Amoled显示屏的otp装置及其定位机构的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开一种AMOLED显示屏的OTP装置及其定位机构，该定位机构包括：具有顶面的测试平台，顶面设有用于限位待测试的AMOLED显示屏的限位槽；设于测试平台的顶面上的压接治具，压接治具与待测试的AMOLED显示屏可抵接，以定位AMOLED显示屏；设于测试平台上、用于承载外部的光学测量装置的测试探头的移动定位支架，移动定位支架相对于测试平台可滑动，以调节光学测量装置的测试探头与待测试的AMOLED显示屏的相对位置；设于测试平台的顶面上的辅助连接器，辅助连接器可将待测试的AMOLED显示屏的驱动芯片与外部的数据处理装置进行通讯连接，以对待测试的AMOLED显示屏的驱动芯片进行数据烧录。上述定位机构能够提高OTP效率，降低OTP装置的成本较低。
【专利说明】AMOLED显示屏的OTP装置及其定位机构
【【技术领域】】
[0001]本实用新型涉及一种AMOLED显示屏的检测设备，特别是涉及一种AMOLED显示屏的OTP装置及其定位机构。
【【背景技术】】
[0002]基于AMOLED (Active Matrix/Organic Light Emitting Diode,有源矩阵有机发光二极体)显示屏的特殊性，为解决屏体色坐标偏移问题，通常需在模组绑定(Bonding)工艺完成之后，对驱动芯片(Driver IC)进行OTP (One Time Program, 一次编程)，也就是通过驱动芯片的参数预设方式修正屏体色坐标。由于OTP作业的特殊要求，如果单纯依赖人员操作，失误率较高，将会严重影响生产效率及产品品质。
[0003]如果采用全自动OTP装置，完全依靠设备自动进行光学测试及连接，虽然可以降低失误率，但全自动设备机种切换效率较低，仅适用于单一、大量的AMOLED屏体进行0ΤΡ，而且全自动的OTP装置成本也很高。
【实用新型内容】
[0004]鉴于上述状况，有必要提供一种AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构，其可降低OTP装置的成本，并且提高OTP效率。 [0005]一种AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构，包括:
[0006]具有顶面的测试平台，所述顶面设有用于限位待测试的AMOLED显示屏的限位槽；
[0007]设于所述测试平台的顶面上的压接治具，所述压接治具与所述待测试的AMOLED显示屏可抵接，以定位所述AMOLED显示屏；
[0008]设于所述测试平台上、用于承载外部的光学测量装置的测试探头的移动定位支架，所述移动定位支架相对于所述测试平台可滑动，以调节所述光学测量装置的测试探头与所述待测试的AMOLED显示屏的相对位置；以及
[0009]设于所述测试平台的顶面上的辅助连接器，所述辅助连接器可将所述待测试的AMOLED显示屏的驱动芯片与外部的数据处理装置进行通讯连接，以对所述待测试的AMOLED显示屏的驱动芯片进行数据烧录。
[0010]相较于传统的AMOLED显示屏的OTP装置，上述OTP装置的定位机构至少具有以下优点:
[0011](I)上述定位机构采用测试平台的限位槽来限位待测的AMOLED显示屏，采用压接治具来压紧待测的AMOLED显示屏，以定位待测试的AMOLED显示屏；并且，上述定位机构采用移动定位支架来调节光学测量装置的测试探头与待测试的AMOLED显示屏的相对位置，从而确保光学测量点准确定位，减少人员作业误差。
[0012](2)上述定位机构在定位待测试的AMOLED显示屏后，采用辅助连接器将待测试的AMOLED显示屏与数据处理装置通讯连接起来，从而方便实现人工对接，提高OTP的效率；
[0013](3)上述定位机构采用机械定位与人工对接的方式，以改变单纯人工或全自动的作业模式，达到灵活应对各种不同类型AMOLED显示屏的OTP目的，以提升OTP效率，降低光学测量及烧录数据误差，从而提升生产效率及产品品质。并且，上述定位机构的结构较全自动设备简单，成本较低。
[0014]在其中一个实施例中，所述压接治具包括:
[0015]安装在所述限位槽的底壁的底座；
[0016]穿过所述底座、并且平行于所述限位槽的底壁设置的支撑架，所述支撑架相对于所述底座可上下移动，以调节所述支撑架相对于所述限位槽的底壁的高度；以及
[0017]安装在所述支撑架上、并且垂直于所述限位槽的底壁设置的顶针，所述顶针与所述待测试的AMOLED显示屏可抵接。
[0018]在其中一个实施例中，所述顶针为弹簧式探针，所述弹簧式探针与所述待测试的AMOLED显示屏的基板的测试点抵接，并且电导通，通过所述弹簧式探针给所述AMOLED显示屏供电；
