电子元件多面取像检测装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种电子元件多面取像检测装置，其于基座上规划一水平方向的电子元件输送路径，提供多个待检测电子元件沿该电子元件输送路径接续被输送通过，设于基座中的反光盆搭配第一、第二光源对待检测电子元件提供照明，另外以第一取像组件由下向上通过反光盆底部撷取沿电子元件输送路径移动的待检测电子元件底部影像，以多个第二取像组件由下往上撷取反射镜中通过反光盆的侧取像孔反射的待检测电子元件周边侧面的影像，再输送至检测系统比对分析判断是否符合良品，其中，利用待检测电子元件接续沿水平方向直线通过，而第一、第二取像组件接续对待检测电子元件撷取其多面影像的技术手段，提升电子元件多面取像检测作业的执行效率。
【专利说明】电子元件多面取像检测装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种电子元件多面取像检测装置，特别涉及一种可对晶片等电子元件多个表面进行影像检测的电子元件多面取像检测装置。
【背景技术】
[0002]目前应用于晶片等电子元件外形检测作业的现有多面取像检测装置，大概如图7所示，其主要包含多个反射镜91、一主取像组件92以及多个侧取像组件93，所述多个反射镜91环绕排列于一预定取像区90外围，该主取像组件92设置于取像区92正下方，主取像组件92的镜头朝向取像区90，所述多个侧取像组件93分布设置于主取像组件92周边，与主取像组件92并列，且所述多个侧取像组件93的镜头朝向反射镜91，所述主取像组件92与侧取像组件92皆电性连接检测系统。
[0003]前述现有取像检测装置应用于晶片等电子元件多面取像检测作业时，如图7所示，其须利用一取置装置的取置头94每一次取一待检测电子元件95移动水平位移至取像区90正上方，再由取置头94移动待检测电子元件95下降至取像区90，使主取像组件92由下向上撷取待检测电子元件95底面的形状，另由周边多个侧取像组件93分别通过反射镜91撷取待检测电子元件95周边侧面的形状，所述主取像组件92与侧取像组件93分别撷取待检测电子元件95的多面影像传输至检测系统，由检测系统进行影像比对分析，以判断待检测电子元件95外形是否符合良品，另由取置装置的取置头94将已取像的待检测电子元件95上升，接续自取像区90正上方移离，而完成一待检测电子元件多面取像检测作业。
[0004]但是前述现有多面取像检测装置虽能撷取待检测电子元件多个侧面的影像，并将影像传输至检测系统分析判断，但是，现有多面取像检测装置必须将每一待检测电子元件逐一水平移动至取像区正上方，再移动待检测电子元件下降至取像区中，再于取像后，移动待检测电子元件上升再水平移离取像区正上方等多移动步骤，造成待检测电子元件的多面取像检测步骤繁琐而费时，而有检测效能不佳的问题。
实用新型内容
[0005]本实用新型的主要目的是提供一种电子元件多面取像检测装置，希借此实用新型，解决现有电子元件多面取像检测装置的检测效能不佳的问题。
[0006]为达成前述目的，本实用新型所提出的电子元件多面取像检测装置包含:一基座，其顶部上方上界定有一水平的电子元件输送路径；一反光盆，其以其盆口朝上的装设于基座中，且位于电子元件输送路径下方，反光盆的周壁内表面具有反光表面，反光盆周壁底部设有一底取像孔，反光盆周壁侧面设有多个侧取像孔；一第一光源，其设置于反光盆底部而对应于底取像孔，用以通过反光盆对反光盆盆口上方的电子元件输送路径提供照明；一第二光源，其包含多个发光组件以及两个集光罩，所述多个发光组件组装设置于反光盆顶部，且分布于电子元件输送路径两侧，所述两个集光罩分布设于电子元件输送路径两侧，且罩设于发光组件外侧，用以对电子元件输送路径提供照明；多个反射镜，其分布设置于基座上且环绕排列于反光盆外围，每一反射镜分别对应反光盆周壁上的侧取像孔；一第一取像组件，其装设于基座中，且第一取像组件以其镜头垂直朝上的伸向第一光源及反光盆底部的底取像孔，用以对沿电子元件输送路径移动的待测电子元件撷取底面影像；以及多个第二取像组件，其分布设于基座中且环绕排列于第一取像组件外围，所述多个第二取像组件的镜头分别对应于反射镜，用以经由反射镜通过反光盆周壁的侧取像孔对沿电子元件输送路径移动的待测电子元件撷取周边侧面的影像。
[0007]优选地，所述两个集光罩各具有一罩板以及一设于罩板底面的弧形反射板，弧形反射板位于所述发光组件的外围，用以反射发光组件发出的光集中朝向电子元件输送路径。
