带控制接口的电路检测及检定信号模拟装置制造方法

文档序号:6243279阅读:184来源:国知局
带控制接口的电路检测及检定信号模拟装置制造方法
【专利摘要】本发明涉及的是带控制接口的电路检测及检定信号模拟装置,包括电路检测装置和检定信号模拟装置,电路检测装置有检测控制接口与其电控开关的控制端相接,电路检测装置的电控开关的公共端、常开端与信号检测装置、检测电路管座对应或交叉相接,检定信号模拟装置有检定控制接口与其电控开关的控制端相接,检定信号模拟装置的电控开关的公共端、常开端与信号源、检定信号接口对应或交叉相接,当检测控制接口与检定控制接口相接,检定信号接口与检测电路管座相接时,通过调整信号源到指标临界值并进行测量,则能实现对电路检测装置的硬、软件的检定。
【专利说明】带控制接口的电路检测及检定信号模拟装置

【技术领域】
[0001]本发明涉及电路信号检测计量装置,具体的说是带控制接口的电路检测及检定信号模拟装置。

【背景技术】
[0002]要对集成电路进行检测,往往要进行专门的自动、半自动检测装置的设计,检测装置必须经过确认才能投入使用,传统的确认方式是进行硬件、软件设计文件和文实一致性的审查,这是一件十分繁琐的工作,如果有这样四块虚拟电路,其参数值处于指标范围上、下界合格与否的四个临界点上,即如果这四块电路的参数加上或减去误差允许值后就会由合格变为不合格,或由不合格变为合格,任何测量装置测了这四块电路,其判断结果就代表了该测量装置的合格与否,如何才能模拟这四块电路,目前没有较好的方案。


【发明内容】

[0003]本发明针对电路自动、半自动检测装置鉴定复杂困难的现状实现模拟参数处于四个临界值的电路的目的提供了一种带控制接口的电路检测及检定信号模拟装置。
[0004]本发明的技术方案是:带控制接口的电路检测及检定信号模拟装置,包括有由信号检测装置、检测电控开关、检测电路管座组成的电路检测装置,信号源,检定信号接口,其特征在于:具有信号源、检定信号接口、检定控制接口、检定电控开关组成的检定信号模拟装置与还包括有检测控制接口的电路检测装置为两个独立的部分,检测控制接口与检定控制接口、检定信号接口与检测电路管座可配合相接。
[0005]检测电控开关的公共端、常开端分别与信号检测装置、检测电路管座上的一路对应或交叉相接,检测电控开关的控制端与检测控制接口的一路相接。
[0006]检定电控开关的公共端、常开端分别与信号源、检定信号接口的一路对应或交叉相接,检定电控开关的控制端与检定控制接口的一路相接。
[0007]信号源、检测电控开关、检定电控开关、信号检测装置有一个或一个以上。
[0008]本发明所提供的带控制接口的电路检测及检定信号模拟装置的工作原理如下所述:带控制接口的电路检测及检定信号模拟装置包括检定信号模拟装置、电路检测装置两个独立的部分,检定信号模拟装置包括信号源、检定电控开关、检定信号接口、检定控制接口 ;电路检测装置包括信号检测装置、检测电控开关、检测电路管座、检测控制接口 ;将电路检测装置的检测电控开关的公共端、常开端与信号检测装置、检测电路管座的一位对应或交叉相接,检测电控开关的控制端与检测控制接口的一位相接;将检定信号模拟装置的检定电控开关的公共端、常开端分别与信号源、检定信号接口的一位对应或交叉相接,检定控制接口的一位与检定电控开关的控制端相接。
[0009]信号源、检测电控开关、检定电控开关、信号检测装置有一个或一个以上。
[0010]当检测控制接口与检定控制接口相接,检定信号接口与检测电路管座相接,用电路检测装置进行测量时,所测的信号为信号源给的信号,这样调整信号源参数为电路指标的上、下限的合格与不合格的四个临界值,测试结果则反映了电路检测装置的正确与否。
[0011]本发明的优点是:
1.本发明能用于对电路检测装置的鉴定、计量和正常生产过程中的校验。
[0012]2.本发明不仅可用于带有准确测量数据输出功能的测量装置的计量、检定功能,还可用于只能给出合格与不合格两种结果的测量装置的计量、校验,有着更为广泛的应用。
[0013]3.不仅能检查硬件连接、参数漂移,也可对软件的正确性进行检查,检查全面,如软件流程的正确性,软件设置的合格判定基准的正确性等都能检查。
[0014]4.通用性强,适用于有不同程序的电路检测装置。
[0015]5.简单方便、准确可靠,测量装置的鉴定、评审,如果通过对软、硬件的检查方法,要花大量的时间精力也不一定能准确判断测量装置的合格与否,本装置只要设置一下信号源,测试一下即可,简单方便,准确、快速、可靠,能满足生产用检测装置的每日检定。

