双max6816器件单次测试适配器的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种双MAX6816器件单次测试适配器，包括：通用测试母板和专用测试子板；所述专用测试子板与通用测试母板连接；所述通用测试母板与测试系统连接；被测的两个MAX6816器件分别与所述专用测试子板连接，并利用所述专用测试子板通过通用测试母板连接测试系统的直流电源、直流输入V/I源、时间测量单元和数字输出捕获单元；本实用新型提拱的双MAX6816器件单次测试适配器，其设计简洁，使用方便，并在一定程度上提高了MAX6816器件的测试效率。
【专利说明】双MAX6816器件单次测试适配器
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电子器件测试【技术领域】，特别是指一种双MAX6816器件单次测试适配器。
【背景技术】
[0002]MAX6816器件是一种常用的CMOS开关，其应用领域非常广泛；现有的MAX6816器件测试方法中只有一对一的测试适配器用于测试MAX6816器件，这种测试适配器每次只能测试一个MAX6816器件，效率较低。
实用新型内容
[0003]有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种双MAX6816器件单次测试适配器，其设计简洁，使用方便，并在一定程度上提高了 MAX6816器件的测试效率。
[0004]基于上述目的本实用新型提供的一种双MAX6816器件单次测试适配器，包括:通用测试母板和专用测试子板；所述专用测试子板与通用测试母板连接；所述通用测试母板与测试系统连接；被测的两个MAX6816器件分别与所述专用测试子板连接，并利用所述专用测试子板通过通用测试母板连接测试系统的直流电源、直流输入V/I源、时间测量单元和数字输出捕获单元。
[0005]在一些实施方式中，所述的通用测试母板包括直流电源接口、直流输入V/I源接口、数字信号输出捕获接口、母板SMA接口，分别与测试系统的用于提供直流电源、直流输A V/I源、数字输出捕获单元和时间测量单元的引脚连接。
[0006]在一些实施方式中，所述专用测试子板通过插针和SMA连接器与所述通用测试母板连接，所述被测的两个MAX6816器件通过专用插座与所述专用测试子板连接；所述被测的两个MAX6816器件则通过专用测试子板的插针连接所述测试系统的直流电源、直流输入V/I源、数字输出捕获单元，通过专用测试子板上的SMA连接器连接所述测试系统的时间测
量单元。
[0007]在一些实施方式中，所述被测的两个MAX6816器件通过一个单刀双掷开关连接到所述SMA连接器。
[0008]从上面所述可以看出，本实用新型提供的双MAX6816器件单次测试适配器，能够在大规模集成电路测试系统上实现在一块专用测试子板上同时测试两个MAX6816器件电参数的硬件设计，通过设计MAX6816器件的专用测试子板，解决了两个MAX6816器件同时进行电参数的测试问题。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1为本实用新型提供的双MAX6816器件单次测试适配器实施例的总连接结构示意图；
[0010]图2为本实用新型提供的双MAX6816器件单次测试适配器实施例的通用测试母板与专用测试子板的连接结构示意图。
【具体实施方式】
[0011]为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。
[0012]需要说明的是，本实用新型实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一” “第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本实用新型实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
[0013]参照附图1和附图2，分别为本实用新型提供的双MAX6816器件单次测试适配器实施例的总连接结构示意图和通用测试母板与专用测试子板的连接结构示意图。
[0014]所述MAX6816器件为4引脚(电源VCC、地GND、输入IN、输出OUT)单端CMOS开关。
[0015]所述双MAX6816器件单次测试适配器，包括:通用测试母板和专用测试子板；所述专用测试子板与通用测试母板连接；所述通用测试母板与测试系统连接；被测的第一MAX6816器件DUTl和第二 MAX6816器件DUT2分别与所述专用测试子板连接，并利用所述专用测试子板通过通用测试母板连接测试系统的直流电源、直流输入V/I源、时间测量单元和数字输出捕获单元。
