一种快速测试非晶磁环的设备及其测试方法
【专利摘要】一种快速测试非晶磁环的设备及其测试方法，涉及磁环测试设备及方法【技术领域】，其设备结构包括多台单频率的电感测试仪器，还包括上模和下模，上模设有多个导电探针，下模设有导电片，每台单频率的电感测试仪器均包括两根测试线，其中一根测试线与一个导电探针连接，另一根测试线与跟导电探针位置对应的一个导电片连接，本发明在测试多种频率下的非晶磁环的电感时，无需购买昂贵的测试仪器，利用老式的现有的测试仪器就可实现，可大大降低成本；由于多个导电片并排设置，测试完一个频率的电感后可马上推送到另一个测试工位测试第二个频率的电感，还可同时测试另外其它非晶磁环在其它频率下的电感，与现有技术相比，可大大提高测试效率。
【专利说明】一种快速测试非晶磁环的设备及其测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及磁环测试设备【技术领域】，特别是涉及一种快速测试非晶磁环的设备及其测试方法。
【背景技术】
[0002]非晶磁环，是用非晶材料加工的磁性元件，可作为各种形式的高频(20KHz-100KHz)开关电源中的大中小功率的主变压器、控制变压器、滤波电感、储能电感、电抗器、磁放大器、饱和电抗器铁芯、EMC滤波器共模电感和差模电感铁芯、ISDN微型隔离变压器铁芯；同时广泛应用于各种类型不同精度的互感器铁芯。
[0003]非晶磁环在不同的使用环境下，有只对一个频率的电感要求的，也有多个不同频率的电感要求，因此，在使用之前，通常需要按照不同的频率要求测试其电感，比如对于某款非晶磁环，有频率lKHz，1KHz和10KHz的电感要求，这时候就需要利用仪器来测试这三个频率下的电感。
[0004]老式的测试仪器一般只能测试一个频率的电感(称为单频率的电感测试仪器)，当需要测试多个不同频率的电感时，就需要经过多次测试才能完成，在生产线上，一般是一个工人负责测试一个频率的电感，测试完合格的非晶磁环流到下一个工人，依次进行流水式的测试，这样就需要多个工人，导致用工成本高；而如果只用一个工人来进行多次的测试，则一般是该工人将一定数量的非晶磁环全部先进行第一次测试，测试完的先搁置起来，等全部测量完了再进行第二次测试，这样就占用了库存的空间，提高了库存成本。
[0005]现有市场上出现了可实现同时测试多个频率下的电感的新式测试仪器，但一般价格都很昂贵，对于生产商来说，一般早就配备了老式的测试仪器，出于成本的考虑，一般不会再去购置新式测试仪器，因此，如何利用老式的测试仪器同时又能提高测试效率、降低用工成本以及减少库存成本就成了生产商亟需解决的问题。
【发明内容】
[0006]本发明的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种快速测试非晶磁环的设备及其测试方法，该快速测试非晶磁环的设备及其测试方法可在利用老式的测试仪器的同时提高测试效率、降低用工成本以及减少库存成本。
[0007]本发明的目的通过以下技术方案实现:
提供一种快速测试非晶磁环的设备，包括多台单频率的电感测试仪器，本发明中，包括上模和下模，所述上模设有多个导电探针，下模设有与所述导电探针数量相同且位置对应的导电片，每台所述单频率的电感测试仪器均包括两根测试线，其中一根测试线与一个导电探针连接，另一根测试线与跟所述导电探针位置对应的一个导电片连接；
所述多个导电片并排设置。
[0008]其中，一个所述导电探针和与其位置对应的导电片组成一个测试工位，所述测试工位包括初始测试工位和末次测试工位； 所述下模延伸有备用位，所述备用位位于所述末次测试工位的远离所述初始测试工位的一侧，所述备用位放置待测的非晶磁环。
[0009]其中，还包括推动装置，所述推动装置位于所述待测的非晶磁环的远离所述末次测试工位的一侧，所述推动装置的推动力方向是从所述初始测试工位到所述末次测试工位，所述推动装置在所述上模复位时推动所述待测的非晶磁环移动一个测试工位。
[0010]其中，所述下模包括出料位，所述出料位位于所述末次测试工位的一侧。
[0011]其中，所述出料位向地面方向倾斜设置。
[0012]其中，所述下模设有一根直线导轨，所述直线导轨位于每个导电片的下方，所述直线导轨沿所述下模的长度方向设置，位于直线导轨的导电片贴设于直线导轨。
