环形导轨外凹槽面的光学检测装置制造方法

文档序号:6206492阅读:109来源:国知局
环形导轨外凹槽面的光学检测装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开一种环形导轨外凹槽面的光学检测装置,聚光凸透镜位于激光器和准直凸透镜之间且聚光凸透镜的焦点与准直凸透镜的焦点重合;所述分束镜位于聚光凸透镜和准直凸透镜之间,用于将来自准直凸透镜的光线分为第一光束和第二光束,该参考透镜与准直凸透镜相对的表面为凸面,此参考透镜与凸面相背的表面为标准参考面;位于环形斜面反射镜中央的环形反射斜面沿其周向且位于内侧,所述待检测所述环形导轨位于环形斜面反射镜内,且环形斜面反射镜的旋转轴与环形导轨与参考透镜各自的轴线重合,所述环形导轨位于参考透镜的焦点以外。本实用新型能一次性获得全部立体环形导轨外凹槽面形貌信息,同时也大大提高了测试效率、精度和可靠性。
【专利说明】环形导轨外凹槽面的光学检测装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及光学检测装置,尤其涉及一种环形导轨外凹槽面的光学检测装置。
【背景技术】
[0002]光干涉技术是现代最精密有效的测试技术之一,它集当代最新技术于一体,广泛采用计算机技术、激光技术、电子技术、半导体技术等领域的最新成果,能快速、准确地完成对光学零件与系统的检验。在如今的光学车间,从光学零件的设计加工与检验到光学系统的装调、校正和测试,干涉仪已经成为一种易于操作、可靠、高精度、智能化的必不可少的测试检验装置,它在光学零件和系统的大批量生产和检验中有着不可低估的作用。
[0003]但是,现有干涉仪往往针对面形检测形貌偏差,例如弯曲或局部弯曲或凹凸区,对于立体面形的形貌检测需要多次反复检测,不能一次获得全部立体面形形貌;其次,现有干涉仪检测精度和可靠性容易受外界振动和温度、气流等环境因素影响。因此,如何设计一种一次性获得全部立体环形导轨外凹槽面形貌信息的高精度、可靠性的光学检测装置,成为本领域技术人员努力的方向。

【发明内容】

[0004]本实用新型提供一种环形导轨外凹槽面的光学检测装置,此光学检测装置能一次性获得全部立体环形导轨外凹槽面形貌信息,同时也大大提高了测试效率、精度和可靠性。
[0005]为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是:一种环形导轨外凹槽面的光学检测装置,所述外凹槽面沿环形导轨周向且位于内侧或外侧,包括激光器、聚光凸透镜、分束镜、作为物镜的准直凸透镜、参考透镜和环形斜面反射镜,所述聚光凸透镜位于激光器和准直凸透镜之间且聚光凸透镜的焦点与准直凸透镜的焦点重合;所述分束镜位于聚光凸透镜和准直凸透镜之间,用于将来自准直凸透镜的光线分为第一光束和第二光束;所述参考透镜位于准直凸透镜与分束镜相背的一侧,该参考透镜与准直凸透镜相对的表面为凸面,此参考透镜与凸面相背的表面为标准参考面;
[0006]位于环形斜面反射镜中央的环形反射斜面沿其周向且位于内侧,所述待检测所述环形导轨位于环形斜面反射镜内,且环形斜面反射镜的旋转轴与环形导轨与参考透镜各自的轴线重合,所述环形斜面反射镜的环形反射斜面与沿环形导轨的外凹槽面面对面设置,所述环形导轨位于参考透镜的I倍焦距以外;
[0007]干涉图样接收部件位于所述分束镜一侧,用于接收来自分束镜的第二光束。
[0008]上述技术方案进一步改进技术方案如下:
[0009]1.上述方案中,所述环形斜面反射镜的环形反射斜面的垂线与环形导轨的轴线夹角为45°或者位于45°和90°之间或者小于45°。
[0010]2.上述方案中,所述环形斜面反射镜的环形反射斜面的垂线与环形导轨的轴线夹角为60°或者30°。[0011]3.上述方案中,所述聚光凸透镜与准直凸透镜的焦点重合处设有一第一小孔光阑。
[0012]4.上述方案中,所述分束镜与干涉图样接收部件之间设有一第二小孔光阑。
