 (IlL)被接入试验回路I中，当动触头D4与静触头K12接触时，电感元件22 (12L)被接入试验回路I中。
[0061]上述第一个阻抗装置的阻抗值根据第一个阻抗装置的第一个阻抗单元、第一个阻抗装置的第二个阻抗单元、第一个阻抗装置的第三个阻抗单元以及第一个阻抗装置的第四个阻抗单元的阻抗值之和确定。
[0062]第二个阻抗装置包括四个阻抗单元，第二个阻抗装置的第一个阻抗单元的两个电阻元件26的电阻分别为IR和2R，第二个阻抗装置的第二个阻抗元件的两个电阻元件26的电阻分别为3R和4R，第二个阻抗装置的第三个阻抗元件的三个电阻元件26的电阻分别为5R、6R以及7R，第二个阻抗装置的第四个阻抗元件的三个电阻元件26的电阻分别为8R、9R以及10R，第二个阻抗装置的第一个阻抗单元的第一连接端21通过连接铜排P连接其中一个接入点11，第二个阻抗装置的第一个阻抗单元的第二连接端24通过连接铜排P连接第二个阻抗装置的第二个阻抗单元的第一连接端21，第二个阻抗装置的第二个阻抗单元的第二连接端24通过连接铜排P连接第二个阻抗装置的第三个阻抗单元的第一连接端21，第二个阻抗装置的第三个阻抗单元的第二连接端24通过连接铜排P连接第二个阻抗装置的第四个阻抗单元的第一连接端21。
[0063]对于第二个阻抗装置来说，静触头K01、静触头K1、静触头K2、静触头K3、静触头K02、静触头K4、静触头K5、静触头K6、静触头K03、静触头K7、静触头K8、静触头K9、静触头K04以及静触头KlO分别对应连接于第二个阻抗装置的第二个阻抗单元的第一连接端、电阻元件26 (IR)、电阻元件26 (2R)、第二个阻抗装置的第二个阻抗单元的第一连接端、电阻元件26 (3R)、电阻元件26 (4R)、第二个阻抗装置的第三个阻抗单元的第一连接端、电阻元件26 (5R)、电阻元件26 (6R)、电阻元件26 (7R)、第二个阻抗装置的第四个阻抗单元的第一连接端、电阻元件26 (8R)、电阻元件26 (9R)、电阻元件26 (10R)的输出侧的切换端上。
[0064]对于第二个阻抗装置的第一个阻抗单元来说，当动触头Dl与静触头KOl接触时，没有电阻元件被接入试验回路中，当动触头Dl与静触头Kl接触时，电阻元件26 (IR)被接入试验回路中，当动触头Dl与静触头K2接触时，电阻元件26 (2R)被接入试验回路中。
[0065]对于第二个阻抗装置的第二个阻抗单元来说，当动触头D2与静触头K02接触时，没有电阻元件被接入试验回路中，当动触头D2与静触头K3接触时，电阻元件26 (3R)被接入试验回路中，当动触头D2与静触头K4接触时，电阻元件26 (4R)被接入试验回路中。
[0066]对于第二个阻抗装置的第三个阻抗单元来说，当动触头D3与静触头K03接触时，没有电阻元件被接入试验回路中，当动触头D3与静触头K5接触时，电阻元件26 (5R)被接入试验回路中，当动触头D3与静触头K6接触时，电阻元件26 (6R)被接入试验回路中，当动触头D3与静触头K7接触时，电阻元件26 (7R)被接入试验回路中。
[0067]对于第二个阻抗装置的第四个阻抗单元来说，当动触头D3与静触头K03接触时，没有电阻元件被接入试验回路中，当动触头D4与静触头K8接触时，电阻元件26 (8R)被接入试验回路中，当动触头D3与静触头K9接触时，电阻元件26 (9R)被接入试验回路中，当动触头D3与静触头KlO接触时，电阻元件26 (10R)被接入试验回路中。
[0068]上述第二个阻抗装置的阻抗值根据第二个阻抗装置的第一个阻抗单元、第二个阻抗装置的第二个阻抗单元、第二个阻抗装置的第三个阻抗单元以及第二个阻抗装置的第四个阻抗单元的阻抗值之和确定。
[0069]第二个阻抗装置的第四个阻抗单元的第二连接端24通过连接铜排P连接第一个阻抗装置的第四个阻抗单元的第二连接端24，上述阻抗装置的阻抗值为第一个阻抗装置的阻抗值与第二个阻抗装置的阻抗值之和。
[0070]上述阻抗装置和阻抗单元的设置根据具体情况设置，其多种设置情况均属于本实用新型的保护范围。
[0071]实施例7
[0072]其余与所述实施例2、4以及5相同，不同之处在于，上述电阻元件设置有电阻片夹持结构，电阻片夹持结构详见专利号为2011 2 0391117.9的专利，在此不再详述。
[0073]以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种低压负载试验的阻抗装置，串接于电器产品的试验回路中进行负载调节，所述试验回路具有两个接入点，其特征在于，所述阻抗装置包括一个或串联连接的多个阻抗单元和用于承载所述阻抗单元的柜体，所述阻抗单元包括第一连接端、N个阻抗元件、N+1个切换端、第二连接端以及大电流旋转开关；所述柜体设置有面板；所述大电流旋转开关包括分别设置于所述面板上的N+1个静触头座和切换连接所述N+1个静触头的动触头座；所述第一连接端和N个阻抗元件依次串联连接；所述N+1个切换端分别连接于所述第一连接端和所述N个阻抗元件的输出侧并且对应连接所述N+1个静触头座；所述第二连接端连接所述动触头座并且连接其中一个所述接入点或相邻所述阻抗单元的第一连接端或第二连接端；所述第一连接端连接另外一个所述接入点或相邻所述阻抗单元的第一连接端或第二连接端。
2.根据权利要求1所述的阻抗装置，其特征在于，所述静触头座包括固定设置于所述面板上的静触头，所述动触头座包括可分别在平行和垂直于所述面板的平面内旋转的动触头；N+1个所述静触头设置于所述动触头在平行于所述面板的平面内的旋转轨迹上；每个所述静触头设置于所述动触头在垂直于所述面板的平面内的旋转轨迹上；所述动触头切换接触连接所述N+1个静触头。
3.根据权利要求1或2所述的阻抗装置，其特征在于，所述第二连接端通过连接铜排连接其中一个所述接入点或相邻所述阻抗单元的第一连接端或第二连接端；所述第一连接端通过连接铜排连接另外一个所述接入点或相邻所述阻抗单元的第一连接端或第二连接端。
4.根据权利要求3所述的阻抗装置，其特征在于，每个所述阻抗单元中的阻抗元件为电感元件和/或电阻元件，相邻所述阻抗单元中的阻抗元件均为电感元件或均为电阻元件或分别为电感元件和电阻元件。
5.根据权利要求4所述的阻抗装置，其特征在于，所述电阻元件设置有电阻片夹持结构。
【文档编号】G01R1/20GK203422400SQ201320548237
【公开日】2014年2月5日 申请日期:2013年9月5日 优先权日:2013年9月5日
【发明者】高亦南, 林方, 周雪良 申请人:苏州安泰变压器有限公司