【专利附图】

【附图说明】
[0016]图1为本发明的原理框图;
图2为本发明的实施例一的电路图;
图3为本发明的实施例二的电路图;
图4为本发明的实施例三的电路图;
图5为图2、图3、图4配合使用时的连接图;
图 2、3、4 中:G1、G2 为 Agilent-33220A 信号源或为 R&L/3590-2 型可变电阻,SW1、SW2、SW3、SW4、SW5、SW6 为 LF3F-1I 型继电器,Q1、Q2 为 Agilent34461 型万用表,D1、D2、D3、D4、D5、D6为IN4002型二极管,DBl、DB2为LJZ系列半导体测试插座,DB3、DB4为D-USB公母插座连接器,C为89C51型单片机,PU P2、P3、P4、P5、P6为2SA1710型PNP型三极管,Ml、M2为MAX313型模拟开关。

【具体实施方式】
[0017]下面结合附图对本发明的【具体实施方式】和工作原理做进一步说明:
图1为本发明的原理框图;带控制接口的电路检测及检定信号模拟装置包括检定信号模拟装置、电路检测装置两个独立的部分,检定信号模拟装置包括信号源、检定电控开关、检定信号接口、检定控制接口 ;电路检测装置包括信号检测装置、检测电控开关、检测电路管座、检测控制接口 ;将电路检测装置的检测电控开关的公共端、常开端与信号检测装置、检测电路管座的一位对应或交叉相接,检测电控开关的控制端与检测控制接口的一位相接;将检定信号模拟装置的检定电控开关的公共端、常开端与信号源、检定信号接口的一位对应或交叉相接,检定控制接口的一位与检定电控开关的控制端相接。
[0018]信号源、检测电控开关、检定电控开关、信号检测装置有一个或一个以上。
[0019]电路信号检测装置的控制信号来于CPU,与检测电控开关的控制端、检测控制接口的相应位共接。
[0020]当检测控制接口与检定控制接口相接,检定信号接口与检测电路管座相接,用电路检测装置进行测量时,所测的信号为信号源给的信号,这样调整信号源参数为电路指标的上、下限的合格与不合格的四个临界值,测试结果则反映了电路检测装置的正确与否。
[0021]参见图2
G1、G2为信号源,DB3为检定控制接口,DBl为检定信号接口,Ql、Q2为信号检测装置,DB2为检测电路管座,DB4为检测控制接口。
[0022]继电器SW1、二极管D1、三极管Pl组成检定电控开关⑴,同理SW2、D2、P2组成检定电控开关(2),SW3、D3、P3组成检定电控开关(3),继电器SWl的公共端、常开端与G1、检定信号接口 DBl的I脚对应或交叉相接,同理SW2的公共端、常开端与Gl、DBl的3脚对应或交叉相接,SW3的公共端、常开端与G2、DB1的9脚对应或交叉相接;检定控制接口 DB3的I脚与Pl的基极相接,Pl的集电极接地,Pl的发射极与Dl的正极、Sffl线圈的一端相接,Sffl线圈另一端与Dl的负极及电源正极相接,同理:DB3的6脚与P2的基极相接,DB3的2脚与P3的基极相接,P2、P3的集电极接地,P2、P3的发射极分别与D2、D3的正极相接,P2、P3的发射极也分别与SW2、SW3线圈的一端相接,Sff2, SW3线圈的另一端与电源正极相接,也分别与D2、D3的负极相接。
[0023]61、62、检定电控开关、081、083组成检定信号模拟装置。
[0024]Sff4, D4、P4组成检测电控开关(I),Sff5, D5、P5组成检测电控开关⑵,SW6、D6、P6组成检定电控开关(3)。
[0025]SW4的公共端、常开端与DB2的I脚、Ql对应或交叉相接,SW5的公共端、常开端与DB2的3脚、Ql对应或交叉相接,SW6的公共端、常开端与DB2的9脚、Q2对应或交叉相接。
