电气用塑料薄膜电弱点测试仪的制作方法

文档序号:6206482阅读:190来源:国知局
电气用塑料薄膜电弱点测试仪的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种电气用塑料薄膜电弱点测试仪,包括机架,以及通过转轴安装在机架上的试样辊和一个磁粉制动器,所述磁粉制动器的连轴端同轴固定在试样辊转轴的一侧。本实用新型薄膜所受张力均匀,测试时薄膜展平效果好,测试数据真实。而且薄膜张力易于调节,装卸试样辊也十分方便。
【专利说明】电气用塑料薄膜电弱点测试仪
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测试电气用塑料薄膜电性能的装置,具体地说是一种电气用塑料薄膜电弱点测试仪。
【背景技术】
[0002]现有的电气用塑料薄膜电弱点测试仪一般包括试样辊、导向辊、上电极、下电极、收卷辊,以及控制部分构成。CN201017020Y公开的就是这样一种电气用塑料薄膜电弱点测试仪。其明显存在缺点:测试过程中,薄膜张力靠试样辊自身重量产生摩擦阻力来保证,无张力调节装置。在测试过程中,试样辊上的塑料薄膜卷不断减少,使得试样辊的重量发生变化,导致试样辊受到的摩擦阻力发生变化,其测试的薄膜展平效果差别较大,使得前后测试结果差异较大,严重影响测试结果。

【发明内容】

[0003]本实用新型的目的是针对现有技术的不足,提供一种电气用塑料薄膜电弱点测试仪,薄膜所受张力均匀,测试时薄膜展平效果好,测试数据真实。
[0004]为了上述发明目的,本实用新型采用的技术方案是:它包括机架,以及通过转轴安装在机架上的试样辊,其特征是:还包括一个磁粉制动器,所述磁粉制动器的连轴端同轴固定在试样棍转轴的一侧。
[0005]薄膜所受张力主要取决于磁粉制动器对试样辊施加的阻力,试样辊上的塑料薄膜卷重量变化对张力影响小,测试时薄膜展平效果好,测试数据真实。通过调节磁粉制动器线圈电压大小可以方便地调节薄膜张力。
[0006]进一步的,磁粉制动器的连轴端设有用来插接的径向凹槽,试样辊转轴一侧端设有与所述凹槽配合的径向凸榫。测试结束时磁粉制动器线圈断电,磁粉制动器无阻力,手动旋转磁粉制动器轴的凹槽使其缺口向上,此时的试样辊轴径向凸榫也向上,可以很方便的取下试样辊。
[0007]本实用新型的有益效果在于:薄膜所受张力主要取决于磁粉制动器对试样辊施加的阻力,试样辊上的塑料薄膜卷重量变化对张力影响小,薄膜所受张力均匀,测试时薄膜展平效果好,测试数据真实。而且薄膜张力易于调节,装卸试样辊也十分方便。
【专利附图】

【附图说明】
[0008]图1是本实用新型结构示意图。
【具体实施方式】
[0009]本实用新型电气用塑料薄膜电弱点测试仪的试样辊以及用来卷绕的导向辊、收卷辊,和用来测试的电极辊、导电橡胶板等部件结构可参见专利文献CN201017020Y。
[0010]如图1所示,试样辊(图1中末画出)通过转轴2及轴承3安装在机架I上。磁粉制动器4通过支架5及螺栓6固定在机架I上,磁粉制动器4的连轴端与试样辊转轴2同轴固定。
[0011]为了方便安装试样辊,磁粉制动器4的连轴端41设有用来插接的径向凹槽,试样辊转轴2 —侧端设有与磁粉制动器4的连轴端41的径向凹槽配合的径向凸榫21。装有塑料薄膜卷的试样棍转轴2—侧端与磁粉制动器4的连轴端41,通过径向凸榫21与径向凹槽的插接配合,实现两者的同轴固定。
【权利要求】
1.电气用塑料薄膜电弱点测试仪,包括机架(I),以及通过转轴(2)安装在机架(I)上的试样辊,其特征是:还包括一个磁粉制动器(4),所述磁粉制动器(4)的连轴端(41)同轴固定在试样辊转轴(2)的一侧。
2.根据权利要求1所述的电气用塑料薄膜电弱点测试仪,其特征是:磁粉制动器的连轴端(41)设有用来插接的径向凹槽,试样辊转轴(2) —侧端设有与所述凹槽配合的径向凸榫(21)。
【文档编号】G01R31/12GK203587744SQ201320735602
【公开日】2014年5月7日 申请日期:2013年11月20日 优先权日:2013年11月20日
【发明者】章晓红, 余柏南, 钱立文, 吴建章 申请人:安徽铜峰电子股份有限公司
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