[0013]其中，还包括绝缘套环，所述绝缘套环设有可带动所述绝缘套环在所述直线导轨上滑动的滑动部。
[0014]其中，所述滑动部设为位于绝缘套环周缘且对称设置的两个滑动脚。
[0015]其中，所述导电片设有与所述导电探针位置相对应的凹槽。
[0016]一种利用以上所述的快速测试非晶磁环的设备快速测试多个非晶磁环在多种不同频率下的电感的方法，包括如下步骤:
第一，将每一个非晶磁环按照相同的顺序依次放置在每一个导电片上；
第二，所述上模下降至每一根导电探针与其位置相对应的导电片接触，使得所述单频率的电感测试仪器的两根测试线形成一个测试回路，所述一个测试回路的电流穿过一个非晶磁环，利用电磁感应完成在该单频率的电感测试仪器提供的频率下对非晶磁环的电感测试。
[0017]本发明的有益效果:
第一，本发明的快速测试非晶磁环的设备，在测试多个频率下的非晶磁环的电感时，无需购买昂贵的测试仪器，利用老式的现有的测试仪器就可实现，可大大降低成本；
第二，由于多个导电片并排设置，即多个测试工位并排设置，测试完一个频率的电感后可马上推送到另一个测试工位测试第二个频率的电感，还可同时测试另外两个非晶磁环在其它频率下的电感，与现有技术相比，可大大提高测试效率；
第三，由于只需要一个工人就可实现测试，与现有技术需多个工人相比，大大降低了用工成本；
第四，由于一个非晶磁环可在短时间内测试完多个频率下的电感，测完即可送到下一道工序使用，不需要库存，与现有技术的多个非晶磁环统一测试一种频率的电感后先搁置，再统一测试另一种频率的电感相比,可减少库存成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0018]利用附图对发明作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本发明的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。
[0019]图1是本发明的一种快速测试非晶磁环的设备的第一个状态示意图。
[0020]图2是本发明的一种快速测试非晶磁环的设备的第二个状态示意图。
[0021]图3是本发明的一种快速测试非晶磁环的设备的测试时的状态示意图。
[0022]图4是本发明的一种快速测试非晶磁环的设备的绝缘套环与直线导轨的配合示意图。
[0023]图5是本发明的一种快速测试非晶磁环的设备的非晶磁环套于绝缘磁环的示意图。
[0024]图中包括有:
1——IKHz的电感测试仪器；
2——1KHz的电感测试仪器；
3——10KHz的电感测试仪器；
4——上模、41——导电探针；
5——下模、51——导电片、511——凹槽、52——初始测试工位、53——备用位、54——出料位、55——直线导轨；
6-绝缘套环、61-滑动脚；
7——推动装置；
8——第一个待测品(隐藏绝缘套环)；
9——第二个待测品(隐藏绝缘套环)；
10—第三个待测品(隐藏绝缘套环)；
11——第四个待测品(隐藏绝缘套环);
12—第五个待测品(隐藏绝缘套环)；
13——非晶磁环。
【具体实施方式】
[0025]结合以下实施例对本发明作进一步描述。
[0026]本实施例的一种快速测试非晶磁环的设备，如图1至图3所示，包括多台单频率的电感测试仪器，本实施例中，还包括上模4和下模5，所述上模4设有多个导电探针41，下模5设有与所述导电探针41数量相同且位置对应的导电片51，每台单频率的电感测试仪器均包括两根测试线，其中一根测试线与一个导电探针41连接，另一根测试线与跟所述导电探针41位置对应的一个导电片51连接；
所述多个导电片51并排设置。
[0027]具体的，一个所述导电探针41和与其位置对应的导电片51组成一个测试工位，所述测试工位包括初始测试工位52和末次测试工位；
如图1所示，所述下模5延伸有备用位53，所述备用位53位于所述末次测试工位的远离所述初始测试工位52的一侧，所述备用位53放置待测的非晶磁环13，可提前放好待测的非晶磁环13，提闻测试效率。
[0028]具体的，如图2和图3所示，还包括推动装置7，所述推动装置7位于所述待测的非晶磁环13的远离所述末次测试工位的一侧，所述推动装置7的推动力方向是从所述初始测试工位52到所述末次测试工位，所述推动装置7在所述上模4复位时推动所述待测的非晶磁环13移动一个测试工位，具体的，推动装置7可以是气缸，利用气缸推动非晶磁环13的方式可实现将待测的非晶磁环13推进测试工位，同时将测试完的非晶磁环13送出。