[0016]所述的通用测试母板包括直流电源接口、直流输入V/I源接口、数字信号输出捕获接口、母板SMA接口，分别与测试系统的用于提供直流电源、直流输入V/I源、数字输出捕获单元和时间测量单元的引脚连接。所述直流电源为测试系统提供的小功率电压电流源，为被测MAX6816器件提供工作电源电压；所述直流输入V/I源为系统提供的可编程电压电流源，为被测MAX6816器件提供输入激励电压；所述数字输出捕获单元为测试系统提供用于捕获被测MAX6816器件的输出信号，其内部可通过编程连接到系统的时间测量单元，以测量相关时间参数；
[0017]所述专用测试子板通过插针和SMA连接器与所述通用测试母板连接，所述被测的第一 MAX6816器件DUTl和第二 MAX6816器件DUT2分别通过专用插座与所述专用测试子板连接；所述被测的第一 MAX6816器件DUTl和第二 MAX6816器件DUT2则通过所述专用测试子板的插针连接所述测试系统的直流电源、直流输入V/I源、数字输出捕获单元。
[0018]所述被测的第一 MAX6816器件DUTl和第二 MAX6816器件DUT2通过一个单刀双掷开关Kl连接到所述SMA连接器；通过专用测试子板上的SMA连接器经所述母板SMA接口连接至测试系统的时间测量单元。所述单刀双掷开关Kl用于所述被测的第一 MAX6816器件DUTl和第二MAX6816器件DUT2的输入信号到测试系统的时间测量单元，以便测试相关时间参数。
[0019]所述双MAX6816器件单次测试适配器，根据定制的专用测试插座，设计专用测试子板，将测试插座焊接到专用测试子板上，并通过外围电路与测试系统的测试母板相连，测试系统通过弹簧顶针连接至测试母板，从而为MAX6816器件的测试提供所需资源(直流电源、直流输入V/I源、数字输出捕获单元和时间测量单元等)。所述专用测试子板要能够同时放置两个MAX6816器件，并相互独立。测试软件能够在运行一次的情况下，测试到两个MAX6816的全部电参数。
[0020]为了满足设计能够在运行一次测试程序时测到两个MAX6816器件电参数的要求，两个MAX6816器件都分别连接到相互独立的测试系统资源，并在测试程序中分别设置两个MAX6816器件相应的测试系统资源配置，保证每个管脚的参数测试要求。
[0021]从上述实施例可以看出，本实用新型提供的双MAX6816器件单次测试适配器，考虑到测试适配器的适用性，测试适配器可以同时放置两个MAX6816器件，并相互独立，在测试时只需运行一次测试程序，就可以测试两个MAX6816器件的电参数，并且测试程序可以在有一个器件的任何一个参数不符合要求时，可以方便准确的指出是哪一个器件，从而剔除失效品。因此可以有效的节省测试人员的工作时间，并节省成本。
[0022]本实用新型提供的双MAX6816器件单次测试适配器，突破了传统一适配器一器件的连接方式，将被测器件的测试适配器设计为可同时放置多个器件的方式，通过资源切换和程序的编写，保证两种器件的测试效果，达到了节省测试时间和成本的效果。
[0023]所属领域的普通技术人员应当理解:以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种双MAX6816器件单次测试适配器，其特征在于，包括:通用测试母板和专用测试子板；所述专用测试子板与通用测试母板连接；所述通用测试母板与测试系统连接；被测的两个MAX6816器件分别与所述专用测试子板连接，并利用所述专用测试子板通过通用测试母板连接测试系统的直流电源、直流输入V/I源、时间测量单元和数字输出捕获单元。
2.根据权利要求1所述的测试适配器，其特征在于，所述的通用测试母板包括直流电源接口、直流输入V/I源接口、数字信号输出捕获接口、母板SMA接口，分别与测试系统的用于提供直流电源、直流输入V/I源、数字输出捕获单元和时间测量单元的引脚连接。
3.根据权利要求2所述的测试适配器，其特征在于，所述专用测试子板通过插针和SMA连接器与所述通用测试母板连接，所述被测的两个MAX6816器件通过专用插座与所述专用测试子板连接；所述被测的两个MAX6816器件则通过专用测试子板的插针连接所述测试系统的直流电源、直流输入V/I源、数字输出捕获单元，通过专用测试子板上的SMA连接器连接所述测试系统的时间测量单元。
4.根据权利要求3所述的测试适配器，其特征在于，所述被测的两个MAX6816器件通过一个单刀双掷开关连接到所述SMA连接器。
【文档编号】G01R31/327GK203535192SQ201320602469
【公开日】2014年4月9日 申请日期:2013年9月24日 优先权日:2013年8月28日
【发明者】刘路扬 申请人:航天科工防御技术研究试验中心