[0019]或者，所述顶针为弹性柱，通过所述弹性柱抵接所述待测试的AMOLED显示屏的基板，以弹性压接所述待测试的AMOLED显示屏，并且所述待测试的AMOLED显示屏通过外设连接器供电。
[0020]在其中一个实施例中，所述压接治具还包括驱动装置，所述驱动装置安装在所述底座上，并且与所述支撑架连接，通过所述驱动装置可驱动所述支撑架相对于所述底座上下移动。
[0021]在其中一个实施例中，所述驱动装置为伸缩气缸，所述伸缩气缸的伸缩杆与所述支撑架固定连接；
[0022]或者，所述驱动装置为电机，所述电机的驱动轴通过丝杠与所述支撑架连接。
[0023]在其中一个实施例中，所述压接治具还包括手动曲柄，通过所述手动曲柄可带动所述支撑架相对于所述底座上下移动。
[0024]在其中一个实施例中，所述移动定位支架为U型支架，所述测试平台还包括与所述顶面连接、并且相对设置的两个侧面，每个所述侧面均设有一个导向部，所述U型支架的两端分别设有一个滑动部，所述滑动部沿所述侧面的所述导向部可滑动。
[0025]在其中一个实施例中，所述导向部为平行于所述顶面延伸的导向槽，所述滑动部为设于所述U型支架的端部的滑动凸耳，所述滑动凸耳沿所述导向槽可滑动；
[0026]或者，所述导向部为平行于所述顶面设置的导轨，所述滑动部为设于所述U型支架的端部的滑槽，所述滑槽沿所述导轨可滑动。
[0027]在其中一个实施例中，所述辅助连接器为FPC连接器；
[0028]或/及，所述光学测量装置为彩色分析仪。
[0029]同时，本实用新型还提供一种AMOLED显示屏的OTP装置。
[0030]一种AMOLED显示屏的OTP装置，其包括:
[0031]上述的定位机构；
[0032]所述数据处理装置；以及
[0033]所述光学测量装置，安装在所述移动定位支架上，用于测量所述待测试的AMOLED显示屏的色坐标；
[0034]其中，所述光学测量装置将采集的色坐标的数据传送给外部的数据处理装置，以对采集的色坐标的数据进行分析。
【【专利附图】
【附图说明】】
[0035]图1为本实用新型实施方式的AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构的立体图；
[0036]图2为图1所示的AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构的侧视图；
[0037]图3为图1所示的AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构的另一视角的侧视图；
[0038]图4为图1所示的AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构的压接治具的立体图；
[0039]图5为图4所示压接治具的另一视角的立体图；
[0040]图6为图4所示压接治具的侧视图。
【【具体实施方式】】
[0041]为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳的实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。
[0042]需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中 的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。相反，当元件被称作“直接在”另一元件“上”时，不存在中间元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
[0043]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的【技术领域】的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0044]请参阅图1，本实用新型的一实施方式的AMOLED显示屏的OTP装置，用于对AMOLED显示屏(图未示)进行色坐标测试，并且对AMOLED显示屏进行OTP (One TimeProgram, 一次编程)。该AMOLED显示屏的OTP装置包括定位机构100、数据处理装置(图未示)、以及光学测量装置(图未标)。
[0045]请一并参阅图2及图3，定位机构100用于定位待测试的AMOLED显示屏，并且与待测试的AMOLED显示屏进行测试连接。定位机构100包括测试平台110、压接治具120、移动定位支架130以及辅助连接器140。
[0046]测试平台110具有顶面，顶面设有用于限位待测试的AMOLED显示屏的限位槽111。具体在图示的实施例中，测试平台110为平板结构。当然，在本实用新型中，测试平台110也可以为其他机构，例如，测试平台110也可以为框架结构。
