一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，包括如下步骤：从待测样品上切取预定长度的试样坯料；沿试样坯料长度方向或沿垂直于试样坯料长度方向的方向将试样压扁，得到试样半成品；对试样半成品的分析面用平面砂轮沿同一方向进行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到试样成品；清扫试样成品的背部的绝缘物，使试样成品与样品台接触，从而将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖。本发明能够将火花台激发口完全覆盖，不会导致激发室漏气，实现了光电直读光谱分析，保证了产品的分析质量。
【专利说明】一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺
【技术领域】
[0001]本发明涉及光电直读光谱仪【技术领域】，尤其涉及一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺。
【背景技术】
[0002]光电直读光谱分析仪用于定量分析材料成分是否满足生产要求，是钢铁行业生产过程中重要的质量控制手段。直读光谱分析过程的首要环节就是试样制备，目前试样制备过程为先截取，然后在对所取试样进行打磨得到光电直读光谱分析仪试样。
[0003]现有的处理方法中，试样规格太小不能将光电直读光谱分析仪火花台的激发口完全覆盖，会导致激发室漏气，难以实现光电直读光谱分析，无法保证产品的分析质量。
【发明内容】
[0004]为了解决【背景技术】中存在的技术问题，本发明提出了一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，通过试样将激发口完全覆盖，保证产品的分析质量。
[0005]本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，包括如下步骤:
[0006]S1、从待测样品上切取预定长度的试样坯料；
[0007]S2、沿试样坯料长度方向或沿垂直于试样坯料长度方向的方向将试样压扁，得到将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的试样半成品；
[0008]S3、对试样半成品的分析面用平面砂轮沿同一方向进行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到试样成品；
[0009]S4、清扫试样成品的背部的绝缘物，使试样成品与样品台接触，从而将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖。
[0010]优选地，待测样品为直径小于火花台激发口直径的圆钢。
[0011]优选地，待测样品为长边和短边均小于火花台激发口直径的钢片。
[0012]优选地，试样半成品为完全覆盖火花台激发口的圆形试样或多边形试样。
[0013]本发明提供的一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，为原始尺寸小于光电直读光谱分析仪火花台的激发口直径的圆盘条或钢片条提供了一种制备光电直读光谱分析仪用试样的方法，能够将火花台激发口完全覆盖，不会导致激发室漏气，实现了光电直读光谱分析，保证了产品的分析质量。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺的工艺流程图。
[0015]图2为本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用矩形试样的结构示意图。
[0016]图3为本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用圆形试样的结构示意图。
【具体实施方式】
[0017]如图1所示，图1为本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺的工艺流程图。
[0018]参照图1，本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，包括:
[0019]S1、从待测样品上切取预定长度的试样坯料；
[0020]S2、沿试样坯料长度方向或沿垂直于试样坯料长度方向的方向将试样压扁，得到将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的试样半成品；
[0021]S3、对试样半成品的分析面用平面砂轮沿同一方向进行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到试样成品；
[0022]S4、清扫试样成品的背部的绝缘物，使试样成品与样品台接触，从而将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖。
[0023]实施例1
[0024]如图2所示，图2为本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用矩形试样的结构示意图。
[0025]参照图2，本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，包括如下步骤:
[0026]S1、从待测样品上切取预定长度的试样坯料，待测样品I为长边和短边均小于火花台激发口直径的钢片；
[0027]S2、沿试样坯料长度方向或沿垂直于试样坯料长度方向的方向将试样压扁，得到将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的多边形试样半成品；
[0028]S3、对试样半成品的分析面用平面砂轮沿同一方向进行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到试样成品；
[0029]S4、清扫试样成品的背部的绝缘物，使试样成品与样品台接触，从而将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖。
[0030]实施例2
[0031]如图3所示，图3为本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用矩形试样的结构示意图。
[0032]参照图3，本发明提出的一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，包括如下步骤:
[0033]S1、从待测样品上切取预定长度的试样坯料，待测样品2为直径小于火花台激发口直径的圆钢；
[0034]S2、沿试样还料长度方向或沿垂直于试样还料长度方向的方向将试样压扁,得到将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的圆形试样半成品；
[0035]S3、对试样半成品的分析面用平面砂轮沿同一方向进行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到试样成品；
[0036]S4、清扫试样成品的背部的绝缘物，使试样成品与样品台接触，从而将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖。
[0037]本发明采用压扁的方法将试样坯料压成完全覆盖火花台激发口的试样半成品，通过采用冲压模具将试样坯料压扁，从待测样品上切取预定长度的试样坯料，试样坯料的体积与冲压模具型腔的体积相等，冲压完成后，对试样半成品的分析面用平面砂轮沿同一方向进行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到试样成品。试样成品能够将火花台激发口完全覆盖，不会导致激发室漏气，实现了光电直读光谱分析，保证了产品的分析质量。
[0038]以上所述，仅为本发明较佳的【具体实施方式】，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本【技术领域】的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，其特征在于，包括如下步骤: 51、从待测样品上切取预定长度的试样坯料； 52、沿试样还料长度方向或沿垂直于试样还料长度方向的方向将试样压扁,得到将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的试样半成品； 53、对试样半成品的分析面用平面砂轮沿同一方向进行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到试样成品； 54、清扫试样成品的背部的绝缘物，使试样成品与样品台接触，从而将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖。
2.根据权利要求1所述的光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，其特征在于，待测样品为直径小于火花台激发口直径的圆钢。
3.根据权利要求1所述的光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，其特征在于，待测样品为长边和短边均小于火花台激发口直径的钢片。
4.根据权利要求1所述的光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，其特征在于，试样半成品为完全覆盖火花台激发口的圆形试样或多边形试样。
【文档编号】G01N1/28GK104316376SQ201410571516
【公开日】2015年1月28日 申请日期:2014年10月22日 优先权日:2014年10月22日
【发明者】陈进 申请人:合肥卓越分析仪器有限责任公司