一种光电直读光谱分析仪用试样的制备方法
【专利摘要】本发明提供了一种光电直读光谱分析仪用试样的制备方法。所述制备方法包括以下步骤：从待测样品上切取预定长度的试样坯料；沿试样坯料的长度方向或沿垂直于试样坯料长度方向的方向将所述试样坯料压扁，以得到能够将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的试样。本发明为原始尺寸或直径小于光电直读光谱分析仪火花台的激发口直径的圆盘条及深加工产品提供了一种制备光电直读光谱分析仪用试样的方法，对产品质量的保证具有重要意义。
【专利说明】一种光电直读光谱分析仪用试样的制备方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及钢铁材料分析领域领域，更具体地讲，涉及一种制备光电直读光谱分析仪用试样的方法。
【背景技术】
[0002]光电直读光谱分析仪用于定量分析材料成分是否满足生产要求，是钢铁行业生产过程中重要的质量控制手段。直读光谱分析过程的首要环节就是试样制备，目前试样制备过程为先截取，然后在对所取样品进行打磨得到光电直读光谱分析仪试样。
[0003]但是，若样品的原始尺寸或直径小于火花台激发口(又称激发孔)的直径d，则经现有处理方法得到的试样由于不能将光电直读光谱分析仪火花台的激发口完全覆盖，会导致激发室漏气，难以实现光电直读光谱分析。而市场广泛使用的圆盘条及棒材直径大多数都小于山部分圆盘条经下游用户拉拔加工后直径更小，因而当需要对直径小于d的圆盘条及圆盘条拉拔产品进行成分分析时，试样制备就成为了一个难以解决的问题。因此设计一种适合直径小于d的圆盘条及深加工产品适用于光电直读光谱分析的试样制备方法，对于产品质量的保证具有重要意义。
【发明内容】
[0004]针对现有技术中存在的不足，本发明的目的之一在于解决上述现有技术中存在的一个或多个问题。
[0005]本发明的目的之一在于提供一种适合直径小于光电直读光谱分析仪的火花台激发口直径的圆盘条及深加工产品制备适用于光电直读光谱分析的试样的方法。
[0006]为了实现上述目的，本发明提供了一种光电直读光谱分析仪用试样的制备方法。所述制备方法包括以下步骤:从待测样品上切取预定长度的试样坯料；沿试样坯料的长度方向或沿垂直于试样还料长度方向的方向将所述试样还料压扁，以得到能够将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的试样。
[0007]根据本发明光电直读光谱分析仪用试样的制备方法的一个实施例，所述待测样品为直径小于所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径的圆钢。
[0008]根据本发明光电直读光谱分析仪用试样的制备方法的一个实施例，所述制备方法具体包括以下步骤:从待测圆钢上截取长度大于所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径的试样坯料，沿所述试样坯料的直径方向将试样坯料压扁，得到长边和短边均大于所述火花台激发口的直径的矩形试样。
[0009]根据本发明光电直读光谱分析仪用试样的制备方法的一个实施例，所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径为10mm，所述待测圆钢的直径不大于7mm。
[0010]根据本发明光电直读光谱分析仪用试样的制备方法的一个实施例，所述制备方法具体包括以下步骤:从待测圆钢上截取预定长度的试样坯料，沿所述试样坯料的长度方向将试样坯料压扁得到直径大于所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径的试样。[0011]根据本发明光电直读光谱分析仪用试样的制备方法的一个实施例，所述制备方法还包括将所述压扁得到的试样镶嵌在镶嵌料上，并进行研磨后取出的步骤。
[0012]与现有技术相比，本发明的有益效果包括:为原始尺寸或直径小于光电直读光谱分析仪火花台的激发口直径d的圆盘条及深加工产品提供了一种制备光电直读光谱分析仪用试样的方法，对产品质量的保证具有重要意义。
【专利附图】
【附图说明】
[0013]通过下面结合附图进行的描述，本发明的上述和其他目的和特点将会变得更加清楚，其中:
[0014]图1示出了本发明示例性实施例的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法的试样坯料示意图。
[0015]图2为将图1所示试样坯料压扁后得到的试样的示意图。
[0016]图3为将图2中的试样镶嵌在镶嵌料上后得到的镶嵌试样的示意图。
[0017]图4为将图3中的镶嵌试样进行研磨后的示意图。
[0018]图5为将图4中的试样从镶嵌料上取出后的示意图。
[0019]附图标记说明:
[0020]1-试样坯料、2-试样以及3-镶嵌料。
【具体实施方式】
[0021]在下文中，将结合附图和示例性实施例详细地描述根据本发明的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法。
[0022]图1是本发明示例性实施例的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法的试样坯料示意图。图2是将图1所示试样坯料压扁后得到的试样示意图。图3是将图2中的试样镶嵌在镶嵌料上后得到的镶嵌试样的示意图。图4是将图3中的镶嵌试样进行研磨后的示意图。图5是将图4中的试样从镶嵌料上取出后的示意图。