[0047]请一并参阅图4至图6，压接治具120设于测试平台110的顶面上，压接治具120与待测试的AMOLED显示屏可抵接，以定位AMOLED显示屏。具体在图示的实施例中，压接治具120包括底座121、支撑架123、以及顶针125。底座121安装在测试平台110的限位槽111的底壁。支撑架123穿过底座121，并且平行于限位槽111的底壁设置。支撑架123相对于底座121可上下移动，以调节支撑架123相对于测试平台110的限位槽111的底壁的高度。顶针125安装在支撑架123上，并且垂直于测试平台110的限位槽111的底壁设置，顶针125与待测试的AMOLED显示屏可抵接。
[0048]进一步地，顶针125的结构可以根据功能的不同而选择不同的结构，例如，在图示的实施例中，顶针125为弹簧式探针(pogo pin)，弹簧式探针与待测试的AMOLED显示屏的基板的测试点抵接，并且电导通，通过弹簧式探针给AMOLED显示屏供电。
[0049]在其他实施例中，顶针125为弹性柱，通过弹性柱抵接待测试的AMOLED显示屏的基板，以弹性压接待测试的AMOLED显示屏，并且待测试的AMOLED显示屏通过外设连接器供电。
[0050]进一步地，支撑架123可以自动驱动。例如，在图示的实施例中，压接治具120还包括驱动装置，驱动装置安装在底座121上，并且与支撑架123连接，通过驱动装置可驱动支撑架123相对于底座121上下移动。
[0051]驱动装置可以为伸缩气缸，伸缩气缸的伸缩杆与支撑架123固定连接。或者，驱动装置可以为电机，电机的驱动轴通过丝杠与支撑架123连接。
[0052]当然，支撑架123也可以手动驱动，例如，在其他实施例中，压接治具120还包括手动曲柄，通过手动曲柄可带动支撑架123相对于底座121上下移动。
[0053]需要说明的是，在本实用新型中，压接治具120不限于图示的结构，也可以采用其他结构。
[0054]移动定位支架130设于测试平台110上，用于承载光学测量装置的测试探头201，移动定位支架130相对于测试平台110可滑动，以调节光学测量装置的测试探头201与待测试的AMOLED显示屏的相对位置。
[0055]具体在图示的实施例中，移动定位支架130为U型支架，测试平台110还包括与顶面连接、并且相对设置的两个侧面，测试平台Iio的每个侧面均设有一个导向部113，U型支架的两端分别设有一个滑动部131，滑动部131沿测试平台110的侧面的导向部113可滑动。
[0056]进一步地，导向部113的结构可以根据不同需要设计为不同的结构，例如，在图示的实施例中，导向部113为平行于测试平台110的顶面延伸的导向槽，滑动部131为设于U型支架的端部的滑动凸耳，滑动凸耳沿导向槽可滑动。
[0057]在其他实施例中，导向部113为平行于测试平台110的顶面设置的导轨，滑动部131为设于U型支架的端部的滑槽，滑槽沿导轨可滑动。
[0058]辅助连接器140设于测试平台110的顶面上，辅助连接器140可将待测试的AMOLED显示屏的驱动芯片与外部的数据处理装置进行通讯连接，以对待测试的AMOLED显示屏的驱动芯片进行数据烧录。
[0059]具体在图示的实施例中，辅助连接器140为FPC (Flexible Printed CircuitBoard)连接器，待测试的AMOLED显示屏通过FPC与该辅助连接器140插接。
[0060]数据处理装置用于对待测试的AMOLED显示屏的色坐标的数据进行分析，并且对待测试的AMOLED显示屏的驱动芯片进行数据烧录。例如，数据处理装置可以为计算机。
[0061]光学测量装置安装在移动定位支架130上，用于测量待测试的AMOLED显示屏的色坐标。光学测量装置将采集的色坐标的数据传送给外部的数据处理装置，以对采集的色坐标的数据进行分析。具体在的实施例中，光学测量装置可以为彩色分析仪，例如，CA310型的彩色分析仪、K8型的彩色分析仪等。
[0062]相较于传统的AMOLED显示屏的OTP装置，上述OTP装置至少具有以下优点:
[0063](I)上述定位机构100采用测试平台110的限位槽111来限位待测的AMOLED显示屏，采用压接治具120来压紧待测的AMOLED显示屏，以定位待测试的AMOLED显示屏；并且，上述定位机构100采用移动定位支架130来调节光学测量装置的测试探头201与待测试的AMOLED显示屏的相对位置，从而确保光学测量点准确定位，减少人员作业误差。
[0064](2)上述定位机构100在定位待测试的AMOLED显示屏后，采用辅助连接器140将待测试的AMOLED显示屏与数据处理装置通讯连接起来，从而方便实现人工对接，提高OTP的效率；
[0065](3)上述定位机构100采用机械定位与人工对接的方式，以改变单纯人工或全自动的作业模式，达到灵活应对各种不同类型AMOLED显示屏的OTP目的，以提升OTP效率，降低光学测量及烧录数据误差，从而提升生产效率及产品品质。并且，上述定位机构100的结构较全自动设备简单，成本较低。