[0008]优选地，所述基座底部装设一升降驱动组件，以升降驱动组件连接该第一取像组件。
[0009]优选地，所述基座底部装设一升降驱动组件，以升降驱动组件连接该第一取像组件。
[0010]优选地，所述多个第二取像组件与第一取像组件同呈镜头垂直朝上而平行排列地组装设置于基座底部。
[0011]优选地，所述反光盆内部设置一辅助光源，所述辅助光源包含多个发光二极管，所述多个发光二极管分布环绕排列于反光盆周壁的内表面。
[0012]优选地，所述电子元件多面取像检测装置还包含有一反光带，所述反光带用以连接一电子元件输送装置中一列用以取置待测电子元件的取置件，所述反光带位于取置件的取置端部上方，且反光带于两个相邻取置件间的区段形成弯折状光折射部，用以将光向下反射。
[0013]优选地，所述基座底部装设一升降驱动组件，以升降驱动组件连接该第一取像组件；所述多个第二取像组件与第一取像组件同呈镜头垂直朝上而平行排列地组装设置于基座底部；所述第一光源包含多个发光二极管，所述多个发光二极管分布环绕排列于反光盆周壁的内表面。
[0014]通过前述电子元件多面取像检测装置，其主要是基座上方规划一水平方向的电子元件输送路径，用以提供一输送装置将多个待检测电子元件沿电子元件输送路径直线移动，并通过基座中的反光盆搭配第一光源与第二光源对电子元件输送路径中的待检测电子元件提供取像时所需的必要照明，于反光盆底部设有一第一取像组件以及多个第二取像组件，第一取像组件由下向上通过反光盆底部的底取像孔撷取沿电子元件输送路径移动的待检测电子元件底部形状的影像，所述多个第二取像组件由下往上撷取反射镜中通过反光盆的侧取像孔反射的待检测电子元件周边侧面形状的影像，第一取像组件与第二取像组件所撷取的待检测电子元件的多面影像，再输送至检测系统比对分析是否符合良品。
[0015]本实用新型的有益效果在于:相比于现有电子元件多面取像检测装置，本实用新型具备提升电子元件多面取像检测作业的执行速度的显著功效。
【专利附图】
【附图说明】
[0016]图1为本实用新型电子元件多面取像检测装置的一较佳实施例的立体示意图。
[0017]图2为图1所示电子元件多面取像检测装置较佳实施例的侧视剖面示意图。[0018]图3为使用输送装置将一列待检测电子元件输送通过图1所示电子元件多面取像检测装置较佳实施例的侧视示意图。
[0019]图4为图3所示电子元件多面取像检测装置较佳实施例对一列待检测电子元件进行取像检测作业的侧视剖面示意图。
[0020]图5为图3所示电子元件多面取像检测装置较佳实施例与一列待检测电子元件进行取像检测作业的另一观视角度的侧视剖面示意图。
[0021]图6为图4所示电子元件多面取像检测装置较佳实施例对一列待检测电子元件进行取像检测作业的局部放大示意图。
[0022]图7为现有电子元件多面取像检测装置对待检测电子元件进行多面取像检测作业的平面示意图。
[0023]主要部件符号说明:
[0024]10基座11电子元件输送路径[0025]12座板13支架
[0026]14升降驱动组件
[0027]20反光盆21底取像孔
[0028]22侧取像孔
[0029]30第一光源 31辅助光源
[0030]40第二光源 41发光组件
[0031]42集光罩421罩板
[0032]422弧形反射板 43定位板
[0033]50反射镜
[0034]60A第一取像组件60B第二取像组件
[0035]70反光带71光折射部
[0036]80输送装置 81取置件
[0037]82取置端部 83待检测电子元件
[0038]90取像区 91反射镜
[0039]92主取像组件93侧取像组件
[0040]94取置头 95待检测电子元件。
【具体实施方式】
[0041]如图1及图2所示，为揭示本实用新型电子元件多面取像检测装置的一较佳实施例，所述电子兀件多面取像检测装置包含:一基座10、一反光盆20、一第一光源30、一第二光源40、多个反射镜50、一第一取像组件60A以及多个第二取像组件60B。
[0042]如图1及图2所示，所述基座10顶部上方上界定有一水平方向的电子元件输送路径11，在本较佳实施例中，所述基座10包含一座板12以及装设于座板12顶面相对应两侧的两个支架13，所述电子元件输送路径11位于所述两个支架13间的中间区域的上方。
