一种千分尺弓架弯曲变形校正工装的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种千分尺弓架弯曲变形校正工装，其特征在于加力绞手把与显示数据微分筒垂直固定，通过固定套筒与非旋转芯轴式微分头连接，非旋转芯轴式微分头穿过框架的一侧上设有的通孔；另一个加力绞手把与另一个显示数据微分筒垂直固定，通过另一个固定套筒与另一个非旋转芯轴式微分头连接，非旋转芯轴式微分头穿过框架的另一侧上设有的通孔；所述的两个非旋转芯轴式微分头穿过各自的通孔后形成90度；在框架的一侧设有两个支撑螺柱，两个支撑螺柱的轴向与其中一个非旋转芯轴式微分头形成垂直状态。本实用新型使校正过程有了量的控制。将原有的无显示校正提高至有量控制的校正。而且有标准检测样板进行检测，比原检测方法快速准确。
【专利说明】一种千分尺弓架弯曲变形校正工装
【技术领域】
[0001]本发明属于机械维修装置，涉及一种千分尺弓架弯曲变形校正工装。
【背景技术】
[0002]现有技术中，对于千分尺弓架弯曲变形校正，采用铜垫块将千分尺弓架垫起，呈悬空状态，然后在对面，用木条或铜条垫上采用榔头敲击，以达到千分尺弓架弯曲变形校正的目的。
[0003]现有技术的维修非常不简便，而且校正精度有限。
【发明内容】
[0004]要解决的技术问题
[0005]为了避免现有技术的不足之处，本发明提出一种千分尺弓架弯曲变形校正工装。
[0006]技术方案
[0007]一种千分尺弓架弯曲变形校正工装，其特征在于包括框架、两个支撑螺柱、两个非旋转芯轴式微分头、两个加力绞手把、两个显示数据微分筒、两个固定套筒、3个垫块和检具；加力绞手把与显示数据微分筒垂直固定，通过固定套筒与非旋转芯轴式微分头连接，非旋转芯轴式微分头穿过框架的一侧上设有的通孔；另一个加力绞手把与另一个显示数据微分筒垂直固定，通过另一个固定套筒与另一个非旋转芯轴式微分头连接，非旋转芯轴式微分头穿过框架的另一侧上设有的通孔；所述的两个非旋转芯轴式微分头穿过各自的通孔后形成90度；在框架的一侧设有两个支撑螺柱，两个支撑螺柱的轴向与其中一个非旋转芯轴式微分头形成垂直状态；3个垫块置入在框架空间内，分别用于非旋转芯轴式微分头、框架与千分尺弓架之间。
[0008]所述两个非旋转芯轴式微分头的规格为Φ6.5和Φ8。
[0009]有益效果
[0010]本发明提出的一种千分尺弓架弯曲变形校正工装，采用两个分布在垂直方向上的非旋转芯轴式微分头作为加力装置，使校正过程有了量的控制。将原有的无显示校正提高至有量控制的校正。而且有标准检测样板进行检测，比原检测方法快速准确。
【专利附图】
【附图说明】
[0011]图1是校正工装结构用于校正弓架窄面时的示意图；
[0012]图2是校正工装结构用于校正弓架宽面时的示意图；
[0013]图3是检具用于校正弓架宽面时的示意图。
[0014]其中，1-千分尺弓架、2-框架、3-微分头套筒、4-垫块、5-支撑螺柱、6-测头、7-通孔、8-微分头、9-千分尺固定测砧、10-微分筒、11-绞手把、12-专用检具、13-间隙、14-固
定套筒。【具体实施方式】
[0015]现结合实施例、附图对本发明作进一步描述:
[0016]本实施例包括框架2，两个支撑螺柱5，两个非旋转芯轴式微分头8，两个穿过微分头8的通孔7，加力绞手把11，显示数据微分筒10和固定套筒14，3个垫块4，用于检测弓架弯曲变形方向的专用检具12;采用的两个非旋转芯轴式微分头的规格为Φ6.5和Φ8。