[0013]5.上述方案中,所述干涉图样接收部件为C⑶相机或者成像接收器件。
[0014]由于上述技术方案运用,本实用新型与现有技术相比具有下列优点:
[0015]1.本实用新型环形导轨外凹槽面的光学检测装置,其聚光凸透镜位于激光器和准直凸透镜之间且聚光凸透镜的焦点与准直凸透镜的焦点重合;所述分束镜位于聚光凸透镜和准直凸透镜之间,用于将来自准直凸透镜的光线分为第一光束和第二光束;所述参考透镜位于准直凸透镜与分束镜相背的一侧,该参考透镜与准直凸透镜相对的表面为凸面,此参考透镜与凸面相背的表面为标准参考面,所述环形斜面反射镜位于待检测所述环形导轨内,且环形斜面反射镜的旋转轴与环形导轨与参考透镜各自的轴线重合,能实时一次性获得全部立体环形导轨外凹槽面形貌信息,提高了测试效率和精度。
[0016]2.本实用新型环形导轨外凹槽面的光学检测装置,其参考光束与测量光束经过同一光路,对外界振动和温度、气流等环境因素的变化能产生彼此共模抑制,一般无需隔震和恒温条件也能获得稳定的干涉条纹,抗震效果好、对外界环境要求低,大大提高了精度和可靠性。
【专利附图】

【附图说明】
[0017]附图1为本实用新型环形导轨一结构示意图;
[0018]附图2为用于检测附图1环形导轨外凹槽面的光学检测装置结构示意图;
[0019]附图3为本实用新型环形导轨二结构示意图;
[0020]附图4为用于检测附图3环形导轨外凹槽面的光学检测装置结构示意图;
[0021]附图5为本实用新型环形导轨三结构示意图;
[0022]附图6为用于检测附图5环形导轨外凹槽面的光学检测装置结构示意图;
[0023]附图7为本实用新型理想干涉示意图。
[0024]以上附图中:1、外凹槽面;2、环形导轨;3、激光器;4、聚光凸透镜;5、分束镜;6、准直凸透镜;7、参考透镜;71、凸面;72、标准参考面;8、环形斜面反射镜;81、环形反射斜面;9、干涉图样接收部件;10、第一小孔光阑;11、第二小孔光阑。
【具体实施方式】
[0025]下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述:
[0026]实施例f 3:—种环形导轨外凹槽面的光学检测装置,所述外凹槽面I沿环形导轨2周向且位于外侧,包括激光器3、聚光凸透镜4、分束镜5、作为物镜的准直凸透镜6、参考透镜7和环形斜面反射镜8,所述聚光凸透镜4位于激光器3和准直凸透镜6之间且聚光凸透镜4的焦点与准直凸透镜6的焦点重合;所述分束镜5位于聚光凸透镜4和准直凸透镜6之间,用于将来自准直凸透镜6的光线分为第一光束和第二光束;所述参考透镜7位于准直凸透镜6与分束镜5相背的一侧,该参考透镜7与准直凸透镜6相对的表面为凸面71,此参考透镜7与凸面71相背的表面为标准参考面72 ;
[0027]位于环形斜面反射镜8中央的环形反射斜面81沿其周向且位于内侧,所述待检测所述环形导轨2位于环形斜面反射镜8内,且环形斜面反射镜8的旋转轴与环形导轨2与参考透镜7各自的轴线重合,所述环形斜面反射镜8的环形反射斜面81与沿环形导轨2的外凹槽面I面对面设置,所述环形导轨2位于参考透镜7的焦点以外;
[0028]干涉图样接收部件9位于所述分束镜5 —侧,用于接收来自分束镜5的第二光束。
[0029]上述聚光凸透镜4与准直凸透镜6的焦点重合处设有一第一小孔光阑10。
[0030]上述分束镜5与干涉图样接收部件9之间设有一第二小孔光阑11。
[0031]上述干涉图样接收部件9为CXD相机或者成像接受器件。
[0032]如附图1、2所示,实施例1中上述环形斜面反射镜8的环形反射斜面81的垂线与环形导轨2的轴线夹角为45°,待测件为环形导轨一;如附图3、4所示,实施例2中上述环形斜面反射镜8的环形反射斜面81的垂线与环形导轨2的轴线夹角为60°,待测件为环形导轨二 ;如附图5、6所示,实施例3中上述环形斜面反射镜8的环形反射斜面81的垂线与环形导轨2的轴线夹角为30°,待测件为环形导轨三。