[0026]检测控制接口 DB4的I脚与P4的基极以及单片机C的Pl.0 口相接,P4的集电极接地,P4的发射极与D4的正极、SW4线圈的一端相接,SW4线圈的另一端与D4的负极、电源正极相接,同理DB4的6脚与P5的基极以及C的Pl.1 口相接,P5的集电极接地,P5的发射极与D5的正极、SW5线圈的一端相接,SW5线圈另一端与D5的负极、电源正极相接;DB4的2脚与P6的基极以及C的Pl.7 口相接,P6的集电极接地,P6的发射极与D6的正极、SW6线圈的一端相接,SW6线圈的另一端与D6的负极、电源正极相接。
[0027]Ql、Q2、DB2、检测电控开关、DB4组成电路检测装置。
[0028]电路检测装置和检定信号模拟装置为两个独立的部分可配合使用,配合使用时如图5所示,DB4与DB3的对应位相接,DBl与DB2的对应位相接,调整信号源G1、G2的输出到电路指标上、下界的合格与不合格的四个临界值,即当临界值增加或减去允许误差后,参数的合格与否就会发生变化,通过测试这四个临界值,则能判断出电路检测装置的合格与否。
[0029]参见图3、图4
G1、G2为信号源,DB3为检定控制接口,DBl为检定信号接口,Ql、Q2为信号检测装置,DB2为检测电路管座,DB4为检测控制接口。
[0030]Ml为有四个模拟开关的电路,每个模拟开关是一个检定电控开关,Ml的IN1、IN2、IN3端分别与DB3的I脚、6脚、2脚相接,图3中Ml的COMU COM2脚与Gl相连,COM3脚与G2相连,Ml的NCU NC2、NC3脚与DBl的I脚、3脚、10脚相连,图4中Ml的NC1、NC2脚与信号源Gl相连,NC3与G2相连,Ml的COMU COM2, COM3脚与DBl的I脚、3脚、10脚相连。[0031 ] Gl、G2、检定电控开关、DBl、DB3组成检定信号模拟装置。
[0032]M2为有四个模拟开关的电路,每个模拟开关是一个检测电控开关,M2的IN1、IN2、IN3脚与检测控制接口 DB4的I脚、6脚、2脚相连,也分别与单片机C的Pl.0、Pl.K Pl.7口相连,图3中M2的NC1、NC2脚与Ql相连,NC3脚与Q2相连,M2的COMl、COM2、COM3脚分别与DB2的I脚、3脚、10脚相接,图4中M2的COMU COM2与Ql相连,COM3与Q2相连,M2的NC1、NC2、NC3脚分别与DB2的I脚、3脚、10脚相接。
[0033]Ql、Q2、DB2、检测电控开关、DB4组成电路检测装置。
[0034]电路检测装置和检定信号模拟装置为两个独立的部分,配合使用时连接关系如图5所示,DB4与DB3的对应位相接,DBl与DB2的对应位相接。
[0035]调整Gl、G2的输出到电路指标的上、下界合格与不合格的四个临界值,即当临界值增加或减去允许误差后,参数的合格与否就会发生变化,通过测试这四个临界值,则能判断出电路检测装置的合格与否。
[0036]参见图5为图2、图3、图4中检定信号模拟装置、电路检测装置配合使用时的连接图:DB1和DB2的对应位相接,DB3和DB4的对应位相接。
【权利要求】
1.带控制接口的电路检测及检定信号模拟装置,包括有由信号检测装置、检测电控开关、检测电路管座组成的电路检测装置,信号源,检定信号接口,其特征在于:具有信号源、检定信号接口、检定控制接口、检定电控开关组成的检定信号模拟装置与还包括有检测控制接口的电路检测装置为两个独立的部分,检测控制接口与检定控制接口、检定信号接口与检测电路管座可配合相接。
2.根据权利要求1所述带控制接口的电路检测及检定信号模拟装置,其特征在于:检测电控开关的控制端与检测控制接口的一路相接。
3.根据权利要求1所述带控制接口的电路检测及检定信号模拟装置,其特征在于:检定电控开关的公共端、常开端分别与信号源、检定信号接口的一路对应或交叉相接,检定电控开关的控制端与检定控制接口的一路相接。
【文档编号】G01R35/00GK104237830SQ201410525988
【公开日】2014年12月24日 申请日期:2014年10月8日 优先权日:2014年10月8日
【发明者】洪明, 林日其, 阚亚钟, 洪宇青, 洪启媛 申请人:洪明
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