[0066](4)上述定位机构100的压接治具120采用弹簧式探针作为压接待测试的AMOLED显示屏的顶针125，在实现机械定位的同时，实现与待测试的AMOLED显示屏的供电连接，从而进一步提闻OTP的效率。
[0067]以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【权利要求】
1.一种AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构，其特征在于，包括: 具有顶面的测试平台，所述顶面设有用于限位待测试的AMOLED显示屏的限位槽； 设于所述测试平台的顶面上的压接治具，所述压接治具与所述待测试的AMOLED显示屏可抵接，以定位所述AMOLED显示屏； 设于所述测试平台上、用于承载外部的光学测量装置的测试探头的移动定位支架，所述移动定位支架相对于所述测试平台可滑动，以调节所述光学测量装置的测试探头与所述待测试的AMOLED显示屏的相对位置；以及 设于所述测试平台的顶面上的辅助连接器，所述辅助连接器可将所述待测试的AMOLED显示屏的驱动芯片与外部的数据处理装置进行通讯连接，以对所述待测试的AMOLED显示屏的驱动芯片进行数据烧录。
2.如权利要求1所述的AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构，其特征在于，所述压接治具包括: 安装在所述限位槽的底壁的底座； 穿过所述底座、并且平行于所述限位槽的底壁设置的支撑架，所述支撑架相对于所述底座可上下移动，以调节所述支撑架相对于所述限位槽的底壁的高度；以及 安装在所述支撑架上、并且垂直于所述限位槽的底壁设置的顶针，所述顶针与所述待测试的AMOLED显示屏可抵接。
3.如权利要求2所述的AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构，其特征在于，所述顶针为弹簧式探针，所述弹簧式探针与所述待测试的AMOLED显示屏的基板的测试点抵接，并且电导通，通过所述弹簧式探针给所述AMOLED显示屏供电； 或者，所述顶针为弹性柱，通过所述弹性柱抵接所述待测试的AMOLED显示屏的基板，以弹性压接所述待测试的AMOLED显示屏，并且所述待测试的AMOLED显示屏通过外设连接器供电。
4.如权利要求2所述的AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构，其特征在于，所述压接治具还包括驱动装置，所述驱动装置安装在所述底座上，并且与所述支撑架连接，通过所述驱动装置可驱动所述支撑架相对于所述底座上下移动。
5.如权利要求4所述的AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构，其特征在于，所述驱动装置为伸缩气缸，所述伸缩气缸的伸缩杆与所述支撑架固定连接； 或者，所述驱动装置为电机，所述电机的驱动轴通过丝杠与所述支撑架连接。
6.如权利要求2所述的AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构，其特征在于，所述压接治具还包括手动曲柄，通过所述手动曲柄可带动所述支撑架相对于所述底座上下移动。
7.如权利要求1所述的AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构，其特征在于，所述移动定位支架为U型支架，所述测试平台还包括与所述顶面连接、并且相对设置的两个侧面，每个所述侧面均设有一个导向部，所述U型支架的两端分别设有一个滑动部，所述滑动部沿所述侧面的所述导向部可滑动。
8.如权利要求7所述的AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构，其特征在于，所述导向部为平行于所述顶面延伸的导向槽，所述滑动部为设于所述U型支架的端部的滑动凸耳，所述滑动凸耳沿所述导向槽可滑动； 或者，所述导向部为平行于所述顶面设置的导轨，所述滑动部为设于所述U型支架的端部的滑槽，所述滑槽沿所述导轨可滑动。
9.如权利要求1所述的AMOLED显示屏的OTP装置的定位机构，其特征在于，所述辅助连接器为FPC连接器； 或/及，所述光学测量装置为彩色分析仪。
10.一种AMOLED显示屏的OTP装置，其特征在于，包括: 如权利要求1~9任一项所述的定位机构； 所述数据处理装置；以及 所述光学测量装置，安装在所述移动定位支架上，用于测量所述待测试的AMOLED显示屏的色坐标； 其中，所述光学测量装置将采集的色坐标的数据传送给外部的数据处理装置，以对采集的色坐标的数据进 行分析。
【文档编号】G01M11/02GK203760047SQ201320860011
【公开日】2014年8月6日 申请日期:2013年12月24日 优先权日:2013年12月24日
【发明者】牛梭 申请人:昆山国显光电有限公司