[0033]本实施例环形导轨外凹槽面的光学检测装置,工作过程如下。
[0034]所述由激光器3出射的光束由聚光凸透镜4会聚于准直凸透镜6的焦点上的小孔光阑10处,光束透过分束镜5通过准直凸透镜6以平行出射,透过参考透镜7,再经圆锥反射镜8反射到被测环形导轨2上。它的下表面是标准参考面72,圆锥反射镜8与被测环形导轨2同轴并垂直放于参考透镜7的下方,圆锥反射镜8的圆锥反射面81所对应的环形导轨2外侧的外凹槽面I即被测面。一部分光线从标准参考面72反射,而另一部分光线透过标准参考面72射到被测外凹槽面I上,由被测外凹槽面I反射回一部分光线。这两部分光线都经分束镜5反射,在出瞳11处形成两个明亮的小孔像。再将干涉图样接收部件9即CCD相机调焦在标准参考面72和被测外凹槽面I之间的干涉条纹定域面上,就可以摄取定域面上的由标准参考面72和被测外凹槽面I之间形成的干涉图样,再由计算机中的专业软件进行波面恢复和信息处理。同上,一次检测时只能检测被测件的下半部分,所以一次检测后,要将被测件旋转180度,检测上半部分。
[0035]上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施,并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种环形导轨外凹槽面的光学检测装置,所述外凹槽面(I)沿环形导轨(2)周向且位于外侧,其特征在于:包括激光器(3)、聚光凸透镜(4)、分束镜(5)、作为物镜的准直凸透镜(6)、参考透镜(7)和环形斜面反射镜(8),所述聚光凸透镜(4)位于激光器(3)和准直凸透镜(6)之间且聚光凸透镜(4)的焦点与准直凸透镜(6)的焦点重合;所述分束镜(5)位于聚光凸透镜(4)和准直凸透镜(6)之间,用于将来自准直凸透镜(6)的光线分为第一光束和第二光束;所述参考透镜(7)位于准直凸透镜(6)与分束镜(5)相背的一侧,该参考透镜(7)与准直凸透镜(6)相对的表面为凸面(71),此参考透镜(7)与凸面(71)相背的表面为标准参考面(72); 位于环形斜面反射镜(8)中央的环形反射斜面(81)沿其周向且位于内侧,所述待检测所述环形导轨(2)位于环形斜面反射镜(8)内,且环形斜面反射镜(8)的旋转轴与环形导轨(2)与参考透镜(7)各自的轴线重合,所述环形斜面反射镜(8)的环形反射斜面(81)与沿环形导轨(2)的外凹槽面(I)面对面设置,所述环形导轨(2)位于参考透镜(7)的I倍焦距以外; 干涉图样接收部件(9)位于所述分束镜(5)—侧,用于接收来自分束镜(5)的第二光束。
2.根据权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于:所述环形斜面反射镜(8)的环形反射斜面(81)的垂线与环形导轨(2)的轴线夹角为45°或者位于45°和90°之间或者小于 45。。
3.根据权利要求2所述的光学检测装置,其特征在于:所述环形斜面反射镜(8)的环形反射斜面(81)的垂线与环形导轨(2)的轴线夹角为60°或者30°。
4.根据权利要求1或2所述的光学检测装置,其特征在于:所述聚光凸透镜(4)与准直凸透镜(6)的焦点重合处设有一第一小孔光阑(10)。
5.根据权利要求1或2所述的光学检测装置,其特征在于:所述分束镜(5)与干涉图样接收部件(9 )之间设有一第二小孔光阑(11)。
6.根据权利要求1或2所述的光学检测装置,其特征在于:所述干涉图样接收部件(9)为CCD相机或者成像接收器件。
【文档编号】G01B11/24GK203687888SQ201320735708
【公开日】2014年7月2日 申请日期:2013年11月19日 优先权日:2013年11月19日
【发明者】李雪园, 韩森 申请人:苏州慧利仪器有限责任公司, 韩森
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1