[0043]如图1及图2所示，所述反光盆20以其盆口朝上地装设于基座10中，且位于电子元件输送路径11下方,所述反光盆20周壁内表面具有反光表面，反光盆20周壁底部中央设有一底取像孔21，反光盆20周壁侧面设有多个侧取像孔22，在本较佳实施例中，反光盆20固定于基座10的座板12上且位于两个支架13之间，并于反光盆20周壁侧面分布设置有4个侧取像孔22。
[0044]如图1及图2所示，所述第一光源30设置于反光盆20底部且对应于底取像孔21，用以通过反光盆20的底取像孔21对反光盆20盆口上方的电子元件输送路径11提供垂直向上的均匀照明光源，所述第一光源30可为包含多个发光二极管(LED)的中空箱形发光组件，在本较佳实施例中，所述反光盆20内部尚可进一步设置一辅助光源31，所述辅助光源31包含多个发光二极管(LED),所述多个发光二极管分布环绕排列于反光盆20周壁的内表面，用以对反光盆20盆口上方的电子元件输送路径11提供辅助照明。
[0045]如图1及图2所示，所述第二光源40包含多个发光组件41以及两个集光罩42，所述多个发光组件41组装设置于反光盆20顶部，且分布于电子元件输送路径11两侧，所述两个集光罩42分布设于电子元件输送路径11两侧，且罩设于发光组件41外侧，用以对电子元件输送路径11提供照明，在本较佳实施例中，所述两个集光罩42各具有一罩板421以及一设于罩板421底面的弧形反射板422，弧形反射板422位于所述发光组件41外围，用以反射发光组件41发出的光集中朝向电子兀件输送路径11，在本较佳实施例中，所述发光组件41可为发光二极管(LED)式发光组件，并通过定位板43固定于基座10的支架13顶部，且位于反光盆20的盆口上方。
[0046]如图1及图2所不,所述多个反射镜50分布设置于基座10上且环绕排列于反光盆20外围，每一反射镜50分别对应反光盆20周壁上的侧取像孔22。
[0047]如图1及图2所示，所述第一取像组件60A可装设于基座10底部，或可结合一升降驱动组件14组装设置于基座10底部，且第一取像组件60A以其镜头垂直朝上的伸向第一光源30及反光盆20底部的底取像孔21，用以通过第一光源30及反光盆20对反光盆20上方沿电子元件输送路径11移动的待检测电子元件撷取其底面影像，并通过第一光源30提供垂直向上的均匀光源，以便于第一取像组件60A撷取到良好品质的待检测电子元件底面影像，当第一取像组件60A结合升降驱动组件14组装设置于基座10底部时，可通过升降驱动组件14对第一取像组件60A升降调整高度，所述升降驱动组件14可为包含有伺服马达、螺杆与移动座的组合，或可为其他型式的线性驱动机构。
[0048]如图1及图2所示，所述多个第二取像组件60B分布设于基座10中且环绕排列于第一取像组件60A外围，所述多个第二取像组件60B的镜头分别朝向上方相应的反射镜50，用以撷取反射镜50中反射通过反光盆20周壁的侧取像孔22的沿电子元件输送路径11移动的待检测电子元件周边侧面影像，在本较佳实施例中，于基座10中分布设置4组第二取像组件60B，这些第二取像组件60B与第一取像组件60A同以其镜头垂直朝上而平行排列。
[0049]如图3及图4所示，本实用新型电子元件多面取像检测装置还可进一步包含一反光带70，所述反光带70用以连接一输送装置80中一列用以取置待检测电子元件83的取置件81，所述反光带70位于取置件81的取置端部82上方，且反光带70于两相邻取置件81间的区段形成弯折状光折射部71，用以将光向下反射。
[0050]如图3至图5所示，本实用新型电子元件多面取像检测装置应用于如晶片等电子元件的多面取像检测作业时，利用输送装置80的多个取置件81分别以其取置端部82吸取一待检测电子元件83，并通过输送装置80将这些待检测电子元件沿电子元件输送路径11依序通过第一取像组件60A的镜头正上方，此时，如图6所示，第一光源30、辅助光源31与第二光源40分别直接或间接对待检测电子元件83投光，接续由第一取像组件60A由下往上撷取待检测电子元件83底面形状的影像，另由多个第二取像组件60B的镜头由下往上撷取反射镜50中通过反光盆20的侧取像孔22反射的待检测电子元件83周边侧面形状的影像，其中，利用第一光源30提供垂直向上的均匀光源照射于待检测电子元件83底面，让第一取像组件60A可以撷取到良好的待检测电子元件83底部的影像品质，再由第一光源30、辅助光源31搭配反光盆20以及第二光源40等对待检测电子元件831周边提供均匀光源，让第二取像组件60B得以撷取到待检测电子元件83周边侧面的良好影像品质。