[0017]连接关系为:加力绞手把与显示数据微分筒垂直固定，通过固定套筒与非旋转芯轴式微分头连接，非旋转芯轴式微分头穿过框架的一侧上设有的通孔；另一个加力绞手把与另一个显示数据微分筒垂直固定，通过另一个固定套筒与另一个非旋转芯轴式微分头连接，非旋转芯轴式微分头穿过框架的另一侧上设有的通孔；所述的两个非旋转芯轴式微分头穿过各自的通孔后形成90度；在框架的一侧设有两个支撑螺柱，两个支撑螺柱的轴向与其中一个非旋转芯轴式微分头形成垂直状态。3个垫块置入在框架空间内，分别用于非旋转芯轴式微分头、框架与千分尺弓架之间。
[0018]校正时:将框架2骑跨在千分尺弓架上，由2个螺旋柱5作为支点，在微分头8的旋进作用下，对弓架两个方向上的窄面可进行校正。”见图1。
[0019]弓架宽面两个方向上的校正是依靠垂直于窄面上的另一个固定在框架2上的微分头进行校正。因为微分头测头为Φ6.5或Φ8两个规格。所以需要3个垫块置入在框架空间，其中I个处于微分头测头与弓架之间，用来增加弓架受力面积，另外2个处在弓架的另一侧。垫块一个方向与弓架宽度一致，另一方向窄一点利于弓架校正变形。
[0020]专用检具12是套在千分尺固定测端9上，配合间隙130.001毫米，而垂直于孔的检测段，垂直度误差0.002毫米，检具可绕转360°。用以观察测头6与检具之间的缝隙，确定变形方向。
[0021]首先让专用检具12套在千分尺固定测砧9上，旋转套筒3使测头6与专用检具贴合，让检具沿测头6绕转，用光隙法检测检具与测头6缝隙的大小，以此确定弓架变形方向。如图3所示。
[0022]根据检具检测得出的变形方向，将工装框架骑跨在千分尺弓架上。用于窄面校正时，旋紧下端的两个支撑螺柱5，然后以支撑螺柱5为支点，旋转绞手把11，微分头向弓架方向下压，下压同时要观察微分筒10与固定套筒14上的刻度掌握下压量，将绞手把反方向旋转，使微分头后退，然后再顺时针旋扭套筒10，使微分头与弓架接触，观察套筒10与固定套筒14上的刻度来确定校正变形量。如图1所示。
[0023]宽度方向上的校正须将3个垫块4放在微分头与弓架之间，如图2所示。操作方式同上所述。
【权利要求】
1.一种千分尺弓架弯曲变形校正工装，其特征在于包括框架、两个支撑螺柱、两个非旋转芯轴式微分头、两个加力绞手把、两个显示数据微分筒、两个固定套筒、3个垫块和检具；加力绞手把与显示数据微分筒垂直固定，通过固定套筒与非旋转芯轴式微分头连接，非旋转芯轴式微分头穿过框架的一侧上设有的通孔；另一个加力绞手把与另一个显示数据微分筒垂直固定，通过另一个固定套筒与另一个非旋转芯轴式微分头连接，非旋转芯轴式微分头穿过框架的另一侧上设有的通孔；所述的两个非旋转芯轴式微分头穿过各自的通孔后形成90度；在框架的一侧设有两个支撑螺柱，两个支撑螺柱的轴向与其中一个非旋转芯轴式微分头形成垂直状态；3个垫块置入在框架空间内，分别用于非旋转芯轴式微分头、框架与千分尺弓架之间。
2.根据权利要求1所述的千分尺弓架弯曲变形校正工装，其特征在于:所述两个非旋转芯轴式微分头的规格为Φ6.5和Φ8。
【文档编号】G01B3/18GK203605845SQ201320696247
【公开日】2014年5月21日 申请日期:2013年11月6日 优先权日:2013年11月6日
【发明者】王立社, 张强 申请人:西安电子工程研究所