[0023]在一个示例性实施例中，光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径d为10mm，待测样品的直径小于于光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径d，例如待测样品的直径为3?4mm，根据本发明示例性实施例的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，其主要制备过程如图1至图5所示，包括以下步骤:
[0024]I)如图1、图2所示，从待测样品上截取长度L大于d的试样坯料I (或称为原始试样)，然后沿试样还料的直径方向(即垂直于试样还料长度方向的方向)将试样还料压扁至宽度W大于d，得到长边和短边均大于火花台激发口的直径d的块状试样。
[0025]2)如图3所示，使用废弃的镶嵌料3将压扁后的试样2进行单面包覆镶嵌，镶嵌高度以便于手持打磨为宜。
[0026]3)如图4所示，对试样2暴露侧进行研磨，使其表面平整光洁，研磨设备可以采用砂轮机、砂纸磨盘、砂带研磨机等。
[0027]4)如图5所示，破碎镶嵌试样取出试样2，将试样2清洁干净并烘干，即可以适用于光电直读光谱分析。
[0028]以上详细分析了本发明示例性实施例的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，但本发明不限于此，在所述步骤I)中，还可以从待测圆钢上截取预定长度的试样坯料，沿试样坯料的长度方向将试样坯料压扁得到直径大于光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径d的试样。进一步地，发明人发现若待测圆钢的直径不大于7mm，采用沿坯料长度方向进行压扁的方式不稳定，因此，优选采用如图1至图5所示的制矩形试样的方式制备试样。
[0029]此外，待测样品也不限于圆钢，还可以为其他原始尺寸小于光电直读光谱分析仪的火花台激发口直径d而不能将激发口完全覆盖的样品，本发明的创新点在于对待测样品进行压扁处理得到能够将光电直读光谱分析仪火花台的激发口完全覆盖的试样。
[0030]根据本发明的方法，在生产过程中对直径小于光电直读光谱分析仪火花台的激发口直径d的圆盘条和棒材进行试样制备，通过光电直读光谱分析仪定量分析材料成分是否满足生产要求，确保产品质量。对圆盘条深加工产品进行试样制备，通过光电直读光谱分析仪定量分析材料成分，为用户生产及质量问题提供数据支撑。
[0031]可以看出，本发明提供了一种适合小规格样品制备光电直读光谱分析仪块状试样的方法，为小规格及深加工产品通过直读光谱仪快速分析化学成分提供了试样制备解决方案，并且提高了设备利用率，循环利用废弃镶嵌料，低碳环保。
[0032]尽管上面已经通过结合示例性实施例描述了本发明，但是本领域技术人员应该清楚，在不脱离权利要求所限定的精神和范围的情况下，可对本发明的示例性实施例进行各种修改和改变。
【权利要求】
1.一种光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，其特征在于，所述制备方法包括以下步骤: 从待测样品上切取预定长度的试样坯料； 沿试样还料的长度方向或沿垂直于试样还料长度方向的方向将所述试样还料压扁，以得到能够将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的试样。
2.根据权利要求1所述的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，其特征在于，所述待测样品为直径小于所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径的圆钢。
3.根据权利要求2所述的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，其特征在于，所述制备方法具体包括以下步骤: 从待测圆钢上截取长度大于所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径的试样坯料，沿所述试样坯料的直径方向将试样坯料压扁，得到长边和短边均大于所述火花台激发口的直径的矩形试样。
4.根据权利要求3所述的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，其特征在于，所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径为10mm，所述待测圆钢的直径不大于7mm。
5.根据权利要求2所述的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，其特征在于，所述制备方法具体包括以下步骤: 从待测圆钢上截取预定长度的试样坯料，沿所述试样坯料的长度方向将试样坯料压扁，得到直径大于所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径的试样。
6.根据权利要求1所述的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，其特征在于，所述制备方法还包括将所述压扁得到的试样镶嵌在镶嵌料上，并进行研磨后取出的步骤。
【文档编号】G01N1/28GK103822810SQ201410062797
【公开日】2014年5月28日 申请日期:2014年2月24日 优先权日:2014年2月24日
【发明者】赵如龙, 李义长, 王洪利, 李荣华, 樊毅 申请人:攀钢集团成都钢钒有限公司