[0051]所述第一取像组件60A与第二取像组件60B分别撷取的待检测电子元件83底面及周边等多面影像传输至检测系统，由检测系统进行影像比对分析，以判断待检测电子元件83外形是否符合良品，其中通过第一光源30、辅助光源31与第二光源40搭配反光盆20分别对待检测电子元件83提供均匀的光源，使第一取像组件60A与第二取像组件60B分别撷取到待检测电子元件831底面及周边良好的影像品质，使其能够精确地判断出待检测电子元件83外形是否有瑕疵异常等；依此方式进行，可使多个待检测电子元件83通过输送装置沿水平方向的电子元件输送路径11依序通过，并由第一取像组件60A与第二取像组件60B依序对每一待检测电子元件83进行多面取像检测作业。
[0052]上述实施例是用于例示性说明本实用新型的原理及其功效，但是本实用新型并不限于上述实施方式。本领域的技术人员均可在不违背本实用新型的精神及范畴下，在权利要求保护范围内，对上述实施例进行修改。因此本实用新型的保护范围，应如本实用新型的权利要求书覆盖。
【权利要求】
1.一种电子元件多面取像检测装置，其特征在于:所述装置包含: 一基座，其顶部上方上界定有一水平的电子元件输送路径； 一反光盆，其以盆口朝上的方式装设于基座中，且位于电子兀件输送路径下方，反光盆的周壁内表面具有反光表面，反光盆周壁底部设有一底取像孔，反光盆周壁侧面设有多个侧取像孔； 一第一光源，其设置于反光盆底部而对应于底取像孔，用以通过反光盆对反光盆盆口上方的电子元件输送路径提供照明； 一第二光源，其包含多个发光组件以及两个集光罩，所述多个发光组件组装设置于反光盆顶部，且分布于电子元件输送路径两侧，所述两个集光罩分布设于电子元件输送路径两侧，且罩设于发光组件外侧，用以对电子元件输送路径提供照明； 多个反射镜，其分布设置于基座上且环绕排列于反光盆外围，每一反射镜分别对应反光盆周壁上的侧取像孔； 一第一取像组件，其装设于基座中，且第一取像组件以镜头垂直朝上的方式伸向第一光源及反光盆底部的底取像孔，用以对沿电子元件输送路径移动的待测电子元件撷取底面影像；以及 多个第二取像组件，其分布设于基座中且环绕排列于第一取像组件外围，所述多个第二取像组件的镜头分别对应于反射镜，用以经由反射镜通过反光盆周壁的侧取像孔对沿电子元件输送路径移动的待测电子元件撷取周边侧面的影像。
2.根据权利要求1所述的电子元件多面取像检测装置，其特征在于:所述两个集光罩各具有一罩板以及一设于罩板底面的弧形反射板，弧形反射板位于所述发光组件的外围，用以反射发光组件发出的光集中朝向电子元件输送路径。
3.根据权利要求1所述的电子元件多面取像检测装置，其特征在于:所述基座底部装设一升降驱动组件，以升降驱动组件连接该第一取像组件。
4.根据权利要求2所述的电子元件多面取像检测装置，其特征在于:所述基座底部装设一升降驱动组件，以升降驱动组件连接该第一取像组件。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的电子元件多面取像检测装置，其特征在于:所述多个第二取像组件与第一取像组件同呈镜头垂直朝上而平行排列地组装设置于基座底部。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的电子元件多面取像检测装置，其特征在于:所述反光盆内部设置一辅助光源，所述辅助光源包含多个发光二极管，所述多个发光二极管分布环绕排列于反光盆周壁的内表面。
7.根据权利要求1至4中任一项所述的电子元件多面取像检测装置，其特征在于:所述电子元件多面取像检测装置还包含有一反光带，所述反光带用以连接一电子元件输送装置中一列用以取置待测电子元件的取置件，所述反光带位于取置件的取置端部上方，且反光带于两个相邻取置件间的区段形成弯折状光折射部，用以将光向下反射。
8.根据权利要求7所述的电子元件多面取像检测装置，其特征在于:所述基座底部装设一升降驱动组件，以升降驱动组件连接该第一取像组件；所述多个第二取像组件与第一取像组件同呈镜头垂直朝上而平行排列地组装设置于基座底部；所述第一光源包含多个发光二极管，所述多个发光二极管分布环绕排列于反光盆周壁的内表面。
【文档编号】G01N21/89GK203705357SQ201320843907
【公开日】2014年7月9日 申请日期:2013年12月16日 优先权日:2013年12月16日
【发明者】徐嘉新, 林中庸, 林建宏, 杨胜雄, 史伟志 申请人:竑腾科技股份有限公司