[0029]具体的,如图1所示，所述下模5包括出料位54,所述出料位54位于所述末次测试工位的一侧，所述出料位54向地面方向倾斜设置，方便测试完的非晶磁环13的送出。
[0030]具体的，如图1至图5所示，所述下模5设有一根直线导轨55，所述直线导轨55位于每个导电片51的下方，所述直线导轨55沿所述下模5的长度方向设置，位于直线导轨55的导电片51贴设于直线导轨55。
[0031]具体的,如图4和图5所示,还包括绝缘套环6,所述绝缘套环6设有可带动所述绝缘套环6在所述导轨上滑动的滑动部。绝缘套环6用于承载非晶磁环13，带滑动部的绝缘套环6可带动非晶磁环13在直线导轨55上滑动，可提高非晶磁环13的输送效率。
[0032]具体的，所述滑动部设为位于绝缘套环6周缘且对称设置的两个滑动脚61，此种设计简单，成本低。
[0033]具体的，如图1至图3所示，所述导电片51设有与所述导电探针41位置相对应的凹槽511，导电探针41下降到下模5时，与导电片51的凹槽511接触，可增大接触面积，使得导电片51和导电探针41的接触更加良好。
[0034]本实施例中，列举一个非晶磁环13需要测试三个频率下的电感，三个频率分别是lKHz, 1KHz和ΙΟΟΚΗζ，当下模5的备用位53可放置两个非晶磁环13，则需先选用频率为IKHz的电感测试仪器1，1KHz的电感测试仪器2和10KHz的电感测试仪器3，在上模4设置三根导电探针41，在下模5设置三个导电片51，每台单频率的电感测试仪器均设有两根测试线，其中一根与一个导电探针41连接，另一根与该导电探针41位置对应的导电片51连接，频率为IKHz的单频率的电感测试仪器接于初始测试工位52的导电探针41和导电片51，频率为1KHz的单频率的电感测试仪器接于中间测试工位的导电探针41和导电片51，频率为10KHz的单频率的电感测试仪器接于末次测试工位的导电探针41和导电片51 ；
将待测试的非晶磁环13都装上绝缘套环6，非晶磁环13位于绝缘套环6的中间，以下将带绝缘套环6的非晶磁环13称为待测品。
[0035]一种利用以上的快速测试非晶磁环的设备快速测试多个非晶磁环在三种不同频率下的电感的方法，具体如下:
测试非晶磁环13时，先将频率为IKHz的电感测试仪器1，1KHz的电感测试仪器2和10KHz的电感测试仪器3通电，调试好，将第一个待测品8放在初始测试工位52的导电片51上，待测品的绝缘套环6的滑动脚61置于直线导轨55，第二个待测品9和第三个待测品10按照相同的方法排列于备用位53，将气缸调整至第三个待测品10的一侧，脚压脚踩开关，上模4下降至导电探针41与导电片51接触，使得导电探针41位于待测品的中间，此时导电探针41、导电片51和单频率的电感测试仪器形成一个测试回路，流经该测试回路的电流穿过第一个待测品8产生电磁感应，就可以测试在IKHz频率下第一个待测品8的电感。
[0036]测试完第一个待测品8在IKHz频率下的电感后，上模4复位，气缸推动第三个待测品10移动一个测试工位后复位，使得第二个待测品9位于初始测试工位52，而第一个待测品8则被移至中间测试工位，当上模4下降到探针接触导电片51时，可同时测试第一个待测品8在1KHz频率下的电感和测试第二个待测品9在IKHz频率下的电感。
[0037]在上模4下降的同时，补充第四个待测品11到备用位53。
[0038]接着上模4再次复位，气缸推动第四个待测品11移动一个测试工位后复位，使得第三个待测品10被移至初始测试位，而第二个待测品9被移至中间测试工位，第一个待测品8被移至末次测试工位，当上模4下降到探针接触导电片51时，可同时测试第一个待测品8在10KHz频率下的电感、测试第二个待测品9在1KHz频率下的电感和测试第三个待测品10在IKHz频率下的电感。
[0039]在上模4下降的同时，补充第五个待测品12到备用位53，如此循环继续测试。
[0040]本实施例的有益效果如下:
第一，本实施例的快速测试非晶磁环13的设备，在测试三个频率下的非晶磁环13的电感时，无需购买昂贵的测试仪器，利用老式的现有的单频率的电感测试仪器就可实现，可大大降低成本；
第二，由于多个导电片51并排设置，即多个测试工位并排设置，测试完一个频率的电感后可马上推送到另一个测试工位测试第二个频率的电感，还可同时测试另外两个非晶磁环13在其它频率下的电感，与现有技术相比，可至少提高20%的测试效率；
第三，由于只需要一个工人就可实现测试，与现有技术需三个工人相比，大大降低了用工成本；
第四，由于一个非晶磁环13可在短时间内测试完多个频率下的电感，测完即可送到下一道工序使用，不需要库存，与现有技术的多个非晶磁环13统一测试一种频率的电感后先搁置，再统一测试另一种频率的电感相比，可减少库存成本。
[0041]最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对本发明保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本发明作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的实质和范围。
【权利要求】
1.一种快速测试非晶磁环的设备，包括多台单频率的电感测试仪器，其特征在于: 包括上模和下模，所述上模设有多个导电探针，下模设有与所述导电探针数量相同且位置对应的导电片，每台所述单频率的电感测试仪器均包括两根测试线，其中一根测试线与一个导电探针连接，另一根测试线与跟所述导电探针位置对应的一个导电片连接； 所述多个导电片并排设置。
2.如权利要求1所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于:一个所述导电探针和与其位置对应的导电片组成一个测试工位，所述测试工位包括初始测试工位和末次测试工位； 所述下模延伸有备用位，所述备用位位于所述末次测试工位的远离所述初始测试工位的一侧，所述备用位放置待测的非晶磁环。
3.如权利要求2所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于:还包括推动装置，所述推动装置位于所述待测的非晶磁环的远离所述末次测试工位的一侧，所述推动装置的推动力方向是从所述初始测试工位到所述末次测试工位，所述推动装置在所述上模复位时推动所述待测的非晶磁环移动一个测试工位。
4.如权利要求2所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于:所述下模包括出料位，所述出料位位于所述末次测试工位的一侧。
5.如权利要求4所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于:所述出料位向地面方向倾斜设置。
6.如权利要求1所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于:所述下模设有一根直线导轨，所述直线导轨位于每个导电片的下方，所述直线导轨沿所述下模的长度方向设置，位于直线导轨的导电片贴设于直线导轨。
7.如权利要求6所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于:还包括绝缘套环，所述绝缘套环设有可带动所述绝缘套环在所述直线导轨上滑动的滑动部。
8.如权利要求7所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于:所述滑动部设为位于绝缘套环周缘且对称设置的两个滑动脚。
9.如权利要求1所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于:所述导电片设有与所述导电探针位置相对应的凹槽。
10.一种利用权利要求1至9任意一项所述的快速测试非晶磁环的设备快速测试多个非晶磁环在多种不同频率下的电感的方法，其特征在于:包括如下步骤: 第一，将每一个非晶磁环按照相同的顺序依次放置在每一个导电片上； 第二，所述上模下降至每一根导电探针与其位置相对应的导电片接触，使得所述单频率的电感测试仪器的两根测试线形成一个测试回路，所述一个测试回路的电流穿过一个非晶磁环，利用电磁感应完成在该单频率的电感测试仪器提供的频率下对非晶磁环的电感测试。
【文档编号】G01R27/26GK104198822SQ201410432986
【公开日】2014年12月10日 申请日期:2014年8月28日 优先权日:2014年8月28日
【发明者】周冬行, 李正中 申请人:东莞市大忠电子有限公司